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電子元器件的破壞性物理分析

2018-01-17 17:55:06何曉斌
電子技術(shù)與軟件工程 2017年24期
關(guān)鍵詞:電子元器件破壞性

摘 要

隨著我國社會經(jīng)濟的快速發(fā)展,電子技術(shù)發(fā)展迅猛,逐漸被各個領(lǐng)域所使用。但是電子元器件在使用過程中經(jīng)常會發(fā)生破壞情況,從而對相關(guān)設(shè)備的正常運行產(chǎn)生嚴重影響。基于此,本文就對電子元器件的破壞性物理分析進行詳細的闡述,以期為電子元器件檢修工作提供參考依據(jù)。

【關(guān)鍵詞】電子元器件 破壞性 物理分析

隨著我國社會經(jīng)濟的快速發(fā)展,電子技術(shù)發(fā)展迅猛,逐漸成為現(xiàn)代社會的支撐產(chǎn)業(yè)。但是電子元器件在設(shè)備運行階段經(jīng)常會出現(xiàn)破壞,所以相關(guān)人員需要定期對電子元器件進行檢查,從而保證電子元器件的正常使用。基于此本文就對電子元器件的破壞性物理分析進行講解。

1 電子元器件破壞性物理分析

電子元器件的破壞性物理分析是指對電子元器件進行解剖,對電子元器件內(nèi)部結(jié)構(gòu)元素進行詳細分析,從而保證電子元器件的設(shè)計合格、結(jié)構(gòu)組合一致、材料運用符合標準,進一步保證電子元器件的使用質(zhì)量符合要求。電子元器件的破壞性物理分析就是PDA,英文為Destructive Physical Analysis,主要是指對電子一般情況下,PDA的目的包含以下兩個方面內(nèi)容:一方面,對電子元器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行、使用材料、工藝設(shè)計等方面內(nèi)容進行檢查,保證這些部分組成合理,符合質(zhì)量標準,從而可以為為電子元器件破壞性物理分析奠定堅實基礎(chǔ)。另一方面,PDA可以為部分電子元器件的改進提供參考依據(jù),并可以對電子元器件的生產(chǎn)狀況和生產(chǎn)質(zhì)量效率進行針對性評價。

2 我國電子元器件破壞性物理分析的應(yīng)用效果

2.1 相關(guān)半導(dǎo)體器件質(zhì)量合格率高

隨著我國社會經(jīng)濟的快速發(fā)展,我國半導(dǎo)體器件的使用逐漸提升,但是半導(dǎo)體器件在使用過程中還存在著嚴重的質(zhì)量實效性問題,因此,相關(guān)人員需要對半導(dǎo)體器件的破壞情況進行全面分析,并針對半導(dǎo)體器件中存在的問題制定針對性解決措施,保證半導(dǎo)體器件產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量合格,從而提高我國相關(guān)半導(dǎo)體器件質(zhì)量合格率。

2.2 加快電子元器件質(zhì)量問題的原因發(fā)現(xiàn)速度

隨著經(jīng)濟全球化的到來,我國逐漸成為經(jīng)濟大國,半導(dǎo)體器件的使用數(shù)量也逐漸呈現(xiàn)出上升的趨勢,通過對相關(guān)數(shù)據(jù)的分析可知,我國電子元器件破壞性物理分析中的不合格項目的發(fā)現(xiàn)機率上升,內(nèi)部檢測不合格率、芯片剪切不合格率等情況直線上升,所以,電子元器件的破壞性物理分析可以加快電子元器件質(zhì)量問題的原因發(fā)現(xiàn)速度。

2.3 為相關(guān)器件改進措施提供參考依據(jù)

一般情況下,相關(guān)人員在進行相關(guān)器件的破壞性物理分析后,經(jīng)常會經(jīng)分析數(shù)據(jù)提供給器件的生產(chǎn)廠家,然后器件生產(chǎn)廠家在對相關(guān)器件的破壞性物理分析數(shù)據(jù)進行整理,并對數(shù)據(jù)顯示中的不合格元器件進行分析,改進生產(chǎn)加工方法,從而保證相關(guān)器件的質(zhì)量合格。與此同時,相關(guān)廠家也會對電子元器件破壞性物理因素進行分析,并在內(nèi)部建立相關(guān)分析部門,在相關(guān)器件生產(chǎn)出廠之前,對器件進行破壞性物理分析檢查,讓電子元器件生產(chǎn)廠家都對自家生產(chǎn)情況進行了解,從而保證各個電子元器件生產(chǎn)廠家質(zhì)量合格。

