梁德印 余婧 韓波 朱海健

(1 中國(guó)空間技術(shù)研究院遙感衛(wèi)星總體部，北京 100094)(2 中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所，上海 200083)

高光譜成像儀具有圖譜合一的特點(diǎn)，在物質(zhì)分類、目標(biāo)識(shí)別和定量遙感方面的價(jià)值尤為突出。我國(guó)近幾年發(fā)射的高分五號(hào)衛(wèi)星、資源一號(hào)02D衛(wèi)星[1]等多顆搭載高光譜成像儀的衛(wèi)星，在國(guó)土資源領(lǐng)域發(fā)揮了很好的作用，是遙感領(lǐng)域的一個(gè)重要發(fā)展方向。

探測(cè)器的一致性校正是高光譜遙感定量化分析的重要環(huán)節(jié)，然而，光學(xué)探測(cè)器每個(gè)像元響應(yīng)偏置不均勻性、固有噪聲和暗電流不一致性、外圍電路不一致性，均會(huì)導(dǎo)致像元間響應(yīng)存在差異[2]。隨著技術(shù)的進(jìn)步，遙感衛(wèi)星遙感器幅寬越來(lái)越大，達(dá)到數(shù)十千米甚至數(shù)百千米，對(duì)探測(cè)器均勻性要求也越來(lái)越高。傳統(tǒng)的定標(biāo)場(chǎng)幾乎不可能覆蓋遙感器全視場(chǎng)，因此，通過(guò)將衛(wèi)星或者遙感器偏航90°成像進(jìn)行相對(duì)輻射定標(biāo)(偏航定標(biāo))是解決探測(cè)器在軌一致性校正的首選辦法。

高光譜圖像光譜細(xì)分，光譜帶寬為納米級(jí)，相對(duì)來(lái)說(shuō)，每個(gè)光譜圖像能量較弱，由探測(cè)器不均勻性引起的條帶效應(yīng)相對(duì)于多光譜更為明顯；在近紅外譜段附近，高光譜成像儀容易出現(xiàn)由于探測(cè)器上下表面多次反射引起的標(biāo)準(zhǔn)具(Etalon)效應(yīng)，從而進(jìn)一步加劇高光譜圖像的條帶現(xiàn)象。因此，高頻次的一致性校正對(duì)高光譜成像儀更為重要。國(guó)外已經(jīng)有多顆衛(wèi)星在軌進(jìn)行了偏航定標(biāo)的試驗(yàn)，應(yīng)用較好的包括艾科諾斯-2(IKONOS-2)[3]、快鳥(niǎo)-2(Quickbird-2)[4]、“快眼”(RapidEye)[5]、陸地衛(wèi)星-8(Landsat-8)[6]等；國(guó)內(nèi)有高分一號(hào)衛(wèi)星等進(jìn)行了在軌偏航定標(biāo)試驗(yàn)和地面處理工作。上述國(guó)內(nèi)外對(duì)于偏航定標(biāo)的應(yīng)用僅限于全色和多光譜類載荷，對(duì)于定量化要求較高的高光譜成像儀缺少在軌偏航定標(biāo)策略及處理方法的相關(guān)研究。

本文提出一種針對(duì)星載高光譜成像儀的在軌偏航定標(biāo)方法，包含在軌定標(biāo)流程設(shè)計(jì)及數(shù)據(jù)處理方法等，并利用資源一號(hào)02D衛(wèi)星的在軌真實(shí)數(shù)據(jù)驗(yàn)證，結(jié)果表明本文方法對(duì)高光譜數(shù)據(jù)的一致性校正效果顯著，達(dá)到了較高的精度。

1 高光譜成像儀在軌偏航定標(biāo)方法

1.1 偏航定標(biāo)原理

偏航定標(biāo)的原理是通過(guò)衛(wèi)星平臺(tái)90°偏航機(jī)動(dòng)，使探測(cè)線陣方向與成像方向平行，如圖1所示。

圖1 偏航定標(biāo)方法原理Fig.1 Sketch of side slither calibration method

輻射定標(biāo)基準(zhǔn)的準(zhǔn)確性直接影響相對(duì)輻射定標(biāo)精度，理論上偏航定標(biāo)時(shí)由于探測(cè)線陣上的所有像元都對(duì)相同的地面區(qū)域成像，任何地物都可以用來(lái)當(dāng)作輻射定標(biāo)基準(zhǔn)，以確定像元之間的響應(yīng)關(guān)系[7]，相比傳統(tǒng)的使用地面定標(biāo)場(chǎng)地的方法，偏航定標(biāo)方法對(duì)定標(biāo)場(chǎng)地的要求明顯降低，可做到高頻次定標(biāo)。

