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高壓交聯(lián)聚乙烯電纜附件典型缺陷局部放電特性分析

2019-01-23 06:32:42李乃一曹俊平王少華周路遙金涌濤
浙江電力 2019年1期
關鍵詞:硅橡膠尖端氣隙

李乃一,曹俊平,王少華,楊 勇,周路遙,金涌濤

(國網(wǎng)浙江省電力有限公司電力科學研究院,杭州 310014)

0 引言

XLPE(交聯(lián)聚乙烯)電纜因其質(zhì)量輕、易安裝、電氣及耐熱性能好等優(yōu)勢,近年來在城市電網(wǎng)中的應用越來越廣泛[1-2]。截至2017年底,國家電網(wǎng)有限公司66 kV及以上電壓等級電纜線路總長度已超過20 000 km,最高交流電壓等級為500 kV,最高直流電壓等級為±320 kV;國網(wǎng)浙江省電力有限公司110 kV及以上電纜線路共1 293回,長3 280 km,其中110 kV線路共1 161回,2 640 km;220 kV線路共124回,349 km;±200 kV線路共4回,291 km。近年來,如何對電纜設備進行有效的缺陷檢測與狀態(tài)評估以保證其安全可靠運行,受到國內(nèi)外學者及相關從業(yè)人員的關注[3-5]。

XLPE電纜的故障及老化大多起始于氣隙、雜質(zhì)、凸起毛刺等缺陷所引發(fā)的PD(局部放電),因此,可以用PD現(xiàn)象及其放電量來評價電纜的絕緣狀況,這一點已經(jīng)得到IEC、IEEE、CIGRE等權威機構的共識。PD測量標準方法是GB/T 7354(IEC 60270)推薦的脈沖電流法。近十年OWTS(振蕩波測量系統(tǒng))因其在現(xiàn)場應用時運輸方便以及診斷效果良好得到了廣泛應用[6-7]。另外,為解決脈沖電流法及其衍生方法測量頻帶較低的問題,高頻及超高頻測量技術的研究和應用逐漸增多,同時,這2種方法均可用于帶電檢測[8-9]。

故障發(fā)生率方面,2016年,國網(wǎng)公司66 kV及以上電壓等級XLPE電纜線路共發(fā)生故障73回次:66 kV線路6回次,占8.2%;110 kV線路49回次,占67.1%;220 kV線路18回次,占24.7%。本體22回次,占30.1%;終端31回次,占42.5%;接頭20回次,占27.4%。其中外力破壞、損傷以及火災是引起本體故障的主要原因,占63.6%。而附件故障則大部分源于安裝工藝不當,占70.6%??梢姡鼙籔D檢測所發(fā)現(xiàn)的缺陷引起的故障大多發(fā)生在附件處。目前已有一些文獻對附件缺陷引發(fā)的PD現(xiàn)象進行了研究,但也存在電壓等級較低[10]、未采用實際電纜附件[11]、脈沖電流法居多[12-13]、測量時間較短[14]等問題。

鑒于此,本文在實驗室以110 kV XLPE電纜為對象,模擬了接頭和終端安裝過程中的典型缺陷,采用高頻電流法分別在升壓和恒壓條件下進行測量,分析了缺陷模型的PD特性。

1 高壓XLPE電纜典型缺陷模型

1.1 典型缺陷設置

通過對近年來國網(wǎng)浙江公司高壓XLPE電纜附件的故障統(tǒng)計及原因分析[15],設計了如表1所示的6種典型缺陷模型。

(1)接頭與電纜界面氣隙:接頭安裝過程中存在雜質(zhì)殘留、硅膠涂抹不均勻情況時,或運行過程中出現(xiàn)不均勻發(fā)熱膨脹現(xiàn)象時,接頭與電纜界面處形成氣隙。

(2)本體外屏蔽層導電尖端:接頭安裝過程中本體外半導電層若剝切不整齊易形成導電尖端。

(3)接頭內(nèi)表面劃傷:接頭制作過程中處理不當,或安裝過程中擴錐和退錐操作不當,易造成硅橡膠內(nèi)表面劃傷。

(4)接頭外表面破損:接頭制作或安裝過程中硅橡膠外表面易受力破損。

(5)終端應力錐錯位:終端應力錐套未按工藝尺寸安裝,或運行過程中受力沉降,易造成應力錐錯位。

(6)終端內(nèi)部導電微粒:終端安裝過程中可能存在金屬微粒掉落在應力錐套頂部的現(xiàn)象。

表1 高壓XLPE電纜附件典型缺陷

1.2 缺陷模型制作

以110 kV預制硅橡膠接頭和油浸式復合套管終端為對象,對6種缺陷模型進行電場仿真,通過分析其電場分布來確定缺陷尺寸,以便能在較低電壓下檢測到PD現(xiàn)象,缺陷位置示意如圖1所示。

