冀巍

[摘 要]隨著現(xiàn)代武器裝備的不斷更新和快速發(fā)展， 電子元器件， 尤其是微電子元器件在海軍裝備上的應(yīng)用越來越廣泛， 電子元器件的選擇和使用就日益顯得重要。結(jié)合軍用電子產(chǎn)品元器件選擇和使用的實際情況， 著重就電子元器件選擇和使用過程中的采購、篩選、破壞性物理分析以及失效分析進行了深入探討。

[關(guān)鍵詞]電子元器件 破壞性物理分析 失效分析

中圖分類號：TM113 文獻標識碼：A 文章編號：1009-914X（2017）12-0036-01

0.引言

電子元器件是電子、電器系統(tǒng)的基礎(chǔ)部件，是能夠完成預(yù)定功能且不能再分割的電路基本單元。由于電子元器件的數(shù)量、品種眾多，因此它們的性能、可靠性等參數(shù)對整個軍用電子產(chǎn)品的系統(tǒng)性能、可靠性、壽命周期等技術(shù)指標的影響極大。所以正確有效地選擇和使用電子元器件是提高軍用產(chǎn)品可靠性水平的一項重要工作。

電子元器件的可靠性分為固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性主要由設(shè)計和制造工作來保證，這是元器件生產(chǎn)廠的任務(wù)。但是國內(nèi)外失效分析資料表明，有近一半的元器件失效并非由于元器件的固有可靠性不高，而是由于使用者對元器件的選擇不當或使用有誤造成的。因此為了保證軍用電子產(chǎn)品的可靠性，就必須對電子元器件的選擇和使用加以嚴格控制。

1.電子元器件的基礎(chǔ)知識簡介

1.1 電子元器件的分類

顧名思義電子元器件可分為元件和器件2大類。元件中有電阻、電容、電感、繼電器和開關(guān)等；器件可分為半導(dǎo)體分立器件、集成電路以及電真空器件等。

1.2 電子元器件的質(zhì)量等級

元器件的質(zhì)量等級是指元器件裝機使用之前，按產(chǎn)品執(zhí)行標準或供需雙方的技術(shù)協(xié)議，在制造、檢驗及篩選過程中對其質(zhì)量的控制等級。質(zhì)量等級越高，其可靠性等級就越高。

2.電子元器件的選擇

電子元器件的選擇不當會造成所購買的元器件可靠性水平不符合要求，從而影響到系統(tǒng)的可靠性，因此必須對元器件的選擇進行控制。

2.1 電子元器件的選擇原則

電子元器件有如下選擇原則：

（1）元器件的技術(shù)性能應(yīng)滿足產(chǎn)品要求。環(huán)境適應(yīng)性應(yīng)符合軍品要求，一般為-55～125℃。

（2）元器件的質(zhì)量等級應(yīng)符合產(chǎn)品的要求。

（3）考慮降額的要求。

（4）優(yōu)先選用成熟的、質(zhì)量穩(wěn)定的、可靠性高的、有發(fā)展前途的和能持續(xù)供貨的標準元器件。

（5）優(yōu)先選用國產(chǎn)元器件，尤其是選用軍用合格產(chǎn)品目錄上的元器件以及已通過ISO9001認證的元器件生產(chǎn)廠家生產(chǎn)的元器件。

2.2 國產(chǎn)元器件的選擇順序

（1）選擇經(jīng)過認證、鑒定的符合國軍標的元器件。（2）選擇經(jīng)過考驗，符合要求，能夠穩(wěn)定供貨的“七?！倍c生產(chǎn)廠家生產(chǎn)的元器件。

2.3 進口元器件的選擇順序

在選擇進口器件時，應(yīng)慎之又慎。一是政治等原因，國外禁運元器件時有發(fā)生；二是國外市場變化較大，特別是國外一些軍品斷檔已對我國許多產(chǎn)品的生產(chǎn)、維修產(chǎn)生了影響。選擇順序為：（1）選擇國外權(quán)威機構(gòu)的QPL/PPL中的元器件；（2）選擇生產(chǎn)過程中經(jīng)過嚴格老煉篩選的高可靠元器件（如集成電路883級及其以上級，半導(dǎo)體分立器件為JANTX及其以上級）；（3）選擇經(jīng)過二次篩選的、DPA合格并符合軍用溫度范圍（-55～125℃）的工業(yè)級器件；（4）避免繼續(xù)選用國外已停止生產(chǎn)的“斷檔”軍品。

2.4 編制電子元器件優(yōu)選目錄

作為型號總體單位，應(yīng)制定元器件優(yōu)選目錄，并根據(jù)優(yōu)選目錄在產(chǎn)品設(shè)計中壓縮型號所選用的元器件品種和規(guī)格，控制元器件的質(zhì)量等級，更好地保證元器件的供貨質(zhì)量，更有利于綜合后勤保障。

2.4.1 編制過程

（1）成立編制組；（2）調(diào)研收集元器件使用要求，國內(nèi)元器件生產(chǎn)廠質(zhì)量情況及國外元器件情況；（3）了解國外元器件最新“斷檔”軍品情況；（4）編制征求意見稿；（5）匯總分析各種意見；（6）經(jīng)審查后由總體單位發(fā)布。