1.2 偏航定標(biāo)方法

高光譜數(shù)據(jù)的特點(diǎn)與傳統(tǒng)多光譜數(shù)據(jù)有很大不同，包括光譜分辨率極高、像元固有噪聲影響大等，因此，在傳統(tǒng)在軌偏航定標(biāo)方法的基礎(chǔ)上，需要改進(jìn)偏航數(shù)據(jù)的獲取及處理，如圖2所示。高光譜成像儀由于光譜細(xì)分，每個(gè)譜段信噪比相對(duì)較弱，因此像元的暗電流變得不可忽略，需要在獲取偏航數(shù)據(jù)的當(dāng)圈獲取每個(gè)像元的暗電平數(shù)據(jù)，從而保證探測(cè)器響應(yīng)特性盡可能相近。此外，由于載荷積分時(shí)間的長(zhǎng)短直接影響了像元積累能量的大小，高光譜數(shù)據(jù)的定量化應(yīng)用要求像元接收能量穩(wěn)定，因此宜使用固定的積分時(shí)間，而固定積分時(shí)間會(huì)受到軌道和地形影響，造成偏航成像數(shù)據(jù)不是嚴(yán)格的45°，影響輻射基準(zhǔn)的選取，這也是偏航數(shù)據(jù)處理的難點(diǎn)，需要對(duì)固定的積分時(shí)間帶來(lái)的影響進(jìn)行專門(mén)處理。

圖2 在軌偏航定標(biāo)方法實(shí)現(xiàn)過(guò)程Fig.2 In-orbit side-slither calibration method realization process

1.2.1 定標(biāo)場(chǎng)地的選取

在軌進(jìn)行偏航相對(duì)輻射定標(biāo)時(shí)，定標(biāo)地物的選用原則主要有以下幾個(gè)方面。

(1)盡量選取輻射信息均勻的地物，同時(shí)為了使定標(biāo)地物能夠比較全面地覆蓋焦面探測(cè)像元的響應(yīng)范圍，在進(jìn)行偏航定標(biāo)時(shí)應(yīng)選取多種類型的地物作為定標(biāo)場(chǎng)景，特別是較難獲取的低輻亮度場(chǎng)景(如植被、海水、河水等)，還需要滿足合適的大氣環(huán)境、太陽(yáng)高度角等條件。

(2)盡量選擇大范圍的景物，以減小衛(wèi)星姿態(tài)精度對(duì)偏航定標(biāo)的影響，同時(shí)增加定標(biāo)的時(shí)間，獲取更多輻亮度等級(jí)的定標(biāo)數(shù)據(jù)，從統(tǒng)計(jì)概率的角度減小定標(biāo)的誤差。

表1對(duì)適用于偏航定標(biāo)的典型地物給出了建議。

表1 偏航定標(biāo)地物選取Table 1 Typical ground target for side-slither calibration

1.2.2 偏航數(shù)據(jù)獲取

在開(kāi)始成像前，需要衛(wèi)星平臺(tái)完成90°偏航機(jī)動(dòng)并達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)；此外，高光譜成像儀一般覆蓋可見(jiàn)光譜段至短波紅外譜段，短波紅外探測(cè)器需要提前開(kāi)機(jī)，等待探測(cè)器的溫度達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)才能獲得更好的輻射質(zhì)量。在偏航定標(biāo)拍攝當(dāng)圈，在地影區(qū)獲取所有像元的暗電平信息參與相對(duì)輻射校正，尤其對(duì)短波紅外探測(cè)器可獲得更高的校正精度，暗電平的獲取應(yīng)該與偏航成像時(shí)采用相同的積分時(shí)間、增益等成像參數(shù)。

高光譜成像儀偏航定標(biāo)時(shí)序如圖3所示[1]。

為滿足高光譜成像儀的應(yīng)用需求，在軌偏航定標(biāo)頻次應(yīng)不少于每季度1次。衛(wèi)星平臺(tái)除了具備偏航轉(zhuǎn)動(dòng)±90°的能力，同時(shí)還應(yīng)該具備偏航狀態(tài)下整星側(cè)擺能力和偏流角修正能力。

