張勝海,吳天安,張 巖
(解放軍信息工程大學(xué),河南 鄭州 450001)
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雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)中調(diào)節(jié)方法的改進(jìn)
張勝海,吳天安,張巖
(解放軍信息工程大學(xué),河南 鄭州450001)
分析了雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)中傳統(tǒng)調(diào)節(jié)方法存在的缺陷,改進(jìn)了調(diào)節(jié)方法,使調(diào)節(jié)方法、步驟清晰,消除了傳統(tǒng)調(diào)節(jié)方法中存在的某些盲目性,使學(xué)生能很快調(diào)節(jié)出干涉條紋,提高了實(shí)驗(yàn)效率。
雙棱鏡;調(diào)節(jié)方法;改進(jìn)
雙棱鏡干涉實(shí)驗(yàn)是大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)中的一個基礎(chǔ)光學(xué)實(shí)驗(yàn),由于該實(shí)驗(yàn)對學(xué)生掌握光學(xué)儀器的精確調(diào)節(jié)具有很高鍛煉價值,因此很多實(shí)驗(yàn)工作者對該實(shí)驗(yàn)的調(diào)節(jié)方法[1]、實(shí)驗(yàn)方法[2-4],數(shù)據(jù)處理方法[5]等進(jìn)行了探討,足見其在大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)中的重要地位。但是,該實(shí)驗(yàn)也是學(xué)生公認(rèn)的實(shí)驗(yàn)操作難度較大的實(shí)驗(yàn)。其難度主要體現(xiàn)在學(xué)生很難調(diào)節(jié)出清晰的干涉條紋。即使優(yōu)秀學(xué)生在做這個實(shí)驗(yàn)的時候,耗費(fèi)的時間也很長,甚至有的學(xué)生花費(fèi)3個學(xué)時的時間,也調(diào)節(jié)不出干涉條紋。使很多學(xué)生對該實(shí)驗(yàn)產(chǎn)生恐懼心里,也使部分學(xué)生在選課時盡量避開該實(shí)驗(yàn)。為了使學(xué)生對該實(shí)驗(yàn)消除恐懼心理,也為廣大實(shí)驗(yàn)教學(xué)工作者提供一個方便的調(diào)節(jié)方法,我們對該實(shí)驗(yàn)的調(diào)節(jié)方法進(jìn)行了細(xì)致的研究和分析,找到了一種快速并且必定能調(diào)出干涉條紋的調(diào)節(jié)方法。
1.1實(shí)驗(yàn)原理
圖1 雙棱鏡產(chǎn)生雙光束干涉原理圖
1.2實(shí)驗(yàn)傳統(tǒng)調(diào)節(jié)方法與步驟:
(1) 共軸調(diào)節(jié):把狹縫、凸透鏡、像屏置于光具座上,高低基本一致,鈉燈置于狹縫前,先把狹縫調(diào)得寬一些,以便容易觀察。先使狹縫到像屏的距離大于凸透鏡焦距的4倍,然后移動透鏡成小像時調(diào)像屏,成大像時調(diào)透鏡,使狹縫S的大、小像中心都處于像屏的中心。
(2) 把雙棱鏡置于狹縫與凸透鏡之間,調(diào)其高低左右與原光路共軸,并縱向微調(diào)凸透鏡的位置使像屏上出現(xiàn)兩個虛光源S1和S2的像的光強(qiáng)基本相同。
(3) 用測微目鏡代替像屏,調(diào)節(jié)測微目鏡與其他元件共軸,調(diào)節(jié)透鏡前后位置,在測微目鏡中觀察到清晰的大像和小像,并測量大像間距a1和小像間距a2。
(4) 把凸透鏡從光具座上取下,適當(dāng)減小測微目鏡到屏的距離,調(diào)節(jié)狹縫寬窄和雙棱鏡楞脊方向,直至觀察到清晰的干涉條紋,然后測量15條干涉條紋的間距,并測量狹縫到測微目鏡分劃板間的距離L。
1.3對傳統(tǒng)調(diào)節(jié)方法與步驟的分析
