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探討混合微電路用多芯組瓷介電容加固

2022-09-26 10:25
科學(xué)技術(shù)創(chuàng)新 2022年26期
關(guān)鍵詞:引線電容器電容

劉 丹

(四川工業(yè)科技學(xué)院,四川 德陽 618000)

多芯組瓷介電容具有較大的單位安裝面積容量,所表現(xiàn)出來的抗機械應(yīng)力非常強,等效串聯(lián)電阻不高,憑借上述優(yōu)勢在混合微電路中得到廣泛應(yīng)用。多芯組瓷介電容的前身是片式瓷介電容器,經(jīng)過改造與創(chuàng)新研發(fā)出來的新電容器,多芯組瓷介電容應(yīng)用到精密堆疊技術(shù)、金屬引線封裝技術(shù)等,同時具有片式瓷介電容器和多芯組瓷介電容所有的特性,。除此之外,瓷介電容的容量損耗在溫度頻率影響下具有很高的穩(wěn)定性,比較特殊的串聯(lián)結(jié)構(gòu)更是適合在高電壓極長時間運行中應(yīng)用,高電流爬升速率的情況下,在大電流回路無感型結(jié)構(gòu)中具有較高的適用性。

1 多芯組瓷介電容器

1.1 多芯組瓷介電容結(jié)構(gòu)與原理

所謂瓷介電容,使用高介電常數(shù)電容器陶瓷,將其擠壓之后形成圓管、圓片、圓盤等介質(zhì),利用燒滲法在陶瓷上以銀鍍?yōu)殡姌O制作而成,主要有高頻瓷介、低頻瓷介兩種類型(瓷介電容器參數(shù)見表1、表2、表3)[1]。作為電容器,正電容溫度系數(shù)較小,在高穩(wěn)定振蕩回路當(dāng)中使用,也被當(dāng)作回路電容器、墊整電容器加以應(yīng)用(電容器結(jié)構(gòu)見圖1)。多芯組瓷介電容是以片式瓷介電容器為基礎(chǔ),此類片式瓷介電容器在電子無源元件領(lǐng)域具有應(yīng)用范圍廣的特點,然而體積比較小,所以無法達(dá)到大容量的效果。經(jīng)過創(chuàng)新與改造之后,多芯組瓷介電容器將片式瓷介電容器容量方面的問題解決,利用精密堆疊(原理見圖2)和封裝技術(shù)(見圖3),達(dá)到大容量效果,也使可靠性得到顯著提升[2]。

表1 電容量溫度系數(shù)(10-6/℃)

表2 電容量溫度特性

表3 電容量允許偏差

圖1 電容器結(jié)構(gòu)

圖2 精密堆疊技術(shù)原理

圖3 封裝技術(shù)原理

混合微電路中的多芯組瓷介電容為了保證其應(yīng)用效果,一般需要予以加固,處于電容器制造領(lǐng)域,實際生產(chǎn)環(huán)節(jié)往往采用多芯組徑向引線這一工藝,如此一來多層瓷介電容器的性能與功能得到完善,多芯組徑向引線多層瓷介電容器生產(chǎn)與制造環(huán)節(jié),電容器可能存在的外形尺寸超差這一現(xiàn)象便可得到解決[3]。夾具經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計后疊片處理之后的多芯組徑向引線多層瓷介電容器,不僅可以保證外形尺寸的規(guī)范性與整齊性,還有效控制了尺寸偏差。

1.2 多芯組瓷介電容類型

多芯組瓷介電容包括片式瓷介電容器、高溫焊料和金屬引線,組成了電容結(jié)構(gòu)。①片式瓷介電容器是以普通的陶瓷電容器為主,并利用超過1 206 尺寸的電容器堆疊;②高溫焊料的焊料是以共晶溫度在240 ℃焊料為主,常見的有高鉛焊料和錫銻焊料,此類材料支持二次焊接;③選擇金屬引線時,應(yīng)該重點檢查是否匹配片式瓷介電容器、高溫焊料,可伐、錫磷青銅這一類材質(zhì)的金屬引線最為常見[4]。

