鄒勤麗,湯 曄
(1.上海交通大學(xué)電子與通信工程系,上海 200240;2.中國電子科技集團(tuán)公司第32研究所,上海 200233)
在模擬電路和數(shù)模混合電路中,帶隙基準(zhǔn)電路是一個基本的電路模塊,被廣泛應(yīng)用于AD/DA轉(zhuǎn)換器、電源管理芯片、PLL等電路中[1]。這些電路都需要帶隙基準(zhǔn)提供精確的電壓,且溫度穩(wěn)定性高,抗噪聲干擾能力強(qiáng),能夠提供給整個系統(tǒng)更好的精度和穩(wěn)定性。
傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路中一般會使用到運算放大器,運算放大器的失調(diào)電壓會影響到帶隙基準(zhǔn)的精度,同時電路的電源電壓抑制比也會受到影響。要想進(jìn)一步提高電路性能,必須在電路結(jié)構(gòu)上進(jìn)行改進(jìn)[2]。
參考傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電壓源電路,本文設(shè)計了一種新結(jié)構(gòu)的帶隙基準(zhǔn)電路,利用共源共柵結(jié)構(gòu)結(jié)合負(fù)反饋原理,在電路的輸出支路產(chǎn)生比較穩(wěn)定的PTAT電流,從而在電路輸出端產(chǎn)生與溫度無關(guān)的電壓。新的結(jié)構(gòu)能產(chǎn)生更穩(wěn)定的基準(zhǔn)電壓和更高的電源電壓抑制比,同時功耗也比較低,芯片的面積也有所減小。
傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路見圖1,M1~M3的寬長比相同,它們組成電流鏡結(jié)構(gòu),使得流經(jīng)M1~M3的電流相等,即流經(jīng)Q1~Q3的電流相等。運放的反饋作用使得A、B兩點的電壓相等。三極管Q2與Q3的個數(shù)相同,都是Q1的n倍。
圖1 傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路原理圖
雙極型晶體管的基極-發(fā)射極電壓VBE具有負(fù)的溫度系數(shù),晶體管的電流近似于I=Isexp(VBE/VT),這樣兩個晶體管的VBE的差值為VTlnn,具有正溫度系數(shù),兩者相互補(bǔ)償,我們可以得到令人滿意的零溫度系數(shù)的基準(zhǔn)[3]。圖1中的輸出電壓VREF可以表示為:
式(1)中,VBE和VT分別具有負(fù)溫度系數(shù)和正溫度系數(shù),當(dāng)我們選擇合適的R1、R2和n的值時,就可以使VREF變得與溫度無關(guān),得到接近于零溫度系數(shù)的基準(zhǔn)電壓。
理論上,我們得到了一個精確的基準(zhǔn)電壓VREF,它不僅幾乎不受溫度的影響,同時電源電壓的變化也不會對其造成干擾,有較好的電源抑制比。但是,實際電路設(shè)計中的情況遠(yuǎn)為復(fù)雜。首先運放具有一定的失調(diào)電壓,它在一定程度上會對VREF的精度產(chǎn)生影響,再者VBE與溫度并不是一種線性的關(guān)系,這樣傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)并不能得到我們希望的零溫度系數(shù)電壓。因為加入運放的關(guān)系,電路結(jié)構(gòu)復(fù)雜,功耗也比較高。而隨著集成電路的發(fā)展,電路對功耗和面積的要求越來越高,傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)電路顯然已經(jīng)不能滿足電路設(shè)計的要求,我們需要設(shè)計出更低功耗、溫度特性更好同時面積更小的電路結(jié)構(gòu)。
典型的無運放帶隙基準(zhǔn)電路結(jié)構(gòu)如圖2所示,圖中M1、M2的寬長比相同,M3、M4的寬長比相同,這樣M1~ M4、Q1、Q2和R1組成一個PTAT電流產(chǎn)生電路,使流過Q1和Q2的電流相等。M5與M1寬長比相同,這樣流經(jīng)Q3的電流與流過 Q1和Q2的電流相等。Q2和Q3的個數(shù)相等,都是Q1的n倍。這樣圖2中的輸出電壓VREF可以表示為:
由式(1)和式(2)我們可以看出,無運放的帶隙基準(zhǔn)電路同樣得到了零溫度系數(shù)的帶隙基準(zhǔn)電壓,但是使用的CMOS管子個數(shù)較少,芯片面積得到了較大的減小。
圖2 無運放的帶隙基準(zhǔn)電路
電路2中,由于M1、M2和M5的溝道長度調(diào)制效應(yīng),當(dāng)電源電壓發(fā)生變化時,VREF會受到較大影響,這樣輸出VREF的精度不能得到保證。又由于M3和M4的VDS不同會引起柵源電壓的失配,這樣兩支路PTAT電流不能完全一致,輸出電壓VREF的精度同樣受到影響。共源共柵結(jié)構(gòu)具有較好的電源電壓抑制比,同時電路PTAT電流匹配性也更好,因此可以進(jìn)一步改進(jìn)電路,在電路中采用共源共柵結(jié)構(gòu),來提高VREF的精度,同時還能提高輸出電壓的PSRR[4]。
