孫曉穎,王 震,楊錦鵬,扈澤正,陳 建
(吉林大學(xué) 通信工程學(xué)院,長春 130022)
電磁脈沖(Electromagnetic pulse,EMP)等有意電磁干擾(Intentional electromagnetic interference,IEMI)嚴(yán)重威脅了車輛機(jī)動性和行駛安全性[1]。電子節(jié)氣門(Electronic throttle,ET)控制著進(jìn)入氣缸的空氣量,其工作異常將導(dǎo)致發(fā)動機(jī)喘振和熄火等故障發(fā)生。研究電子節(jié)氣門電磁敏感度評估方法對確定發(fā)動機(jī)系統(tǒng)敏感零部件及電磁防護(hù)設(shè)計具有重要意義。
EBVCN故障是指EBV與IPM之間的脈沖通訊信號丟失超過6 s。出現(xiàn)該故障后,從LCDM屏電空制動進(jìn)入屏維護(hù)菜單,在“事件記錄”里有紅色“F:085-EBVCN失效(EBV)”的記錄,故障恢復(fù)時出現(xiàn)綠色記錄“P:085-EBVCN失效(EBV)”的記錄。
目前電磁脈沖效應(yīng)的研究,主要采用試驗方法獲得電子系統(tǒng)的效應(yīng)類型和敏感度閾值[1-4]。由于試驗條件和成本的限制,試驗樣本有限,試驗結(jié)論不具備很強(qiáng)的外推性[5]。受電磁環(huán)境、耦合通道、器件敏感度等因素影響,電子系統(tǒng)電磁敏感度分析中存在諸多不確定性,如電磁波不同的入射方向和極化方向、子系統(tǒng)或設(shè)備不同的安裝位置、同一器件敏感度為非定值等。因此,電子系統(tǒng)電磁敏感度評估更適合采用不確定性的分析方法。
具有代表性的不確定性評估方法主要有故障樹分析(Fault tree analysis,F(xiàn)TA)方法[6-8]和貝葉斯網(wǎng)絡(luò)(Bayesian networks,BN)分析方法[9,10]。FTA方法廣泛應(yīng)用于系統(tǒng)可靠性和安全性分析,但在評估系統(tǒng)電磁敏感度時存在以下不足:①對于一些復(fù)雜系統(tǒng),導(dǎo)致頂事件的基本事件較多,造成基于最小割集布爾運(yùn)算的計算十分復(fù)雜[9];②故障樹(Fault tree,F(xiàn)T)模型中不包含導(dǎo)致故障發(fā)生的電磁環(huán)境和電磁應(yīng)力分析[10],無法完整描述電磁波與系統(tǒng)相互作用的全過程;③系統(tǒng)電磁效應(yīng)有功能正常、邏輯紊亂和硬件損傷3種狀態(tài)[11],而故障樹分析中只包含兩種邏輯狀態(tài),對于多故障狀態(tài)需要特殊對待。貝葉斯網(wǎng)絡(luò)是一種基于圖論和概率論的二元體,具有較強(qiáng)的建模能力,可以很好地描述電磁波對電子系統(tǒng)干擾效應(yīng)全過程,有效克服了故障樹分析方法的不足。文獻(xiàn)[10]中提出了電子系統(tǒng)電磁易損性評估的貝葉斯網(wǎng)絡(luò)框架,將FT和電磁拓?fù)?Electro-magnetic topology,EMT)等工具有效融合在BN中,為電子系統(tǒng)電磁易損性評估提供了更加有力的分析工具。
同時,要求學(xué)生能將創(chuàng)新性思維更好地融入設(shè)計過程中去,這對傳統(tǒng)的程序性視覺傳達(dá)設(shè)計教學(xué)方法提出了挑戰(zhàn),傳統(tǒng)視覺傳達(dá)設(shè)計教學(xué)方法不再適應(yīng)新的教學(xué)要求。
本文將貝葉斯網(wǎng)絡(luò)分析方法應(yīng)用于電子節(jié)氣門電磁敏感度評估中。結(jié)合故障樹和電磁拓?fù)浞治鼋⒘斯?jié)氣門電磁敏感度BN評估模型,給出了模型計算方法;并以高空電磁脈沖(High-altitude electromagnetic pulse,HEMP)環(huán)境為例驗證了模型的有效性。本文方法涵蓋了電磁脈沖與電子節(jié)氣門相互作用過程中所有電磁耦合途徑和系統(tǒng)失效途徑,有效解決了諸多不確定參量下輻射試驗外推性差、評估不準(zhǔn)確的難題。
P(Stres|AEME)的值由系統(tǒng)周圍電磁環(huán)境和耦合途徑確定。若P(Stres|AEME)=0,則表明對器件無影響。如果知道器件的電磁敏感度概率密度函數(shù)f(x),則P(Stres|AEME)與f(x)和g(y)重疊部分成比例,即:
圖1 電子節(jié)氣門控制系統(tǒng)組成Fig.1 Structure of electronic throttle control system