根據(jù)片式瓷介電容器所使用的堆疊方法,多芯組瓷介電容有平行堆疊、垂直堆疊兩種類型,而且分別體現(xiàn)出不同的優(yōu)勢與不足[5]。采用垂直堆疊方式的多芯組瓷介電容器,若干片式電容器在堆疊之后,重心不會發(fā)生改變,然而安裝面積卻會不斷增加,導(dǎo)致高密度組裝難度提升。

多芯組瓷介電容根據(jù)金屬引線成型這一方法,也被劃分為幾種不同的類型,如“C”型、“J”型、“L”型等。每一種金屬引線都會在相應(yīng)的行業(yè)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,混合微電路使用的多芯組瓷介電容,通常以“C”型、“J”型多芯組瓷介電容為主。

2 多芯組瓷介電容焊接加固實驗與分析

2.1 焊接加固原因

混合微電路本身可靠性比較高,在生產(chǎn)制造階段基板主要利用氧化鋁、氮化鋁陶瓷,而焊盤則選擇鈀銀、鉑銀兩種材料。使用鉛錫焊料在基板焊盤上方焊接多芯組瓷介電容,因為焊盤材質(zhì)以銀為主,所以經(jīng)過回流焊、高溫存儲和老煉工藝的加工之后,受到熱應(yīng)力作用影響鉛錫焊料、焊盤必然會有Ag3Sn、Ag4Sn 等金屬間化合物產(chǎn)生,這種金屬間化合物表現(xiàn)出不良脆性,一旦金屬間化合物過量,便會對焊接界面電氣性能、機械性能造成干擾[6]。經(jīng)過以往焊接實踐,發(fā)現(xiàn)回流焊作業(yè)之后,焊盤金屬間化合物的厚度在2~5 μm 之間,處于150 ℃的高溫存儲環(huán)境,當(dāng)時間不斷延長,金屬間化合物厚度也會隨之增加,當(dāng)存儲時間達(dá)到24 h 之后,金屬間化合物的厚度將增加至5~8 μm,如果存儲時間延長至360 h,測量發(fā)現(xiàn)金屬間化合物厚度將會達(dá)到16~20 μm。如果檢測發(fā)現(xiàn)金屬間化合物厚度已經(jīng)大于20 μm,那么處于環(huán)境應(yīng)力、機械應(yīng)力多重條件下,焊接界面也會發(fā)生應(yīng)力集中這一現(xiàn)象,增加了基板焊盤上方多芯組瓷介電容脫落的概率[7]。

2.2 焊接加固方法

要想切實提高混合微電路多芯組瓷介電容的穩(wěn)定性與可靠性,建議在加固時采用硅橡膠、環(huán)氧樹脂,對于已經(jīng)焊接完畢的組件實施加固處理,可有效提高安裝強度與可靠性。盡管輔助加固的方法也可以進(jìn)一步改善焊接組件在安裝時的強度,但是如果具體的加固位置、采用加固方法和加固膠量沒有合理控制,便會在環(huán)境應(yīng)力篩選過程中,導(dǎo)致所有材料之間的熱膨脹系數(shù)偏差,從而造成組件失效[8]。針對多芯組瓷介電容加固方法進(jìn)行設(shè)計,必須合理分析設(shè)計與實操是否可行、輔助加固實際的占用面積、多種類多芯組瓷介電容的兼容性。針對這三點因素,不建議針對設(shè)計中所運用的相應(yīng)加固載片、粘接劑,采用以下兩種加固方法。第一種加固方法,是將載片直接粘接在多芯組瓷介電容的底部,隨后載片、片式瓷介電容器的中間接觸部位涂抹粘接劑。第二種加固方式是在多芯組瓷介電容的一側(cè)貼裝載片,并利用粘接劑將載片、基板和載片、片式瓷介電容器連接。

