李 洋,黎曉林,吳 健,周曉峰,車錄鋒
(1.中國(guó)科學(xué)院 上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所 傳感技術(shù)聯(lián)合國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,上海200050;2.中國(guó)科學(xué)院大學(xué),北京100039)
Σ-Δ 調(diào)制結(jié)構(gòu)由于其精度高的特性,在低速高精度ADC 中已經(jīng)被廣泛采用。隨著MEMS 技術(shù)的不斷發(fā)展,加速度計(jì)在性能方面也有了很大的提升[1,2],例如:采用真空封裝的三明治結(jié)構(gòu)的電容式微加速度計(jì)就具有高靈敏度、大動(dòng)態(tài)范圍和低熱機(jī)械噪聲等優(yōu)點(diǎn)[3]。高性能微加速度計(jì)通常采用帶有靜電力反饋的單比特Σ-Δ 調(diào)制電路作為其接口電路。
在現(xiàn)有Σ-Δ 調(diào)制接口電路中,基本都是基于由運(yùn)算放大器、模擬開關(guān)等器件組成的全模擬電路進(jìn)行PID 運(yùn)算和單比特比較。由于Σ-Δ 調(diào)制電路的系統(tǒng)穩(wěn)定性會(huì)隨著系統(tǒng)階數(shù)的提高而降低,高階Σ-Δ 調(diào)制電路的穩(wěn)定條件更為苛刻[4]。在這種情況下,模擬電路中存在的各種寄生效應(yīng)會(huì)較明顯增大電路設(shè)計(jì)難度。為了簡(jiǎn)化模擬電路部分的設(shè)計(jì),減少模擬電路的干擾,Colibrys 公司的Dong Yufeng 等提出了使用數(shù)字濾波代替模擬積分器方法[5,6]。
本文設(shè)計(jì)了一種基于現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA)的二階Σ-Δ 調(diào)制微加速計(jì),使用數(shù)字電路替代部分模擬電路,將基于運(yùn)算放大器的PID 電路和單比特比較電路使用FPGA 進(jìn)行數(shù)字實(shí)現(xiàn),降低了模擬電路的結(jié)構(gòu)復(fù)雜度,減少了模擬電路的噪聲。
所研究的數(shù)字Σ-Δ 調(diào)制微加速度計(jì)的接口電路基本結(jié)構(gòu)同傳統(tǒng)純模擬電路Σ-Δ 調(diào)制結(jié)構(gòu)相類似,具體系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖1 所示。其中,微加速度計(jì)為硅—硅鍵合三明治結(jié)構(gòu),由上下固定極板和中間可動(dòng)極板構(gòu)成。上下兩極板通過(guò)模擬開關(guān)與正負(fù)參考電壓相連接,以此來(lái)檢測(cè)中間極板的位置;同時(shí),中間極板也在反饋回路中通過(guò)模擬開關(guān)同正或負(fù)參考電壓相連接,以此來(lái)實(shí)現(xiàn)靜電力反饋。通過(guò)由開關(guān)電容和放大器構(gòu)成的電容/電壓(C/V)轉(zhuǎn)換模塊,將傳感器輸出的差分電容值轉(zhuǎn)換成電壓值。隨后,由前端放大電路將放大后的信號(hào)傳遞給A/D 轉(zhuǎn)換電路,將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)。通過(guò)FPGA 對(duì)采樣到的電壓值進(jìn)行相關(guān)數(shù)學(xué)處理,得到最終的系統(tǒng)輸出,并生成反饋信號(hào)反饋回傳感器實(shí)現(xiàn)電路閉環(huán)。由于本文所研究的系統(tǒng)為二階Σ-Δ 調(diào)制系統(tǒng),因此,PID 電路為相位補(bǔ)償電路,不包含高階濾波電路。
