張 力,葉保璇,王康堅(jiān),余盛達(dá),李 恒,汪進(jìn)鋒,3,李興旺,3
(1.海南電網(wǎng)有限責(zé)任公司文昌供電局,海南 文昌 571300;2.北京振中建園電力技術(shù)發(fā)展有限公司,北京 100085;3.廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院,廣東 廣州 510080)
近年來,中國城市化建設(shè)的快速發(fā)展,使得城市用地日益緊缺,而架空線路的安全環(huán)境問題促使電力電纜廣泛投用。相比于架空線路,電纜具有占地小、供電可靠性高以及輸電容量大等優(yōu)勢,但隨著電纜敷設(shè)量和運(yùn)行年限的增加,電纜的故障和老化成為需要關(guān)注的重點(diǎn)問題[1-2]。在實(shí)際運(yùn)行過程中,熱效應(yīng)、水分、外護(hù)套破損以及制造工藝問題都可能引起電纜老化,從而導(dǎo)致電纜故障[3]。然而,由于電纜大多敷設(shè)于地下,一旦發(fā)生故障,不能快速準(zhǔn)確地找到故障發(fā)生點(diǎn),將增加維修時(shí)間和成本,甚至引發(fā)停電事故,造成嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失[4-5]。因此,監(jiān)測和診斷電纜的運(yùn)行狀態(tài),保證電纜的安全穩(wěn)定運(yùn)行極為重要。
局部放電監(jiān)測是診斷電纜局部缺陷的一種常用方法。但大多局放試驗(yàn)結(jié)果表明,該技術(shù)對制作工藝的缺陷更敏感,而對于電纜的老化隱患沒有十分有效的表現(xiàn)[6]。統(tǒng)計(jì)資料表明,水樹枝現(xiàn)象是造成電纜老化的主要原因之一,而電力電纜水樹枝的多少和劣化程度并不能靠局部放電的測試解決,而且耐壓實(shí)驗(yàn)也會(huì)使大型水樹枝發(fā)展成電樹枝,從而徹底擊穿電纜絕緣層[7-9]。因此,需要一種能快速精確定位電纜故障的無損檢測技術(shù),建立電纜運(yùn)行狀態(tài)在線監(jiān)測系統(tǒng)。
線性共振分析(LIRA)技術(shù)利用高頻下的電纜阻抗譜獲取電纜特征信息。通過先進(jìn)算法實(shí)現(xiàn)電纜狀態(tài)評(píng)估、電纜故障定位以及電纜老化診斷。LIRA技術(shù)基于傳輸線理論,將電纜阻抗(振幅和相位)作為一個(gè)廣泛頻帶應(yīng)用信號(hào)的函數(shù)來計(jì)算和分析,通過監(jiān)測和定位電纜阻抗的變化,對電纜進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)測和故障定位[10]。本文介紹了一種基于寬頻阻抗譜的電纜診斷新技術(shù)。該技術(shù)可在線使用,以檢測由絕緣故障或性能下降而引起的電纜電氣參數(shù)的局部或全局變化,并結(jié)合某中壓電纜的現(xiàn)場試驗(yàn)來驗(yàn)證該技術(shù)的應(yīng)用效果。
LIRA技術(shù)是2003—2006年哈爾登反應(yīng)堆工程在傳輸線理論基礎(chǔ)上發(fā)展起來的[11]。傳輸線是電路的一部分,提供發(fā)電機(jī)和負(fù)載之間的連接,結(jié)構(gòu)如圖1所示。傳輸線的特性取決于它的長度與進(jìn)入傳輸線電信號(hào)的波長的比值。
圖1 傳輸線系統(tǒng)
波長定義為:
