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秦山核電320 MW機(jī)組實(shí)測棒位指示系統(tǒng)光點(diǎn)指示異常分析與改進(jìn)

2015-12-11 09:51:02馬一鳴
儀器儀表用戶 2015年4期
關(guān)鍵詞:次級線圈恒流源光點(diǎn)

李 藝,張 瑞,馬一鳴,任 潔

(中核核電運(yùn)行管理有限公司, 浙江 嘉興 314300)

1 反應(yīng)堆棒位指示系統(tǒng)簡介

棒位指示系統(tǒng)信號不僅作為堆芯停閉余量極限保護(hù)信息,還參與棒位偏差與失步報(bào)警。其指示光點(diǎn)作為控制棒位置指示系統(tǒng)的顯示界面,可呈現(xiàn)出控制棒實(shí)際位置。使主控室的操作人員能直接實(shí)時(shí)了解到控制棒實(shí)際位置。

由圖1可以看出,控制棒位置指示系統(tǒng)分別由棒位探測器(共37組)、棒位測量柜(恒流源組件及電源)、棒位處理柜(格雷碼整流器、光點(diǎn)顯示器及電源等)、棒位計(jì)算機(jī)組成。

2 故障出現(xiàn)及分析

圖1 控制棒位置指示系統(tǒng)框圖Fig.1 Control rod position indicator diagram of the system

雖然反應(yīng)堆棒位指示系統(tǒng)經(jīng)過中核運(yùn)行一廠第10次換料大修期間的改造,但在經(jīng)過幾個(gè)循環(huán)的運(yùn)行后,實(shí)測棒位指示系統(tǒng)仍會出現(xiàn)一些問題缺陷,且以棒位光點(diǎn)亂跳、不同步、未點(diǎn)亮為主。影響正常的機(jī)組運(yùn)行及大修主線計(jì)劃。

2.1 原因分析

2.1.1 恒流源組件對光點(diǎn)顯示的影響

圖2 恒流源組件原理圖Fig. 2 Constant-current source component diagram

如圖2所示為棒位測量中的恒流源組件原理圖, 可計(jì)算出恒流源電路設(shè)計(jì)的輸出電流可在625~730 mA進(jìn)行調(diào)節(jié)?,F(xiàn)37組恒流源的輸出電流均設(shè)置為700 mA。

在棒位系統(tǒng)維護(hù)中對恒流源組件進(jìn)行參數(shù)檢查時(shí)發(fā)現(xiàn)37組繼電器中的(6,10)、(5,9)觸點(diǎn)有部分接觸電阻偏大,最大可達(dá)2 Ω(正常時(shí)約1 Ω)。如圖2所示,該繼電器的另一對觸點(diǎn)(1,9)、(2,10)則是供給棒位探測器初級線圈電源的重要組成部分。

設(shè)棒位探測器初級線圈匝數(shù)N1,初級電流I1,次級匝數(shù)N2,次級感應(yīng)電流I2,則IO=I1。可計(jì)算初級磁通勢為:

棒位探測器次級線圈感應(yīng)電動(dòng)勢為:

若該副觸點(diǎn)的接觸電阻異常(一般阻值會變大,初級電流I1變?。椭苯佑绊懞懔髟吹妮敵黾从绊懥税粑惶綔y器次級線圈感應(yīng)電動(dòng)勢,棒位測量信號會趨于減弱,抗干擾能力減弱,極易造成實(shí)測棒位光點(diǎn)指示異常。

根據(jù)已有的電氣理論,可知影響繼電器接觸電阻有諸多因素,如:觸點(diǎn)表面材料的電阻率、觸點(diǎn)面積、光潔度及觸點(diǎn)電流等。而在棒位測量柜中的恒流源組件所提供的恰恰是一個(gè)大電流(AC 700 mA),當(dāng)繼電器觸點(diǎn)間通過較大電流時(shí),由于接觸電阻的存在,必然產(chǎn)生一定的能量損耗,并在觸點(diǎn)間產(chǎn)生熱量。當(dāng)觸點(diǎn)間電阻過大時(shí),在電路中不僅產(chǎn)生額外的電勢降,同時(shí)會產(chǎn)生較大的熱量,加速觸點(diǎn)導(dǎo)電性能的劣化,并使接觸電阻進(jìn)一步增大,形成惡性循環(huán),嚴(yán)重會使繼電器觸點(diǎn)失效。圖2中圖片為更換下來的恒流源組件繼電器,圖中所圈部分可以看出其觸點(diǎn)有明顯的氧化(顏色發(fā)黑變暗),并伴隨有輕微形變。

