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基于GPS數(shù)據(jù)的震前電離層異常分析

2015-12-26 06:22:20馬一方,匡翠林,周曉慧
測繪通報 2015年4期
關(guān)鍵詞:異?,F(xiàn)象太陽活動平均法

引文格式:馬一方,匡翠林,周曉慧. 基于GPS數(shù)據(jù)的震前電離層異常分析[J].測繪通報,2015(4):1-4. DOI:10.13474/j.cnki.11-2246.2015.0098

基于GPS數(shù)據(jù)的震前電離層異常分析

馬一方1,匡翠林2,周曉慧3

(1. 武漢大學衛(wèi)星導航定位技術(shù)研究中心,湖北 武漢 430079; 2. 中南大學地球科學與信息物理學院,

湖南 長沙 410083; 3. 武漢大學測繪學院,湖北 武漢 430079)

Investigation of Ionospheric VTEC Anomalies before Earthquakes

Based on GPS Data

MA Yifang,KUANG Cuilin,ZHOU Xiaohui

摘要:首先利用日本及周邊區(qū)域IGS站提供的GPS觀測數(shù)據(jù),計算得到了測站上空垂直總電子含量VTEC的時間序列。采用滑動平均法與非滑動平均法兩種統(tǒng)計學方法針對日本境內(nèi)某震例進行了震前VTEC值異常分析,數(shù)值結(jié)果表明地震震前出現(xiàn)了電離層異?,F(xiàn)象。此外,為了探討異常情況與地震的相關(guān)性,進一步分析了電離層異常的全球空間分布。最后,通過對比兩種異常檢驗方法的分析結(jié)果可知,兩種方法分析結(jié)果的總體趨勢一致,驗證了本文結(jié)果的可靠性。

關(guān)鍵詞:地震;垂直方向總電子含量(VTEC);電離層異常;滑動平均法;非滑動平均法

中圖分類號:P228.4

收稿日期:2014-05-13

基金項目:武漢大學地球空間環(huán)境與大地測量教育部重點實驗室測繪基礎(chǔ)研究基金(11-02-02);國家自然科學基金(41004012;41304007)

作者簡介:馬一方(1990—),女, 碩士生,主要從事GNSS數(shù)據(jù)處理研究。E-mail:csumyf2008@126.com

一、引言

近年來,震前電離層TEC(總電子含量)的擾動及地震電離層耦合機制的研究成為熱點之一[1]。越來越多的研究證實了由地震引起的電離層擾動確實存在。Calais和Minster首次利用GPS探測1994年Northridge地震前后的電離層TEC異常擾動,發(fā)現(xiàn)其震中區(qū)上空的電離層TEC震后幾分鐘出現(xiàn)了異常變化[2-3]。劉正彥等發(fā)現(xiàn)靠近震中區(qū)域上空的電離層TEC在集集地震期間呈下降趨勢[4]。劉正彥在分析了1999—2002年臺灣地區(qū)Ms5.0級以上的地震后,發(fā)現(xiàn)震前1—5d TEC有明顯的負異?,F(xiàn)象,檢出異常的震例占總震例的80%[5]。此外,許多學者通過對汶川地震電離層特征的分析研究,均發(fā)現(xiàn)了震前電離層的異常擾動[6-9]。

本文利用日本及周邊IGS(International GNSS Service)測站提供的觀測數(shù)據(jù),計算獲得了日本區(qū)域內(nèi)某震例的震前VTEC(vertical total electron content)時間序列,并結(jié)合地震前后太陽和地磁場活動,采用滑動平均法和非滑動平均法兩種統(tǒng)計學方法對電離層異?,F(xiàn)象進行了詳細研究,均發(fā)現(xiàn)了很可能與地震相關(guān)的震前電離層異?,F(xiàn)象。此外,本文將兩種方法得出的相關(guān)結(jié)果進行對比分析,驗證了本文結(jié)果的可靠性,并探討了兩種方法的適用性。

二、電離層VTEC異常檢驗方法

1. VTEC求解方法

基于電離層薄殼模型,即假設(shè)電離層中所有的自由電子都集中在一個高度為hion的與地球同心的無限薄的球面上,通過高度映射函數(shù),求解VTEC值。hion取值接近電子密度最大高度處,文中取350km。信號在衛(wèi)星到接收機之間路徑上的總電子含量TEC計算公式如下[10]

(1)