電磁脈沖對車輛裝備的損傷效應(yīng)主要分為工作失靈和功能損壞[1]。對電子節(jié)氣門而言,電磁脈沖可對電機(jī)和TPS產(chǎn)生干擾,導(dǎo)致節(jié)氣門進(jìn)氣量偏離目標(biāo)值;或者使電機(jī)停止工作,暫時失效,節(jié)氣門進(jìn)氣量為零;甚至通過熱或電擊穿,使電機(jī)和TPS永久失效,節(jié)氣門損壞。
電磁脈沖進(jìn)入電子系統(tǒng)的途徑有兩種:①前門耦合,通過天線耦合進(jìn)入系統(tǒng);②后門耦合,通過孔縫、線纜等耦合進(jìn)入系統(tǒng)。電子節(jié)氣門的電磁耦合途徑屬于后門耦合,如圖2所示。
車身金屬殼體上存在大量孔縫,如散熱器孔洞、發(fā)動機(jī)艙蓋與車身縫隙等。電磁脈沖傳播到車身和孔縫附近,會發(fā)生電磁散射和穿透。不同頻率波分量穿透孔縫的能力不同,導(dǎo)致電磁波在發(fā)動機(jī)艙內(nèi)產(chǎn)生共振效應(yīng);孔縫附近電磁波產(chǎn)生增強(qiáng)效應(yīng),使耦合場強(qiáng)于入射場[12]。這意味著發(fā)動機(jī)艙內(nèi)部V1電磁場分布比發(fā)動機(jī)艙外部V0更復(fù)雜。
圖2 電子節(jié)氣門電磁耦合模型Fig.2 Electromagnetic coupling model of electronic throttle
電子節(jié)氣門為金屬體,但內(nèi)部電路塑料外殼和線束插頭等孔洞給電磁波滲透提供了途徑。發(fā)動機(jī)艙V1內(nèi)電磁波通過孔洞耦合進(jìn)入電子節(jié)氣門V2,1內(nèi)部,對電子元器件產(chǎn)生輻射干擾。此外,電子節(jié)氣門通過線纜與發(fā)動機(jī)電控單元連接。這些線纜拾取發(fā)動機(jī)艙V1內(nèi)電磁能量,以瞬態(tài)高電壓和大電流的形式傳導(dǎo)到終端負(fù)載,對節(jié)氣門電子器件產(chǎn)生傳導(dǎo)干擾[13]??梢姡娮庸?jié)氣門電磁脈沖效應(yīng)由電磁場輻射干擾和線纜傳導(dǎo)干擾共同作用引起。
電磁波通過層層滲透作用在零部件上造成零部件受擾,最終導(dǎo)致節(jié)氣門控制系統(tǒng)發(fā)生故障。利用EMT 和 FT模型分別描述電磁滲透過程及節(jié)氣門失效過程,建立融合FT 和 EMT 的 BN評估模型。
節(jié)氣門開度控制包括信息采集、狀態(tài)判斷和指令控制3個步驟。涉及到的結(jié)構(gòu)有TPS、ECU和電機(jī)。TPS和ECU之間,電機(jī)與ECU之間都是通過1~2 m長線纜進(jìn)行連接。TPS1、TPS2將節(jié)氣門開度信息通過線纜傳給ECU,ECU對發(fā)動機(jī)狀態(tài)進(jìn)行判斷確定節(jié)氣門目標(biāo)開度,然后輸出控制信號通過線纜驅(qū)動電機(jī)來調(diào)節(jié)節(jié)氣門開度。中間任何一個環(huán)節(jié)出現(xiàn)故障都會導(dǎo)致節(jié)氣門開度偏離目標(biāo)開度。這就意味著它們在FT模型中是“或”的邏輯關(guān)系。TPS和電機(jī)是節(jié)氣門的組成部分,可以把兩者的故障歸類于節(jié)氣門故障。TPS1和TPS2采用冗余設(shè)計,兩者同時失效才判定為節(jié)氣門開度信息采集異常,因此TPS1、TPS2在故障樹中是“與”的邏輯關(guān)系。電子節(jié)氣門控制系統(tǒng) FT 模型和各層次編號如圖3所示。
圖3 電子節(jié)氣門控制系統(tǒng)FT模型Fig.3 FT model of electronic throttle control system
故障樹結(jié)構(gòu)函數(shù)如式(1)所示:
(1)
式中:Pi是Ci的故障概率,i=1,2;P1.m是對應(yīng)C1.m的故障概率,m=1,2;P1.1=P1.1.1·P1.1.2。
采用EMT理論對電磁耦合途徑進(jìn)行分析,考慮包括輻射和傳導(dǎo)在內(nèi)的所有耦合途徑,最終確定主要耦合通道。參照文獻(xiàn)[14]中EMT表示方法,將發(fā)動機(jī)艙外部和內(nèi)部分別用V0和V1表示,節(jié)氣門體和電控單元殼體分別用V2,1和V2,2表示。各電子器件都受到滲透進(jìn)殼體內(nèi)的電磁場輻射影響。為了表示V1內(nèi)線纜的傳導(dǎo)干擾,將連接節(jié)氣門和ECU的線束用L1、L2表示。節(jié)氣門控制系統(tǒng)EMT和各器件編號如圖4所示。
圖4 電子節(jié)氣門控制系統(tǒng)EMTFig.4 EMT of electronic throttle control system
EMP穿過發(fā)動機(jī)艙體時能量密度被削減,加上節(jié)氣門體和電控單元殼體的屏蔽作用,輻射干擾的作用已經(jīng)很小,電磁干擾主要由線纜傳導(dǎo)耦合引入。因此,線束L1、L2視為電子節(jié)氣門電磁耦合的主要通道。