因此,恒流源組件內(nèi)所使用的大電流而產(chǎn)生的熱量過大,造成機(jī)箱溫度長時(shí)間高溫會對電路及其元器件造成不可逆的影響,是危害棒位指示系統(tǒng)異常的潛在隱患。

2.1.2 格雷碼整形器的分析

格雷碼整形器的原理如圖3所示。它有37組相同組件一一與棒位探測器相對應(yīng)。每組整形器中又有6組通道,分別對應(yīng)棒位探測器中次級線圈所輸出的6種電平信號(A~F);該圖為單組整形器中的一個(gè)通道示意圖,其余5組通道與其電路結(jié)構(gòu)完全一致??蓪D3中的電路切分為幾塊更利于進(jìn)行分析,即:整流、濾波、閾值比較、顯示輸出。

圖3 格雷碼整形器單通道示意圖Fig.3 Gray code dresser single channel

從棒位探測器所反饋的棒位信號,即其次級線圈輸出信號送至格雷碼整形器的輸入端經(jīng)過由二極管2CZ83、運(yùn)放LM741組成的整流電路;以及由電阻、電容組成的三級濾波電路后,將原有交直流混雜信號變成了較為平滑、穩(wěn)定的直流信號。濾波后,還需經(jīng)閾值比較進(jìn)行處理。如圖3中的閾值比較部分,它是由3個(gè)LM224與若干電阻組成的遲滯比較器。

該比較器的特性為:當(dāng)輸入電壓高于參考電壓時(shí),輸出高電平;當(dāng)輸入電壓低于參考電壓時(shí),輸出低電平。即當(dāng)ui>UR時(shí),uo=+Uo(sat);當(dāng)ui<UR時(shí),uo=-Uo(sat)。UR為參考電壓,+Uo(sat)、-Uo(sat)為運(yùn)放工作在飽和區(qū)時(shí)的輸出電壓。

圖4 格雷碼整形器輸出波形示意圖Fig. 4 Gray code shaper output waveform diagram

由閾值比較等效電路可知:

圖5 電路回差的抗干擾作用Fig. 5 Circuit back to the poor anti-interference function

其中uR為門限電壓。

從其電壓傳輸特性可以看出,改變參考電壓UR,可使傳輸特性沿橫軸移動(dòng)。其中為下門限電壓,為上門限電壓。那么就可以計(jì)算定義回差:

即上下門限電壓之差。

由此可以得出,調(diào)節(jié)RF或R2可以改變回差電壓的大小 ;改變UR可以改變上、下門限電壓,但不影回差電壓ΔU。閾值比較電路正是利用了上述原理,當(dāng)輸入信號逐漸變大,超過上門限電壓時(shí),其對應(yīng)輸出高電平+Uo(sat);當(dāng)輸入信號逐漸變小時(shí),低于下門限電壓時(shí),輸出信號會發(fā)生躍變,輸出低電平-Uo(sat)。對應(yīng)于圖3中,電位器RP7可改變參考電壓UR,電位器RP13可改變回差大小。且根據(jù)系統(tǒng)運(yùn)行經(jīng)驗(yàn),以及在實(shí)測棒位指示系統(tǒng)正常運(yùn)行時(shí),為使主控室操作員有足夠的反應(yīng)時(shí)間,棒位光點(diǎn)會在原有控制棒每走7步翻轉(zhuǎn)的基礎(chǔ)下,提前至每走約5步翻轉(zhuǎn)。為滿足此項(xiàng)要求,統(tǒng)一將電位器RP7所對應(yīng)的參考電壓UR(其允許變化范圍為:0.5 V~6 V)定位在圖3中濾波后輸出信號幅值的約70%。

分析可知,該比較電路提高了其對信號變化的響應(yīng)速度;確保輸出電壓的躍變不是發(fā)生在同一門限電壓上,改善了輸出波形在躍變時(shí)的陡度;同時(shí)回差提高了電路的抗干擾能力,越大,抗干擾能力越強(qiáng),見圖5。

如果37組格雷碼整形器內(nèi)有任意一組中的RP7或是RP13的阻值發(fā)生變化,在棒位光點(diǎn)上變現(xiàn)為“走棒時(shí)光點(diǎn)不同步”。同樣如果當(dāng)棒位探測器的次級線圈阻值偏大或是初級感應(yīng)電動(dòng)勢偏低。就會造成輸出信號偏小,經(jīng)過格雷碼整形器后,相較于正常情況下,就會使棒位光點(diǎn)“滅的早”或“光點(diǎn)無響應(yīng)”,也會造成“走棒時(shí)光點(diǎn)不同步”。