圖1 缺陷位置示意

計算結果表明:對于J1缺陷,氣隙位于硅橡膠/XLPE界面處時場強最大;對于J2缺陷,與J1缺陷類似,導電尖端位于硅橡膠/XLPE界面處時其周圍電場畸變最嚴重;對于J3缺陷,場強最大值位于應力錐與XLPE交界面處,劃傷長度對其影響較??;對于J4缺陷,傷及硅橡膠部分后,場強最大值出現(xiàn)在護套、硅橡膠以及空氣三者交界處,其值隨破損深度的增加先增大后減小;對于T1缺陷,當應力錐與法蘭接觸時,最大場強在應力錐根部、應力錐套以及本體XLPE三者交界處,電場畸變不明顯,當兩者脫離時,最大場強出現(xiàn)在法蘭端部與XLPE交界處,電場畸變嚴重,當應力錐與本體外屏蔽層斷口脫離時,場強最大值位于外半導電層與XLPE交界處;對于T2缺陷,當金屬微粒長度沿應力錐套頂部半徑方向增大時,最大場強緩慢增大。

根據(jù)仿真結果確定的缺陷幾何尺寸及制作方法如下:J1缺陷,從接頭端部插入寬6 mm、高2 mm的塑料片(相對介電常數(shù)1.5,與空氣接近),距端部110 mm;J2缺陷,從接頭端部插入寬5 mm帶尖端的薄鐵皮,距端部150 mm;J3缺陷,在接頭安裝前用鐵絲尖端在內(nèi)表面縱向制造長200 mm、深2 mm的劃痕;J4缺陷,在接頭外表面制造直徑15 mm、深10 mm的錐形凹陷破損,破壞護套和硅橡膠部分;T1缺陷,在終端安裝時將應力錐套上移100 mm,使其與本體外半導電層脫離約30 mm;T2缺陷,制作終端時在應力錐套頂部散布適量銅絲。缺陷模型如圖2所示。

圖2 電纜附件缺陷模型

測量采用的是YJLW03-800 mm2單芯XLPE電纜,額定電壓64/110 kV。試品均為尚未投運的新電纜,并經(jīng)OWTS檢測PD量不高于背景噪聲0.5 pC。每個缺陷模型使用的電纜長度為15 m,接頭位于其1/2處,終端位于其端部。

2 局部放電測量方法

2.1 高壓電纜狀態(tài)仿真平臺

針對高壓電纜的狀態(tài)檢測及缺陷診斷問題,國網(wǎng)浙江電科院近期開發(fā)了一套集成電壓、電流工況模擬、缺陷模擬以及在線監(jiān)測(PD、溫度、環(huán)流)功能的狀態(tài)仿真平臺,其中PD測量包含內(nèi)置超高頻、超聲、本體極性鑒別和接地電纜高頻4種方法[16]。

為了統(tǒng)一接頭和終端的檢測手段,本文測量數(shù)據(jù)均來自高頻電流法,即采用將HFCT(高頻電流傳感器)跨接在附件接地線上的方式提取PD信號,采用的HFCT頻率帶寬為2~20 MHz,該頻率范圍對于抑制外界窄帶信號干擾比較有效。

2.2 測量步驟及說明

升壓方案:采用100 pC標準放電源對測試系統(tǒng)進行標定;將缺陷模型接入試驗回路中,測量記錄背景PD量;緩慢升壓并測量,直至PD量大于背景噪聲20 pC時認為缺陷發(fā)生PD,記錄電壓值(即放電起始電壓Ui);為獲得穩(wěn)定且隨時間變化的PD特征,繼續(xù)升壓至1.2Ui,后每間隔1 h進行一次測量,共持續(xù)3 h,3次測量時刻分別記為 t1,t2,t3。

測量共在接頭3處和終端2處安裝HFCT,具體為接頭直接接地線、保護接地線(串接ZnO避雷器)、電容臂接地線(串接濾波電容)和終端直接接地線、保護接地線。結果表明,接頭3處的測量靈敏度由大到小依次為電容臂接地線、直接接地線、保護接地線。同時,測量時發(fā)現(xiàn)中心頻率4.5 MHz時的背景PD量最小。因此,下節(jié)將對4.5 MHz時電容臂接地線處的測量結果進行分析。

3 測量結果

3.1 放電起始電壓

缺陷模型的放電起始電壓有效值見表2。

表2 缺陷模型的放電起始電壓kV

可以看到,J4外表面破損缺陷的Ui最高;J1界面氣隙缺陷和J3內(nèi)表面劃傷缺陷的Ui較為接近;T2導電微粒缺陷的Ui與J1,J3相當;J2導電尖端缺陷和T1應力錐錯位缺陷的Ui較低。