1.2.3 偏航數(shù)據(jù)處理

1)暗電平去除

在衛(wèi)星下傳的偏航定標(biāo)原始數(shù)據(jù)中，每個(gè)像元都包含較大的暗電流和固有噪聲，不去除暗電平會(huì)影響偏航定標(biāo)精度。因此，需要將與偏航成像具有相同成像參數(shù)的暗電平數(shù)據(jù)按列取平均值，每個(gè)譜段的每個(gè)像元均得到暗電平數(shù)據(jù)，將偏航數(shù)據(jù)減去暗電平用于后續(xù)處理。

2)偏航數(shù)據(jù)直線角度擬合

高光譜成像儀的偏航定標(biāo)是選取對(duì)同一地物成像的一行像元響應(yīng)值的均值作為輻射基準(zhǔn)的，理論上對(duì)相同地物成像的像元會(huì)在圖像上反映為一條45°斜線。但是，由于積分時(shí)間控制精度、像元尺寸精度等因素的影響，偏航圖像中的斜線往往不是45°。以資源一號(hào)02D衛(wèi)星為例，這些因素造成的角度偏差會(huì)達(dá)到3°～4°，會(huì)造成輻射基準(zhǔn)選取不準(zhǔn)，對(duì)偏航定標(biāo)的效果有很大影響，在選取輻射基準(zhǔn)前需要對(duì)偏航數(shù)據(jù)直線的真實(shí)角度進(jìn)行求解。

本文采用線段檢測(cè)器(LSD)方法[8]檢測(cè)偏航輻射定標(biāo)數(shù)據(jù)中探測(cè)器所有像元對(duì)同一地物成像形成的直線。LSD是一種高精度直線檢測(cè)方法，能在線性的時(shí)間內(nèi)獲得亞像素級(jí)精度的直線檢測(cè)結(jié)果，且不需要設(shè)置閾值。對(duì)檢測(cè)出的直線求取直線的角度，用抗差最小二乘法進(jìn)行擬合，通過(guò)反復(fù)迭代求得偏航數(shù)據(jù)斜線的真實(shí)角度。

3)輻射基準(zhǔn)選取

對(duì)同一地物成像的探測(cè)器像元選取方式如下。

(1)

式中：Csample和Cline分別為第j級(jí)輻亮度圖像中垂軌和沿軌方向的像元坐標(biāo)，取整數(shù)；Cstartline為計(jì)算的起始行；θ為不同像元對(duì)同一地物成像的響應(yīng)值組成的直線的真實(shí)角度；選擇參與計(jì)算圖像行的編號(hào)n=1,2,3…。

第j級(jí)輻亮度的輻射基準(zhǔn)響應(yīng)值為

(2)

式中：Spixel為像元總數(shù)；DCsample,Cline為像元坐標(biāo)為(Csample，Cline)的像元響應(yīng)值；BCsample為第Csample個(gè)像元的偏移量。

4)定標(biāo)系數(shù)求解

用于相對(duì)輻射校正的方法主要是定標(biāo)系數(shù)法，常用的算法有歸一化系數(shù)法和最小二乘法[9]。

歸一化系數(shù)法建立在探測(cè)器響應(yīng)為線性的基礎(chǔ)上，用減去偏移值后的像元量化值與輻射基準(zhǔn)響應(yīng)值的比值作為相對(duì)定標(biāo)系數(shù)Gi，即

(3)

式中：像元序號(hào)i=1，2，…；Di,raw為第i個(gè)像元的原始輸出值；Bi為第i個(gè)像元的偏移值；Dref為輻射基準(zhǔn)響應(yīng)值。

最小二乘法同時(shí)利用多個(gè)輻亮度等級(jí)的定標(biāo)圖像計(jì)算定標(biāo)系數(shù)，根據(jù)實(shí)際探測(cè)器響應(yīng)曲線，選擇一次或多次曲線擬合探測(cè)器響應(yīng)特性，計(jì)算定標(biāo)系數(shù)并對(duì)圖像進(jìn)行校正。在進(jìn)行函數(shù)逼近時(shí)，按照殘差平方和最小的準(zhǔn)則確定擬合參數(shù)。

