關(guān)仙為,龍玉梅,巴合提古麗·阿斯里別克,劉輝,羅筱璇,張 雪,鄭泰玉
(1.東北師范大學(xué)物理學(xué)院,吉林 長春 130024; 2.新疆伊犁師范大學(xué)電子與信息工程學(xué)院,新疆 伊犁 135000)
零點漲落是電磁場量子描述的一個顯著特點,也是真空中導(dǎo)體板之間的Casimir力和原子與導(dǎo)體板之間的Casimir-Polder力產(chǎn)生的根源[1-2].此后科學(xué)家又做了很多有益工作,包括將Casimir-Polder力廣泛應(yīng)用在物理精密儀器及在不同材料中,如金屬、石墨烯[3]、超導(dǎo)材料[4].
Casimir力在納米結(jié)構(gòu)材料中發(fā)揮了重要作用,2013年Thompson提出利用聚焦的光學(xué)鑷子束[5]捕獲單個Rb原子,并將其耦合到固態(tài)器件上,即納米級光子晶體腔.該裝置也可用于測量基態(tài)原子和導(dǎo)體板之間的Casimir-Polder力.2018年科學(xué)家研究了原子與石墨烯片之間的Casimir-Polder相互作用及與環(huán)境的熱平衡理論[6],并基于非零溫度下量子電動力學(xué)原理,給出了Casimir-Polder自由能和力的表達(dá)式.
區(qū)域Ⅰ充滿電介質(zhì);區(qū)域Ⅱ真空態(tài)圖1 理論模型示意圖
近年來越來越多的科學(xué)家研究排斥力,希望能夠克服納米技術(shù)中的靜摩擦問題.理論研究已經(jīng)發(fā)現(xiàn)了3種可以實現(xiàn)排斥力的方法,其中2種已經(jīng)被實驗所證實[7-8].第3種方法要利用磁場獲得[9],但是沒有實驗?zāi)軌蜃C明.為了在理論上證明第3種方法,本文選擇不受電場影響,在磁場作用下得到自旋能級分裂的中子,將其放在一維介質(zhì)腔中,如圖1所示.本文首先得到腔壁之間Casimir力的表達(dá)式,然后通過改變參量研究外部磁場大小、腔長、中子在腔中位置對力的影響.
如圖1所示,本文將一個受外部磁場調(diào)控的中子置于腔中位置x0處,x<0空間內(nèi)充滿透明的電介質(zhì),x>0空間內(nèi)為真空.腔的兩端x=-l和x=L(L→∞)處分別放置理想導(dǎo)體板,且在x=0處沒有涂層,允許其兩邊的場相互耦合[10].主要研究初態(tài)為裸基態(tài)時腔壁之間的動態(tài)Casimir力.
哈密頓量寫成
H=HN+HF+HI.
(1)
其中HN是中子的自由哈密頓量,在外部磁場的作用下中子的自旋態(tài)發(fā)生分裂,因此中子的自由哈密頓量可以寫成
(2)
用HF表示有介質(zhì)存在時的電磁場哈密頓量,公式為
(3)
(4)
這樣相互作用哈密頓量的表達(dá)式為
(5)
(6)
(7)
(8)
(9)
(10)
運用微擾理論計算初態(tài)為裸基態(tài)系統(tǒng)的二階能移為
(11)
(12)
(13)
(14)
(15)
通過求能量的導(dǎo)數(shù)得到腔壁之間的Casimir力為
(16)
將(13)—(15)式代入到(16)式中,得到外磁場影響下的腔壁之間的Casimir力的表達(dá)式
(17)
其中:
(18)
(19)
用Si(x)和Ci(x)分別表示正弦積分函數(shù)和余弦積分函數(shù)[15].并引入輔助函數(shù):
(20)
h2(x,t)=sin(x)[Ci(x+ω0t)+Ci(ω0t-x)]+cos(x)[Si(x+ω0t)-Si(ω0t-x)];
(21)
(22)
(23)
為了進(jìn)一步研究在外磁場作用下,含有中子的一維介質(zhì)腔腔壁之間Casimir力的特點以及中子位于腔中的位置和微腔尺寸對力產(chǎn)生的影響,進(jìn)行數(shù)值分析.
不同腔長情況下力隨磁感應(yīng)強(qiáng)度大小變化關(guān)系示意圖見圖2.圖2中子在腔中位置x0、相對介電常數(shù)εr取固定值,微腔長度l取不同值.從圖2中可以看出該力為正值,即為排斥力,且隨著磁感應(yīng)強(qiáng)度的增大,力逐漸增大.這說明磁場對該力的大小有調(diào)控作用.在磁感應(yīng)強(qiáng)度大小相同時,微腔的長度越小,力的數(shù)值越大.可以推測當(dāng)腔的長度足夠長時,由電磁場的零點漲落引起的Casimir力將會消失.
x0=-0.5×10-7 m,εr=1.44,t=1×10-13 s圖2 不同腔長情況下力隨磁感應(yīng)強(qiáng)度大小變化關(guān)系示意圖
=2×10-7 m,εr=1.44,t=1×10-13 s圖3 中子位于腔中不同位置情況下力隨磁感應(yīng)強(qiáng)度大小變化關(guān)系示意圖
圖3表示微腔長度l、相對介電常數(shù)εr取固定值,中子在腔中位置取不同值的情況下力隨磁感應(yīng)強(qiáng)度大小的變化趨勢.由圖3可知,力仍隨磁感應(yīng)強(qiáng)度的增大而增大.磁感應(yīng)強(qiáng)度相同時,x0越小,即中子越靠近x=-l處的理想導(dǎo)體板,力的數(shù)值越大,這與二能級原子與腔壁之間的Casimir-Polder力的相關(guān)結(jié)論是相似的[16].
本文在海森堡表象中運用微擾理論得到含有中子的一維介質(zhì)腔壁之間的Casimir力[17].通過數(shù)值分析得到了不同因素對力的影響.結(jié)果表明,腔壁之間的力是排斥力,其大小受到外部磁場的調(diào)控,且隨微腔長度的增加而減小.這說明中子距離理想導(dǎo)體板越近作用力越明顯.該結(jié)果為實驗中測得Casimir力提供了理論參考.