3.2 放電特性

圖3—圖8為缺陷模型PRPD(局部放電相位分離)譜圖,表3給出了正、負半周內(nèi)的放電量峰值。

圖3 界面氣隙缺陷模型的PRPD譜圖

圖4 導電尖端缺陷模型的PRPD譜圖

圖5 內(nèi)表面劃傷缺陷模型的PRPD譜圖

圖6 外表面破損缺陷模型的PRPD譜圖

表3 缺陷模型的放電量

可以看到,6種典型缺陷模型的放電都集中在電壓上升階段,且正、負半周的譜圖均不對稱,放電量隨時間變化的差異性也比較大。對于J1缺陷,放電大多發(fā)生在正半周內(nèi),且隨著放電的發(fā)展,正、負半周內(nèi)的放電量均明顯增大;J2缺陷發(fā)生在正半周內(nèi)的放電多于負半周,放電量隨時間變化不大;對于J3缺陷,放電起始階段正半周內(nèi)的放電密度和放電量均大于負半周,隨后負半周內(nèi)的放電強度明顯增大,逐漸接近并超過正半周;J4缺陷的譜圖與J2缺陷相似,但前者放電發(fā)生的相位區(qū)間更小;T1缺陷存在一些幅值較大的放電脈沖,但其在一個周期內(nèi)的重復率較低,另外該缺陷的放電相位區(qū)間較其他缺陷更大;T2缺陷的放電大多發(fā)生在負半周內(nèi),放電量隨時間變化較小。

圖7 應力錐錯位缺陷模型的PRPD譜圖

圖8 導電微粒缺陷模型的PRPD譜圖

4 缺陷局部放電特性分析

不同缺陷模型PD特性間的差異與相應缺陷所造成的電場畸變程度關系較大:對于J4外表面破損缺陷,由于硅橡膠表面凹陷所導致的場強變化不明顯,因此該缺陷的放電起始電壓Ui較高,但隨著破損程度的加劇,一旦絕緣厚度不足,由導體連接處起始的徑向擊穿便容易發(fā)生,實際上擊穿發(fā)生在電壓達到88 kV(1.5Ui)時;J1界面氣隙缺陷和J3內(nèi)表面劃傷缺陷均在XLPE和應力錐/硅橡膠間形成了空氣間隙,兩者的Ui較為接近,盡管氣隙內(nèi)場強值較大,但由于電場分布比較均勻,Ui仍相對較高,與其他缺陷類型不同的是,這類氣隙缺陷的放電量會隨時間明顯增大;T2導電微粒缺陷產(chǎn)生的放電屬于懸浮電位電極放電,銅絲僅影響其周圍的電場分布,而不會使終端整體發(fā)生嚴重的電場畸變,因此Ui較高,該類缺陷的放電多集中在負半周,液體電介質(zhì)的擊穿機理目前仍不完善,根據(jù)簡單的碰撞電離理論,其原因可能是由于放電發(fā)生在金屬微粒表面,負極性條件下,電子崩中電子離開強電場區(qū)域后不再引起新的電離,同時正離子逐漸向尖端靠近,由于其移動速度緩慢,尖端附近出現(xiàn)了比較集中的正電荷,從而加強了該區(qū)域內(nèi)的電場;對于J2導電尖端缺陷和T1應力錐錯位缺陷,由于兩者的電場畸變最為嚴重,因此Ui較低,其中后者由于失去應力錐的均壓作用后,XLPE附近三結合點處的場強值非常大,因此出現(xiàn)了大幅值的放電脈沖,T1缺陷也是生產(chǎn)過程中最需要避免的一類缺陷。

5 結論

本文以110 kV XLPE電纜附件為對象,制作了6種典型缺陷模型,分析了其PD特性,結論如下:

(1)外表面破損缺陷的放電起始電壓最高,界面氣隙缺陷、內(nèi)表面劃傷缺陷和導電微粒缺陷的放電起始電壓比較接近,導電尖端缺陷和應力錐錯位缺陷的放電起始電壓較低。

(2)界面氣隙缺陷和內(nèi)表面劃傷缺陷的放電量隨時間變化較大,其他缺陷放電則較為穩(wěn)定。應力錐錯位缺陷存在一些重復率低但幅值較大的放電脈沖。除導電微粒缺陷外,大部分缺陷放電集中在正半周內(nèi)。

(3)文中的6種典型缺陷根據(jù)近年來國網(wǎng)浙江公司高壓XLPE電纜附件故障統(tǒng)計及原因分析確定,具有一定代表性。不同缺陷模型的放電起始電壓和放電量統(tǒng)計特性存在明顯區(qū)別。測試結果擴充了典型缺陷放電特征數(shù)據(jù)庫,有助于后續(xù)開展PD模式識別研究。

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