劉毅,王文睿,郭精忠,等
摘要:目的:易于集成、高消光比是目前全光開關的研究目標?;诠杌h(huán)諧振腔的光開關是研究的熱點,但由于加工工藝的局限性,臨界耦合和損耗受到了制約。本文采用硅基雙微環(huán)串聯(lián)諧振腔,研究同諧振波長處的陷波深度,并用面內(nèi)雙光注入法實現(xiàn)高消光比全光開關,為高集成化、高性能光路由和光調(diào)制器提供可行的方案。方法:(1)串聯(lián)雙環(huán)諧振腔結構;實驗采用10 μm半徑串聯(lián)雙微環(huán)諧振腔,微環(huán)與直波導耦合的空氣隙及雙環(huán)間空氣間隙都為100 nm。在直波導的每一個末端,采用離面耦合系統(tǒng),光柵周期為590 nm,耦合時,將光纖與垂直方向成9.5°放置,橫向與縱向的調(diào)節(jié)誤差為±1 μm,纖對纖的插入損耗大約為20 dB。(2)諧振腔基本特性;采用雙端口網(wǎng)絡的傳輸矩陣法進行分析,在同等條件下,雙環(huán)諧振腔與單環(huán)諧振腔相比多出系數(shù)(1-t)2,t為傳輸系數(shù),可知前者可以有效改善全光開關消光比。(3)熱非線性效應雙光注入全光開關原理;采用面內(nèi)雙光注入技術,將探測光置于第一個諧振波長處,控制光置于相鄰諧振波長右側,當控制光注入功率為低電平時,諧振譜沒有變化,探測光為“0”,處于“關”狀態(tài);當控制光注入功率為高電平時,由于熱非線性效應,諧振譜發(fā)生紅移,探測光遠離諧振波長,此時為高電平,處于“開”狀態(tài)。結果:(1)串聯(lián)雙環(huán)諧振腔特性;用面內(nèi)單光注入實驗方案,對諧振譜進行測試,得到3個諧振波長對應的諧振譜。串聯(lián)雙微環(huán)的前兩個諧振波長一致,陷波深度明顯比第3個諧振波長深,1540.4 nm諧振波長有27 dB陷波深度,1548.46 nm諧振波長有 27 dB陷波深度,0.3 nm間隔雙峰的1556.52 nm諧振波長有10 dB陷波深度,諧振腔自由頻譜寬為8.16 nm,得出耦合系數(shù)為0.201,損耗系數(shù)為5.8 dB/cm。(2)熱非線性系數(shù);同樣利用面內(nèi)單光注入技術,研究了1540.4 nm諧振波長的熱非線性效應,在注入功率范圍為-9.7~2.2 dBm的11個值內(nèi),測得了20.2 dB的消光比和136 pm/mW熱非線性系數(shù)。(3)全光開關;為了進一步研究串聯(lián)雙微環(huán)全光開關的特性,搭建基于硅基串聯(lián)雙微環(huán)諧振腔熱非線性效應的面內(nèi)雙光注入全光開關實驗裝置,一路為控制光,為了保證足夠的抽運光進入諧振腔中,取大于諧振波長1548.46 nm的1548.57 nm,另一路為探測光,置于諧振波長1540.4 nm處,同時加入調(diào)制頻率為100 kHz的方波測試開關時間,測得開關上升、下降時間分別為2.84 μs和3.04 μs,與理論值微秒量級吻合,此即為全光開關時間。結論:采用半徑相同的(10 μm)、陷波深度為27 dB的硅基串聯(lián)雙微環(huán)諧振腔,通過離面耦合方式,在面內(nèi)單光注入時,測得最大消光比高達20.2 dB,并測試熱非線性效應引起的紅移量為136.4 pm/mW。采用面內(nèi)雙光注入方式,測試得到上升、下降時間分別為2.84 μs 和 3.04 μs。
來源出版物:中國激光, 2013, 40(2): 0205006
入選年份:2017