3 異常指示問題確認(rèn)及改進(jìn)

根據(jù)上一節(jié)的分析,將導(dǎo)致實(shí)測棒位光點(diǎn)異常顯示的原因?qū)嵤┫嚓P(guān)改進(jìn)措施,主要是對棒位探測器、恒流源參數(shù)、格雷碼整形器進(jìn)行了相應(yīng)的調(diào)整與改進(jìn)。

3.1 系統(tǒng)設(shè)備的改進(jìn)

3.1.1 棒位探測器的解體檢查

30萬機(jī)組第10次換料大修期間對影響棒位探測器輸出信號的兩個(gè)要素:初、次級線圈電阻與線圈絕緣性作了優(yōu)化。為了進(jìn)一步驗(yàn)證該設(shè)備改造后的實(shí)際效果及可靠性,在第14次換料大修期間,對37組中狀態(tài)最差的兩組進(jìn)行了更換,并對其中一組進(jìn)行整體解體檢查?,F(xiàn)從噪聲干擾方面進(jìn)行論證:

由上一節(jié)分析,可推算出改造前后信噪比的變化。根據(jù)棒位探測器的內(nèi)部構(gòu)造,可將其噪聲干擾看成電阻熱噪聲干擾,那么可以得出:

設(shè)信號源內(nèi)阻為RS,信號源電壓為E1(有效值)即次級線圈感應(yīng)電動(dòng)勢,負(fù)載RO即次級線圈電阻,在負(fù)載電阻R 上的信噪比為:

至此可知棒位探測器改造后的其輸出信號信噪比是改造前的1.26倍,較大改善了之前棒位探測器輸出信號品質(zhì)差,絕緣性不高的缺點(diǎn),改造后的棒位實(shí)測波形平滑度較改造前有明顯好轉(zhuǎn),如圖6所示。

表1 棒位探測器內(nèi)部參數(shù)改造前后對比Table 1 Rod position detector parameter comparison before and after the modification

圖6 棒位探測器改造后的輸出波形Fig. 6 A detector after transforming the output waveform

表2 棒位探測器解體檢查的參數(shù)Table 2 Rod detector disintegration check parameters

表2中所反映的是解體檢查的參數(shù)測量結(jié)果,與正常狀態(tài)下的內(nèi)部參數(shù)相比較,無異常狀況,排除棒位探測器引發(fā)棒位異常指示的可能。

3.1.2 恒流源組件參數(shù)的調(diào)整

依據(jù)上一節(jié)的分析,著手將棒位測量柜中的溫度降低至可接受范圍內(nèi),同時(shí)考慮緩解繼電器觸點(diǎn)電阻升高的狀況,以及降低機(jī)柜內(nèi)電子元件發(fā)生性能大幅降低或損壞的概率。通過分析,將恒流源電流相應(yīng)減小,既能降低機(jī)柜溫度又可改善繼電器觸點(diǎn)電阻升高的缺陷,是較為方便、可行的方案?,F(xiàn)有恒流源組件中的電流調(diào)節(jié)范圍為:AC625~730 mA,考慮到系統(tǒng)所能承受的噪聲干擾程度,將原先AC 700 mA降至AC 650 mA,符合技術(shù)規(guī)格書中技術(shù)參數(shù)的要求。表3所反映的是利用紅外熱成像儀對機(jī)柜內(nèi)各機(jī)箱表面的溫度測量,在恒流源電流改變前后的效果對比情況。

表3 恒流源電流改變前后的溫度變化Table 3 Constant-current source current temperature changes before and after the change

此外將之前維護(hù)過程中發(fā)現(xiàn)觸點(diǎn)電阻偏大的繼電器,進(jìn)行整體更換。經(jīng)過2個(gè)循環(huán)的運(yùn)行,恒流源組件中的繼電器都處于正常工作狀態(tài)。

3.1.3 格雷碼整形器的改進(jìn)

鑒于恒流源電流參數(shù)發(fā)生變化,將格雷碼整形器中的整定值進(jìn)行調(diào)整,回差不變,以滿足系統(tǒng)要求,具體變化見表4。

表4 格雷碼整形器整定值的調(diào)整Table 4 Gray code adjustment of dresser setting value(整定值:V;回差:mV)