圖1 數(shù)字Σ-Δ 調(diào)制微加速度計(jì)模塊圖Fig 1 Module diagram of micro-accelerometer of digital Σ-Δ modulation
傳感器和C/V 轉(zhuǎn)換電路如圖2 所示。Ct(x)是傳感器上極板與中間極板間的電容,Cb(x)是下極板與中間極板間的電容。由于電路為閉環(huán)電路,反饋回路將使中間極板保持在平衡位置附近,中間極板的偏移量非常小。因此,上下極板與中間極板間的電容同偏移量之間的關(guān)系可以近似看作為線性關(guān)系,且相對(duì)于平衡位置互相對(duì)稱??梢缘玫紺/V 轉(zhuǎn)換電路的電壓輸出Vout1為
其中,C0為平衡位置時(shí)的極板間電容,x 為中間極板同平衡位置之間的偏移量,d0為平衡位置時(shí)中間極板同上下兩極板之間的距離。
圖2 傳感器和C/V 轉(zhuǎn)換電路Fig 2 Sensor and C/V converter circuit
這部分電路如圖3 所示,有
由于閉環(huán)回路中中間極板位置改變很小,Vout2為一個(gè)很小的數(shù)值,為了能夠讓A/D 轉(zhuǎn)換電路更好地采樣,將Vout2通過(guò)前端放大器進(jìn)行一定倍數(shù)的放大,隨后,將放大后的電壓信號(hào)通過(guò)10 bit A/D 轉(zhuǎn)換電路進(jìn)行采樣,得到相應(yīng)的數(shù)字信號(hào)。
圖3 采樣保持和前端放大與A/D 轉(zhuǎn)換電路Fig 3 Sample hold,front-end amplifier and A/D converter circuit
系統(tǒng)內(nèi)部噪聲引入的噪聲如圖4 所示。其中,Ebm為傳感器的機(jī)械噪聲,Een為模擬電路噪聲,EqA為A/D 轉(zhuǎn)換電路的量化噪聲,Eq為量化器的量化噪聲。通過(guò)對(duì)系統(tǒng)噪聲進(jìn)行分析,可知機(jī)械噪聲密度為51 ngn/Hz1/2,模擬電路噪聲密度在nV/Hz1/2量級(jí),量化器量化噪聲在μgn/Hz1/2量級(jí)。10 bit 的A/D 轉(zhuǎn)換電路的量化噪聲密度在nV/Hz1/2量級(jí),不會(huì)給系統(tǒng)引入過(guò)大的噪聲。
圖4 帶噪聲的系統(tǒng)模塊圖Fig 4 System module diagram with noise
在傳感器設(shè)計(jì)時(shí),為了降低機(jī)械熱噪聲,傳感器會(huì)有較低的阻尼和較高的Q 值,這樣會(huì)帶來(lái)閉環(huán)系統(tǒng)的不穩(wěn)定。所以,在采用Σ-Δ 數(shù)字閉環(huán)檢測(cè)結(jié)構(gòu)來(lái)設(shè)計(jì)Σ-Δ 加速度計(jì)時(shí),通常需要在系統(tǒng)的前向通路中加入適當(dāng)?shù)南辔谎a(bǔ)償電路。對(duì)于二階的Σ-Δ 數(shù)字接口電路,采用補(bǔ)償系數(shù)為0.7的微分結(jié)構(gòu)能很好地保證系統(tǒng)在±1gn的信號(hào)輸入范圍內(nèi)保持穩(wěn)定。電路補(bǔ)償部分的傳輸函數(shù)H(z)為
通過(guò)判斷補(bǔ)償后的數(shù)據(jù)的最高位,取出數(shù)據(jù)的正負(fù),實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的1 bit 量化。隨后將量化后的輸出傳輸給反饋回路,相應(yīng)地給傳感器的中間極板加入正、負(fù)參考電壓,實(shí)現(xiàn)力的反饋,最終實(shí)現(xiàn)電路閉環(huán)。反饋力Ffeedback的大小為
其中,ε 為介電系數(shù),A 為傳感器中間極板面積,Vf為反饋電壓。