在典型的帶隙基準(zhǔn)電壓源的基礎(chǔ)上,設(shè)計了圖3所示的帶隙基準(zhǔn)電壓源。它包括基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路、PTAT電流生成電路和上電啟動電路。
當(dāng)電源上電時,可能電路不能進(jìn)入正常的工作點,電路所有支路的電流都為0。因此,為使電路能正常工作,需要在基準(zhǔn)電路中加入啟動電路,使電路能進(jìn)入正常的工作點。
圖3中,MOS管M15~M20組成了基準(zhǔn)電路的自啟動電路。當(dāng)支路的電流都為0時,意味著電流鏡支路的PMOS管的輸入都為高,NMOS管的輸入都為低。此時M15的輸入為高電平不導(dǎo)通,這樣M18的輸入為0也不導(dǎo)通,M16為倒比管,此時導(dǎo)通,使得M19、M20的輸入為高電平,這樣M1~M8的輸入會由高電平變低,進(jìn)而進(jìn)入到正常工作狀態(tài)。當(dāng)M15的輸入降到一定值時,M15導(dǎo)通,M18輸入為高導(dǎo)通,使得M19和M20的輸入變?yōu)榈碗娖?,進(jìn)而也不導(dǎo)通,啟動電路停止工作。
圖3 新型的帶隙基準(zhǔn)電壓源
如圖3所示,Q1~Q4所在的4條支路共同組成了PTAT電流生成電路。Q1、Q2所在支路為右邊的共源共柵支路提供偏置電壓,Q1所在支路提供反饋使得A、B兩端的電壓相等,即VBE3=VBE4+IR1。電路中Q4、Q5的個數(shù)為Q3的n倍,這樣可以得到Q4支路電流為:
這樣可以產(chǎn)生一個PTAT電流。
M4、M8、R2和Q5組成了基準(zhǔn)電壓產(chǎn)生電路。PTAT電流鏡像后流過R2和Q5產(chǎn)生輸出電壓VREF=VBE4+(VTlnn)(R2/R1),等式右邊前一項具有負(fù)的溫度系數(shù),后一項具有正的溫度系數(shù)。因此,調(diào)節(jié)R1、R2和n的值,就可以得到零溫度系數(shù)的輸出電壓VREF。因為電流鏡各個支路上均使用了共源共柵電路,電源電壓抑制比PSRR能得到較大的提高。
電路采用SMIC 0.35 μm工藝、Candence Spectre環(huán)境進(jìn)行仿真。
在瞬態(tài)條件下,電源電平由0升到3.3 V,觀察輸出基準(zhǔn)電壓的啟動情況,在5 μs時間后,VREF輸出比較穩(wěn)定。仿真結(jié)果如圖4?;鶞?zhǔn)電壓初始輸出為0。在電源電壓上電后,啟動電路開始工作,輸出電壓逐漸上升。啟動電路的作用使輸出電壓迅速提高,且高于穩(wěn)定時的輸出電壓,造成輸出電壓過沖。電壓升高到一定程度時,啟動電路停止工作,在反饋回路作用下,輸出電壓逐漸回落到我們需要的正常的輸出值。
圖4 輸出電壓在電源電壓變化時的瞬態(tài)仿真結(jié)果
接下來對電路進(jìn)行溫度仿真,在-55~125 ℃的溫度范圍內(nèi)對電路進(jìn)行仿真。仿真結(jié)果如圖5。可以看出在25 ℃時,電路達(dá)到零溫度系數(shù),此時溫度特性最好。在25~125 ℃溫度范圍內(nèi),輸出電壓的變化范圍為0.004 V;在-55~25 ℃溫度范圍內(nèi),輸出電壓的變化范圍約為0.003 5 V左右。這樣輸出基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)約為5×10-5V/℃,輸出基準(zhǔn)電壓幅度隨溫度變化較小。
圖5 輸出電壓在-55~125 ℃范圍內(nèi)的溫度仿真結(jié)果
圖6為輸出基準(zhǔn)電壓的PSRR響應(yīng)曲線。對于一般的基準(zhǔn)設(shè)計,電源抑制比要求在70 dB以上就滿足要求。本文的設(shè)計中,在1~100 Hz范圍內(nèi),輸出電壓的PSRR可以達(dá)到82 dB,具有較好的電源電壓抑制特性。電路在高頻時電源抑制比會降低,說明電路存在比較低的極點。如果基準(zhǔn)應(yīng)用在對高頻性能要求比較高的電路中時,需要增加電路的3 dB帶寬來提高高頻時的電源抑制比。
本文設(shè)計了一種無運放的帶隙基準(zhǔn)電路,因為減少了運放的使用,電路消除了運放的失調(diào)電壓等因素對帶隙基準(zhǔn)電壓精度的影響。同時比傳統(tǒng)的帶運放的帶隙基準(zhǔn)電路減少了面積和功耗,噪聲性能也得到了提高。另外,該電路也比傳統(tǒng)的無運放帶隙基準(zhǔn)電路具有更高的電壓精度和電源抑制比。在3.3 V電源電壓下,溫度范圍為-55~125 ℃,得到基準(zhǔn)電路的電源抑制比為82 dB,功耗僅有0.06 mW。
圖6 輸出電壓的PSRR頻率響應(yīng)曲線
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