3 電子元器件破壞性物理分析的具體要項

3.1 用戶委托形勢下的工作開展要點

現(xiàn)階段,我國電子元器件破壞性物理分析已經(jīng)涉及到各個領(lǐng)域,對各個領(lǐng)域的發(fā)展都起到至關(guān)重要的作用,面對此種情況,相關(guān)人員需要對電子元器件的可靠性進行分析,并使用用戶委托形式下的工作開展要點。一般情況下,用戶委托形勢下的工作開展要點需要從以下兩個方面進行:一方面,相關(guān)人員需要嚴格按照國家下發(fā)的標準進行電子元器件破壞性物理分析,并在雙方合同中對裁定標準進行說明,嚴格按照裁定標準進行價格制定。另一方面,在進行電子元器件的樣品制作過程中,相關(guān)人員需要采用科學(xué)合理的解剖技術(shù)對電子元器件進行解剖,分析電子元器件的外形結(jié)構(gòu)、內(nèi)部結(jié)構(gòu)、集合電路等方面內(nèi)容是否合理,然后再進行其他項目的檢測工作。

3.2 電子元器件破壞性物理分析工作的展開時機分析

現(xiàn)階段,隨著我國社會經(jīng)濟的快速發(fā)展,對電子元器件破壞性物理分析工作的重視程度逐漸增加,面對此種情況,相關(guān)人員需要對電子元器件破壞性物理分析工作制定嚴格的規(guī)范標準,保證電子元器件可以滿足設(shè)備的使用需求。相關(guān)單位可以在施工前期開展相關(guān)產(chǎn)品的破壞性物理分析工作,對產(chǎn)品情況進行合理分析,并提高分析人員的電子元器件破壞性物理分析質(zhì)量。

3.3 抽樣取樣的科學(xué)性分析

在電子元器件的破壞性物理分析中最常見的工作就是抽樣取樣的科學(xué)性分析,具體可以從以下個方面進行:一方面,在電子元器件檢測中需要保證樣品數(shù)量不超過十個,且保證樣品數(shù)量占到生產(chǎn)總批數(shù)的百分之一。另一方面,相關(guān)人員需要對未經(jīng)過篩選的樣品進行分析,并嚴格按照檢測標準進行執(zhí)行,進一步動我國電子技術(shù)的快速發(fā)展。

4 總結(jié)語

總而言之,隨著我國社會經(jīng)濟的快發(fā)展,電子元器件的應(yīng)用范圍逐漸擴大,因此,相關(guān)人員要想保證電子元器件的正常使用就需要對電子元器件的破壞性物理分析進行全面分析,并根據(jù)電子元器件的具體使用環(huán)境制定針對性維護措施,保證電子元器件的正常使用,從而推動我國電子技術(shù)的快速發(fā)展。

參考文獻

[1]周慶波,王曉敏.電子元器件破壞性物理分析中幾個問題的探討[J].太赫茲科學(xué)與電子信息學(xué)報,2016,14(01):155-158.

[2]梁倩.電子元器件破壞性物理分析密封試驗的探討與實踐[C].四川省電子學(xué)會曙光分會第十七屆學(xué)術(shù)年會暨中物院第十屆電子技術(shù)青年學(xué)術(shù)交流會論文集,2014:482-488.

[3]梁倩,王淑杰,龔國虎等.電子元器件密封試驗的探討與實踐[J].太赫茲科學(xué)與電子信息學(xué)報,2015,13(06):1009-1013.

[4]周慶波.電子元器件破壞性物理分析中幾個問題的探討[C].四川省電子學(xué)會曙光分會第十七屆學(xué)術(shù)年會暨中物院第十屆電子技術(shù)青年學(xué)術(shù)交流會論文集,2014:489-492.

作者簡介

何曉斌(1973-),男,湖北省咸寧市人。大學(xué)本科學(xué)歷,畢業(yè)于湖北師范大學(xué),講師。研究方向為物理教育。

作者單位

咸寧職業(yè)教育(集團)學(xué)校 湖北省咸寧市 437100endprint

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