為了對(duì)系統(tǒng)的功能和性能進(jìn)行驗(yàn)證,本文對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行了相關(guān)的仿真。設(shè)定系統(tǒng)采樣頻率50 kHz,過(guò)采樣率32。通過(guò)對(duì)系統(tǒng)加入80 Hz 的正弦信號(hào)激勵(lì),系統(tǒng)的輸出頻譜見(jiàn)圖5。系統(tǒng)輸出功率譜中,系統(tǒng)基帶內(nèi)本底噪聲密度為-87 dBV/Hz1/2,等效于44.7 μV/Hz1/2。由于電路靈敏度為1.2 V/gn,因此,噪聲密度為37 μgn/Hz1/2。
圖5 系統(tǒng)的輸出頻譜Fig 5 Output frequency spectrum of system
由于采用分離的模擬開關(guān)芯片作為系統(tǒng)開關(guān),為了簡(jiǎn)化電路結(jié)構(gòu),CV 電路、采樣保持電路和前端放大電路都采用單端結(jié)構(gòu)的放大電路。通過(guò)搭建PCB 板級(jí)系統(tǒng),并編寫相關(guān)FPGA 代碼,本文初步實(shí)現(xiàn)了基于FPGA 的加速度傳感器數(shù)字Σ-Δ 接口電路。其中,系統(tǒng)工作的采樣率為50kHz,傳感器諧振頻率為780 Hz。最終實(shí)現(xiàn)的二階數(shù)字Σ-Δ 微加速計(jì)PCB 板如圖6 所示。
圖6 二階數(shù)字Σ-Δ 微加速計(jì)PCBFig 6 PCB of 2nd-order digital Σ-Δ micro-accelerometer
圖7 為給系統(tǒng)施加頻率為80 Hz 的±1 gn正弦激勵(lì)信號(hào)時(shí)的輸出頻譜。從圖中可以看到系統(tǒng)在80 Hz 處有一峰值在-3 dB 的單一信號(hào)主峰,同加入激勵(lì)頻率相同。同時(shí),系統(tǒng)基帶內(nèi)本底噪聲為-65 dBV/Hz1/2,等效于557 μV/Hz1/2,由于系統(tǒng)靈敏度為1.4 V/gn,系統(tǒng)的噪聲密度小于400 μgn/Hz1/2。
由于采用的傳感器噪聲為51 ngn/Hz1/2,該噪聲主要來(lái)自于閉環(huán)電路系統(tǒng)。整個(gè)電路系統(tǒng)為PCB 板級(jí)電路,采用分離元件進(jìn)行電路搭建,并且系統(tǒng)結(jié)構(gòu)也采用的是單端電路的結(jié)構(gòu)。由于系統(tǒng)中開關(guān)元件使用的是分離的模擬開關(guān)芯片,其開關(guān)的導(dǎo)通電阻也較大(約120Ω),該導(dǎo)通電阻給系統(tǒng)會(huì)引入較大的電路噪聲。同時(shí),由于在電路系統(tǒng)中使用了A/D 轉(zhuǎn)換電路,需要高頻控制信號(hào),也給電路引入了一定的信號(hào)串?dāng)_,會(huì)引入較大的噪聲。
圖7 二階數(shù)字Σ-Δ 微加速度計(jì)PCB 板測(cè)試結(jié)果Fig 7 PCB test result of 2nd-order digital Σ-Δ micro-accelerometer
提出了基于FPGA 的數(shù)字二階Σ-Δ 調(diào)制微加速計(jì)閉環(huán)接口電路的電路結(jié)構(gòu),電路將采樣保持后的數(shù)據(jù)通過(guò)前端放大后轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),并對(duì)其進(jìn)行相應(yīng)的處理。通過(guò)搭建二階PCB 板級(jí)電路,測(cè)試并驗(yàn)證了該電路結(jié)構(gòu),并測(cè)得系統(tǒng)閉環(huán)基帶內(nèi)噪聲密度小于400 μgn/Hz1/2。上述研究為以后高階數(shù)字Σ-Δ 調(diào)制閉環(huán)接口電路的設(shè)計(jì)提供了指導(dǎo)。
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