結(jié)合FT分析和EMT分析,建立電子節(jié)氣門電磁敏感度BN 評估模型,如圖5所示。節(jié)點代表自由場和實體結(jié)構(gòu)。箭頭表示從環(huán)境到電磁應(yīng)力(Electromagnetic stress,EMS),從零部件到系統(tǒng)的因果關(guān)系。FT和EMT結(jié)合處表示電子器件經(jīng)受的電磁應(yīng)力。BN評估模型展示了所有可能的電磁耦合途徑和系統(tǒng)失效途徑,同時兼顧了輻射和傳導(dǎo)兩種電磁干擾的測試和計算。
圖5 BN敏感度評估模型Fig.5 BN model of susceptibility assessment
系統(tǒng)的電磁干擾效應(yīng)是不確定的,而是概率事件,需從概率論角度進(jìn)行描述。節(jié)氣門控制系統(tǒng)失效概率與系統(tǒng)V和IEMI兩個因素有關(guān)。用聯(lián)合概率表示為:
式中分別代表土壤有機(jī)質(zhì)、全氮、全磷、全鉀、堿解氮、速效磷、速效鉀和pH等8個土壤養(yǎng)分監(jiān)測指標(biāo)的標(biāo)準(zhǔn)化值。
PV=PV(V,IEMI)
(2)
在BN的基礎(chǔ)上,因果關(guān)系可以用條件概率來表示,即:
PV(V,IEMI)=PV(V|IEMI)P(IEMI)
(3)
土地使用權(quán)貸款與土地出讓金正相關(guān),如圖2所示。土地出讓面積從1997年的6 641.7萬平方米開始逐年增加至2011年44 327.44萬平方米的頂峰,之后逐漸回落,2017年為25 508萬平方米。與此同時,土地購置費(fèi)逐漸攀升,從1997年的247.6億元逐步增長至2016年的18 778.68億元。
PV(V,AEME)=P(V|Subs)P(Subs|Comp)×
P(Comp,Stres)P(Stres|AEME)×
PV(V,IEMI)=P(V2,1,1,V0)×
(4)
下面將詳細(xì)介紹式(4)中各概率的計算方法。
將IEMI分成K種類型,每個子集Sk(k=1,2,…,K)均對系統(tǒng)造成威脅,采用全概率公式進(jìn)行描述。各子集Sk符合下面條件:
(5)
每個子集被分配的概率P′(Sk)由專家根據(jù)干擾源種類、距離和攻擊持續(xù)時間確定,然后對所有子集概率值進(jìn)行歸一化。
(6)
P(Sk)越大表明Sk類干擾源威脅越大。其中,P(Sk)=0,P(Sk)=1是兩種極端情況,分別表示無威脅和必然有威脅。在BN中所有概率值必須符合概率論基本公理,所以P(Sk)=1(k=1,2,…,K)是不允許的。
②股權(quán)激勵個人所得稅分期繳納。企業(yè)在以股份或出資比例給予內(nèi)部該段人才和緊缺型人才獎勵時,可對照中關(guān)村的做法實行分期繳納個人所得稅的政策。
如果有幾個IEMI干擾源Sk(k=1,2,…,K)同時到達(dá)系統(tǒng),可以表示為:
(7)
以一類IEMI源為例,電磁波對器件產(chǎn)生的電磁應(yīng)力可以用概率密度函數(shù)(Probability density function,PDF)g(y)表示,且g(y)滿足式(8):
(8)
電子節(jié)氣門由電機(jī)(Motor)和節(jié)氣門位置傳感器(Throttle position sensor, TPS)兩部分組成。通過電機(jī)控制節(jié)氣門開度實現(xiàn)目標(biāo)進(jìn)氣量。位置傳感器將節(jié)氣門開度反饋給電控單元(Electronic control unit,ECU)實現(xiàn)閉環(huán)控制,包含TPS1和TPS2 兩個傳感器。電子節(jié)氣門控制系統(tǒng)組成如圖1所示。
由于本研究將同異步溝通作為連續(xù)型自變量,在驗證主效應(yīng)時使用一般線性回歸的方法。表2的結(jié)果顯示,溝通方式對心流體驗的影響是顯著且正向的,即顧客溝通越同步,顧客心流體驗越強(qiáng)。實驗結(jié)果進(jìn)一步證明了理論框架的主效應(yīng)。
五是要學(xué)習(xí)和實踐馬克思主義關(guān)于文化建設(shè)的思想。學(xué)習(xí)這一思想的現(xiàn)實意義在于增強(qiáng)“發(fā)展社會主義先進(jìn)文化,加強(qiáng)社會主義精神文明建設(shè)”的自覺性,增強(qiáng)對社會主義先進(jìn)文化的自信。
P(Stres|AEME)∝
(9)
式中:P(C1.1.1)=P(C1.1.2)=P(C1.1.1,V2,1,1),因此:
(10)
圖6 BN中器件失效概率Fig.6 Failure probability of component in BN
