郭慧芳
(中鐵十七局集團電氣化工程有限公司,太原 030032)
(1)光纖表面的微裂紋的存在和擴大、大氣環(huán)境中的水和水蒸氣分子對光纖表面的侵蝕、各方面不合理的因素造成光纖長期應(yīng)力作用,使得以石英玻璃為基礎(chǔ)的光纖機械強度逐漸降低,衰耗慢慢增大,最后使光纖斷裂。(2)光纖的抗拉強度達不到OPGW伸長時張力的影響,使光纖斷裂。(3)光纖被覆材料的溫度特性達不到OPGW在惡劣運行環(huán)境下引起的短期和長期高、低溫的影響,使光纖被覆材料損壞。
(1)OPGW架線時的伸長、蠕變伸長、溫升伸長、強風及積雪時負重引起的張力伸長等引起的過張力使光纖斷裂。(2)受短路和雷擊電流的影響,會導(dǎo)致材料和結(jié)構(gòu)變形或損壞;光單元內(nèi)的溫度超過光纖被覆材料所能承受的溫度,損壞被覆材料。(3)在長期運行過程中,OPGW抗耐疲勞性能達不到要求,風激振動、舞動導(dǎo)致光單元或光纖永久性損壞。(4)施工方法和工藝不當,使OPGW的結(jié)構(gòu)發(fā)生變化及光單元損壞。(5)光單元中的油膏與纖芯涂覆材料的化學兼容性差及物理特性差,使光纖的強度降低、靜態(tài)疲勞參數(shù)值下降、局部光纖應(yīng)力增加。
(1)雷電或短路電流使OPGW斷股的單線松散,使導(dǎo)線與地線之間的安全距離達不到要求。(2)幾種不同金屬單線絞合的OPGW,不同金屬間電化腐蝕,使OPGW的機械性能和電氣性能不斷降低。(3)OPGW與金具和附件的機械兼容性差,尤其是OPGW受到擠壓。(4)OPGW接地線的連接電阻、載流量達不到要求。(5)材料選擇和制造工藝達不到規(guī)定要求,制造和檢測(試驗)標準達不到工程要求。(6)施工方法和施工工藝不當,對OPGW造成結(jié)構(gòu)的破壞和單線材料的損害,導(dǎo)致機械性能和電氣性能下降,甚至直接損壞OPGW。
(1)提高光纖的抗拉強度。當疲勞參數(shù)值一定時,承受到的應(yīng)力愈小,光纖的壽命愈長。制造光纖時,在纖維表面上形成一種壓縮應(yīng)力以對抗所承受到的張應(yīng)力,使張應(yīng)力減到盡可能小的程度,由此就產(chǎn)生了壓應(yīng)力包層技術(shù)制造光纖。具有壓應(yīng)力包層的光纖比一般的纖維的壽命長的多。(2)提高光纖的靜態(tài)疲勞參數(shù)。當承受到的應(yīng)力一定時,纖維的使用壽命只與纖維的疲勞參數(shù)值有關(guān),疲勞參數(shù)值愈大,光纖的壽命也愈長。因此在制造光纖時,設(shè)法把石英纖維本身與大氣環(huán)境隔絕開來,使之不受大氣環(huán)境的影響,盡可能的把靜態(tài)疲勞參數(shù)值由環(huán)境材料參數(shù)轉(zhuǎn)變?yōu)楣饫w材料本身的參數(shù),就可以使靜態(tài)疲勞參數(shù)值變得很大,這就是光纖表面的“密封被覆技術(shù)”。隨著“密封被覆技術(shù)”制造光纖的進展,被覆材料的改進,復(fù)合被覆層結(jié)構(gòu),使光纖的光學性能、機械性能和抗疲勞性能都有提高。(3)提高光纖被覆層的耐高溫性能。由于OPGW光單元中的光纖是在嚴酷、惡劣的特殊環(huán)境下運行,所以需使用較高強度的光纖,并且被覆材料的耐熱性要滿足短時300℃、長期100℃的要求,填充纖膏的溫度特性也要長期滿足以上溫度要求。
(1)結(jié)構(gòu)工整,安裝方便可靠,適應(yīng)光纜品種、數(shù)量、直徑、光纖數(shù)量的不同要求。當光纖芯數(shù)較多時,采用多個翻頁式光纖收容盤,并且每一個盤可以獨立拆卸,并不會影響其他纖芯的安全運行。要求有足夠的空間和彎曲半徑使余纖妥善地存放而不受各種應(yīng)力,確保光纖的光學特性、機械特性良好。(2)要具備很好的密封性能和再封裝性能。接續(xù)盒的封裝、再封裝、拉伸、彎曲、扭轉(zhuǎn)、溫度循環(huán)、沖擊、壓扁等氣密性形式試驗結(jié)果必須保證滿足長期運行的要求。因此殼體應(yīng)有足夠的機械強度和很好的密封材料,光纜夾具的內(nèi)徑與光纜的外徑應(yīng)很好的匹配。(3)線路的長期振動傳導(dǎo)至接續(xù)盒內(nèi),不會對光纖和器件產(chǎn)生影響,殼體內(nèi)所有器件表面光潔、除去棱角。
當OPGW在受到攻擊、電力線短路或其他原因造成外層單線斷裂后,若光單元及光纖完好無損(與OPGW結(jié)構(gòu)有關(guān)),可以采用修補的辦法解決,從而避免長時間的停電影響、提高光中繼路由的可用性、降低維修費用。
建立OPGW的運行維護規(guī)程和設(shè)備檔案,由ZESCO線路運行部門對OPGW進行巡視,建議每年進行一次中繼段全程光衰耗測試,并與歷史數(shù)據(jù)仔細核對和分析,從而掌握其缺陷和隱患,以便得到有計劃安排的處理。