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一種轉(zhuǎn)盤式微波爐腔體性能優(yōu)化的研究

2015-04-09 10:14張磊李法民李維雨鮑鑫陳喜袁怡磊
家電科技 2015年3期
關鍵詞:微波爐場強腔體

張磊 李法民 李維雨 鮑鑫 陳喜 袁怡磊

(惠而浦(中國)股份有限公司 安徽合肥 230088)

1 引言

隨著微波爐的普及和人們生活水平的提高,用戶使用微波爐不單單是出于微波加熱功能的需要,更重要的是用微波爐進行各種復雜的烹調(diào),所以對微波爐的煮食性能提出了更高的要求。同時隨著國家對家用廚房電器的標準的修改和提高,在標準方面也對微波爐的性能提出了更高的要求。

2 微波仿真優(yōu)化和性能比對

本文所研究是一種前期生產(chǎn)的微波爐,其性能相對而言比較差,通過對其優(yōu)化使其性能得到進一步提升。此種轉(zhuǎn)盤微波爐的基本腔體是一個長方形的空腔,其長、寬、高分別為295mm、290mm、195mm,盛放食物的玻璃轉(zhuǎn)盤放在微波爐的底部中間位置,用戶在使用時把食物放在玻璃轉(zhuǎn)盤的位置上進行加熱,所以對家用微波爐的均勻性提出了更高的要求。為了使食物能被均勻加熱,爐腔內(nèi)電磁場能量分布應均勻。如果能量分布不均勻,用戶用其進行煮食時,就會出現(xiàn)部分過熟,部分不熟的現(xiàn)象;如果用戶忘記放食物啟動微波爐,則會出現(xiàn)聚焦、熔軸等現(xiàn)象;在按照國家標準進行檢測時,也不滿足國家標準中關于微波爐性能的要求。

對微波爐加熱均勻性而言,除了所加熱食物自身的特點和容器的形狀以外,腔體的結(jié)構是關鍵,決定了電磁場在爐腔中的分布。電磁場在腔體內(nèi)分布要均勻,否則加熱不均勻直接影響了食物被加熱的效果,這就對微波爐的腔體結(jié)構提出了更高的要求。筆者通過微波仿真軟件對影響加熱均勻性的腔體進行分析研究,并通過實際的試驗驗證,對比優(yōu)化前后性能的提升情況。

2.1 微波仿真和優(yōu)化

微波仿真使用的是ansoft公司hfss高頻仿真軟件,大致仿真的步驟如下[1-3]。

(1)對腔體進行建模;

(2)設置材料參數(shù);

(3)設置計算類型和波端口;

(4)設置邊界條件;

(5)設置分析;

(6)數(shù)據(jù)處理。

首先對優(yōu)化前的腔體進行建模,優(yōu)化所研究的微波爐是一種21L轉(zhuǎn)盤式微波爐,其腔體是一個矩形諧振腔,主要有右側(cè)面的微波源、波導、玻璃轉(zhuǎn)盤、前面板、后面板、爐門、扼流圈、門內(nèi)貼膜、云母片等組成。微波爐爐腔內(nèi)具體的材料參數(shù)見表1。其中表1中材料4參考自文獻[2],其余材料參考自文獻[4]。腔體內(nèi)剩余材料的設置來自軟件的材料庫。

由于只是在現(xiàn)有的基礎上進行優(yōu)化,所以從節(jié)約的原則,盡量使其更改小,效果優(yōu)。優(yōu)化中所采用的方法是在原腔體的左側(cè)進行間隔2mm的距離進行拉伸仿真,找出電場的變化規(guī)律,經(jīng)過多次仿真優(yōu)化,在左側(cè)拉伸24mm時通過仿真發(fā)現(xiàn)中間場強明顯減弱,四周場強優(yōu)分布明顯比優(yōu)化前均勻。優(yōu)化前和左側(cè)拉伸24mm時最佳優(yōu)化的場分布云圖,分別如圖1和圖2所示。左側(cè)的拉伸使微波爐的腔體結(jié)構發(fā)生變化,進而改變電場在爐腔中的分布。

從空載仿真云圖圖1可以看出,腔體優(yōu)化前微波在爐腔中心位置場強比較集中。從云圖圖2中可以看出,優(yōu)化后場強分布相對比較均勻。左側(cè)的拉伸改變了爐腔中場的分布,通過仿真,能夠比較清晰地觀察場在爐腔中的分布的大致情況,優(yōu)化后中間場強明顯減弱,而四周場強明顯增強。圖3和圖4分別為優(yōu)化前后的模型圖。

2.2 優(yōu)化前后的性能對比

隨機抽取優(yōu)化前的腔體和優(yōu)化后所做的腔體手板件,進行實際的性能測試,并對比優(yōu)化前后的性能參數(shù)。通過實際的對比驗證,以客觀的數(shù)據(jù)和圖片直接反應優(yōu)化后的效果。