P(Subs|Comp)和P(V|Subs)的獲得可以借鑒P(AEME|IEMI)的分析過程。
隨著中國汽車產(chǎn)量和保有量的迅速增加,車用潤滑油尤其是發(fā)動機(jī)潤滑油的需求不斷增長。與此同時,當(dāng)今中國消費(fèi)者比以往更為專業(yè),對潤滑油的性能提出了更高的要求。此次展會阿朗新科帶來的Keltan OCP黏指劑產(chǎn)品能夠滿足API SN,CJ-4,ILSAC GF-5 等各種發(fā)動機(jī)潤滑油的要求,并助力潤滑油等級提升。
以HEMP為例對電子節(jié)氣門敏感度BN評估模型計算進(jìn)行詳細(xì)說明。對BN中的每個節(jié)點和分支進(jìn)行分析,尤其是各電子器件經(jīng)受電磁應(yīng)力和敏感度情況的分析。
只考慮HEMP 作為干擾源,假設(shè)HEMP 傳播到車輛周圍時波形不發(fā)生變化。可得:
P(HEMP)=P(V0)=1
(11)
P(AEME,HEMP)=P(V1,V0)=
式(3)表示系統(tǒng)V 在IEMI 干擾下的輻射敏感概率。采用IEMI 環(huán)境進(jìn)行試驗對實驗條件要求很高。可以從IEMI 環(huán)境出發(fā),結(jié)合器件敏感度利用BN 層層分析系統(tǒng)故障概率。IEMI 在系統(tǒng)周圍產(chǎn)生的電磁環(huán)境(Ambient electromagnetic environment,AEME)對電機(jī)和TPS 產(chǎn)生電磁應(yīng)力(Stres)導(dǎo)致器件失效(Comp),最終導(dǎo)致節(jié)氣門故障(Subs)和控制系統(tǒng)(V)功能故障。這個過程是串聯(lián)的因果關(guān)系,可以用式(4)表示:
P(V1|V0)P(V0)=1
(12)
由于車輛殼體是金屬結(jié)構(gòu),對HEMP有一定的屏蔽作用,發(fā)動機(jī)艙各位置處場強(qiáng)峰值均值約為33 kV/m[15]。節(jié)氣門體和ECU均為金屬外殼,可簡單等效為留有孔洞的屏蔽腔體,在不考慮諧振頻率的情況下,屏蔽效能可達(dá)80 dB[16]??紤]孔縫大小等因素,設(shè)備殼體屏蔽效能設(shè)為40 dB。經(jīng)上述粗略計算,設(shè)備殼體內(nèi)場強(qiáng)小于500 V/m。而微控系統(tǒng)的輻射敏感度閾值大于1 kV/m[17]。因此,認(rèn)為節(jié)氣門控制系統(tǒng)受輻射干擾故障的概率為0,即:
P(Comp|Stres)=P(Comp (13) 傳導(dǎo)電磁應(yīng)力由線纜拾取發(fā)動機(jī)艙內(nèi)電磁能量產(chǎn)生的,HEMP經(jīng)過車輛殼體后波形會發(fā)生變化,詳細(xì)計算發(fā)動機(jī)艙內(nèi)電磁環(huán)境復(fù)雜且費(fèi)時。為了降低數(shù)據(jù)獲取的難度,仍然用雙指數(shù)波形來描述發(fā)動機(jī)艙內(nèi)電磁環(huán)境,峰值場強(qiáng)取為33 kV/m 。假設(shè)發(fā)動機(jī)艙內(nèi)連接ECU和節(jié)氣門的所有線纜相同且獨立,可認(rèn)為線纜端器件經(jīng)受相同傳導(dǎo)電磁應(yīng)力。電磁敏感度閾值為器件能承受的最大EMS。 4.2.1 傳導(dǎo)電磁應(yīng)力計算 用CST線纜工作室(Cable studio)仿真計算電磁脈沖輻射下單根導(dǎo)線終端感應(yīng)電壓V(L),取電壓峰值作為器件經(jīng)受的EMS值,仿真模型示意圖如圖7所示。 圖7 入射平面波對導(dǎo)線的激勵Fig.7 Cable excited by incident plane wave 圖7中入射波為平面波,將其參數(shù)作為隨機(jī)變量,兼顧計算量和樣本數(shù)量,具體設(shè)為:入射角ψ′∈[18°,90°],方位角φ′∈[0,90°],極化角α′∈[0,90°]作為隨機(jī)變量,各變量采樣步長都設(shè)為Δ=18°,共計180個仿真樣本。 遼寧省金秋醫(yī)院骨一科醫(yī)師張瓏:骨質(zhì)疏松的發(fā)生與骨骼重建破壞的平衡有關(guān),鈣劑只是骨骼重建的原材料,單純補(bǔ)鈣就好像蓋房子時只會買材料,卻不請建筑工師傅一樣。 其他仿真參數(shù)為:①激勵源EMP:激勵源數(shù)學(xué)模型E(t)=kE0(e-α t-e-β t),E0=33 kV/m,k=1.3,α=4×107,β=6×108;②線纜:長度L=2 m,高度h=0.6 m,導(dǎo)線導(dǎo)體半徑r=0.5 mm,終端負(fù)載Z0=3 Ω,ZL=10 kΩ,Z0為節(jié)氣門端阻抗,ZL為ECU端輸入阻抗;③參考地:導(dǎo)電率σg=0.01 S/m,介電常數(shù)εrg=10。 