劉麗娜,劉 松,李賀楠
(1.北京高麥克儀器科技有限公司,北京 西城 南緯路 31號(hào)院西門(mén) 100032;2.山東昌邑石化有限公司 質(zhì)檢中心,山東 昌邑 261300)
電子氣體是發(fā)展集成電路、光電子、微電子,特別是超大規(guī)模集成電路、液晶顯示器件、半導(dǎo)體發(fā)光器件和半導(dǎo)體材料制造過(guò)程中不可缺少的基礎(chǔ)性支撐源材料,它被稱(chēng)為電子工業(yè)的“血液”和“糧食”,它的純度和潔凈度直接影響到光電子、微電子元器件的質(zhì)量、集成度、特定技術(shù)指標(biāo)和成品率,并從根本上制約著電路和器件的精確性和準(zhǔn)確性。在硅片制造廠,一個(gè)硅片需要兩到三個(gè)月的工藝流程,完成450道或更多的工藝步驟,才能得到有各種電路圖案的芯片。這個(gè)過(guò)程包括外延、成膜、摻雜,蝕刻、清洗、封裝等諸多工序,需要的高純電子化學(xué)氣體及電子混合氣高達(dá)30多種。含氟電子氣體主要用作清洗劑和蝕刻劑。一氟甲烷用在半導(dǎo)體及電子產(chǎn)品的制程中,在射頻場(chǎng)下一氟甲烷會(huì)解離出氟離子,可選擇性的刻蝕硅化合物的薄膜,即反應(yīng)性離子蝕刻。
本方法使用的檢測(cè)器為氦離子化檢測(cè)器(DID),對(duì)雜質(zhì)組分的檢測(cè)限能夠達(dá)到10×10-9,靈敏度高,能夠滿足微量組分分析的要求。
由于DID是通用型檢測(cè)器,故主組分氟甲烷會(huì)對(duì)樣品氣中的微量雜質(zhì)組分分析造成影響,本方法采用切割反吹技術(shù),避免了主組分的干擾。該方法是利用一根預(yù)柱分離主組分和雜質(zhì)組分,待雜質(zhì)組分從預(yù)柱流出后,主組分仍保留在預(yù)柱中,通過(guò)預(yù)柱和分析柱之間的閥切換,將主組分反吹出預(yù)柱。雙通道分析,獨(dú)立的預(yù)柱和分析柱,完成被測(cè)雜質(zhì)的分析,相對(duì)獨(dú)立,可以提高分析的靈活性和效率。該方法利用不同功能色譜柱和閥組合的氣路系統(tǒng)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了高效率地完成氟甲烷中微量雜質(zhì)含量的分析。
1.2.1氦放電離子化檢測(cè)器(DID)
檢測(cè)器分兩個(gè)腔室,放電室和電離室。在放電室內(nèi)的放電電極上施以525 V的電壓產(chǎn)生放電,獲得一束高能紫外光;高能紫外光通過(guò)狹縫被引入到電離室,高能紫外光照射到超純He載氣和樣品氣上,將樣品氣中各組分電離,同時(shí)激發(fā)He載氣到亞穩(wěn)態(tài)的He,亞穩(wěn)態(tài)的He同時(shí)電離樣品氣后回到穩(wěn)態(tài),樣品氣離子被電離室內(nèi)的極化電極收集,經(jīng)過(guò)放大,由數(shù)據(jù)采集設(shè)備傳輸即得到相應(yīng)的譜峰。
1.2.2色譜氣路系統(tǒng)
本文所用方法的氣相色譜儀配備雙反吹系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過(guò)反吹氣路設(shè)計(jì)將樣品的主組分吹出,避免進(jìn)入檢測(cè)器,從而保護(hù)了分析柱和檢測(cè)器不受到主組分的污染,同時(shí)也提高了分析效率。儀器的氣路示意圖見(jiàn)圖1。
本文實(shí)驗(yàn)的儀器及設(shè)備:
儀器型號(hào):GM-592DID,儀器配備DID檢測(cè)器和雙反吹系統(tǒng),儀器的最小檢測(cè)限:0.01×10-6。
本文所用到的標(biāo)準(zhǔn)氣體見(jiàn)表1。
表1 標(biāo)準(zhǔn)氣(背景氣為He)Table 1 Standard gas (background gas is He)
通過(guò)對(duì)色譜柱類(lèi)型的篩選,柱溫和流速的一系列實(shí)驗(yàn),對(duì)測(cè)量條件進(jìn)行優(yōu)化,最終的測(cè)定條件:
預(yù)分離柱1:3’×1/8”SG不銹鋼柱,80~100目;
分析柱1:8’×1/8”MS 不銹鋼柱,80~100目;
預(yù)分離柱2:15’×1/8”HP-Q不銹鋼柱,80~100目;
分析柱2:8’×1/8”HP-Q 不銹鋼柱,80~100目;
柱溫:70℃,檢測(cè)器溫度:50℃;
載氣流量:30 mL/min(He作為載氣)。
采用峰面積定量,用外標(biāo)法計(jì)算結(jié)果,公式為:
式中,Φi為樣品氣中被測(cè)組分的含量(體積分?jǐn)?shù));Ai(hi)為樣品氣中被測(cè)組分的峰面積或峰高,mm2或mm;As(hs)為標(biāo)準(zhǔn)氣體中相應(yīng)已知組分的峰面積或峰高,mm2或mm;Φs為標(biāo)準(zhǔn)氣體中相應(yīng)已知組分的含量(體積分?jǐn)?shù))。
啟動(dòng)儀器至基線運(yùn)行穩(wěn)定后連接標(biāo)準(zhǔn)氣體,吹掃15 min,將標(biāo)準(zhǔn)氣通過(guò)進(jìn)樣閥進(jìn)樣分析,由工作站記錄標(biāo)準(zhǔn)氣譜圖,標(biāo)準(zhǔn)氣譜圖見(jiàn)圖2、3。
利用上述方法,在分析標(biāo)準(zhǔn)氣相同的色譜條件下,將氟甲烷樣品(4N)通過(guò)進(jìn)樣閥進(jìn)樣分析,利用反吹閥將主組分切割排空。譜圖見(jiàn)圖4、5。
本文研究并建立了高純氟甲烷氣體中微量雜質(zhì)色譜分析方法。在分析過(guò)程中通過(guò)反吹排除,既避免了主組分對(duì)雜質(zhì)組分分析的干擾,提高了分析的效率和準(zhǔn)確度,也保護(hù)了分析柱和檢測(cè)器。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,此方法靈敏度高,可以達(dá)到檢測(cè)限,而且操作方便,非常適合大規(guī)模生產(chǎn)中對(duì)氟甲烷成品的檢測(cè)。
圖2 標(biāo)準(zhǔn)氣譜圖-1Fig.2 Standard gas chromatogram -1
圖3 標(biāo)準(zhǔn)氣譜圖-2Fig.3 Standard gas chromatogram -2
圖4 樣品氣譜圖-1Fig.4 Sample gas chromatogram -1
圖5 樣品氣譜圖-2Fig. 5 Sample gas chromatogram-2