2.4.2 動態(tài)管理

依據(jù)產(chǎn)品研制生產(chǎn)階段中元器件使用品種的變化情況、元器件生產(chǎn)廠家的產(chǎn)品及其質(zhì)量狀況變化情況、元器件使用過程中的信息反饋進行動態(tài)管理，如上述情況變化較大，則應(yīng)進行優(yōu)選目錄的改版工作。

3.電子元器件的選擇和使用

能否正確使用元器件已成為影響軍用電子元器件、設(shè)備、系統(tǒng)可靠性的重要問題，應(yīng)當引起使用者的高度重視。

3.1 電子元器件的選擇和使用全過程

電子元器件使用全過程包括選擇、采購、監(jiān)制、驗收、篩選（拷機）、破壞性物理分析（DPA）、保管、使用、電氣裝配、通電調(diào)試、靜電防護和失效分析等。

3.2 電子元器件的采購

采購環(huán)節(jié)是保證元器件能否滿足設(shè)計要求的一個重要環(huán)節(jié)，因此型號各系統(tǒng)、分系統(tǒng)和設(shè)備的承制單位應(yīng)注意以下幾點：（1）承制方應(yīng)編制外購元器件的技術(shù)標準和進廠復(fù)驗規(guī)范，其標準應(yīng)和現(xiàn)行有效圖樣相一致。（2）承制方應(yīng)編寫元器件的采購清單，包括元器件的名稱、型號、規(guī)格、精度及數(shù)量；元器件的質(zhì)量等級、使用標準及生產(chǎn)廠家；元器件的封裝形式、安裝形式和使用環(huán)境；元器件的包裝和運輸要求。（3）承制方在進行元器件采購時應(yīng)注意在合格分承制方名錄中進行，需進行越點采購時應(yīng)辦理相應(yīng)的審批手續(xù)。（4）在實際采購中如何對規(guī)定的質(zhì)量等級進行對采購，是確保產(chǎn)品高可靠的關(guān)鍵。對元器件實際生產(chǎn)型號（包括前、后綴）、質(zhì)量等級、封裝形式完全與圖紙設(shè)計一致的元器件直接采購。

3.3 元器件的二次篩選

元器件的二次篩選是保證質(zhì)量和可靠性的重要手段。一般來講，對軍工產(chǎn)品要求100%的進行元器件的二次篩選，包括883B級以及“七專”級[1]。當承制單位將元器件采購回單位里后，應(yīng)按照“型號用元器件二次篩選規(guī)范”進行二次篩選。當電子元器件二次篩選不合格率超過規(guī)定的比例時，該批元器件不允許裝機使用。在二次篩選過程中，對不具備篩選條件的元器件（如大規(guī)模進口集成電路），可采用拷機（即對不具備篩選條件的元器件裝配到電路板中，進行溫度應(yīng)力或電應(yīng)力長時間試驗）的方法進行。

3.4 電子元器件的破壞性物理分析（DPA）

在元器件二次篩選合格后，對前期質(zhì)量不穩(wěn)定類、生產(chǎn)工藝有較大改進類元器件應(yīng)進行破壞性物理分析（DPA———Destructive Physical Analy2sis）試驗。重點是對具有空腔的半導(dǎo)體分立器件和半導(dǎo)體集成電路開展此項工作。其目的是驗證元器件的質(zhì)量是否滿足有關(guān)規(guī)范的用途或預(yù)定用途。DPA一般在一批元器件中抽取1～2只試樣進行一系列的試驗和分析，并做出批合格與否的結(jié)論。這對保證使用的元器件質(zhì)量和可靠性具有重要作用。

3.5 電子元器件的失效分析

在調(diào)試和組件環(huán)境應(yīng)力篩選過程中發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵和重要元器件的失效或在使用中發(fā)生多次失效而未找到原因的元器件，應(yīng)進行元器件的失效分析。元器件的失效分析是通過對失效的元器件進行解剖分析，并采用物理和化學等技術(shù)手段找出其失效機理，提出改進辦法，從而提高元器件的可靠性。失效分析包括失效調(diào)查、失效模式鑒別、失效特征描述、失效機理證實和提出糾正措施等。對集成電路的失效分析有20多種，從外部分析到內(nèi)部分析，從非破壞性分析到破壞性分析，再使用光學、化學、機械和電子等技術(shù)手段進行分析。

4.結(jié)束語

軍用電子元器件的正確選擇和使用，對于控制元器件的失效，提高軍品的質(zhì)量和可靠性有著極為重要的意義。近些年來，我們從電子元器件的源頭質(zhì)量抓起，嚴格控制電子元器件使用的各個環(huán)節(jié)，在產(chǎn)品試驗過程和生產(chǎn)過程中取得了良好的效果，帶來了巨大的經(jīng)濟和軍事效益。

參考文獻

[1] 余振醒.軍用元器件使用質(zhì)量保證指南[M].國防科技工業(yè)質(zhì)量與可靠性研究中心，2002.

[2] 曾聲奎.系統(tǒng)可靠性設(shè)計分析教程[M].北京：北京航空航天大學出版社，2001.