張桂玉 任希慶

摘要：本文測(cè)試的芯片是一款針對(duì)物聯(lián)網(wǎng)市場(chǎng)開發(fā)的高性能2.4 GHz/5 GHz雙頻Wi-Fi射頻芯片，支持802.11 a/b/g/n，Wi-Fi Direct、Soft AP以及STA/AP模式共存。具有高速性、穩(wěn)定性和傳輸距離遠(yuǎn)等特點(diǎn)，可以高度匹配音視頻流媒體傳輸。廣泛應(yīng)用于無線流媒體音視頻播放、虛擬現(xiàn)實(shí)、無人機(jī)、運(yùn)動(dòng)相機(jī)、車聯(lián)網(wǎng)、工業(yè)控制、智能家居等領(lǐng)域。本文將對(duì)雙頻Wi-Fi芯片基于IntegraFlex平臺(tái)量產(chǎn)測(cè)試開發(fā)流程的簡(jiǎn)要分析，主要圍繞測(cè)試硬件和軟件兩個(gè)方面進(jìn)行闡述。

關(guān)鍵詞：2.4G/5CJ;雙頻Wi-Fi芯片;ATE IFLEX;量產(chǎn)測(cè)試;硬件和軟件

0 引言

隨著網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的不斷進(jìn)步，無線網(wǎng)絡(luò)的傳輸速度也在不斷提升，2.4 GHz/5 GHz雙頻Wi-Fi芯片的誕生可以滿足網(wǎng)絡(luò)傳輸快的特點(diǎn)，是Wi-Fi無線傳輸技術(shù)發(fā)展史上的一個(gè)里程碑。當(dāng)芯片開發(fā)成功后需要產(chǎn)業(yè)化時(shí)，就需要進(jìn)行量產(chǎn)測(cè)試，使芯片測(cè)試的各方面性能指標(biāo)能夠滿足設(shè)計(jì)要求。因此自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備便是用于量產(chǎn)測(cè)試芯片的必選。我們需要依據(jù)芯片的設(shè)計(jì)指標(biāo)選擇適合的ATE測(cè)試設(shè)備，根據(jù)選好的設(shè)備設(shè)計(jì)并制作測(cè)試電路板，然后在設(shè)備上開發(fā)測(cè)試程序，調(diào)試，最后實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)。

1 ATE測(cè)i設(shè)備選擇

首先需要根據(jù)芯片的封裝形式、管腳數(shù)、并行度（一次自動(dòng)測(cè)試芯片的數(shù)量）、頻率指標(biāo)、測(cè)試向量深度及芯片自身的特殊性，確定自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的類型。

我們需要測(cè)試的這顆芯片是2.4G/5G雙頻Wi-Fi芯片，包含數(shù)字、模擬和射頻部分。封裝形式是WLCSP73管腳，并行度設(shè)定為2，因?yàn)樯漕l芯片測(cè)試射頻部分時(shí)容易產(chǎn)生電磁干擾，所以暫時(shí)選擇2個(gè)并行度測(cè)試。

我們根據(jù)以上芯片的特性及產(chǎn)品說明書，并且與設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)溝通，選擇自動(dòng)測(cè)試設(shè)備Teradyne IntegraFlex（簡(jiǎn)稱IFLEX）。IFlex測(cè)試系統(tǒng)是美國Teradyne公司生產(chǎn)的一種針對(duì)大產(chǎn)量的存儲(chǔ)器、模擬、數(shù)字及射頻功能進(jìn)行并行測(cè)試的超大規(guī)模（VLSI）測(cè)試系統(tǒng)，IFlex測(cè)試系統(tǒng)總體外觀如圖1所示。

它的主要性能指如下[1]。

1）數(shù)字模擬部分：

.具有高達(dá)200 MHz全格式化的驅(qū)動(dòng)以及數(shù)據(jù)接受能力，及數(shù)據(jù)測(cè)試時(shí)鐘;

.配置可以達(dá)到1 056數(shù)字通道，進(jìn)而提高數(shù)據(jù)測(cè)試能力;

.具有64兆的圖形存儲(chǔ)深度;

·每個(gè)通道具有獨(dú)立（per pin）的測(cè)試電平以及測(cè)試時(shí)序;

·具有高電壓高電流（±30 V，±100 mA，或者±75 V，±350 mA）參數(shù)測(cè)量單元;

·具有多個(gè)通道測(cè)試單元（Per Pin ParametricMeasurement Units，PPMU），可以逐個(gè)通道對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試;

·具有高電壓高電流板載參數(shù)測(cè)試單元（BPMU），可以對(duì)需要進(jìn)行高電壓或者高電流測(cè)試的芯片進(jìn)行測(cè)試;

.具有能夠提供高電壓驅(qū)動(dòng)的4個(gè)通道板，這些通道分別在每塊通道板的0，4，32和36通道;

