長孫月雷 張選朋 穆偉 劉寬宏
關(guān)鍵詞:高密度電阻率法;含水層;反演;解釋
近年來,高密度電法在水資源和工程勘查中的應(yīng)用越來越多,高密度電法作為直流電法的一種作業(yè)方式,其特點是一次布極,實現(xiàn)跑極和數(shù)據(jù)采集的自動化,野外工作效率高,數(shù)據(jù)可靠性高,但由于其布極密度較高,經(jīng)常應(yīng)用在地形比較好的地區(qū)。高密度電法的應(yīng)用和發(fā)展,對于解決目前水資源調(diào)查和工程勘查,起了很大作用。
有關(guān)高密度電法在工程勘察和水資源調(diào)查中的應(yīng)用,前人做了大量工作。張賡等(2013)等采用高密度電法對蓄水池滲漏點進行了研究。余金煌等(2014)等通過研究高密度電法不同裝置水下拋石工程的正反演計算,發(fā)現(xiàn)溫納裝置反演結(jié)果最佳,為水下拋石工程質(zhì)量評價提供了理論基礎(chǔ)。劉金安(2016)采用高密度電法探查水庫大壩滲漏,水庫庫岸穩(wěn)定性,海堤砌石體深度探測。黃國民等(2019)通過實例分析,總結(jié)碎屑巖地區(qū)高密度電法找水經(jīng)驗??捣狡降龋?020)等采用視電阻率聯(lián)合剖面法、高密度電阻率法和激電測深法相結(jié)合的綜合物探方法進行探測,可有效地查明區(qū)內(nèi)賦水相對有利的斷層構(gòu)造等部位,從而實現(xiàn)間接找水的目的。綜上所述,高密度電法是一類效果明顯的水文地質(zhì)地球物理勘查方法。其工作時效率較高,地電剖面成像準(zhǔn)確,已經(jīng)成為許多物探工作者在水資源和工程勘察中常用的一種方法。
本文結(jié)合前人研究,在充分了解工作區(qū)地質(zhì)、水文和地球物理特征的前提下,采用高密度電阻率方法對工作區(qū)水資源分布情況進行調(diào)查。通過對采集數(shù)據(jù)的處理、反演和解釋,研究整個研究區(qū)含水砂礫層的厚度和埋深情況,為工業(yè)井選址提供了依據(jù)。
1地質(zhì)與地球物理特征
1.1地質(zhì)概況
工作區(qū)處于西秦嶺山地和隴西黃土高原過渡帶,位于耤河河谷南岸一級階地,天水市某工業(yè)園區(qū)內(nèi)部大部分面積修建了廠房及水泥路,只有小面積的第四系黃土和砂礫、卵石出露,地勢平緩,有少數(shù)植被覆蓋。工作區(qū)所在地段藉河河谷兩側(cè)南北山地表黃土覆蓋,只在部分坡溝有小面積的第三系泥巖出露。黃土丘陵區(qū)內(nèi)黃土斜梁、斜坡與沖溝并存,溝深坡陡,地形坡度一般為10°~30°,部分地段達40°~50°,沖溝坡段達50°以上,溝谷幾乎垂直藉河呈南北向發(fā)育,切割深度一般10~30 m,多為黃土沖溝,部分沖溝切割到泥巖(圖1)。
天水市區(qū)位于秦嶺緯向構(gòu)造和祁呂賀山字型構(gòu)造體系的前孤,南北兩山橫亙,地質(zhì)構(gòu)造較為復(fù)雜,地貌結(jié)構(gòu)基本特征為“兩山夾一川”。根據(jù)區(qū)域地質(zhì)資料,無區(qū)域性深大斷裂構(gòu)造通過。本次工作區(qū)地質(zhì)資料查明,區(qū)內(nèi)地層自上而下主要為第四系沖、洪積層和新近系泥巖層。1)雜填土(Q),分布整個場地,雜色,稍濕,松散—稍密。土質(zhì)不均勻,上部以粉土、碎石為主,包含有大量植物根莖,少量磚塊、碳屑、生活垃圾等雜物,下部有20~40 cm厚的耕土。該層厚度0.40~1.70 m。