楊勛勇,王建衛(wèi),張涵,馬奎,楊發(fā)順
(1.貴州工程應(yīng)用技術(shù)學院,貴州畢節(jié),551700;2.貴州大學大數(shù)據(jù)與信息工程學院,貴州貴陽,550025)
本文首先對大功率同步整流器的各個模塊進行了設(shè)計和驗證,整合各子模塊電路實現(xiàn)了預(yù)期的芯片電路參數(shù)。然后根據(jù)大功率同步整流器電路的功能、規(guī)模以及熱穩(wěn)定性等因素,合理規(guī)劃大功率同步整流器的三維堆疊以及各層之間的三維互連,也即合理安排TSV的位置,實現(xiàn)大功率同步整流器合理的三維布局,并對其進行電氣連接檢查,最后得到性能優(yōu)越的三維集成大功率同步整流器。
所設(shè)計的大功率同步整流器控制芯片(Controller)共有五個端口,包括連接整流橋輸出的Vrec端、輸出反饋端FK端、過流檢測端Sense、輸出端和接地端。Vrec端的電壓通過高壓降壓模塊后轉(zhuǎn)換成5V電壓給內(nèi)部各模塊電路提供電源。如圖1(a)所示,大功率同步整流器的整體結(jié)構(gòu)主要包括整流電路、控制電路、變壓器和濾波電路。將四個耐壓為700V的LDMOS器件組成的橋式整流電路規(guī)劃在整流芯片上,同步整流控制器Controller及變壓器勵磁電路規(guī)劃放置在控制芯片上,其余部分規(guī)劃為芯片外圍電路。圖1(b)所示的Controller內(nèi)部包括高壓降壓模塊、帶隙基準源、誤差放大器、PWM電壓比較器、鋸齒波產(chǎn)生電路、邏輯控制電路、驅(qū)動電路以及各種保護電路。
圖1 大功率同步整流器的結(jié)構(gòu)框圖
基于700V 1μm BCD工藝,在Cadence集成電路驗證平臺上對所設(shè)計的大功率同步整流器的模塊電路以及整體電路進行了仿真分析。在整體電路仿真時,電路按照圖1(a)所示進行連接。圖2為大功率同步整流輸出電壓和輸出電流的仿真曲線。
圖2 大功率同步整流輸出電壓和輸出電流的仿真
從圖2可以得到,當大功率同步整流器的輸入Vin為220V/50Hz的交流時,通過整流電路進行整流并濾波,再通過變壓器降壓,電阻R1和R2構(gòu)成的分壓電路對輸出電壓進行取樣后經(jīng)Controller的FK端反饋給控制電路,控制電路根據(jù)輸出電壓反饋來自適應(yīng)地調(diào)整LDMOS5驅(qū)動信號的占空比,使輸出電壓穩(wěn)定在5V。因此,當負載電阻RL為2Ω時,輸出電流約為2.5A。
圖3為大功率同步整流器的輸出電壓的負載特性仿真結(jié)果,從圖中可以看出,輸出電流在0~2.5A之間變化時,輸出電壓的波動范圍小于60mV,負載調(diào)整率為7.96mV/A。
圖3 大功率同步整流器的負載特性仿真曲線
輸出電壓與輸出電流在-30℃到140℃溫度范圍內(nèi)的仿真結(jié)果如圖4所示。從圖中可得出,輸出電壓的溫度系數(shù)為37.289ppm、輸出電流的溫度系數(shù)為37.266ppm。從4可以得到,輸出電壓電流隨溫度的變化不大,溫度大于80℃時,隨著溫度的升高,輸出電壓與輸出電流增大,與80℃時的最小電壓電流相比,電壓與電流分別高了0.032V與0.016A,當溫度低于80℃,隨著溫度的降低,輸出電壓與輸出電流升高,與80℃時相比,分別升高了0.025V與0.012A。
圖4 大功率同步整流器輸出電壓、電流在-30℃~140℃溫度范圍內(nèi)的變化曲線
本論文所設(shè)計的大功率同步整流器的版圖布局規(guī)劃如圖5所示。
圖5 大功率同步整流器的版圖布局規(guī)劃
控制芯片中包括有高壓降壓模塊、同步整流控制器Controller(含有帶隙基準模塊、誤差放大器、PWM電壓比較器、鋸齒波產(chǎn)生電路、邏輯控制驅(qū)動電路以及各保護電路)和功率開關(guān)管。,高壓穩(wěn)壓模塊由RC充電電路、前置基準電壓電路和LDO構(gòu)成,模塊中采用一個D-S耐壓700V的LDMOS調(diào)整管,版圖需要較大面積,功率開關(guān)管采用一個D-S耐壓700V的LDMOS,整流芯片中包含用于實現(xiàn)橋式整流的四個D-S耐壓為700V的LDMOS。為便于兩層芯片的三維堆疊,將兩層芯片的寬和長均設(shè)計為一樣,寬為2196μm、長為3936μm。
