孔德鈺,劉 洋
(電子科技大學(xué)電子科學(xué)與工程學(xué)院,四川成都 610054)
在過去50年中,半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)一直遵循著摩爾定律[1],更小尺寸的半導(dǎo)體技術(shù)節(jié)點(diǎn)具有更高的性能、更高的門密度以及更高的能量效率。然而,隨著工藝尺寸的減小,芯片內(nèi)部的功率密度也在不斷增加,使芯片的工作溫度急劇升高,直接影響了電路的性能[2]。因而,在芯片中加入片上溫度傳感器來監(jiān)控芯片的熱分布[3],以保證芯片中的各種電路的工作性能和可靠性變得尤為重要。
對于片上溫度傳感器而言,最重要的需求是面積小、功耗低和溫度精度高[4]。在時(shí)域溫度傳感器中,溫度以輸出信號(hào)的頻率、占空比或脈沖延時(shí)來表示。時(shí)域溫度傳感器電路具有面積小、功耗低和轉(zhuǎn)換率高的特性,適用于片上熱管理應(yīng)用[5],經(jīng)常被用于片上溫度監(jiān)測。
本文提出的溫度-頻率轉(zhuǎn)換器的溫度檢測范圍在-40~+85 ℃之間,覆蓋了常規(guī)芯片的工作溫度范圍,溫度檢測誤差在±1 ℃范圍以內(nèi)。本文采用準(zhǔn)數(shù)字全MOS的溫度傳感器架構(gòu)[6],設(shè)計(jì)了一個(gè)輸出電流與絕對溫度成比例(proportional to absolute temperature,PTAT)的電流發(fā)生器。使用該P(yáng)TAT電流發(fā)生器將環(huán)境溫度轉(zhuǎn)換為溫度等效電流,然后,將PTAT電路產(chǎn)生的溫度等效電流鏡像到源耦合振蕩器中,利用源耦合諧振蕩的溫度穩(wěn)定性[7-8],獲得絕對溫度的等效頻率并輸出。測試結(jié)果表明,所提出的溫度傳感器能夠以頻率方式檢測環(huán)境溫度,溫度誤差小于1 ℃。
本文提出的溫度傳感器的原理框圖如圖1所示。通過PTAT電流發(fā)生器,將環(huán)境溫度轉(zhuǎn)換為PTAT電流,然后將該電流用作源耦合振蕩器的偏置電流,最后以頻率的形式輸出環(huán)境溫度。
圖1 溫度-頻率轉(zhuǎn)換器的框圖
圖2為PTAT電流發(fā)生器的電路圖。在PTAT電路中,由于正反饋的存在,導(dǎo)致電路有2個(gè)穩(wěn)定工作狀態(tài),即休眠狀態(tài)和正常工作狀態(tài)。因此,需要加入啟動(dòng)電路將其收斂于期望的正常工作狀態(tài)。在圖2中,N型場效應(yīng)晶體管MS1,MS2和電容器CS構(gòu)成了PTAT電流發(fā)生器的啟動(dòng)電路。在休眠狀態(tài),啟動(dòng)電路消耗少量納安級(jí)的電流,并將電路切換到正常工作狀態(tài),然后不再消耗電流,其消耗的功耗可以忽略不計(jì)。
圖2 PTAT電流發(fā)生器的電路圖
在圖2中,M1工作于深三極管區(qū)域,起到有源電阻器的作用,其漏極電流可表示為
Ip=KnS1Vds1(Vgs1-Vth)
(1)
式中:Ip為PTAT電流;Kn為NMOS的跨導(dǎo)參數(shù);S1、Vgs1、Vds1和Vth分別為M1的寬長比、柵-源電壓、漏-源電壓和閾值電壓。
從式(1)可知,為了求解Ip,需要分別求解Vds1和Vgs1。Vds1可由(2)式得到:
(2)
式中:η為亞閾值斜率;K為玻爾茲曼常數(shù);T為絕對溫度;q為單位電荷量;S6和S7分別為M6和M7的寬長比。
在圖2中可以看出,流過PTAT電流發(fā)生器的每個(gè)分支的電流是相等的。根據(jù)基爾霍夫電壓定律(Kirchhoff’s voltage law,KVL)
Vgs1=Vgs2+Vds5
(3)
式中Vgs2和Vds5分別為M2的柵-源電壓和M5的漏-源電壓。
由于M2工作于飽和區(qū),則
(4)
式中S2為M2的寬長比。
根據(jù)KVL定律,Vds5=Vgs5-Vds3-Vds4,其中Vgs3是M3的柵-源電壓,Vds3和Vds4分別是M3和M4的漏-源電壓。M3和M4分別工作于飽和區(qū)和線性區(qū)。Vds5可以寫成:
(5)
其中Sa為
(6)
式(6)中,Sb為
(7)
式(7)中,Sc為
(8)
將式(4)和式(5)代入式(3)可得:
(9)
從式(9)可以看出,Vgs1的溫度特性由與溫度相關(guān)的3部分決定。第一部分Vth與絕對溫度成反比;由于NMOS的遷移率μn與溫度無關(guān),第二、三部分可以看作是PTAT電流Ip的函數(shù)。通過選擇合適的晶體管的寬長比,第一部分的閾值電壓與溫度成反比的特性可以用第二、三部分的PTAT特性來抵消,使Vgs1與溫度無關(guān)。
