趙法強(qiáng)，胡 冉，徐啟源，李德斌

（深圳龍崗供電局廣東深圳518172）

長(zhǎng)期以來，我國對(duì)配電網(wǎng)電力檢修、測(cè)試采用的均是直流耐壓方法進(jìn)行故障鑒定[1-2]。雖然直流耐壓法可以檢測(cè)出交、直流電纜中的大部分缺陷，但卻只能作為故障發(fā)生之后的檢測(cè)技術(shù)，無法完成潛伏隱患的排查以及檢修預(yù)防工作。此外，直流耐壓需要在局部進(jìn)行高壓通電以測(cè)試電纜性能，這會(huì)對(duì)電纜包裹層，尤其是聚乙烯等絕緣物質(zhì)造成一定的損傷[3]。且每次檢修需要進(jìn)行大規(guī)模的停電維護(hù)及分區(qū)域的耐壓排查，效率在現(xiàn)如今大規(guī)模集成電網(wǎng)環(huán)境下已然不足[4]。因此，急需一種更為輕便、靈敏高效的方法進(jìn)行電纜探傷。

數(shù)字探傷技術(shù)在20世紀(jì)60年代初開始萌芽，到80年代，射線數(shù)字圖像處理已得到較為廣泛的應(yīng)用。后來射線成像技術(shù)被嘗試應(yīng)用到了封閉金屬內(nèi)部孔隙檢測(cè)上，但由于成像質(zhì)量低，精度不達(dá)標(biāo)而擱置?，F(xiàn)如今，計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)的飛速發(fā)展早已在微小焦點(diǎn)和像素級(jí)無損呈像上取得了突破進(jìn)展。這為數(shù)字射線探傷提供了良好的技術(shù)基礎(chǔ)，使該種數(shù)字探傷技術(shù)在電纜維護(hù)檢修中替代直流耐壓法進(jìn)行推廣成為可能。

1 X射線透射原理

X射線具備較強(qiáng)的穿透性，照射在物質(zhì)上，會(huì)因?yàn)槲镔|(zhì)元素的種類、物體密度和厚度而產(chǎn)生不同程度的衰減。同時(shí)，射線源的能量強(qiáng)度也決定著透射的銳利性[5]。因此，對(duì)于密度較大的大體積物體，射線發(fā)生器的功率要求也就越高。透射強(qiáng)度和穿透厚度的關(guān)系曲線，如圖1所示。同一物質(zhì)下射線強(qiáng)度與透過率的關(guān)系，如圖2所示。同功率下不同物質(zhì)中的透過率，如圖3所示。

圖1 透射強(qiáng)度與透射厚度關(guān)系

圖2 鋼中透過率與射線能量關(guān)系

圖3 能量固定的X射線透過率與物質(zhì)的關(guān)系

由曲線可知X射線對(duì)金屬物質(zhì)透射性能極差，金屬粒子會(huì)吸收掉大部分的光波能量進(jìn)行能級(jí)躍遷[6]。而電纜絕緣層主要以交聯(lián)聚乙烯這類的高聚合物為主，對(duì)X射線的能量損耗較小。低功率的X射線發(fā)生器即可滿足探傷需求，技術(shù)難度和制造成本均得到了有效控制，這也是文中選用X射線進(jìn)行探測(cè)的根本原因。

2 X射線發(fā)生裝置與電纜檢測(cè)方法研究

本文采用高壓真空二極管實(shí)現(xiàn)X射線發(fā)生，工作過程如下：

1）兩極加載兩千伏以上直流、交流電，對(duì)陰極極絲加熱，產(chǎn)生熱電子。

2）熱電子受到電壓產(chǎn)生的極大電場(chǎng)力，在管內(nèi)高速發(fā)射，擊中陽極的電子靶，碰撞釋放大部分能量轉(zhuǎn)化為熱能，小部分轉(zhuǎn)變?yōu)殡姶挪ǎ@部分即為X射線。高壓真空二極管X結(jié)構(gòu)，大致如圖4所示。

圖4 真空二極管結(jié)構(gòu)

2.1 直接攝影檢測(cè)法

X射線進(jìn)行透射檢測(cè)的方法主要有3種[7]。最為直接的應(yīng)用為X射線透射目標(biāo)后在感光片上呈像得到內(nèi)部圖像，如圖5所示。

圖5 直接攝影呈像

2.2 間接攝影檢測(cè)法

不采用感光片，而是用熒光板收集投射出來的X射線，在暗室或者暗箱中進(jìn)行可視化處理，然后用裝入感光片的相機(jī)間接拍攝呈像。這種方法稱為間接攝影檢測(cè)法，裝置如圖6所示。

圖6 間接攝影呈像

2.3 透視檢測(cè)法

用解析度較高的熒光板對(duì)透射的X射線進(jìn)行收集處理，轉(zhuǎn)化為可視像，經(jīng)倍增管和雙孔方法之后將細(xì)節(jié)精度提高到肉眼可捕捉的程度。這種方法比直接法、間接法呈像圖像質(zhì)量更高，顆粒損失較小，圖片整體亮度更強(qiáng)，且無需再暗室觀察。裝置如圖7所示。