所設(shè)計的大功率同步整流器的版圖如圖6所示。TSV的尺寸和安全工作區(qū)間距均滿足設(shè)計規(guī)則檢查。分別對整流芯片版圖和控制芯片版圖Calibre進行了DRC和LVS驗證。分別導出兩層芯片包含所有l(wèi)ayer坐標信息的GDSII文件,用于三維堆疊版圖的驗證。
圖6 大功率同步整流器的版圖
大功率同步整流器的兩層芯片版圖如圖6所示,將這兩層芯片進行三維堆疊,整流芯片放置于底層,控制芯片放置于頂層, 每層芯片上各放置12個TSV,其中靠左側(cè)的四個TSV用于散熱,靠右側(cè)的8個TSV中位于芯片中心的2個用于散熱、另外6個用于信號互連,每層芯片上相應(yīng)的TSV坐標位置一一對應(yīng)。
TSV是一個多種材料的復(fù)合結(jié)構(gòu),它引入的應(yīng)力會使其附近的硅材料中產(chǎn)生壓阻效應(yīng),硅材料的壓阻效應(yīng)會影響有源區(qū)載流子的遷移率,載流子遷移率相對變化率的計算公式為:
其中,方向因子β(θ)是關(guān)于角度θ的函數(shù),θ定義為TSV中心和晶體管溝道中心的夾角,π是壓阻系數(shù),硅的壓阻系數(shù)π為71.8×10-11Pa-1,σrr是硅表面上距離TSV中心原點r處所對應(yīng)的應(yīng)力。
為了保證有源器件的性能,TSV與相鄰的有源區(qū)域之間需設(shè)置合適的安全間距,確保TSV引起的相鄰晶體管溝道區(qū)載流子遷移率的變化率低于5%。
在本文所設(shè)計的三維集成同步整流器中,設(shè)定每層芯片的厚度為100μm、TSV內(nèi)部絕緣層二氧化硅的厚度為1μm。有限元仿真得出當銅芯半徑為22μm時,TSV引起的應(yīng)力最小。因此,設(shè)計TSV的半徑為24.2μm(銅芯半徑為22μm、側(cè)壁氧化層厚度為1μm、勢壘層厚度為100nm)、TSV與相鄰有源區(qū)的最小間距為17μm、相鄰TSV之間的間距為260μm。根據(jù)式3-1計算得出θ為0°、45°和90°三種情況下,載流子遷移率變化率為5%時TSV與有源區(qū)器件的安全間距分別為:當θ為0°,TSV的半徑為24.2μm時,TSV與NMOS器件的安全距離為86.73μm,與PMOS器件的安全距離為98.02μm;當θ為45°,TSV的半徑為24.2μm時,TSV與NMOS器件的安全距離為77.27μm,與PMOS器件的安全距離為35.08μm;當θ為90°,TSV的半徑為24.2μm時,TSV與NMOS器件的安全距離為61.46μm,與PMOS器件的安全距離為94.64μm。TSV中銅芯的直徑不同,導致的應(yīng)力分布也不同。
首先分別對圖6所示的兩層芯片版圖進行了DRC和LVS驗證,將通過驗證后的兩層芯片版圖分別導出為GDS II文件。然后分別檢查銅芯、側(cè)壁二氧化硅層以及勢壘層對應(yīng)GDS II編號的坐標匹配信息,編寫規(guī)則檢查腳本文件,如圖7所示。最后,聯(lián)合兩層芯片的GDS II文件和規(guī)則檢查腳本文件,驗證坐標位置以及電氣連接情況。
圖7 三維集成同步整流器版圖的Calibre 3D stack規(guī)則檢查腳本文件
Calibre 3D stack驗證報告如圖8所示,檢查覆了兩層芯片上的全部6個LDMOS功率器件、12個信號互連TSV。驗證結(jié)果表明孔的坐標重合、縱向深度達到要求,保證了兩層芯片上TSV電氣連接關(guān)系正確。
圖8 三維集成大功率同步整流器的驗證報告
基于700V 1μm BCD工藝設(shè)計了一種大功率同步整流器,整合各功能模塊,仿真得到:大功率同步整流器的輸出電壓為5V,最大輸出電流為13.38A,最大輸出功率為66.9W?;谝褍?yōu)化好的電路設(shè)計了大功率同步整流器的控制芯片版圖和整流芯片版圖,將四個同步整流功率管LDMOS1、LDMOS2、LDMOS3、LDMOS4放置在整流芯片上,將整流控制電路、高壓降壓電路和開關(guān)管放置在控制芯片上。兩層芯片堆疊在一起,由6個半徑為24μm的TSV實現(xiàn)層間信號互連,額外添加了6個TSV作散熱用,基于Calibre 3D stack工具對三維堆疊的版圖進行了幾何規(guī)則和電氣連接檢查,檢查結(jié)果表明12個TSV連接孔的坐標重合,縱向深度達到要求,兩層芯片的TSV電氣連接關(guān)系正確。