180個樣本結(jié)果中,Z0端EMS最大為305.6 V,最小為0 V。假設(shè)Z0端EMS符合正態(tài)分布,用K-S檢驗(Kolmogorov-Smirnov test)進(jìn)行驗證。通過查表獲得α*=0.05時,臨界值CV為0.10122[10]。CST仿真獲得線纜終端EMS結(jié)果累積分布函數(shù)(Cumulative distribution function, CDF)與均值μ=150.045、標(biāo)準(zhǔn)差σ=78.384的正態(tài)分布CDF最大偏差為0.0563,小于CV,如圖8所示。 圖8 電子節(jié)氣門端電磁應(yīng)力累積分布函數(shù)Fig.8 CDF of EMS atelectronic throttle terminal 因此,認(rèn)為線纜終端EMS符合μ=150.045V,標(biāo)準(zhǔn)差σ=78.384V的正態(tài)分布N(μ,σ2),概率密度函數(shù)(Probability density function, PDF)如式(14)所示: 1.4 統(tǒng)計分析 采用SPSS 20.0統(tǒng)計學(xué)軟件進(jìn)行分析,計量資料以均數(shù)±標(biāo)準(zhǔn)差()表示,組間比較采用單因素方差分析,計數(shù)資料采用χ2檢驗,兩兩比較采用LSD-t檢驗,P<0.05為差異有統(tǒng)計學(xué)意義。 (14) 4.2.2 器件傳導(dǎo)敏感度測試 節(jié)氣門電機(jī)和TPS敏感度測試采用IEC 61000-4-4[18]中規(guī)定的電子設(shè)備電快速瞬變脈沖(Electrical fast transients,EFT)敏感度測試方法,試驗布置如圖9所示??刂乒?jié)氣門閥以2 Hz的頻率開合,分別對電機(jī)控制線和TPS信號線注入干擾脈沖,通過觀察節(jié)氣門開合情況和TPS信號波形判斷節(jié)氣門電機(jī)和TPS故障模式。注入脈沖幅值由小到大增加,直到受試器件功能異?;蜻_(dá)到設(shè)備輸出最大值。整個試驗過程記錄受試器件故障模式和耦合干擾脈沖峰值。對20個樣本進(jìn)行試驗,相同故障類型數(shù)據(jù)進(jìn)行正態(tài)分布擬合,獲得節(jié)氣門電機(jī)和TPS敏感度閾值的累積分布函數(shù)和概率密度函數(shù)。 圖9 電子節(jié)氣門敏感度試驗布置Fig.9 Electronic throttle under test 節(jié)氣門電機(jī)在試驗過程中出現(xiàn)了靜態(tài)干擾(Static)和軟損傷(Soft)兩種故障模式。靜態(tài)干擾指電機(jī)運(yùn)行過程中出現(xiàn)卡頓現(xiàn)象,但不影響節(jié)氣門開合;軟損傷指干擾脈沖造成電機(jī)停止工作,復(fù)位后功能恢復(fù)正常。節(jié)氣門位置傳感器只出現(xiàn)了軟損傷一種故障模式,即干擾脈沖使傳感器信號消失。節(jié)氣門電機(jī)和TPS各故障模式對應(yīng)敏感度閾值如圖10所示,敏感度閾值概率密度函數(shù)見表1、表2。 本研究根據(jù)黑米、小米等營養(yǎng)價值高、淀粉含量高等特點,結(jié)合枸杞、大棗等的藥用價值,分別以黑米、小米等為主要原料,添加適量的枸杞、大棗等,采用黃酒半固態(tài)發(fā)酵工藝釀制黑米酒、小米酒兩款不同風(fēng)味的米酒,以半成品酒液為檢測樣品,對其風(fēng)味物質(zhì)、總酸、總酯、黃酮及總多糖等成分進(jìn)行檢測與對比分析,以期為新款風(fēng)味米酒的調(diào)配提供參考依據(jù)。 圖10 電子節(jié)氣門敏感度閾值Fig.10 Sensitivity thresholds of electronic throttle 0.6927×0.6927≈0.4798 電機(jī)和TPS每一種故障模式失效概率可通過下式獲得: Pc=P(Comp,Stres)=P(y≥x) (15) 式中:Comp代表節(jié)點C1.1.1,C1.1.2,C1.2;Stres代表V2,1,1,V2,1,2和V2,1,3;f(x)和g(y)分別代表器件敏感度閾值PDF和電磁應(yīng)力PDF;x∈[xmin,xmax]和y∈[ymin,ymax]分別是敏感度閾值電壓范圍和電磁應(yīng)力電壓范圍。若X~N(μ,σ2),F(xiàn)(μ-3σ≤x≤μ+3σ)≈99.7%??蓪μ-3σ,μ+3σ]作為xmin、xmax、ymin、ymax的取值。電子節(jié)氣門各器件敏感度閾值PDF和電磁應(yīng)力PDF如圖11所示,失效概率Pc見表1、表2。 