2.2.1 空載測試

通過在線生產(chǎn)的微波爐空載測試時,微波運行約5分鐘出現(xiàn)熔滾輪軸現(xiàn)象,見圖5。優(yōu)化后的微波爐手板件經(jīng)過實際的空載測試,連續(xù)滿功率運行30分鐘后,滾輪軸完好無損,見圖6。

優(yōu)化前微波場在中間集中,優(yōu)化后微波場在中間減弱,場分布均勻。根據(jù)傳輸線理論[5],優(yōu)化前波導與腔體不匹配,微波大多數(shù)被滾輪軸吸收;經(jīng)過優(yōu)化后,波導與腔體匹配,微波部分被腔體和玻璃轉(zhuǎn)盤吸收,部分被反射回到微波源,整機在空載運行時熱量處于動態(tài)平衡狀態(tài)。

表1 介質(zhì)材料表

表2 優(yōu)化前均勻性測試數(shù)據(jù)

表3 優(yōu)化后均勻性測試數(shù)據(jù)

表4 腔體優(yōu)化前后的煮食對比測試

圖2 腔體優(yōu)化后的仿真云圖

圖3 腔體優(yōu)化前的模型

圖4 腔體優(yōu)化后的模型

圖5 腔體優(yōu)化前試驗軸

圖6 腔體優(yōu)化后試驗軸

圖7 試驗容器在轉(zhuǎn)盤中的放置方式

2.2.2 均勻性的前后比對測試

按照家用微波性能標準[6]中要求的容器和具體的轉(zhuǎn)盤微波爐試驗方法,即5點法對優(yōu)化前后的加熱均勻性進行測試。試驗容器按照圖7的方式進行放置。具體的測試數(shù)據(jù)見表2和表3。

通過實際的加熱均勻性測試,腔體優(yōu)化前中間1號點溫度最高,最高點與最低點平均值相差3.5℃,說明在小負載時中間場仍然最強。通過優(yōu)化后,中間1號點溫度降低,5號點溫度最高,最高點溫度與最低點溫度平均相差1.85℃。通過均勻性對比測試,優(yōu)化后的腔體在小負載情況下,場分布也更加均勻,整機均勻性提高了約8個點。

2.2.3 煮食的前后比對測試

煮食性能的好壞,是用戶最關心的問題,它給用戶最直觀和最親身的感受,檢驗微波爐的性能最直接的就是煮食性能測試。按照微波爐的性能標準[6]和企業(yè)煮食標準[7]中5項最直接的方法對其性能進行對比測試。表4是腔體優(yōu)化前后的煮食測試結(jié)果,每個項目規(guī)定相應的等級,按照企業(yè)煮食標準對其評價,其中5為最高等級,1為最低等級,3等級包含3等級以上為及格。其中,雙杯試驗中有對稱和偏置兩種放置方式,本試驗選擇最苛刻的偏置放置進行測試。

通過對實際煮食性能直觀的測試,優(yōu)化后的腔體均勻性更好。腔體優(yōu)化前5項總的等級為14,腔體優(yōu)化后等級為16.3,提高了2.3,并且在優(yōu)化前松軟蛋糕測試項目的評價不及格。優(yōu)化后的腔體在不同形狀的食物和容器下,整體煮食性能比優(yōu)化前的更優(yōu)。

3 結(jié)論

影響微波爐加熱均勻性的因素很多,對于轉(zhuǎn)盤微波爐而言,除了腔體自身因素,還有食物和容器的形狀和大小等。本文通過對腔體的優(yōu)化來提高腔體內(nèi)場的分布,以此來改變腔體對加熱食物均勻性的影響。在優(yōu)化的過程中,以仿真為手段,以實際測試驗證為基礎,通過對結(jié)果直觀的感受和測量,對比優(yōu)化前后腔體的變化情況。通過對空載、加熱均勻性、以及煮食試驗看出,優(yōu)化后的腔體性能得到了提升。

[1] 巨漢基. 微波爐腔體電磁場分布仿真及尺寸結(jié)構優(yōu)化設計[D]:[電子科技大學碩士學位論文],成都:電子科技大學,2008.

[2] 顧小衛(wèi)、蒙林、孫宜琴等.微波爐爐腔內(nèi)電磁場仿真[J].電子器件,2008:804-806

[3] 李明洋.HFSS電磁仿真設計應用詳解[M].北京:人民郵電出版社,2010.

[4] 左增瑞.微波爐電磁仿真的分析與腔體性能的優(yōu)化[D]:[電子科技大學碩士學位論文],成都:電子科技大學,2009.

[5] 廖承恩. 微波技術基礎[M].西安:西安電子科技大學出版社,2007.

[6] 中華人民共和國國家標準 《家用微波爐 性能測試方法》 GB/T 18800-2008.

[7] 企業(yè)內(nèi)部標準.HFSY-2013.微波爐煮食實驗標準[Z].合肥:生活電器技術部,2013.

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