上述兩種加固方法,分別在環(huán)境應(yīng)力、機械應(yīng)力的環(huán)境下展開仿真分析,選擇典型平行堆疊瓷介電容器、可伐材質(zhì)的金屬引線以及鉛錫焊料。首先進(jìn)行溫度循環(huán)應(yīng)力條件下的仿真分析,這里提到的溫度循環(huán),屬于非常嚴(yán)格的環(huán)境應(yīng)力篩選,按照《微電子器件實驗方法和程序》中的相關(guān)要求,確定仿真分析的方法之后,將條件設(shè)置為C,溫度在-65 ℃~150 ℃之間,兩種加固方法分別展開仿真分析,其間觀察完整溫度循環(huán)期間產(chǎn)生的應(yīng)力分布情況。根據(jù)仿真分析發(fā)現(xiàn),處于溫度循環(huán)期間,多芯組瓷介電容器所呈現(xiàn)的最大應(yīng)力點,全部位于加固膠、瓷介電容器之間的接觸位置,第一種加固方法的電容本體所能夠承受的應(yīng)力最大是34.5 MPa,第二種加固方法的電容本體承受應(yīng)力最大只有14.0 MPa。瓷介電容器陶瓷層壓燒結(jié)通常會選擇鈦酸鋇一類材質(zhì),拉伸強度控制為70 MPa,處于溫度循環(huán)期間,電容承受應(yīng)力不會超過陶瓷材料呈現(xiàn)的抗拉強度。為了提高混合微電路的可靠性,建議溫度循環(huán)建議超過100 次,材料反復(fù)溫度循環(huán)時,極有可能發(fā)生疲勞、應(yīng)力集中等現(xiàn)象,所以第一種加固方式可能造成電容器損壞。

針對上述兩種加固方法展開機械沖擊應(yīng)力仿真分析,混合微電路篩選、使用期間,必然會面臨機械應(yīng)力,機械沖擊、離心加速度是多芯組瓷介電容穩(wěn)定性的直觀影響因素。同樣需要參考《微電子器件實驗方法和程序》中提出的要求,確定加固方法,選擇條件B,將峰值加速度設(shè)定為1 500 g,其中g(shù) 代表的是重力加速度,脈沖寬度則設(shè)定為0.5 ms,對于兩種加固方法同時施加機械沖擊載荷,觀察機械沖擊應(yīng)力分布情況。根據(jù)仿真操作的觀察,施加機械沖擊載荷兩種加固方法對應(yīng)的最大應(yīng)力點位置雖然不同,但是最大應(yīng)力都比較小。第一種加固方法的最大應(yīng)力點位于金屬引線,測算最大應(yīng)力是3.9 MPa。第二種加固方法最大應(yīng)力點位于載片,測算其最大應(yīng)力是6.0 MPa。綜合分析之后可以確定,兩種加固方法施加機械沖擊載荷,其間不會發(fā)生多芯組瓷介電容受損的問題。

3 多芯組瓷介電容加固穩(wěn)定性效果檢驗

按照以上提出的第二種加固方法,多芯組瓷介電容屬于常規(guī)形式的平行堆疊瓷介電容器,根據(jù)《混合集成電路通用規(guī)范》中提出的要求,可以對多芯組瓷介電容加固穩(wěn)定性效果進(jìn)行檢驗。分別從高溫存儲、溫度循環(huán)、機械沖擊、掃頻振動、隨機振動、恒定加速度5 個維度進(jìn)行檢驗,確定檢驗方法之后,按照上面5個維度依次設(shè)定檢驗條件如下:①存儲溫度為-150℃,168 h;②溫度循環(huán)條件為C,進(jìn)行100 個循環(huán);③機械沖擊設(shè)定為條件B;④掃頻振動設(shè)定為條件A;⑤隨機振動設(shè)定為條件F;⑥恒定加速度為49 500 m/s2,Y1方向。結(jié)束檢驗之后,測定多芯組瓷介電容加固功能,可以確定最終加固效果滿足使用要求。

4 結(jié)論

綜上所述,混合微電路使用多芯組瓷介電容器,在安裝環(huán)節(jié)為了保證可靠性,針對多芯組瓷介電容一般會采取加固的方法。因為瓷介電容的材料不同,所以選擇加固方法也有所區(qū)別。針對不同的加固方法,工作人員應(yīng)該展開綜合分析,探討每種加固方法的優(yōu)缺點,必要的情況下還可以展開試驗分析,選擇適用性與可靠性最高的加固方法,保證多芯組瓷介電容安裝可靠性的同時,也可以為混合微電路的運行提供支持,繼而有效提升多芯組瓷介電容加固水平,也為今后瓷介電容組裝階段的加固處理積累經(jīng)驗。

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