李舍的長篇小說新作《西窗》,這部視角獨特的言情長構(gòu),通過對女主人公兩個不同身份的剖析,和對兩個多角戀關(guān)系的演繹,對網(wǎng)絡(luò)時代的愛情做了新的詮釋,堪稱一部自媒體時代愛情可能性及其困境的寓言之作。 電磁應(yīng)力PDF和敏感度閾值PDF重疊部分反映了對應(yīng)耦合途徑的威脅程度,用Pt表示。 (16) 耦合路徑L1、L2最大Pt如表1、表2所示,分別為: TPS1:P(V2,1,1|V1)≈0.74 (17) 節(jié)氣門電機(jī):P(V2,1,3|V1)≈0.86 (18) 表1 電機(jī)敏感度閾值分布Table 1 Sensitivity thresholds distribution of motor 表2 TPS1敏感度閾值分布Table2 Sensitivity thresholds distribution of TPS1 圖11 電子節(jié)氣門器件失效概率Fig.11 Failure probability of electronic throttle components 4.2.4 電子節(jié)氣門敏感度評估 需要說明的是,本文只研究節(jié)氣門的敏感度情況,對電控單元的敏感度情況不做探討。經(jīng)過輻射和傳導(dǎo)敏感度分析,所有安全的節(jié)點和路徑被刪除,多故障模式器件節(jié)點將被展開。將節(jié)氣門電機(jī)節(jié)點C1.2展開成C1.2.1和C1.2.2。由于節(jié)氣門位置傳感器C1.1.1和C1.1.2完全一樣,耦合路徑也相同,因此,用V2.1.1代替V2.1.2。 圖3中模型經(jīng)簡化后如圖12所示。導(dǎo)致節(jié)氣門故障的情況有兩個,一是HEMP(V0)穿過發(fā)動機(jī)艙體(V1)耦合到線纜L1造成TPS1(C1.1.1)和TPS2(C1.1.2)受擾,導(dǎo)致TPS(C1.1)工作失效;另一個是線纜L2引入干擾造成節(jié)氣門電機(jī)(C1.2)工作失效。各效應(yīng)之間相互獨立,式(2)可表示為: P(AEME|IEMI)P(IEMI) P(C1.1,V2,1,1)P(C1|C1.1)P(V|C1)+ P(V2,1,3,V0)P(C1.2,V2,1,3)P(C1|C1.2)× P(V|C1) (19) 式中:P(V2,1,i,V0)=P(V0)P(V1|V0)× P(V2,1,i|V1),i=1,3。 圖12 簡化后BN模型Fig.12 Modified BN model C1.1.1和C1.1.2采用冗余設(shè)計,兩者同時故障將導(dǎo)致C1.1失效。所以,條件概率為: P(C1.1|C1.1.1,C1.1.2)=1 (20) 聯(lián)合概率為: P(C1.1,C1.1.1,C1.1.2)= P(C1.1.1)P(C1.1.2)P(C1.1|C1.1.1,C1.1.2) 0分:無黏結(jié)劑殘留在樹脂面上;1分:黏結(jié)劑殘留量<1/3;2分:1/3<黏結(jié)劑殘留量> <2/3;3分:黏結(jié)劑殘留量>2/3;4分:全部黏結(jié)劑殘留在樹脂面上。黏結(jié)劑殘留量 (21) 電磁應(yīng)力概率密度函數(shù)g(y)和器件敏感度概率密度函數(shù)f(x)確定的情況下,如圖6所示,P(Comp,Stres)的表達(dá)式為[10]: P(C1.1)= P(C1.1.1,V2.1.1)P(C1.1.2,V2.1.1)×1= 4.2.3 傳導(dǎo)故障概率計算 (22) 節(jié)氣門電機(jī)包括靜態(tài)干擾和軟損傷兩種故障模式,可用各故障模式概率加權(quán)和表示電機(jī)故障概率。權(quán)值Pw表示各故障模式出現(xiàn)的概率,可由專家經(jīng)驗給出,這里Pw=P(C1.1.i|V2,1,3),i=1,2,w=1,2,分別賦值為2/3和1/3。用全概率公式求節(jié)氣門電機(jī)的聯(lián)合概率如下式所示: P(C1.2,V2,1,3)= (23) 位置傳感器C1.1和電機(jī)C1.2構(gòu)成了電子節(jié)氣門C1所有失效情況集合,從執(zhí)行器角度考慮,電機(jī)比位置傳感器更加重要。因此,條件概率分配為: (24) C1直接導(dǎo)致V故障,因此: P(V|C1)=1 (25) 基于以上分析,有: P(V|V2,1,1)= P(C1.1,V2,1,1)P(C1|C1.1)P(V|C1)= (26) P(V|V2,1,3)= P(C1.2,V2,1,3)P(C1|C1.2)P(V|C1)= (27) 最后,電子節(jié)氣門故障概率為: P(V,IEMI)=P(V2,1,1,V0)P(V|V2,1,1)+ P(V2,1,3,V0)P(V|V2,1,3)=0.74× 0.1599+0.86×0.3312≈0.4032 (28) 這表明電子節(jié)氣門在HEMP輻射下故障概率為40.32%。 