同時(shí)由于在中核運(yùn)行一廠第12次大修期間發(fā)現(xiàn)部分格雷碼整形器中的整定值電位器有漂移現(xiàn)象,因此將原有棒位指示系統(tǒng)葛萊碼整形器內(nèi)整定值電位器共492個(gè)、回差電位器共246個(gè)進(jìn)行更換。

3.2 卡件接觸不良問題的解決

通過如上的一系列措施,使得反應(yīng)堆實(shí)測棒位指示系統(tǒng)出現(xiàn)異常指示的頻率大為降低,但并沒有徹底根除。尤其是在對反應(yīng)堆控制棒位置指示系統(tǒng)進(jìn)行預(yù)防性維修之后,電廠機(jī)組起堆期間,該系統(tǒng)出現(xiàn)實(shí)測棒位光點(diǎn)指示異?,F(xiàn)象,通過核查,測量格雷碼整形器送至棒位光點(diǎn)顯示器的輸出電壓時(shí),發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)問題的對應(yīng)卡件輸出電壓偏小,且電壓不穩(wěn)定。將相關(guān)格雷碼整形器卡件重新插入機(jī)架,并進(jìn)行緊固措施,光點(diǎn)異?,F(xiàn)象消失。

在對棒位格雷碼卡件進(jìn)行檢查時(shí),發(fā)現(xiàn)部分整形器插頭與插座沒有處于正常位置,當(dāng)格萊碼整形器的插頭進(jìn)入插座后,插頭向下傾斜約2 mm,這直接影響了插頭與對應(yīng)插座的有效接觸。見圖7所示。

從格雷碼整形器插頭線路分布圖(見圖8)可以看出,在上述情況下,對于格雷碼整形器重要的卡件電源(±15V,24 V)很容易發(fā)生異常,直接影響整形器送至棒位光電顯示器的輸出電壓。同時(shí)也會影響整形器的部分輸入端信號(如圖8中的1#~4#插針)。

這種影響格雷碼整形器有效接觸的接觸不良現(xiàn)象,很容易對檢修人員帶來較大的迷惑性,為了消除這種異常狀況,綜合之前的分析及現(xiàn)場的實(shí)際狀況,將原有固定在卡件插座處的上部墊片的厚度由1 mm變?yōu)? mm,以此抵消整形器插頭進(jìn)入插座向下傾斜帶來的影響(見圖7)。

通過上述改進(jìn)措施,格雷碼整形器的輸出電壓恢復(fù)正常。以秦一廠320 MW機(jī)組中核運(yùn)行一廠第14、15次大修起堆至并網(wǎng)期間的冷、熱態(tài)試驗(yàn)以及之后功率運(yùn)行、動(dòng)棒試驗(yàn)的效果來看,反應(yīng)堆實(shí)測棒位指示光點(diǎn)未出現(xiàn)異常。

圖7 格雷碼整形器插頭與插座截面示意圖Fig.7 Gray code dresser plug and socket section schematic diagram

圖8 格雷碼整形器插頭線路分布圖Fig. 8 Gray code dresser plug line map

4 結(jié)論

通過對反應(yīng)堆實(shí)測棒位指示系統(tǒng)的光點(diǎn)指示異常故障的收集,在原有系統(tǒng)中的棒位探測器、恒流源組件、格雷碼整形器的原理分析的基礎(chǔ)上,對相關(guān)的設(shè)備進(jìn)行有效地改進(jìn)與完善,從實(shí)際效果上看,使得反應(yīng)堆實(shí)測棒位指示系統(tǒng)在秦一廠320 MW機(jī)組中核運(yùn)行一廠第14、15次大修中的冷、熱態(tài)試驗(yàn)及機(jī)組并網(wǎng)的配合工作,和之后的功率運(yùn)行及動(dòng)棒試驗(yàn)期間未出現(xiàn)異常指示現(xiàn)象,節(jié)省了因異常指示所耗費(fèi)的檢修時(shí)間,其所體現(xiàn)出的經(jīng)濟(jì)價(jià)值相當(dāng)明顯。值得一提的是,從此次實(shí)測棒位指示系統(tǒng)的改進(jìn)過程中,所反應(yīng)出由于有相應(yīng)的維修規(guī)程,單一設(shè)備或組件的維護(hù)可靠或出現(xiàn)問題的概率極小的。但是對類似于格雷碼整形器這樣,在停堆檢修期間反復(fù)插拔而使設(shè)備變形,進(jìn)而出現(xiàn)卡件接觸不良現(xiàn)象,是需要在今后的檢修過程中值得關(guān)注的。

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