2)砂礫石層(Q)遍布整個場地,雜色,稍濕一飽和,中密為主,局部稍密;地層不均勻,夾有中砂、礫砂、粉土、卵石粒,局部無規(guī)律相變?yōu)槁咽?,偶含漂石,漂石巖芯呈短柱狀;骨架顆粒成分主要為石英砂巖、花崗巖和變質(zhì)巖,呈微風(fēng)化狀;該層成因主要為河流沖積作用,經(jīng)遠距離搬運堆積形成;分選差,級配不良,磨圓度中等,多呈亞圓狀。該層總厚度為4.70~14.60 m,是本次高密度電法探測的主要含水目的層。3)泥質(zhì)粉砂巖、泥巖(N),遍布整個場地,灰綠色,密實,土質(zhì)均勻,上部約1.5 m呈強風(fēng)化狀態(tài),層狀結(jié)構(gòu),主要礦物有高嶺土、白云母、方解石、石膏等;巖石結(jié)構(gòu)較完整,隱約可見水平沉積層理,巖石致密,據(jù)區(qū)域地質(zhì)資料及以往在該地區(qū)的鉆探實踐,該層厚度大于50 m。
工作區(qū)及周邊地下水的形成受地質(zhì)、水文、構(gòu)造及地貌等因素控制,主要為第四系松散巖類孔隙水,該類地下水依據(jù)埋藏條件和賦存特征分為2類:黃土潛水和河谷潛水。黃土潛水主要分布在工作區(qū)以南靠近南山山前部位,該類地下水賦存于黃土下部粉質(zhì)黏土與灰綠色泥巖風(fēng)化層中,地下水埋深較淺,上部粉質(zhì)黏土透水性極差,通常不含水。該類水中泉流量小于0.001 L·s,但水質(zhì)較好,礦化度小。河谷潛水是工作區(qū)主要地下水類型,主要含水層為耤河一級階地砂礫石、圓礫層,地下潛水面埋深5~6m,含水層厚度1~19 m,最厚處19 m,區(qū)內(nèi)由北向南含水層逐漸變厚;地下水補給主要來自大氣降水和耤河側(cè)向補給,向河流及下游經(jīng)短距離徑流排泄。
1.2地球物理特征
地層結(jié)構(gòu)電性變化差異是開展高密度電阻率法探測方法的地球物理前提條件。此次高密度電阻率法探測的主要含水目的層為礫砂層,其含水地段相對不含水地段表現(xiàn)為低阻,基巖為泥質(zhì)粉砂巖、泥巖,表現(xiàn)為相對低阻特征,根據(jù)地層以上電性特點,采用高密度電阻率法探測方法,可以探測到水量較豐富礫砂層地段及基巖起伏變化情況,故工作區(qū)場地具備開展高密度電阻率法的地球物理前提(表1)。
2工作方法技術(shù)
根據(jù)工作區(qū)的地質(zhì)、水文、地形條件和研究目標(biāo),高密度電阻率法成為本次工作的首選方案。高密度電法集中了電剖面法和電測深法的優(yōu)勢,其原理與普通電阻率法相同,所不同的是在觀測中設(shè)置了高密度的觀測點,它是一種陣列勘探方法(鄭智杰等,2019)。工作區(qū)場地規(guī)則,地勢較為平坦,電測剖面布設(shè)方向東西向或南北向,使用GPS和皮尺確定測點位置。本次工作數(shù)據(jù)采集采用WDJD-3多功能數(shù)字直流激電儀為測控主機,配以WDZJ-3多電極轉(zhuǎn)換器構(gòu)成高密度電阻率測量系統(tǒng),電極裝置采用溫納裝置。技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行DZ/T0153-95《物化探工程測量規(guī)范》、DZ/T0073—93《電阻率剖面法技術(shù)規(guī)范》和DZ/T 0072-93《電阻率測深法技術(shù)規(guī)范》。
開展工作前,通過實驗,選擇MN為2.5 m作為本次高密度電阻率法的測量參數(shù)。本次高密度電阻率法探測工作共完成探測剖面3條(圖2),長度343 m,物理點數(shù)140個。
3數(shù)據(jù)處理與解釋
3.1數(shù)據(jù)處理