本文研究了電子節(jié)氣門在IEMI下的敏感度評估問題,結(jié)合電磁拓?fù)淅碚摵凸收蠘浞治龇椒ń⒘薆N評估模型,給出了模型各節(jié)點概率的計算方法。最后以HEMP環(huán)境為例說明了模型分析、計算的全過程,結(jié)果表明電子節(jié)氣門在HEMP環(huán)境下的故障概率為40.32%。本文所采用的基于BN的評估方法融合了電磁環(huán)境分析、耦合路徑分析、元器件敏感度測試和數(shù)據(jù)統(tǒng)計處理等過程,涵蓋從干擾源到電子節(jié)氣門故障整個作用過程的分析。解決了通過輻射試驗方法無法觀察所有不確定參量下節(jié)氣門效應(yīng)引起的試驗結(jié)果外推性差、評估不準(zhǔn)確和試驗成本昂貴的難題。同時,確定了主要干擾耦合通道和節(jié)氣門敏感器件,對發(fā)動機(jī)敏感度評估和電磁防護(hù)設(shè)計具有重要參考價值。 [1] 李慧梅,唐彥峰,劉祥凱,等. 電磁脈沖武器對車輛裝備的損傷效應(yīng)研究[J]. 裝備環(huán)境工程,2010,7(3):31-34. Li Hui-mei, Tang Yan-feng, Liu Xiang-kai, et al. Study of destructive effects of electromagnetic pulse weapon on vehicle [J]. Equipment Environment Engineering, 2010, 7(3):31-34. [2] Nitsch D, Camp M, Sabath F, et al. Susceptibility of some electronic equipment to HPEM threats [J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2004, 46(3):380-389. [3] B?ckstr?m M G, L?vstrand K G. Susceptibility of electronic systems to high-power microwaves: summary of test experience [J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2004, 46(3):396-403. [4] 曾德龍. 汽車電子設(shè)備電磁損傷機(jī)理及損傷閾值研究[D]. 長春:吉林大學(xué)通信工程學(xué)院,2012. Zeng De-long. Research on electromagnetic damage mechanisms and threshold values of electricalequipments on vehicle[D]. Changchun: College of Communication and Engineering, Jilin University, 2012. [5] 孟凡寶. 高功率超寬帶電磁脈沖技術(shù)[M]. 北京:國防工業(yè)出版社,2011. [6] Mensing R W, King R J, Cabayan H S. A method for estimating the susceptibility of electronic systems to HPM (high power microwave) [R].NASA STI/RECON Techinical Report,1988. [7] 梁喆. 基于故障樹分析車載系統(tǒng)電磁兼容診斷方法研究[D]. 西安:西安電子科技大學(xué)機(jī)電工程學(xué)院, 2012. Liang Zhe. Research on automotive system electromagnetic compatibility diagnosis based on fault tree analysis method[D]. Xi'an: School of Mechanic-Electronic Engineering Xidian University, 2012. [8] Genender E, Garbe H, Sabath F. Probabilistic risk analysis technique of intentional electromagnetic interference at system level [J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, 56(1):200-207. [9] 劉鈺,韓峰,陸希成,等.