圖7 透視法呈像

對(duì)比以上3種方法可知：直接法感光解析度高，可以應(yīng)用在較厚的樣本上，如輕質(zhì)金屬或塑料。第二種方式解析度差，操作復(fù)雜，不推薦使用。透視法則可以應(yīng)用在大批量產(chǎn)品的流水檢測(cè)，解析度稍低，但檢測(cè)速率較高。

3 X射線電纜無損探傷

3.1 X射線發(fā)生器選型

基于以上3種X射線發(fā)生方法特性，結(jié)合電纜檢修的實(shí)際環(huán)境需求，選用輕便、小型的自整流X射線發(fā)生裝置[8]。技術(shù)參數(shù)為：功率0.5 kVA、5 mA電流、穿透率為（鋼5.3 mm，純鋁65 mm）最高管壓降100 kV。另外，考慮到實(shí)際測(cè)試中的復(fù)雜情況，除了基本X射線發(fā)生管，發(fā)生裝置內(nèi)還增了一個(gè)方向定位器和長(zhǎng)方窗用來定量控制管內(nèi)電子流焦點(diǎn)和感光片距離以及收束X射線，從而進(jìn)一步提升探傷呈像的清晰度。

3.2 無損電纜探傷實(shí)例分析

為保證技術(shù)方案的普適性，實(shí)測(cè)選用了不同材質(zhì)型號(hào)的電纜。由X射線透射特性在不同材質(zhì)中的表現(xiàn)不同，文中又分別制定匹配技術(shù)方案，進(jìn)行分組實(shí)測(cè)。

1）XLPE-1*630 mm2鋁波紋狀護(hù)套電纜

RF-100GBS發(fā)生器選用管壓為60 kV，加壓持續(xù)時(shí)長(zhǎng)為5 s，獲得X射線感光成像的XLPE-1*630 mm2鋁波紋狀護(hù)套電纜內(nèi)部狀況圖像。分析圖像特征可由局部扭曲判斷，電纜芯線駁接不良導(dǎo)致了內(nèi)部絕緣畸變，從而發(fā)生電纜損傷。

2）110kV/XLPE-1*600 mm2的銅絲屏蔽型電纜

抽樣時(shí)發(fā)現(xiàn)電纜表面有明顯凸起，呈現(xiàn)為2 mm塊狀。因表面無破損，且在不確定異常原因時(shí)，出于安全考慮不能打開檢查。現(xiàn)用X射線進(jìn)行異常部位探傷，考慮銅絲屏蔽電纜材質(zhì)較難穿透，選用95 V電壓，加壓持續(xù)時(shí)長(zhǎng)為50 s，保證射線全透射進(jìn)行完整呈像[9]。分析圖像發(fā)現(xiàn)電纜線芯在凸起處有駁接，但駁接口由于工藝原因焊接存在隱患，欠順滑導(dǎo)致芯線擠壓變形致使XLPE絕緣層受阻結(jié)塊。進(jìn)一步再加80 V管壓，持續(xù)5 s透射，對(duì)外屏蔽層做精細(xì)化透射探傷，發(fā)現(xiàn)銅絲屏蔽層受擠壓出現(xiàn)畸變。綜上，得出結(jié)論為電纜制造質(zhì)量問題，需退回廠家更換。

3）110k/1*500 mm2鋁波紋護(hù)套電纜

外部故障表征為PVC外護(hù)套松脫，周邊有1/3圓的環(huán)狀凸起，高度約為8 mm，如圖8所示。X射線探傷管壓選用8 kV，加壓持續(xù)時(shí)間為6 s，通過感光片對(duì)透射呈像，如圖9所示[10]。觀察發(fā)現(xiàn)鋁波紋護(hù)套畸變導(dǎo)致凸起，但纜芯尚未因屏蔽層變形擠壓受到損傷，不影響電纜正常供電，無需破開電纜進(jìn)行修復(fù)。

圖8 電纜外套層呈現(xiàn)凸起

圖9 X射線透射呈像

對(duì)比以上3組電纜探傷，結(jié)果表明：X射線探傷技術(shù)對(duì)于不同材質(zhì)電纜的探傷效果顯著，透射呈像還原度極高。且故障分析結(jié)果準(zhǔn)確，可直接定位纜芯層破損、畸變、短路、阻塞或是絕緣層損傷，從而決定電纜更換與否[11-15]。

4 結(jié)束語

文中基于傳統(tǒng)耐壓檢測(cè)方法存在局限性的背景現(xiàn)狀，提出了數(shù)字化X射線透射特性下的電纜探傷技術(shù)研究。文中從X射線發(fā)生管的工作原理出發(fā)[16]，選用符合電纜檢修環(huán)境的小功率間接投影探傷裝置。并充分考慮到不同材質(zhì)對(duì)X射線的削減特性，在實(shí)測(cè)中對(duì)不同型號(hào)電纜分別設(shè)定相匹配的參數(shù)來保證呈像的品質(zhì)。總體而言，X射線無損探傷技術(shù)降低了傳統(tǒng)探傷的高昂成本，解決了潛在的安全隱患，大幅提升了電纜檢測(cè)、預(yù)防與維修的技術(shù)水準(zhǔn)，擁有良好的技術(shù)擴(kuò)展性，在研究與實(shí)際生產(chǎn)領(lǐng)域中均具備極高價(jià)值。