王濤,羅林(通信作者),彭朝勇,高曉蓉,葉彩群
(西南交通大學(xué)物理科學(xué)與技術(shù)學(xué)院無(wú)損檢測(cè)研究中心,四川成都,610031)
采用超聲合成孔徑成像技術(shù),通過(guò)單發(fā)多收方式采集數(shù)據(jù)。AFMC為全矩陣采集得到的信號(hào),為一個(gè)三位數(shù)組。其中,每一個(gè)矩陣單元都包含了一組A掃數(shù)據(jù)ATi,Rj(t),即Ti發(fā)射,Rj接受的間相關(guān)信號(hào)。可用AFMC(T,R,t)表示TR接發(fā)組A掃信號(hào)中t時(shí)刻的信號(hào)幅值信息。
對(duì)成像區(qū)域進(jìn)行離散化處理。設(shè)P為聚焦點(diǎn),晶片Ti發(fā)射超聲波被點(diǎn)P反射后,被晶片Rj。整個(gè)過(guò)程的時(shí)間為:
其中,已知xi表示Ti和Tj陣元中心點(diǎn)。當(dāng)tp(x,z)已知,即可得到全矩陣數(shù)據(jù)矩陣中每個(gè)A掃信號(hào)在P點(diǎn)的幅值信息。對(duì)三維數(shù)據(jù)矩陣AFMC內(nèi)所有A掃信號(hào)在P點(diǎn)的幅值信息進(jìn)行疊加,得到全聚焦幅值。
然后我們可以求出待檢測(cè)區(qū)域內(nèi)每一網(wǎng)格點(diǎn)處的全聚焦超聲幅值,再對(duì)所得到的值進(jìn)行成像。
而對(duì)參考信號(hào)來(lái)說(shuō),Sn(t)和Sn+1(t)之為兩個(gè)相鄰A掃信號(hào)中待計(jì)算相關(guān)性部分,互相關(guān)函數(shù)Cn(t)為:
其中T為周期。
在相關(guān)校正中,采用互相關(guān)函數(shù)的離散形式來(lái)計(jì)算延時(shí)參量:
式中S0(n)是標(biāo)準(zhǔn)A掃信號(hào),S(n+k)是相對(duì)S0來(lái)說(shuō)的待校正信號(hào),k為采樣點(diǎn)序號(hào)。M是位于反射點(diǎn)位置兩邊的采樣點(diǎn)數(shù),取20~30為最佳。為了得到延時(shí)估計(jì)值,需要計(jì)算出兩列信號(hào)互相關(guān)函數(shù)C(k)最大值。然后,基于鄰近互相關(guān)系數(shù)得到相位誤差,平移校正。
為準(zhǔn)確找到最大的相關(guān)系數(shù)Cmax(k0),即該信號(hào)相對(duì)參考信號(hào)的相位差(時(shí)間位置差)Δtj=k0,需要先確定k0的最佳值,為此需要選擇最佳相差拾取公式。由此構(gòu)造函數(shù):
其中C(k)表示相差k步的兩相鄰信號(hào)修正后所得的互相關(guān)系數(shù),參數(shù)k0是Cmax(k0)取最大值C(k)時(shí)的變量。當(dāng)k=k0時(shí)兩列相鄰信號(hào)的互相關(guān)系數(shù)為C(k)最大值Cmax(k0)。
根據(jù)相位差Δtj,所有子孔徑中任意i通道的延時(shí)差可由下式計(jì)算:
其中,當(dāng)i=0時(shí),τi=0。在實(shí)際實(shí)驗(yàn)中需要對(duì)所有信道只一次進(jìn)行校正。
因在非均勻情況下,線性部分和非線性部分并存,直接忽略線性部分有可能導(dǎo)致校正后信號(hào)之間的互相關(guān)系數(shù)不如校正保留線性部分的結(jié)果。因此將式(7)右邊分割成三個(gè)部分:
利用如上的三個(gè)部分可組合得到三種相差拾取公式:
為尋找最佳的自變量(即最佳相差拾取公式的選擇),構(gòu)造函數(shù):
其中f(αi)表示消除相位差αi(i=1,2,3…)后得到各信號(hào)序列之間的互相關(guān)系數(shù)。其中α0為使得argmax(f(αi))取得最大值所對(duì)應(yīng)的變量。當(dāng)αi=α0時(shí)各個(gè)信號(hào)相干疊加效果最強(qiáng),由此得到最合適的相位校正差量。校正后的信號(hào)表示為:
對(duì)校正后信號(hào)進(jìn)行(3)式處理得到相位校正超聲圖像。
先對(duì)處于同一深度的兩個(gè)缺陷點(diǎn)進(jìn)行全聚焦超聲成像仿真,并加入隨機(jī)相位畸變,以隨機(jī)相位屏模擬波前畸變相位,產(chǎn)生系統(tǒng)的非均勻性噪聲。
用濾波函數(shù)對(duì)一個(gè)空間不相關(guān)的正態(tài)分布隨機(jī)函數(shù)進(jìn)行濾波,由此得到相位連續(xù)分布的非均勻介質(zhì)相位屏Φ(x)。所構(gòu)造的濾波函數(shù)為滿足kolmogonov隨機(jī)過(guò)程的功率譜FΦ(k)。信號(hào)的綜合延時(shí)量ti(i=1,2,3…,N)(其中N為陣元數(shù)目)為一組隨機(jī)序列,可以統(tǒng)計(jì)規(guī)律受到戒指非均勻性影響的結(jié)果。
其中,符合kolmogonov分布的功率譜為:
式r0表示戒指非均勻性,k為波數(shù),R(k)是均值為零、單位方差的Hermitian 復(fù)Gaussian隨機(jī)過(guò)程,C為調(diào)節(jié)常數(shù)(可控制相位屏的方差)。該式表示接收信號(hào)和相位差之間所滿足的統(tǒng)計(jì)規(guī)律。對(duì)所接受的A掃信號(hào)加入相應(yīng)的隨機(jī)延時(shí)。
表1是Field Ⅱ的對(duì)在同樣深度下的兩缺陷點(diǎn)進(jìn)行仿真的結(jié)果。
表1 仿真參數(shù)
?