·具有數(shù)/模轉(zhuǎn)換，模/數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試選件板（ConverterTest Option，CTO），可以對(duì)具有數(shù)/模轉(zhuǎn)換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換功能的芯片進(jìn)行測(cè)試;

·具有內(nèi)嵌存儲(chǔ)測(cè)試選件板（Memory Test Option，MTO），可以對(duì)一些具有存儲(chǔ)功能的芯片進(jìn)行測(cè)試。

2）射頻部分：

.多達(dá)44個(gè)射頻通道，提高測(cè)試并行度;

.6 GHz的發(fā)射源和測(cè)量能力，GPIO支持大于6GHz，2.7 GHz/6 GHz的調(diào)制解調(diào)能力;

.時(shí)域，光譜，調(diào)制分析，功率，相位噪聲，窄帶捕獲增強(qiáng)IP3，高輸出功率和低噪聲等;

.6 GHz全部集成的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（配置圖如圖2）。

3）測(cè)試軟件：圖形化測(cè)試軟件_IG_XL[2]

泰瑞達(dá)IG-XL軟件是一個(gè)基于Windows NT技術(shù)的測(cè)試開發(fā)軟件，它使測(cè)試過程的靈活性、可移植性以及質(zhì)量水平達(dá)到了新高度。具有器件編程、模塊化測(cè)試程序的特點(diǎn)，還可配有第三方工具。

2 芯片測(cè)試電路板的設(shè)計(jì)及制作

根據(jù)芯片的測(cè)試規(guī)范及自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的接口設(shè)計(jì)并制作測(cè)試電路板。此板卡設(shè)計(jì)的關(guān)鍵是避免并行測(cè)試時(shí)射頻信號(hào)的相互干擾，因此板卡上PCB布線，以及元器件、射頻線纜、插座探針的選擇都應(yīng)該有很強(qiáng)的抗干擾性能。板卡示意圖如圖3。

3 芯片測(cè)試程序的開發(fā)及調(diào)試

芯片測(cè)試程序是基于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)自帶軟件開發(fā)的針對(duì)芯片測(cè)試規(guī)范的一套代碼[3]，是整個(gè)芯片量產(chǎn)測(cè)試的重要環(huán)節(jié)。開發(fā)初期需要與相關(guān)設(shè)計(jì)工程師一起確定測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試結(jié)果范圍，然后制定測(cè)試計(jì)劃，根據(jù)測(cè)試計(jì)劃編寫測(cè)試代碼，校驗(yàn)代碼是否正確。當(dāng)測(cè)試程序校準(zhǔn)無誤后，需要用樣片進(jìn)行逐項(xiàng)調(diào)試，直到所有測(cè)試項(xiàng)目全部通過。最后測(cè)試多個(gè)不同批次的芯片，記錄一些測(cè)試值，根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)方法計(jì)算出這些項(xiàng)目測(cè)試值的平均范圍，以此確定測(cè)試程序的最終測(cè)試結(jié)果范圍。

此芯片的測(cè)試項(xiàng)目如下：

.開短路測(cè)試

.漏電流測(cè)試

.工作電流的每種狀態(tài)測(cè)試

·數(shù)字部分相關(guān)的DFT測(cè)試，包括SCAN，ATPG各種芯片內(nèi)部寄存器鏈

.射頻部分功耗測(cè)試

.LDO/SMPS模塊測(cè)試

.射頻LB/HB發(fā)射功率參數(shù)測(cè)試

.射頻LB/HB接收靈敏度等參數(shù)測(cè)試

.射頻LB/HB接收ADC code、SNR、THD測(cè)試

.PLL LB/HB測(cè)試

.X-TAL測(cè)試

4 結(jié)論

本文介紹了一顆雙頻Wi-Fi芯片量產(chǎn)測(cè)試開發(fā)的流程及相關(guān)技術(shù)問題。實(shí)際生產(chǎn)中開發(fā)的過程會(huì)更加具體，一般一款芯片的開發(fā)周期大概是1年左右，從設(shè)計(jì)、流片，到驗(yàn)證量產(chǎn)，測(cè)試工程師都應(yīng)該全程參與，這樣才能提高開發(fā)效率。開發(fā)成功后還需要一些工程批次的不斷驗(yàn)證，來找到測(cè)試程序限值與芯片設(shè)計(jì)要求之間的平衡點(diǎn)，以此來提升芯片量產(chǎn)測(cè)試良率。同時(shí)也可以通過量產(chǎn)測(cè)試發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)及制造過程中產(chǎn)生的缺陷，不斷修改設(shè)計(jì)及制造參數(shù)，最后使芯片的量產(chǎn)良率達(dá)到一個(gè)較高的水平。

參考文獻(xiàn)：

[1] IntegraFlex服務(wù)手冊(cè)[Z].泰瑞達(dá)公司，2004：5-30.

[2] IG-XL測(cè)試分析手冊(cè)[Z].泰瑞達(dá)公司，1 999：4-58.

[3] VBT測(cè)試語言[Z].摩托羅拉公司，2000：10-22.