1.2中的調(diào)節(jié)方法,對于熟練的老師而言是清楚明了的,但對于初次做該實(shí)驗(yàn),甚至做過幾次但并不熟練的學(xué)生而言,要想調(diào)出清晰的干涉條紋是很困難的。在上述方法中,第(1)、(2)、(3)步?jīng)]有不妥之處,但這樣測得虛光源間距,有可能因狹縫太寬造成測量結(jié)果的不準(zhǔn)確。第(4)步表述籠統(tǒng),學(xué)生往往不知道狹縫寬度多大為合適,在調(diào)節(jié)雙棱鏡棱脊的方向時也顯得很盲目,因?yàn)椴恢朗裁辞闆r雙棱鏡的棱脊與狹縫平行。有的老師會告訴學(xué)生,當(dāng)調(diào)出清晰條紋時就平行了,問題是很難調(diào)出干涉條紋。因?yàn)橐{(diào)出清晰的干涉條紋必須滿足四個條件:狹縫的寬度滿足空間干涉條件;雙棱鏡的棱脊與狹縫平行;雙棱鏡的棱脊處于狹縫的中央,產(chǎn)生的干涉條紋處于測微目鏡的視場中。但是依據(jù)上述方法調(diào)節(jié)時,四個條件很難同時滿足,而且在調(diào)節(jié)時還會相互影響,如:調(diào)小相逢時,狹縫的中心就會偏離原來的位置,雙棱鏡棱脊的位置也需要移動,因此在測微目鏡中很難觀察到清晰的干涉條紋。為此我們提出如下的調(diào)節(jié)方法和步驟。
前兩步仍按1.2中(1)、(2)進(jìn)行調(diào)節(jié)。以后步驟按下述方法步驟進(jìn)行操作。
(3) 用測微目鏡代替像屏,調(diào)節(jié)測微目鏡與其他元件共軸,在測微目鏡中可以觀察到兩條光帶。
(4) 調(diào)節(jié)狹縫寬度使其滿足狹縫的空間許可條件[6],當(dāng)可以在狹縫周圍明顯地觀察到明暗相間的條紋時,狹縫寬度就合適了。
(5) 前后移動凸透鏡,在測微目鏡中觀察清晰的大像或小像前,可以觀察到如圖2(a)所示的光帶時,說明狹縫與雙棱鏡棱脊不平行,需要調(diào)節(jié)狹縫和雙棱鏡棱脊方向,當(dāng)觀察到如圖2(b)或圖2(c)所示情況時,說明狹縫和雙棱鏡棱脊方向平行且處于豎直方向,但兩條光帶若寬度不同(如圖2(b)所示),則說明雙棱鏡棱脊不再狹縫中央,此時左右調(diào)節(jié)狹縫位置,直至出現(xiàn)圖2(c)所示的兩個光帶寬度一樣(可以通過測微目鏡測出兩個光帶的寬度進(jìn)行比較),此時,雙棱鏡的棱脊就處于狹縫的中央了。
圖2 測微目鏡中觀察到的非清晰的大像或小像時的光帶
(6) 前后移動凸透鏡,直至出現(xiàn)如圖3(a),(b)所示清晰的大像或小像時(圖2(c)中的兩光帶變?yōu)殇J細(xì)的兩條亮線),測出間距a1,a2。圖3中的大象在拍照時因光較強(qiáng),在亮線周圍出現(xiàn)了光暈,其中白色的亮線才是大像。
圖3 測微目鏡中看到的清晰圖像:a大像、b小像、c干涉條紋
(7) 把凸透鏡從光具座上移除,并把測微目鏡適當(dāng)向雙棱鏡移近,此時可以在測微目鏡中觀察到干涉條紋,若條紋不清晰,可以稍微調(diào)節(jié)雙棱鏡的棱脊方向,即可觀察到如圖3(c)所示的清晰干涉條紋。測出10個以上的干涉條紋的間距,求得Δx。
利用改進(jìn)的調(diào)節(jié)方法,從測量虛光源間距到調(diào)節(jié)出干涉條紋,前后渾然一體,既避免了調(diào)節(jié)干涉條紋時盲目操作,也避免了測量虛光源間距因狹縫太寬造成的測量不準(zhǔn)確,自第(3)步調(diào)節(jié)開始,都通過觀察測微目鏡進(jìn)行調(diào)節(jié),使調(diào)節(jié)有章可循,也使調(diào)節(jié)更準(zhǔn)確、更快,特別是能更快地調(diào)節(jié)出清晰的干涉條紋,節(jié)省了調(diào)節(jié)時間,提高了實(shí)驗(yàn)效率。
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Improving the Adjustment Method in the BiprismInterferenceExperiment
ZHANG Sheng-hai,WU Tian-an,ZHANG Yan
(PLA Information Engineering University,Henan Zhengzhou 450001)
Itisanalysedforthedefectsinthetraditionaladjustmentmethod,andoneimprovingmethodisproposed.Themethodisclearfortheadjustmentstepsandeliminatessomeblindnessintraditionaladjustmentmethod,so,thestudentscanquicklygettheclearinterferencefringes,theexperimentalefficiencyisalsoImproved.
biprism;adjustmentmethod;improvement
2016-05-09
1007-2934(2016)04-0059-03
O436.1
ADOI:10.14139/j.cnki.cn22-1228.2016.004.019