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M5000臺(tái)式直讀光譜儀在爐前快速分析中的應(yīng)用

2020-01-09 07:17:42高保東
同煤科技 2019年6期
關(guān)鍵詞:光譜儀氬氣校正

高保東

(大同煤礦集團(tuán)機(jī)電裝備公司中央機(jī)廠山西大同037003)

0 引言

礦用液壓支架的柱窩、柱帽、耳座等鑄件采用的金屬材料是鑄鋼ZG30Cr06,其抗負(fù)荷、抗沖擊機(jī)械性能較高,焊接性能也較好,材料成本也較低。這些鑄件是采用電弧爐鑄造碳鋼氧化法冶煉工藝制造,金屬材料隨時(shí)間長(zhǎng)短耗損差別較大,在產(chǎn)品澆注前,要求對(duì)勺式取樣的樣品進(jìn)行快速而準(zhǔn)確地分析檢測(cè)。

傳統(tǒng)檢測(cè)方法是,從模具中取出樣品,將塊狀樣品沿著高度方向的下端1/3處截取樣品,厚度約20 mm~50 mm,平面直徑大于16 mm,然后進(jìn)行平面研磨、拋光,進(jìn)行光譜激發(fā)檢測(cè),這樣耗費(fèi)時(shí)間約40~60分鐘。在這個(gè)時(shí)間過(guò)程中,電弧爐中材料隨時(shí)間耗損較大,硅鐵約10 kg/30 min和錳鐵約10 kg/30 min,而這些添加材料價(jià)格又比較高(約每噸近2萬(wàn)元),所以提高檢測(cè)速度會(huì)有效地降低材料消耗。

為了滿足快速檢測(cè)的需要,采用M5000直讀光譜儀進(jìn)行光譜檢測(cè),總耗時(shí)約12分鐘,大大縮短了檢測(cè)時(shí)間,提高了檢測(cè)效率,節(jié)約了材料消耗。

1 直讀光譜儀的組成

M5000直讀光譜儀是利用原子發(fā)射光譜(AES)技術(shù)開(kāi)發(fā)出的一款高性能全譜直讀光譜儀,由激發(fā)光源、火花室、氬氣系統(tǒng)、對(duì)點(diǎn)擊、分光計(jì)、測(cè)光系統(tǒng)等組成,外觀如下圖所示。

激發(fā)光源是一個(gè)穩(wěn)定的火花激發(fā)光源,火花室是為了使用氬氣專門設(shè)計(jì)的,火花室直接裝在分光計(jì)上,有一個(gè)氬氣沖洗火花架,以放置平面樣品和棒狀對(duì)電極。氬氣能夠置換掉分析間隙和聚光鏡之間光路中的空氣,保證惰性氣體氣氛,氬氣系統(tǒng)主要包括氬氣容器、兩級(jí)壓力調(diào)節(jié)器、氣體流量計(jì)和能夠按照分析條件自動(dòng)改變氣體流量的時(shí)序控制部分,對(duì)點(diǎn)極是直徑為4 mm~8 mm的圓錐型鎢棒,其純度大于99%,分光計(jì)是一級(jí)光譜線色散的倒數(shù)應(yīng)小于0.6 nm/mm,焦距0.35 m~1.0 m,波長(zhǎng)范圍為165.0 nm~410.0 nm,測(cè)光系統(tǒng)是包括接收信號(hào)的光電轉(zhuǎn)換器、能存儲(chǔ)每一個(gè)輸出電信號(hào)的積分電容器、直接或間接記錄積分器上電壓或頻率的測(cè)量單元和為所需要時(shí)序而提供的必要開(kāi)關(guān)電路裝置[1~2]。

圖1 M5000直讀光譜儀

2 直讀光譜儀的工作原理

電極與金屬樣品之間放電產(chǎn)生電火花,在高溫和惰性氣氛中,使試樣中的組分蒸發(fā)離解為氣態(tài)原子,使氣態(tài)原子激發(fā),電子在原子內(nèi)的不同能級(jí)間躍遷,當(dāng)由高能級(jí)向低能級(jí)躍遷時(shí)產(chǎn)生特征光譜,光線通過(guò)光柵分光后,不同波長(zhǎng)的光以不同的角度分開(kāi),每一束光照射到不同的CCD傳感器,將光信號(hào)轉(zhuǎn)換成電信號(hào),測(cè)量選定的分析元素和內(nèi)標(biāo)元素特征譜線的光譜強(qiáng)度,根據(jù)樣品中被測(cè)元素譜線強(qiáng)度(或強(qiáng)度比)與濃度的關(guān)系,通過(guò)校準(zhǔn)曲線計(jì)算被測(cè)元素的含量。

3 直讀光譜儀的檢測(cè)過(guò)程

3.1 檢測(cè)儀器

M5000直讀光譜儀、MG-4光譜模樣機(jī)、CWY交流參數(shù)穩(wěn)壓器、Dell電腦及打印機(jī)、HV-4B微機(jī)高速碳硫自動(dòng)分析儀、臺(tái)鉆、FA1204B電子天平。