式中,v為電信號(hào)的傳播速度;f為信號(hào)的頻率。當(dāng)傳輸線的長度遠(yuǎn)小于電信號(hào)波長時(shí),傳輸線對電路響應(yīng)和輸入阻抗幾乎沒有影響。從發(fā)電機(jī)側(cè)看,任意時(shí)刻的輸入阻抗等于負(fù)載阻抗。但是,當(dāng)電纜長度足夠長或者信號(hào)源的頻率足夠高時(shí),有L≥λ。此時(shí)傳輸線的線路特性會(huì)起到重要作用。從發(fā)電機(jī)看到的輸入阻抗與負(fù)載阻抗不匹配,因此可以利用高頻下傳輸線的輸入阻抗來獲取其運(yùn)行特性。根據(jù)傳輸線理論,可將電纜等效為如圖2所示的分布參數(shù)模型[12]。
圖2 傳輸線等效分布參數(shù)電路
傳輸線電壓和電流遵循以下微分方程:
式中,R是導(dǎo)體電阻;L是電感;C是電容;G是絕緣電導(dǎo)率。這些均為單位長度下電纜的分布參數(shù)。這4個(gè)參數(shù)可以完全表征高頻信號(hào)通過傳輸線時(shí)的傳播特性。在傳輸線理論中,傳輸線的特性通常通過傳播系數(shù)γ和特征阻抗Z0來研究,可表示為[13]:
通常,傳播系數(shù)還可寫成:
式中,實(shí)部α為線路衰減常數(shù),虛部β為相位常數(shù)。β與相速度和波長有關(guān),關(guān)系為:
利用式(4)和式(5)求解微分方程(2)和(3),可得距離電纜末端距離為d處的輸入阻抗Zd為:
式中,ΓL是負(fù)載反射系數(shù),ZL為線路末端的負(fù)載阻抗。
當(dāng)d等于電纜全長L時(shí),電纜首端輸入阻抗的表達(dá)式為:
電纜的特征參數(shù)γ和Z0是頻率的函數(shù),首端輸入阻抗也會(huì)隨著電源頻率的變化而改變。首端阻抗的頻率變化曲線稱為電纜的寬頻阻抗譜[14]。電纜寬頻阻抗譜分為阻抗幅值頻譜和相位頻譜[15]。圖3為某一個(gè)10 kV電纜在頻率范圍為0~50 MHz內(nèi)的輸入阻抗頻譜和相位頻譜??梢钥闯?,在阻抗幅值頻譜的極大值點(diǎn)附近和相位頻譜的過零點(diǎn)處,線路的輸入阻抗變化十分迅速。在此類諧振點(diǎn)附近,阻抗對線路狀態(tài)信息的變化十分敏感。當(dāng)電纜出現(xiàn)故障時(shí),其傳輸特性將發(fā)生改變,輸入阻抗也會(huì)隨之變化[16]。因此,可以通過測量寬頻阻抗譜來診斷電纜的運(yùn)行狀態(tài),判斷故障的發(fā)生位置[17]。
圖3 某10 kV電纜的輸入阻抗頻譜和相位頻譜
LIRA技術(shù)起初是根據(jù)核電站電纜診斷和狀態(tài)評(píng)估的需要而提出的,是一種無損檢測方法,不會(huì)對電纜和與電纜連接的設(shè)備造成損害。該技術(shù)將阻抗譜作為應(yīng)用信號(hào)頻率函數(shù)來進(jìn)行計(jì)算分析,可以測量出電纜的長度、接頭位置以及阻抗變化的異常點(diǎn)。此外,利用LIRA技術(shù),采用硬件和WS軟件結(jié)合的方式,搭建LIRA寬頻阻抗測試系統(tǒng)對電纜進(jìn)行狀態(tài)評(píng)估和故障定位。系統(tǒng)的測試電壓僅為5 V,適用于電纜所有電壓等級(jí),測試長度可達(dá)300 km。
LIRA測試系統(tǒng)對絕緣材料的微小變化十分敏感,如進(jìn)水受潮、水樹老化以及機(jī)械受損等。它可以診斷由惡劣環(huán)境條件(高溫、濕度以及輻射)引起的電纜絕緣老化,并檢測絕緣材料因機(jī)械沖擊或熱降解而發(fā)生的局部缺陷[18]。運(yùn)維部門可以借助此系統(tǒng)及時(shí)定位缺陷位置,并判斷缺陷的嚴(yán)重程度。