(4)

式中：ai為采用一次最小二乘法的第i個(gè)像元的一次擬合系數(shù)；bi為采用一次最小二乘法的第i個(gè)像元的偏移值。

如果有j個(gè)輻亮度基準(zhǔn)，可根據(jù)式(4)列出j個(gè)方程，見(jiàn)式(5)。按最小二乘原理對(duì)j個(gè)一次方程求解，即可得到擬合系數(shù)ai和bi。

(5)

當(dāng)采用二次最小二乘法時(shí)，校正方程為

(6)

如果有j個(gè)輻亮度基準(zhǔn)，可根據(jù)式(6)列出j個(gè)方程，見(jiàn)式(7)。

(7)

基于定標(biāo)數(shù)據(jù)的歸一化系數(shù)法與最小二乘法是2種主要的計(jì)算相對(duì)定標(biāo)系數(shù)的方法。歸一化系數(shù)法計(jì)算簡(jiǎn)單，非常適用于探測(cè)器響應(yīng)線性度好的情況；最小二乘法考慮全面，還可根據(jù)探測(cè)器響應(yīng)特性選取相應(yīng)的擬合次數(shù)。

5)定標(biāo)精度評(píng)價(jià)

計(jì)算相對(duì)定標(biāo)精度的算法主要有平均行標(biāo)準(zhǔn)差法、平均標(biāo)準(zhǔn)差法和廣義噪聲法3種。平均行標(biāo)準(zhǔn)差法先計(jì)算相對(duì)輻射校正后圖像每列的平均值，得到1個(gè)平均行；然后計(jì)算該行數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差，再除以整幅圖像的平均值，即為通過(guò)該圖像計(jì)算得到的相對(duì)定標(biāo)精度。平均標(biāo)準(zhǔn)差法對(duì)相對(duì)輻射校正后圖像的各行計(jì)算其標(biāo)準(zhǔn)差；然后除以該行的平均值，得到各行的校正精度，取其平均值即為該圖像計(jì)算得到的相對(duì)定標(biāo)精度。廣義噪聲法對(duì)相對(duì)輻射校正后的圖像，計(jì)算每列圖像均值和整幅圖像均值，并求兩者差值的絕對(duì)值平均值；然后求該值與整幅圖像均值的比值，該比值即為圖像的廣義噪聲[10]。

本文主要采用平均行標(biāo)準(zhǔn)差法對(duì)校正后圖像進(jìn)行精度評(píng)價(jià)。設(shè)成像儀有N個(gè)像元，計(jì)算公式為

(8)

式中：R為通過(guò)該幅圖像計(jì)算得到的相對(duì)定標(biāo)精度；Dq為校正后圖像平均行第q列的像元響應(yīng)值；Daverage為圖像平均行的所有列的平均像元響應(yīng)值。

2 高光譜成像儀偏航定標(biāo)在軌驗(yàn)證

本文采用2021年5月12日資源一號(hào)02D衛(wèi)星高光譜成像儀的偏航定標(biāo)數(shù)據(jù)進(jìn)行驗(yàn)證。該衛(wèi)星是中國(guó)首顆進(jìn)入業(yè)務(wù)化運(yùn)行的高光譜衛(wèi)星，于2019年9月15日發(fā)射，綜合性能處于國(guó)際先進(jìn)水平，其主要技術(shù)指標(biāo)如表2所示。

表2 高光譜成像儀性能參數(shù)Table 2 Hyperspectral imager performance parameters

偏航成像覆蓋區(qū)域包括內(nèi)蒙古、山西、陜西一線，覆蓋多種地物，偏航定標(biāo)原始數(shù)據(jù)如圖4所示，衛(wèi)星成像采用固定積分時(shí)間，并獲取了暗電平數(shù)據(jù)。

圖4 短波紅外譜段和可見(jiàn)近紅外譜段偏航定標(biāo)數(shù)據(jù)Fig.4 Short wave infrared bands and visible-near infrared bands side-slither calibration data

2.1 暗電平去除

將與偏航成像具有相同成像參數(shù)的暗電平數(shù)據(jù)按列取平均值，作為式(4)和式(6)中的偏移值Bi。原始偏航數(shù)據(jù)去除暗電平前后圖像對(duì)比，如圖5所示，去除暗電平后圖像質(zhì)量得到很大改善。