3.2 檢測(cè)條件

室溫10℃~30℃、濕度20%~80%RH、氬氣純度99.999%以上、氬氣進(jìn)氣壓力0.5 MPa、磨料粒度在60級(jí)~120級(jí)。

3.3 樣品制備

分析金屬樣品前,需要對(duì)樣品進(jìn)行處理。首先使用磨樣機(jī)進(jìn)行磨樣,加工出一個(gè)工作平面,一般除去厚度0.5 mm~1 mm,然后使用MG-4光譜模樣機(jī)進(jìn)行拋光,目視檢查,樣品表面要平整、無(wú)顆粒異物、無(wú)表面缺陷、無(wú)污染;化學(xué)方法檢測(cè)用樣品,使用臺(tái)鉆,均勻鉆取足量鐵屑。

3.4 調(diào)試儀器

3.4.1 譜線匹配校正

進(jìn)入光譜校正界面,將光譜校正樣品表面打磨平整,放置在激發(fā)臺(tái)上,激發(fā)三次,采集光譜數(shù)據(jù)。觀察各通道CCD1至CCD16的三次激發(fā)的光譜是否一致,主要觀察三次光譜最高點(diǎn)在一條垂線上,并且波形相似,進(jìn)行光譜數(shù)據(jù)保存、導(dǎo)入、校正,軟件會(huì)根據(jù)當(dāng)前激發(fā)的光譜數(shù)據(jù)自動(dòng)校正譜線漂移。

3.4.2 類別標(biāo)準(zhǔn)化

選擇類別標(biāo)準(zhǔn)化界面,選擇類別樣品激發(fā)三次,對(duì)每一類別進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化后,該類別下的所有模型都將得到校正。觀察各類別樣品三次激發(fā)數(shù)據(jù)的偏差,一般而言均值(Ave)在1000以上5000以下的通道,RSD應(yīng)小于2%,個(gè)別通道偏大屬于正?,F(xiàn)象。保存光譜與導(dǎo)入光譜,并且進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化,軟件將自動(dòng)完成儀器的校正。

3.5 分析試樣

加載分析模型,選擇中低合金鋼模型,輸入樣品信息,打開(kāi)程序修正界面,利用鑄鋼30CrMo標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)類型曲線進(jìn)行修正。激發(fā)待測(cè)樣品完成后,樣品分析界面上會(huì)出現(xiàn)樣品含量的分析結(jié)果。

3.5.1 對(duì)碳元素進(jìn)行檢測(cè)

根據(jù)光譜檢測(cè)樣品的結(jié)果,對(duì)碳元素的10組數(shù)據(jù)進(jìn)行列表(見(jiàn)表1),并且作數(shù)據(jù)分布圖(見(jiàn)圖1)。

表1樣品C元素檢測(cè)數(shù)據(jù)表

圖1直讀光譜儀光檢測(cè)鑄鋼樣品數(shù)據(jù)分布圖

通過(guò)圖1可以看出,C元素偏差在0.081%-0.259%(跟樣品切片光譜檢測(cè)數(shù)據(jù)比較),分散度較大,所以碳元素含量偏差較大,超差嚴(yán)重,光譜檢測(cè)結(jié)果不符合檢測(cè)要求。樣品表面存在碳元素偏析現(xiàn)象。

3.5.2 樣品檢測(cè)數(shù)據(jù)

將表面加工的待測(cè)樣品,用M5000直讀發(fā)射光譜儀進(jìn)行激發(fā)測(cè)試,下面將光譜檢測(cè)的兩組數(shù)據(jù)列表(見(jiàn)表2),其中Si、Mn、P、S、Cr元素含量均小于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)超差范圍,符合檢測(cè)要求。

表2樣品光譜檢測(cè)數(shù)據(jù)

將鐵屑用HV-4B微機(jī)高速碳硫自動(dòng)分析儀進(jìn)行檢測(cè)的兩組數(shù)據(jù)列表(見(jiàn)表3),C元素含量均小于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)超差范圍,符合檢測(cè)要求。

表3樣品碳元素?cái)?shù)據(jù)

3.5.3檢測(cè)結(jié)果

參照GB/T4336-2016國(guó)家1號(hào)修改單的定量范圍,報(bào)出平均值為最終結(jié)果(見(jiàn)表4)。

表4理化分析檢測(cè)報(bào)告單

4 結(jié)論

M5000直讀光譜儀使用便捷,操作簡(jiǎn)便,分析結(jié)果準(zhǔn)確,利用該儀器可以檢測(cè)Si、Mn、P、S、Cr元素含量,再利用HV-4B微機(jī)高速碳硫自動(dòng)分析儀檢測(cè)補(bǔ)充對(duì)碳元素的測(cè)定,可以有效地對(duì)材料進(jìn)行判定和定量分析,縮短檢測(cè)時(shí)間約30分鐘,能夠滿足爐前快速檢測(cè)需要,同時(shí)有效地降低了煉鋼的成本,也減少了有毒化學(xué)品的使用及保管,降低了操作人員的化學(xué)性危害以及對(duì)周邊環(huán)境的污染。

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