LIRA由幾部分軟件和硬件模塊組成,如圖4所示。其中,電纜連接到LIRA射頻測量板。
圖4 LIRA測試系統(tǒng)邏輯圖
LIRA發(fā)生器控制注入電纜的模擬信號(hào),向系統(tǒng)提供帶寬可配置的低電壓(5 V)掃描信號(hào)。LIRA分析儀是系統(tǒng)核心,分析信號(hào)并評(píng)估電纜運(yùn)行狀態(tài)。LIRA模擬器包含一個(gè)電纜模型、調(diào)制器以及數(shù)字化儀(任何電纜類型和長度都可以建模),可用于推斷真實(shí)的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,并執(zhí)行假設(shè)分析。LIRA數(shù)據(jù)庫允許以結(jié)構(gòu)化的方式存儲(chǔ)測量值[19]。
當(dāng)電纜受到機(jī)械應(yīng)力、進(jìn)水受潮、電老化以及熱老化等外界因素的影響,將會(huì)引起電纜分布參數(shù)的變化,尤其是電容C的改變會(huì)導(dǎo)致阻抗急劇變化[20]。在被測電纜上施加一個(gè)5 V的交流電壓,將阻抗頻譜(振幅和相位)作為寬頻(0.1~100 MHz)的應(yīng)用信號(hào)函數(shù)來計(jì)算和分析?;诟哳l諧振效應(yīng)寬帶頻域的分析方法,檢測對電纜細(xì)微變化非常敏感的電氣參數(shù),如絕緣介電常數(shù)、形狀物理參數(shù)、電流方向、電流強(qiáng)度、濕度以及絕緣缺陷等重要狀態(tài)指標(biāo),分析和計(jì)算出復(fù)雜的阻抗線性變化。利用強(qiáng)大的放大系數(shù)來改善阻抗圖的相位和幅度的某些特性,定位出發(fā)生明顯異常變化的缺陷點(diǎn)。LIRA中線共振效應(yīng)的頻譜分析原理如圖5所示。
圖5 LIRA中線共振效應(yīng)的頻譜分析
根據(jù)供電公司安排,分析某條10 kV XLPE電纜進(jìn)水或水樹異常點(diǎn)。本次測試采用LIRA線性寬頻阻抗測試系統(tǒng),如圖6所示。對被測電纜施加5 V的信號(hào),采集電纜全長和全部接頭位置,并通過阻抗頻譜分析的方式,找出電纜異常點(diǎn),分析電纜的形變、阻抗幅值以及電纜缺陷的正負(fù)極性,給出指導(dǎo)建議?,F(xiàn)場測試如圖7所示。
圖6 LIRA測試系統(tǒng)
圖7 LIRA現(xiàn)場測試
先對電纜進(jìn)行絕緣測試,使用2 500 V絕緣搖表對A、B、C三相進(jìn)行絕緣測試,A、B、C對地絕緣電阻分別為175 MΩ、500 MΩ以及15 MΩ。然后使用介損老化狀態(tài)評(píng)價(jià)設(shè)備對電纜進(jìn)行老化狀態(tài)評(píng)價(jià),基本掌握介損老化狀態(tài)的各個(gè)指標(biāo)。
造成電纜絕緣電阻低的主要原因可能是電纜產(chǎn)生了水樹老化或者使接頭進(jìn)水受潮,從而引起電纜絕緣下降[21]。在此嘗試根據(jù)LIRA測試系統(tǒng)生成的DNORM圖形查找出老化或進(jìn)水缺陷位置。確保被測電纜處于斷電狀態(tài),被測電纜的近端和遠(yuǎn)端與電網(wǎng)完全斷開,而且遠(yuǎn)端三相懸空,并互相保持足夠的安全距離。將同軸電纜測試線與設(shè)備的L1插孔相連接,紅黑夾子分別接到被測電纜的導(dǎo)體與屏蔽層。采用計(jì)算機(jī)軟件控制硬件的方式,輸入電纜信息。根據(jù)電纜長度3 445 m設(shè)定好測試頻率為10 MHz,測試端口L1,輸出阻抗50 Ω,測試模式選擇AVG模式,然后開始依次測試A、B、C相。