式中,A=40.3m2/s2;φ1、φ2為相位觀測值;c為光速;N為整周模糊度;tIFB為頻率間的偏差;tTGD為衛(wèi)星碼偏差(可由GPS導航電文得到);LG稱為有偏差估計量。TEC也可以類似式(1)用雙頻偽距觀測值ρ1和ρ2進行計算,將相位觀測值和偽距觀測值分別得出的求解TEC的公式進行組合,可估算出整周模糊度N。設(shè)無偏差估計量LGU=LG+N。

高度映射函數(shù)Eθ求解如下[10]

(2)

式中,RE為地球的平均半徑,取值為6371km;θ為衛(wèi)星高度角。重新排列式(1),將VTEC=TEC×Eθ代入式(1),并進一步推得表達式為

(3)

其中

(4)

式(3)給出了每站的觀測量LGU與未知的VTEC、tIFB之間的線性關(guān)系。對于每一個測站,在任何的觀測歷元,只需要接收至少兩顆衛(wèi)星的有效觀測數(shù)據(jù),依據(jù)式(3)利用最小二乘就可以計算出VTEC和tIFB。

2. VTEC異常檢驗方法

在統(tǒng)計學分析中,平均數(shù)是量的平衡,當所描述的數(shù)據(jù)資料中出現(xiàn)異常值時,利用平均數(shù)進行統(tǒng)計分析數(shù)據(jù)集中趨勢就會受到影響產(chǎn)生偏差。中位數(shù)是個數(shù)的平衡,如果數(shù)據(jù)資料中異常值個數(shù)不超過總個數(shù)的一半,中位數(shù)就不受影響。由上可知,中位數(shù)與平均數(shù)這兩種用來描述數(shù)據(jù)資料中心的統(tǒng)計量在分析包含異常值的數(shù)據(jù)資料時,中位數(shù)更加可靠。為了有效地對數(shù)據(jù)資料進行統(tǒng)計學分析,除了要有描述集中趨勢的統(tǒng)計量,還要有描述數(shù)據(jù)離散程度的統(tǒng)計量。標準差是各數(shù)據(jù)偏離平均數(shù)距離的平均數(shù),同樣受到異常值的影響。四分位距(IQR)是一種穩(wěn)健統(tǒng)計技術(shù)中用于表示數(shù)據(jù)離散程度的一個量。按照標準化正態(tài)分布進行統(tǒng)計計算四分位距與標準差的比值為1.34,文中取IQR=1.34σ,σ為標準差。因此,本文采用中位數(shù)及四分位距值進行數(shù)據(jù)資料的統(tǒng)計分析,以減少異常值對分析結(jié)果的影響。

三、震例分析

基于上述的理論方法,本文選取了發(fā)生在日本的某震例進行分析驗證,地震的參數(shù)信息參見表1。GPS數(shù)據(jù)選取了日本及周邊區(qū)域的8個IGS測站(aira、chan、ksmv、stk2、suwn、tskb、usud、yssk),使用震前30d的GPS觀測數(shù)據(jù),通過計算得到相應(yīng)測站上空的電離層VTEC時間序列,單位為TECU。

表1 地震參數(shù)信息

1. 背景因素分析

太陽活動水平的改變、地磁活動異常、天氣變化等因素都能夠引起電離層的擾動。為了研究地震電離層擾動,檢驗由地震引起的電離層VTEC異常變化,就必須排除上述背景因素的影響。本文主要查看了2011年3月1日至3月13日(年積日:60—72d)期間Kp指數(shù)和F10.7指數(shù)這兩個能夠反映地磁活動和太陽活動水平的因子(http:∥www.swpc.noaa.gov)。在年積日60d、61d、62d、69d、70d、71d,地磁場比較活躍;整個3月份太陽活動都達到了中等活躍水平,但年積日66d、67d有強烈的太陽活動,并且67d有太陽質(zhì)子事件發(fā)生。除了上述的幾天外,背景因素對電離層VTEC影響較小。

