許瑾

【摘要】 對(duì)電力電子電路進(jìn)行故障預(yù)測(cè)，選擇基于LS-SVM的電子電路故障預(yù)測(cè)技術(shù)，可以降低故障預(yù)測(cè)誤差，有效實(shí)現(xiàn)對(duì)于電子電路故障的預(yù)測(cè)。以下主要探究基于LS-SVM的電子電路故障預(yù)測(cè)措施。

【關(guān)鍵字】 電子電路 LS-SVM 故障預(yù)測(cè)、電路故障

在當(dāng)前電子電路故障預(yù)測(cè)中，由于技術(shù)上的限制，并不能有效預(yù)測(cè)電子電路故障。將電路特征性能參數(shù)結(jié)合最小二乘支持向量機(jī)預(yù)測(cè)算法相結(jié)合，可以有效提升電子電路故障預(yù)測(cè)效率。以下本篇以具體實(shí)例，對(duì)此做具體分析。

一、LS-SVM算法

在電子電路故障預(yù)測(cè)中，結(jié)合LS-SVM（ least squares support vector machine，LS-SVM）算法，優(yōu)選電路級(jí)故障特征性能參數(shù)，然后可以利用 LS-SVM 回歸算法，預(yù)測(cè)電子電路的故障預(yù)測(cè)[1]；可以提高故障預(yù)測(cè)精度，降低誤差，及時(shí)發(fā)現(xiàn)電子電路故障[2]?？赏ㄟ^(guò)應(yīng)用訓(xùn)練集T完成故障預(yù)測(cè)，在其中集合T={}，而對(duì)于x=（1a，2a，…， na）則可以為一個(gè)實(shí)例訓(xùn)練，它具有n個(gè)不同的屬性，將其分別列在屬性表A中，表示為（1A，2A，…，nA），在其中1A可以表示屬性為iA取值，且以jC∈C={1C， 2C，...，mC}表示X分類結(jié)果。對(duì)于該算法，可以分為以下幾步：可以在屬性表中，選擇出iA屬性作為分類屬性；如果，屬性iA取值共有iK個(gè)不同的值，則可以將T劃分為iK個(gè)子集1T，…，i KT，其中 ijT ={ | } ∈T[3]。

二、開環(huán) Buck 電路故障預(yù)測(cè)

以Buck 電路為例，應(yīng)用LS-SVM算法，根據(jù)Buck 電路各元件不同時(shí)刻參數(shù)值，優(yōu)化設(shè)置電路，以預(yù)測(cè)Buck 電路故障。電路圖如下所示：

4、分析預(yù)測(cè)結(jié)果。通過(guò)確定電路發(fā)生故障時(shí)的特征性能參數(shù)閾值，對(duì)電路中任何時(shí)刻狀態(tài)情況可以進(jìn)行評(píng)估。分析電子電路元器件參數(shù)以及電路輸出結(jié)果進(jìn)行分析，通過(guò)故障預(yù)測(cè)值，可以知道在未來(lái)4 時(shí)，Buck電子電路輸出平均電壓，將會(huì)偏離正常值，其紋波電壓變化也會(huì)小于 1 V。故此，就可以這樣認(rèn)為，在未來(lái)的 4 h 內(nèi)，電路并沒(méi)有發(fā)生故障，而這也與實(shí)際的電子電路運(yùn)行情況較為一致，可以作為預(yù)測(cè)電子電路故障的有效方法。

三、結(jié)論

綜上所述，針對(duì)電子電路故障問(wèn)題，應(yīng)用基于LS-SVM的電子電路故障預(yù)測(cè)技術(shù)，不僅可以跟蹤電子電路故障特征性能參數(shù)，還可以有效預(yù)測(cè)電路故障性能變化趨勢(shì)，從而預(yù)測(cè)故障發(fā)生情況，以便及時(shí)采取預(yù)防措施，有效降低電子電路故障的發(fā)生。

參 考 文 獻(xiàn)

[1] 姜媛媛，王友仁，崔江等.基于LS-SVM的電力電子電路故障預(yù)測(cè)方法[J].電機(jī)與控制學(xué)報(bào)，2011，15（8）：64-68，74.

[2] 王佩麗，彭敏放，楊易旻等.應(yīng)用模糊最優(yōu)小波包和LS-SVM的模擬電路診斷[J].儀器儀表學(xué)報(bào)，2010，31（6）：1282-1288.

[3] 彭四海.基于小波與LS-SVM集成的模擬電路故障檢測(cè)[J].電子設(shè)計(jì)工程，2013，21（10）：119-122.