A相DNORM圖如圖8所示,關(guān)鍵位置、缺陷方向及嚴(yán)重程度如表1所示。
圖8 A相DNORM圖
表1 A相關(guān)鍵位置、缺陷方向及嚴(yán)重程度
在DNORM的關(guān)鍵位置定位圖中,紅色代表超出正常阻抗20%及以上,被認(rèn)為是警告標(biāo)志,應(yīng)進(jìn)行緊急處理,但若是接頭位置,則屬于正常的阻抗變化。黃色代表超出正常阻抗的10%及以上,應(yīng)該在一年內(nèi)對此位置進(jìn)行關(guān)注監(jiān)測,對比其參數(shù)變化。綠色代表正常的阻抗波動(dòng),無需處理。由A相DNORM圖形可知,電纜存在6處阻抗變化點(diǎn)分別位于電纜368 m、602 m、1 233 m、1 528 m、2 053 m以及2 348 m處。其中,電纜2 053 m處阻抗變化波動(dòng)超出正常阻抗29.20%,且呈負(fù)極性,因此考慮該位置可能存在缺陷。
B相DNORM圖如圖9所示,其關(guān)鍵位置、缺陷方向及嚴(yán)重程度如表2所示。C相DNORM圖如圖10所示,其關(guān)鍵位置、缺陷方向及嚴(yán)重程度如表3所示。
圖9 B相DNORM圖
圖10 C相DNORM圖
表2 B相關(guān)鍵位置、缺陷方向及嚴(yán)重程度
表3 C相關(guān)鍵位置、缺陷方向及嚴(yán)重程度
經(jīng)對比可知,B、C兩相DNORM圖阻抗幅值變化和關(guān)鍵位置與A相基本一致。將電纜三相阻抗測試圖合并比較,如圖11所示。電纜的A、B、C三相等長,全長3 449 m左右。使用自動(dòng)帶寬調(diào)整,從三相對比圖中可以得出測試電纜A、B、C三相阻抗變化位置基本重合,分別位于368 m、602 m、1 235 m、1 527 m、2 053 m以及2 348 m左右。
根據(jù)上述測得的LIRA數(shù)據(jù),在距離電纜首端2 053 m位置處發(fā)現(xiàn)顯著負(fù)極性阻抗變化。其中,A相阻抗變化波動(dòng)超出正常的29.2%,B相超出正常的27.43%,C相超出正常的28.21%,因此此處可能存在老化或進(jìn)水缺陷。結(jié)合電纜的絕緣狀況以及現(xiàn)場環(huán)境和基本情況,兩電纜終端和2 053 m處的接頭已經(jīng)進(jìn)行更換,但更換前兩側(cè)搖絕緣,絕緣阻值都達(dá)到千兆歐級(jí),做完接頭后絕緣下降極為明顯,最低只有幾十兆歐,因此謹(jǐn)慎建議2 053 m處的接頭為缺陷隱患點(diǎn)。
如圖11所示,電纜首端和末端均出現(xiàn)了尖端區(qū)域,這是由于測試夾具連接處與電纜末端阻抗不匹配所造成的。當(dāng)電纜局部缺陷處于電纜首末兩端附近時(shí),測試系統(tǒng)的空間分辨率與識(shí)別靈敏度將會(huì)受到影響,可以通過增加最高測量頻率來改善此類問題[22]。
圖11 三相全長及阻抗比較測試圖
本文提出了一種基于寬頻阻抗譜的電纜診斷新技術(shù),可以顯示電纜阻抗的變化,精確定位電纜故障。使用LIRA寬頻阻抗測試系統(tǒng)對10 kV電纜進(jìn)行現(xiàn)場試驗(yàn)驗(yàn)證,測試結(jié)果表明該技術(shù)可以檢測電纜全長和接頭位置,精確定位電纜的水樹和進(jìn)水受潮缺陷,而且誤差可控制到0.3%以下。此測試方法目前在國內(nèi)處于現(xiàn)場經(jīng)驗(yàn)和測試數(shù)據(jù)大量積累的階段,因此針對分析數(shù)據(jù)應(yīng)審慎對待。