圖3為使用cadence spectre仿真器,對Vgs1在-40~+85 ℃的溫度范圍內(nèi)的仿真結(jié)果。從圖中可以看出,在-40~+85 ℃溫度范圍內(nèi)Vgs1幾乎恒定,即Vgs1的大小與溫度的變化無關(guān),與式(9)得出的結(jié)論一致。
圖3 M1的柵-源電壓隨溫度變化的仿真結(jié)果
將式(2)代入到式(1)還可以得到:
(10)
在式(10)中,(ηKS1μn/q)ln(S7/S6)是常數(shù),并且,由于參數(shù)m的數(shù)值非常小,由溫度變化引起的(T/T0)(1-m)的變化可忽略不計(jì)[9]。因此,電流Ip與(Vgs1-Vth)成正比。又由于式(9)得出的結(jié)論,Vgs1的變化幾乎與溫度無關(guān),并且Vth隨溫度升高而降低。因此,(Vgs1-Vth)將隨著溫度增加而增大,因此,Ip將表現(xiàn)出PTAT特性,如圖4所示。
圖4 M1的過驅(qū)動(dòng)電壓隨溫度變化的仿真結(jié)果
相對于傳統(tǒng)的基于施密特觸發(fā)器的張弛振蕩器,源極耦合振蕩器能夠提供對稱的波形以及更高的振蕩頻率[10],因此,被廣泛用于壓控振蕩器、流控振蕩器和I/Q交叉耦合振蕩器中。源極耦合振蕩器的簡化原理圖如圖5所示。
圖5 源極耦合振蕩器的簡化原理圖
圖5中交叉耦合的M1和M2為增益級(jí),它們驅(qū)動(dòng)阻值為R的電阻負(fù)載。M1和M2不斷地交替開關(guān),決定了浮動(dòng)電容器Co的充放電方向。當(dāng)M1處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí),M2處于截止?fàn)顟B(tài),Co從左向右充電,此時(shí)Vout+=Vdd-=2Ip,Vout-=Vdd。Co兩端的波形為三角波,一旦Co左端的電壓下降到觸發(fā)電壓時(shí),M1和M2的工作狀態(tài)即發(fā)生切換,Co從右向左充電。在輸出端得到的波形取決于電容器Co的大小,振蕩器的振蕩頻率為
(11)
式中Vpp為電容Co兩端的峰峰值電壓。
由式(11)可以看出,當(dāng)Co的電容為固定值時(shí),振蕩頻率f與源極耦合振蕩器的偏置電流Ip成正比。因此,當(dāng)使用PTAT電流Ip作為源極耦合振蕩器偏置電流時(shí),所得到的振蕩頻率也具有PTAT特性。
本文使用的源極耦合振蕩器電路圖如圖6所示。本文提出的源極耦合振蕩器,在圖5的基礎(chǔ)上,使用Mp1和Mp2作為振蕩器的輸出緩沖級(jí),以獲得方波輸出波形。
圖6 本文提出的源極耦合振蕩器電路圖
本文所提出的片上溫度傳感器使用22 nm SOI CMOS工藝設(shè)計(jì)并流片。傳感器的顯微照片如圖7所示,有效面積為0.01 mm2。工作于+85 ℃時(shí),溫度傳感器的功耗達(dá)到最大值為500 nW。該溫度傳感器的電源電壓為0.8 V,與標(biāo)準(zhǔn)22 nm SOI CMOS工藝的電源電壓相同,因此,在大多數(shù)實(shí)際應(yīng)用中,不需要使用額外的電源電壓供電,節(jié)省了芯片面積和功耗。
圖7 片上溫度傳感器的顯微照片
對同一批次的8顆傳感器芯片進(jìn)行了測試,所有測量均在-40~+85 ℃的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行。測量結(jié)果如圖8所示,由圖8中可以看出,傳感器輸出的熱等效頻率隨溫度線性變化。因此,采用了單點(diǎn)校準(zhǔn)方法來進(jìn)行校準(zhǔn),以工作溫度范圍的中間值22.5 ℃作為參考溫度,該溫度同時(shí)也是室溫,然后,使用MATLAB計(jì)算了溫度誤差。
圖8 溫度-頻率轉(zhuǎn)換電路的測量結(jié)果
圖9為8個(gè)樣品的溫度誤差測試結(jié)果,溫度傳感器的輸出溫度誤差在1 ℃以內(nèi)。
圖9 測得的8個(gè)片上傳感器的溫度誤差
本文設(shè)計(jì)了一種最大功耗為500 nW,面積為0.01 mm2的低功耗小尺寸溫度傳感器,它可以將芯片內(nèi)部溫度轉(zhuǎn)換為等效頻率。測試結(jié)果表明,該溫度傳感器能夠檢測-40~+85 ℃范圍內(nèi)的溫度,在使用單點(diǎn)校準(zhǔn)后,該溫度傳感器的溫度測量誤差小于1 ℃。其電源電壓為0.8 V,與22 nm CMOS工藝節(jié)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)電源電壓一致,這使得大多數(shù)情況下,該傳感器不需要額外的電源電壓。隨著半導(dǎo)體工藝尺寸的減小,芯片內(nèi)功耗密度急劇增加,局部溫度過高會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部電路性能下降甚至失效等問題,該溫度傳感器尤其適用于片上溫度檢測及熱管理應(yīng)用。