電子系統(tǒng)電磁脈沖易損性評估的分層貝葉斯網(wǎng)絡(luò)模型[J]. 電子學(xué)報,2016,44(11): 2695-2703. Liu Yu, Han Feng, Lu Xi-cheng, et al. EMP susceptibility modeling and assessment of electronic system based on hierarchical Bayesian networks [J]. Acta Electronica Sinica, 2016, 44(11): 2695-2703 [10] Mao C, Canavero F. System-level vulnerability assessment for EME: from fault tree analysis to Bayesian networks-part I: methodology framework [J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2016, 58(1):180-187. [11]IEC TR 61000-1-5,2004.Electromagnetic compatibility (EMC)-part 1-5:general-high power electromagnetic (HPEM) effects on civil systems[S]. [12] 王建國, 劉國治, 周金山. 微波孔縫線性耦合函數(shù)研究[J]. 強(qiáng)激光與粒子束, 2003, 15(11):1093-1099. Wang Jian-guo, Liu Guo-zhi, Zhou Jin-shan. Investigations on function for linear coupling of microwaves into slots [J]. High Power Laser and Particle Beams, 2003, 15(11):1093-1099. [13] 王建國. 高空核爆炸效應(yīng)參數(shù)手冊[M].北京:原子能出版社, 2010. [14] Lovetri J, Costache G I. An electromagnetic interaction modeling advisor [J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 1991, 33(3):241-251. [15] 蔡金良,孫曉穎,趙曉暉. 考慮復(fù)雜金屬設(shè)備的車輛發(fā)動機(jī)艙電磁環(huán)境效應(yīng)分析[J]. 吉林大學(xué)學(xué)報:工學(xué)版,2016,46(4):1360-1367. Cai Jin-liang, Sun Xiao-ying, Zhao Xiao-hui. Electromagnetic environment effects for automotive engine block with complex metallic equipments [J]. Journal of Jilin University (Engineering and Technology Edition), 2016, 46(4):1360-1367. [16] 王迪. HEMP環(huán)境下車輛電磁屏蔽技術(shù)的防護(hù)效能研究[D]. 長春:吉林大學(xué)通信工程學(xué)院, 2015. Wang Di. Research on protection effectiveness of vehicle electromagnetic shielding techniques in HEMP environment [D]. Changchun: College of Communication and Engineering, Jilin University, 2015. [17] Camp M,Gerth H, Garbe H, et al. Predicting the breakdown behavior of microcontrollers under EMP/UWB impact using a statistical analysis [J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2004, 46(3):368-379. [18] IEC 61000-4-4,2012. EMC: Testing and measurement techniques-electrical fast transient/burst immunity test[S].4.2 傳導(dǎo)電磁應(yīng)力計算和敏感度分析
5 結(jié)束語