徐 升 中國鐵路上海局集團(tuán)有限公司合肥電務(wù)段
某站新上道的電源屏采用一體化信號電源系統(tǒng),一般設(shè)計(jì)應(yīng)用在采用三相輸入電源的車站,但由于該站采用單相輸入電源,在上道初期應(yīng)用過程中發(fā)生不間斷供電TU1模塊內(nèi)母線電容炸裂導(dǎo)致模塊故障,影響信號設(shè)備正常使用。為降低電源設(shè)備故障對行車運(yùn)輸?shù)挠绊?,結(jié)合一體化信號電源系統(tǒng)原理和外電網(wǎng)供電情況的分析,對存在的設(shè)計(jì)缺陷進(jìn)行分析、優(yōu)化。
雙總線冗余一體化信號電源系統(tǒng)包含:系統(tǒng)輸入配電單元、直流不間斷供電單元(HVDC)、穩(wěn)壓電源模塊及隔離單元、系統(tǒng)輸出配電單元、監(jiān)控與通信管理單元。
雙總線冗余一體化信號電源系統(tǒng)供電由外電網(wǎng)I、II路電源經(jīng)電源屏兩路市電切換裝置送至高壓直流不間斷電源(HVDC)模塊TU1,輸出DC270V的電壓,分別經(jīng)雙母線獨(dú)立給后端的穩(wěn)壓模塊供電,構(gòu)成雙母線冗余供電方式,即使其中一組母線出現(xiàn)故障,由另一組母線仍給穩(wěn)壓模塊供電,保證輸出不中斷。
某站電源屏上道使用3個(gè)月后發(fā)生不間斷供電TU1模塊內(nèi)母線電容炸裂現(xiàn)象(TU1模塊電路原理見圖1),其中TU1母線電容C98/C99為江海生產(chǎn)的470uf/450V品牌電解電容。
TU1模塊內(nèi)母線電容損壞一般有以下兩種情況:一是電壓應(yīng)力超標(biāo);二是紋波過大。下面將分別進(jìn)行測試分析。
按圖2電容耐壓測試原理圖所示進(jìn)行接線試驗(yàn),電阻R1-A為51Ω,電容C1為5個(gè)470uf/450V電容并聯(lián)。每次給電容充電2h,隨后電容自然放電。測試過程中電容電壓逐漸從450V上升至560V。測試結(jié)果:電容均未發(fā)生損壞,即可以排除電容損壞是由于電壓應(yīng)力超標(biāo)造成的。
圖2 電容耐壓測試原理圖
在輸入單相交流電(有效值220V)條件下,對TU1模塊輸出分別掛接阻性負(fù)載、TH2、TC1、TE1四種現(xiàn)場負(fù)載進(jìn)行系統(tǒng)完整的模擬復(fù)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)。測試過程如下:
3.2.1 TU1模塊分別掛接阻性負(fù)載、TH2、TC1模塊測試
TU1模塊為單相輸入,后端分別帶純阻性負(fù)載、兩臺(tái)TH2、兩臺(tái)TC1模塊,逐漸增大負(fù)載,直至帶載15A,測試正母線電壓最高445V左右,最低300V左右,母線紋波較大。測試后端全橋的DS電壓最高830V左右。老化約4h,模塊工作正常,溫升約13°正常。
3.2.2 TU1模塊掛接TE1測試
TU1模塊為單相輸入,后端帶2臺(tái)TE1模塊,逐漸增加TE1負(fù)載,直到TU1帶載15A,測試正母線電壓最高458V,最低252V,母線紋波與之前測試相比,進(jìn)一步惡化,紋波劇增至206V。測試后端全橋的DS電壓最高909V,TU1模塊工作約50min后損壞。
對損壞TU1模塊拆開后發(fā)現(xiàn)正母線電容炸裂,位置和當(dāng)日現(xiàn)場TU1模塊一致。測試此時(shí)電容的表面溫升為40℃左右(注:TU1模塊在三相輸入下滿載測試,母線電容表面溫升為10℃)。根據(jù)3.1母線電容耐壓測試,可以看出該電解電容電壓在560V高壓的情況下未損壞,結(jié)合現(xiàn)場測試的母線電容應(yīng)力數(shù)據(jù)(最大不超過500V),可排除高壓擊穿造成電容損壞的推斷。而母線電容溫升較高,可確定母線電容炸裂原因是由于紋波較大。
3.3.1 紋波來源與消除
首先TU1模塊拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)決定正/負(fù)母線上存在固有的工頻紋波,在設(shè)計(jì)時(shí)只能通過電容容量設(shè)計(jì)以及環(huán)路設(shè)計(jì),弱化紋波幅值,而不能完全消除。
TU1模塊單相輸入下,后端帶2.0模塊或阻性負(fù)載,當(dāng)TU1負(fù)載電流較大時(shí)(如15A),紋波普遍略大。與TH1模塊,就母線容量,作簡單的橫向?qū)Ρ龋醪綌喽▎蜗噍斎胂?,TU1模塊母線電容容量不足(TH1-3kW模塊正負(fù)母線電容各為3個(gè)470uf/450V電解電容,TU1-10kW模塊正負(fù)母線電容各為2個(gè)470uf/450V電解電容)。此外通過環(huán)路調(diào)節(jié)優(yōu)化后,無明顯效果。