圖1為仿真兩個(gè)缺陷點(diǎn)得到的結(jié)果,包括無(wú)相位差及有相位差的兩點(diǎn)成像、相差校正后的兩點(diǎn)成像。
圖1 兩點(diǎn)缺陷仿真結(jié)果
為了比較四幅圖像,分別計(jì)算其橫向分辨率,結(jié)果如表2所示。
表2 兩點(diǎn)仿真圖像橫向分辨率
由定義已知橫向分辨率值越小,橫向分辨力越高,經(jīng)相差校正后的圖像橫向分辨率值略大于無(wú)相差圖像的橫向分辨率值,明顯小于相差校正前的圖像橫向分辨率值,因此可說(shuō)明相位校正方法能夠提高對(duì)于兩個(gè)缺陷點(diǎn)的橫向分辨力,且改進(jìn)的自適應(yīng)校正相差方法對(duì)圖像橫向分辨力的提高程度優(yōu)于自適應(yīng)校正相差方法。
實(shí)驗(yàn)設(shè)備為Multi2000Pocket多路便攜式超聲實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)、奧林巴斯超聲探頭以及標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK-IA進(jìn)行試驗(yàn)。主要參數(shù)如表3所示。
設(shè)定參數(shù)后,先進(jìn)行全矩陣捕獲采集數(shù)據(jù),然后對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行全聚焦成像處理。因標(biāo)準(zhǔn)試塊因其結(jié)構(gòu)特性所造成的相位畸變相對(duì)較小,如圖2所示。其中圖2 (a)是由全矩陣A掃信號(hào)離散化結(jié)果,圖2(b)是單獨(dú)一列A掃信號(hào)。
表3 參數(shù)設(shè)置
圖2 采集的原始信53F7
有無(wú)相差的單點(diǎn)全聚焦成像結(jié)果如圖3(a)和圖3(b)。
對(duì)加入相位屏后得到的數(shù)據(jù)進(jìn)行全聚焦成像,結(jié)果如圖3(b)和圖4 (b)。利用原始自適應(yīng)校正技術(shù)對(duì)信號(hào)進(jìn)行處理再全聚焦成像結(jié)果如圖3(c)和圖4(c)所示。而改進(jìn)后的自適應(yīng)處理技術(shù)對(duì)信號(hào)優(yōu)較好的校正,全聚焦成像如圖3(d)和圖4(d)。
計(jì)算其橫向分辨率及峰值信噪比來(lái)反應(yīng)兩種校正方法的對(duì)比。結(jié)果如表4、表5所示。
圖3 單點(diǎn)成像
圖4 多點(diǎn)成像
表4 橫向分辨率
從表4可以看出,不論是單點(diǎn)缺陷還是多點(diǎn)缺陷,兩種校正方法對(duì)缺陷點(diǎn)的橫向分辨率都有所提高,而改進(jìn)后的校正方法提升程度最高。
表5 峰值信噪比(PSNR)
式中n是每個(gè)采樣值的比特?cái)?shù),MSE是原圖像與被處理圖像之間的均方誤差。
從表5中可以看出,單點(diǎn)和多點(diǎn)缺陷的成像結(jié)果表明兩種相位校正方法均能提升峰值信噪比,從而改善超聲圖像提高檢測(cè)結(jié)果,但改進(jìn)后的校正方法明顯優(yōu)于原始校正。
針對(duì)超聲成技術(shù)中,非均勻介質(zhì)和檢測(cè)表面不平整造成的原始相位相干校正技術(shù)的不足,采用全聚焦技術(shù)并結(jié)合自適應(yīng)校正技術(shù),通過(guò)計(jì)算A掃信號(hào)之間的相關(guān)性,考慮線性誤差、非線性誤差及其疊加項(xiàng)對(duì)相位校正的影響,優(yōu)化相位偏差的估計(jì)并進(jìn)行校正。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該方法在仿真模擬和實(shí)際實(shí)驗(yàn)上,都可以提高相位校正能力,使得圖像的橫向分辨率、峰值信噪比相對(duì)原始技術(shù)都有所提高,得到的結(jié)果可以有效的反應(yīng)缺陷的特征信息。
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