2.VTEC時間序列分析

試驗繪制了aira、chan、ksmv、stk2、suwn、tskb、usud、yssk8個GPS觀測站在地震前后幾天的VTEC時間序列圖,限于篇幅,本文選擇aira測站震前10d、地震當天和震后兩天的數(shù)據(jù)為例,部分結(jié)果如圖1所示(黑色實線代表VTEC觀測值,灰色實線代表上、下限,豎直點線代表發(fā)震時刻,填充部分分別表示VTEC值超出上邊界及下邊界的值,下文同)。從圖中可以明顯看出,兩個測站上空的VTEC值在年積日64d、67d都有明顯的上升趨勢,均升至或超出上邊界線,圖1(a)中年積日64d、67d及圖1(b)中年積日67d出現(xiàn)了正異?,F(xiàn)象(VTEC值至少在2h時間內(nèi)連續(xù)超過上限)。由圖1可知,滑動平均法進行異常分析得出的結(jié)果(如圖1(a)所示)與由非滑動平均法進行異常分析得出的結(jié)果(如圖1(b)所示)總體趨勢一致,驗證了所得結(jié)果的可靠性,但圖1(a)的結(jié)果更加明顯。由本例可知,采用非滑動平均法能夠進行異常整體趨勢的考查,但辨別異常情況時,采用滑動平均法分析能夠得出更加清晰有效的結(jié)果。

圖1 aira站上空VTEC時間序列

綜合對背景因素的分析,年積日67d的正異?,F(xiàn)象很可能與太陽質(zhì)子流事件有關(guān),為了進一步判斷該正異?,F(xiàn)象與地震的相關(guān)性,本文給出了年積日67d06∶00—12∶00UT電離層異常在全球的空間分布,如圖2所示。其中,電離層異常為VTEC值與異常檢驗上下邊界值的差值,VTEC值為IGS提供的全球電離層格網(wǎng)數(shù)據(jù)(ftp:∥cddisa.gsfc.nasa.gov/pub/gps/products/ionex)。如果VTEC觀測值與上邊界值的差值小于0或與下邊界值的差值大于0時,則VTEC異常值為0;當VTEC觀測值與上邊界值的差值大于0時,該差值為電離層正異常;當VTEC觀測值與下邊界值的差值小于0時,該差值為電離層負異常。由圖2可清晰看出,VTEC異常的分布及變化情況,顯著的震區(qū)電離層正異?,F(xiàn)象主要集中在15°N—35°N,100°E—140°E范圍內(nèi),并在磁赤道共軛區(qū)出現(xiàn)了相似的異?,F(xiàn)象,異常位置靠近震中偏赤道的方向,并呈現(xiàn)向磁赤道漂移及向西移動的趨勢,異常峰值和幅度在08∶00UT達到最大是太陽活動引起的電離層異常一般表現(xiàn)為更大地理范圍的異常,而本文分析的異常現(xiàn)象主要集中在震中附近,且持續(xù)時間較長,證實了觀測到的電離層異?,F(xiàn)象與本次地震密切相關(guān)。

圖2 3月8日06∶00—12∶00UT時2h間隔全球VTEC異常分布(單位:TECU)

此外,年積日64d的正異常現(xiàn)象基本可以排除太陽活動及地磁活動等背景因素的影響,認為最有可能與本次地震有關(guān)。結(jié)合上文對年積日67d電離層正異常的分析,本文認為3月5日及3月8日的電離層正異常現(xiàn)象最有可能與2011年3月11日日本地震相關(guān)。

四、結(jié)束語

基于IGS站提供的GPS數(shù)據(jù),采用滑動平均法和非滑動平均法對選取的某地震進行震前VTEC異常分析,發(fā)現(xiàn)了很可能與地震相關(guān)的較為明顯的異常現(xiàn)象,既證明了利用GPS技術(shù)可以進行震前VTEC異常的探測,也為地震電離層的研究提供了新的參考資料。此外,本文對背景參考值的選取有較為詳細的說明,認為采用中位數(shù)及四分位距值進行數(shù)據(jù)資料的統(tǒng)計分析,可以更加有效地減少異常值對分析結(jié)果的影響。通過對兩種統(tǒng)計學方法的對比分析,在驗證了計算結(jié)果可靠性的同時,對兩種方法的適用性進行了探討,本文結(jié)果表明,滑動平均法適用性強,能夠更有效地進行異常分析,非滑動平均法適用于作整體異常趨勢的分析,計算量小,方法簡便。

目前,震前電離層異常擾動機理仍然處于探索階段。至今為止,仍然沒有提出很好的物理解釋模型,太陽活動及地磁活動對電離層異常的影響還不能準確判斷,本文通過對全球電離層異??臻g分布進行分析,初步討論了太陽活動劇烈環(huán)境下的電離層異常情況,為確定電離層異常與地震之間的相關(guān)性提供了新的證據(jù)。

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[10]李建勇. 利用GPS數(shù)據(jù)研究地震電離層TEC異常[D]. 北京: 中國地震局地震預測研究所, 2011.

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