從TH1和TU1后端拓?fù)鋵Ρ?,TH1的母線掛接半橋逆變,由于輸入和輸出鎖相,輸出正半周能量來源于輸入正半周。而在輸入負(fù)半周過程,正母線存在續(xù)流過程。而TU1的母線掛接移相全橋,無論輸入正半周還是負(fù)半周,正負(fù)母線同時(shí)對負(fù)載進(jìn)行放電,即TU1母線容量需求大于TH1模塊。當(dāng)容量不足時(shí),表現(xiàn)為紋波電壓峰值偏大。具體母線電容的紋波耐受值可參見以下計(jì)算。
根據(jù)江海的此款電解電容(470uf/450V)規(guī)格書,可知該電容允許的紋波有效值為1.5A,據(jù)此可得出電容耐受電壓紋波小于90V。
對于優(yōu)化方案2中的電解電容(680uf/450V),可知該電容允許的紋波有效值為1.81A,據(jù)此可得出電容耐受電壓紋波小于75V。
TU1母線采用正負(fù)母線結(jié)構(gòu),主要起儲(chǔ)能作用,因此對于TU1母線電容的選擇主要滿足以下要求:①發(fā)熱要求:要求電容整體的ESR較小,發(fā)熱滿足電容壽命要求。②儲(chǔ)能要求:要求在帶載時(shí)有足夠的支撐能力。
3.3.2 TU1掛接TE1模塊后母線紋波劇增問題分析
從3.2.1-3.2.2的測試過程中,可看出紋波幅值普遍較大,特別是3.2.2TU1帶TE1模塊時(shí),紋波峰峰值達(dá)到206V,顯然紋波過大影響了模塊的壽命以及工作穩(wěn)定性。
對于TU1掛接TE1模塊,紋波突增到206V的現(xiàn)象,可知TE1模塊的PFC電感電流采樣CT位于整流器前,可以準(zhǔn)確采集工頻信號,但當(dāng)TE1模塊應(yīng)用于一體化系統(tǒng)時(shí),其輸入為脈動(dòng)直流信號,互感器電流采樣值將不能準(zhǔn)確反映實(shí)際電流的變化,從而影響TE1模塊PFC電路電流環(huán)的電流跟隨性及環(huán)路穩(wěn)定性,導(dǎo)致TU1模塊輸出電壓/電流出現(xiàn)脈沖形式的波形畸變,并最終通過高頻變壓器傳遞到TU1模塊母線,使得母線紋波增大。
針對后端TE1模塊存在的問題進(jìn)行軟件優(yōu)化。TU1模塊帶優(yōu)化后的TE1模塊2PCS進(jìn)行測試(TU1帶載15A),正母線電壓波形最高438V,最低306V,遠(yuǎn)低于優(yōu)化前的紋波206V。
3.3.3 結(jié)論
根據(jù)上述測試分析,可以得出如下結(jié)論,TU1模塊在
3.2.2 測試過程中,損壞的原因來自兩個(gè)方面:
(1)TU1模塊設(shè)計(jì)為三相輸入電源模塊,用在單相輸入電源情況下,在連接同等負(fù)載下,輸入電流更大,需要降額使用或者補(bǔ)充母線容量。通過后續(xù)優(yōu)化,在單相輸入電壓下,降額輸出25A。
(2)TU1帶TE1模塊(優(yōu)化前),TU1母線電容的峰值電壓可達(dá)到206V,此時(shí)母線電容電壓波動(dòng)劇烈,同時(shí)電流不穩(wěn)定使電容頻繁充放電,內(nèi)部溫度升高很快。當(dāng)溫升超過電容泄爆口的承受極限,造成電容發(fā)熱嚴(yán)重?fù)p壞。
基于上述結(jié)論,解決TU1母線電容損壞,可以通過增加母線電容容量,減小等效電阻來解決。即在現(xiàn)有的基礎(chǔ)上,將TU1模塊母線電容由兩個(gè)470uf/450V電容更換為四個(gè)680uf/450V電容,并增加PFC板和PWM板的正負(fù)母線中點(diǎn)連接線。改造前后的現(xiàn)場測試數(shù)據(jù)如表1所示。
表1 優(yōu)化改進(jìn)測試表
結(jié)論:TU1模塊母線電容優(yōu)化后母線紋波
大大減弱,與之前測試數(shù)據(jù)基本一致,輸入220V和輸入175V時(shí),同等負(fù)載下,母線紋波基本一致,且耐受電壓紋波不超標(biāo)。
由于是單相輸入,模塊需降額至25A輸出。為了提升安全富裕量,在單相輸入應(yīng)用環(huán)境下,將模塊的限流點(diǎn)由三相時(shí)的35A降低至單相時(shí)的25A。
在原有2個(gè)母線電容的基礎(chǔ)上增加連接2個(gè)同規(guī)格的母線電容。同時(shí)為了進(jìn)一步提高母線電容的紋波耐受能力,將原有470uf/450V母線電容更換為680uf/450V規(guī)格,以提高模塊的工作可靠性
[1]中華人民共和國鐵道部.運(yùn)基信號〔2005〕458號.《鐵路信號智能電源屏技術(shù)條件》(暫行).
[2]趙祚義.信號電源屏存在的主要問題及產(chǎn)生原因[J].鐵道通信信號,2000年,第1期.