高密度電阻率法野外數(shù)據(jù)經(jīng)過數(shù)據(jù)整理、格式轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)編輯、施加地形信息、設(shè)置反演參數(shù)、斷面數(shù)據(jù)反演,最終形成含有地形信息的反演斷面圖,并結(jié)合地質(zhì)、鉆探資料進行解釋,資料處理。
3.2資料反演和解釋
資料解釋遵循從已知到未知、從點到面、從簡單到復(fù)雜、從局部到全區(qū)的原則(沈福斌等,2021)。充分收集區(qū)內(nèi)地質(zhì)、水文等資料,充分考慮各種復(fù)雜因素對觀測結(jié)果的影響,認真分析電性斷面參數(shù)和地質(zhì)斷面之間的聯(lián)系。根據(jù)以上原則,通過分析本次高密度電阻率法的電阻率斷面等值線異常特征,劃分?jǐn)嗝娴刭|(zhì)結(jié)構(gòu),推測區(qū)內(nèi)主要含水砂礫石層埋深、厚度及空間展布形態(tài)等情況。
3.2.1 L1剖面資料反演和解釋
由于L1剖面上鉆孔數(shù)據(jù)豐富(圖3),在開展工作之前,可以將L1剖面作為一條試驗剖面,通過對數(shù)據(jù)的處理反演和解釋,并結(jié)合鉆孔數(shù)據(jù)印證或輔助解釋,使得高密度解釋成果更加可靠。這樣做的目的是通過鉆孔施工剖面與高密度探測剖面結(jié)果的對比,總結(jié)不同地層巖性的電阻率特征,為其他地段高密度探測斷面的解釋提供依據(jù)。L1剖面的反演和解釋成果見圖4。
反演結(jié)果(圖4)與鉆孔施工工程地質(zhì)剖面(圖3)對比可知,在地下0~5m沿水平方向電阻率等值線不連續(xù),電阻率總體表現(xiàn)為中阻異常,電阻率值范圍小于100Ω·m,局部夾雜低阻團塊異常,對比鉆孔地質(zhì)資料,推測為地表第四系不均勻雜填土引起。在地下2~23 m范圍內(nèi)上部沿水平方向電阻率等值線較連續(xù),電阻率總體表現(xiàn)為中阻,局部存在團塊狀高阻異常,電阻率值范圍為幾十到幾百歐姆·米,對比鉆孔地質(zhì)資料,推測為第四系砂礫石層,砂礫石層頂部埋深2~5m,厚度2~15m。局部存在團塊狀高阻異常,可能是砂礫石層局部夾大直徑圓礫引起;在該層下部沿水平方向電阻率等值線較連續(xù),電阻率總體表現(xiàn)為中低阻,對比鉆孔地質(zhì)資料,推測第四系砂礫石層含水量較大引起。在地表約7~23 m,電阻率總體表現(xiàn)為低阻,電阻率值范圍為幾到幾十歐姆·米,沿水平方向電阻率等值線連續(xù),對比鉆孔地質(zhì)資料,推測為第三系砂質(zhì)泥巖層引起。
3.2.2 L17剖面資料反演和解釋
剖面長117.5 m,點距2.5 m,方位90°,根據(jù)試驗剖面解釋成果和區(qū)內(nèi)地質(zhì)資料,由反演視電阻率斷面推測:不均勻雜填土埋深約為0~5m,第四系砂礫石層埋深約為2~21m,厚度12~15 m,泥巖頂界面埋深約為19~21 m(圖5)。
4結(jié)論
1)采用高密度電阻率方法,對兩條剖面進行了綜合分析解釋,推測出區(qū)內(nèi)主要含水砂礫層埋深、厚度及空間展布形態(tài)等情況。推測南部砂礫石層較厚,埋深較大,含水情況比較有利。
2)依據(jù)工作區(qū)高密度電測深解釋成果,綜合區(qū)內(nèi)地質(zhì)、工程鉆探、水文等資料,對工作區(qū)地下水含水層進行了分析,建議選擇工業(yè)用水井位置2個,分別位于L1剖面52 m處,含水層砂礫石埋深3~22 m,厚約19 m;L17剖面60 m處,含水層砂礫石埋深3~21m,厚約17m。
3)在完成實驗剖面后,通過鉆孔驗證,通過對比分析,砂礫石厚度與物探推測厚度一致,由此可見,本次高密度電阻率法結(jié)果的可靠性。