圖5 短波紅外譜段數(shù)據(jù)暗電平去除效果Fig.5 Dark pixel removal effects of short wave infrared bands data

2.2 偏航數(shù)據(jù)夾角計(jì)算

采用LSD方法對(duì)14 000行偏航數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，按照40°～50°閾值去除偏離45°較大的直線，共獲得一萬(wàn)余條直線，對(duì)檢測(cè)出的直線求取直線的角度，用抗差最小二乘法進(jìn)行擬合，求得偏航數(shù)據(jù)斜線的真實(shí)角度。檢測(cè)直線如圖6所示，可見(jiàn)近紅外檢測(cè)角度為41.78°，短波紅外探測(cè)器由4個(gè)模塊拼接而成，編號(hào)為M1，M2，M3，M4，模塊角度分別為41.53°，41.60°，41.56°，41.84°。

圖6 可見(jiàn)近紅外譜段偏航角度檢測(cè)Fig.6 Visible-near infrared bands yaw angle detection

2.3 定標(biāo)系數(shù)求解

偏航數(shù)據(jù)直線真實(shí)角度檢測(cè)完成后，按照式(1)獲取偏航定標(biāo)長(zhǎng)條帶數(shù)據(jù)中對(duì)同一地物成像的像元，輻亮度等級(jí)不少于2000個(gè)，按照式(2)求得不同輻亮度等級(jí)下的輻射基準(zhǔn)響應(yīng)值。

本文分別用一次和二次最小二乘法進(jìn)行定標(biāo)系數(shù)的求解。獲得輻射基準(zhǔn)后，分別按照式(5)和式(7)對(duì)每個(gè)譜段的每個(gè)像元列出不少于2000個(gè)方程，按最小二乘原理對(duì)方程進(jìn)行求解，高光譜數(shù)據(jù)在每個(gè)譜段上每個(gè)像元均可獲得一組定標(biāo)系數(shù)。

2.4 相對(duì)定標(biāo)精度計(jì)算

本文主要采用平均行標(biāo)準(zhǔn)差法分別對(duì)可見(jiàn)近紅外譜段和短波紅外譜段的校正后圖像進(jìn)行精度評(píng)價(jià)。分別用一次和二次最小二乘法對(duì)可見(jiàn)近紅外譜段高光譜圖像偏航定標(biāo)效果進(jìn)行評(píng)價(jià)，結(jié)果如圖7所示。由圖7可知：應(yīng)用一次最小二乘法進(jìn)行相對(duì)輻射校正，76個(gè)譜段的平均定標(biāo)誤差為0.43%，最大誤差為0.8%；采用二次最小二乘法時(shí)，76個(gè)譜段的平均定標(biāo)誤差為0.45%，最大誤差為0.64%。采用0級(jí)圖像進(jìn)行校正效果對(duì)比，如圖8所示。由圖8可知：可見(jiàn)近紅外譜段采用一次和二次最小二乘法進(jìn)行偏航定標(biāo)校正的精度和效果相近，精度優(yōu)于1%，已經(jīng)看不出明顯條帶，校正效果顯著。

圖7 可見(jiàn)近紅外譜段偏航定標(biāo)精度Fig.7 Visible-near infrared bands side-slither calibration accuracy

圖8 可見(jiàn)近紅外譜段校正效果(36，18，6譜段)Fig.8 Visible-near infrared bands calibration effects (36,18,6 bands)

對(duì)于短波紅外譜段，由于短波紅外探測(cè)器采用4片探測(cè)器進(jìn)行品字形拼接的方式組成幅寬，其M1，M3模塊和M2，M4模塊在沿軌方向上有0.36°的視場(chǎng)差，因此在偏航定標(biāo)模式下，M1，M3模塊和M2，M4模塊拍攝的是不同地物，不能整幅寬進(jìn)行相對(duì)輻射校正，偏航定標(biāo)模式下只適合進(jìn)行單模塊校正。

本文分別采用一次和二次最小二乘法對(duì)短波紅外譜段每個(gè)模塊的90個(gè)譜段進(jìn)行校對(duì)輻射校正，校正結(jié)果如圖9所示。探測(cè)器4個(gè)模塊一致性差異較大，其中：M2，M4模塊響應(yīng)一致性優(yōu)于M1，M3模塊，在90個(gè)譜段中，M2，M4模塊約60個(gè)譜段相對(duì)輻射校正精度優(yōu)于1%，M1，M3模塊約28個(gè)譜段相對(duì)輻射校正精度優(yōu)于1%。采用一次和二次最小二乘法得到所有譜段平均相對(duì)輻射校正精度，如表3所示?？梢?jiàn)，平均相對(duì)定標(biāo)精度滿足優(yōu)于3%的指標(biāo)要求，且采用二次最小二乘法精度有明顯提升。

圖9 短波紅外譜段偏航定標(biāo)精度Fig.9 Short wave infrared bands side-slither calibration accuracy

表3 平均相對(duì)輻射校正精度Table 3 Average relative radiometric calibration accuracy %

短波紅外譜段0級(jí)圖像的相對(duì)輻射校正效果，如圖10所示。由圖10可見(jiàn)，偏航定標(biāo)對(duì)短波紅外譜段單模塊的校正效果十分顯著，校正后看不到明顯的條紋。校正精度整體上比較高，只有極個(gè)別譜段精度較差。

圖10 短波紅外譜段偏航定標(biāo)校正效果(45,33,10譜段)Fig.10 Short wave infrared bands calibration effects (45,33,10 bands)

另外，由圖9可以看出：短波紅外探測(cè)器4個(gè)模塊相對(duì)定標(biāo)精度的變化趨勢(shì)是一致的，22～29譜段(中心波長(zhǎng)1357.9～1475.8 nm)、49～56譜段(中心波長(zhǎng)1812～1929.9 nm)及89～90譜段(中心波長(zhǎng)2484.3～2501.08 nm)定標(biāo)精度急劇惡化，其主要原因是該譜段范圍處于強(qiáng)水汽吸收帶，或處于譜段范圍的邊緣，導(dǎo)致探測(cè)器響應(yīng)信號(hào)弱，影響相對(duì)輻射校正的效果，對(duì)于這些譜段采用二次最小二乘法校正后依然有明顯條紋，如圖11所示。

圖11 短波紅外譜段偏航定標(biāo)校正效果(50，56，90譜段)Fig.11 Short wave infrared bands calibration effects (50，56，90 bands)

由資源一號(hào)02D衛(wèi)星在軌偏航定標(biāo)試驗(yàn)結(jié)果可知：采用本文方法進(jìn)行像元一致性校正，可見(jiàn)近紅外譜段每個(gè)譜段校正精度均優(yōu)于0.64%，遠(yuǎn)高于在軌3%的指標(biāo)要求，短波紅外譜段每個(gè)探測(cè)器模塊少數(shù)譜段精度較差，整體上校正精度滿足指標(biāo)要求，大大降低了定標(biāo)的人力物力成本，具有高頻次定標(biāo)的應(yīng)用潛力，可為后續(xù)高光譜數(shù)據(jù)的定量化應(yīng)用打下基礎(chǔ)。

3 結(jié)束語(yǔ)

本文根據(jù)高光譜成像儀的特點(diǎn)提出星載高光譜成像儀偏航定標(biāo)方法，可以放寬對(duì)定標(biāo)場(chǎng)地的要求，實(shí)現(xiàn)高光譜成像儀的高頻次相對(duì)輻射校正，對(duì)提高高光譜數(shù)據(jù)的定量化應(yīng)用水平具有重要意義。本文應(yīng)用在軌真實(shí)的偏航數(shù)據(jù)進(jìn)行了相對(duì)輻射定標(biāo)試驗(yàn)，結(jié)果表明：對(duì)于可見(jiàn)近紅外譜段，本文的方法可以使所有譜段的相對(duì)校正精度均優(yōu)于0.64%，圖像條紋條帶噪聲得到很好的去除；對(duì)于短波紅外譜段，由于探測(cè)器本身的響應(yīng)一致性、穩(wěn)定性較差，探測(cè)器響應(yīng)存在一些非線性，整體相對(duì)校正精度優(yōu)于3%。對(duì)于采用品字形拼接的探測(cè)器，偏航定標(biāo)的應(yīng)用受到一定限制，必須要求定標(biāo)場(chǎng)地非常均勻才能達(dá)到較好的效果。此外，對(duì)于大氣吸收強(qiáng)烈的譜段和探測(cè)器響應(yīng)弱的譜段，偏航定標(biāo)效果也會(huì)受到很大的影響。