劉冬梅,李澤滔,王炳昱
(貴州大學(xué)電氣工程學(xué)院,貴州 貴陽 550025)
隨著電力系統(tǒng)自動化和智能化的提高以及發(fā)、輸電容量的增大,傳統(tǒng)的電磁式互感器由于受外界環(huán)境的影響較大、測量精度低,于是電子式電流互感器便應(yīng)運而生,Rogowski線圈電流互感器作為一種新型的電子式互感器[1],它結(jié)構(gòu)簡單、線性度好、體積小、精度較高、不受被測電流大小的限制,能和電子測量裝置聯(lián)機使用,所以對其進行研究有重要意義。
Rogowski線圈結(jié)構(gòu)、電磁參數(shù)對其動態(tài)性能的精確性與準(zhǔn)確性影響較大,本文通過建立相應(yīng)模型的傳遞函數(shù),選取合適的參數(shù),對不同結(jié)構(gòu)、電磁參數(shù)的仿真結(jié)果進行比較即時域和頻域特性曲線,進而得出結(jié)構(gòu)、電磁參數(shù)對其性能影響的規(guī)律,并提出優(yōu)化方法。
Rogowski線圈結(jié)構(gòu)示意圖如圖1所示,是將漆包線均勻的纏繞在一個環(huán)形絕緣骨架上。將被測的一次側(cè)母線放在中心,根據(jù)被測電流i的變化感應(yīng)出二次側(cè)的感應(yīng)電動勢e(t),然后根據(jù)相應(yīng)信號處理得出i值。
Rogowski線圈測量電流的依據(jù)是安培環(huán)路定律與電磁感應(yīng)定律[2]。
圖1 Rogowski線圈結(jié)構(gòu)示意圖
Rogowski線圈的感應(yīng)電動勢為:
其中,i為一次電流;μ0為真空磁導(dǎo)率;h為骨架高度;n為繞線匝數(shù);a為骨架內(nèi)徑;b為骨架外徑。
由等效電路圖[3-4],可得:
其中R、Rs分別為線圈內(nèi)阻和采樣電阻,采樣電壓為u,由式(2-3)可得,羅氏線圈相當(dāng)于一個微分環(huán)節(jié),為了使輸出信號還原成被測電流,必須后加一個積分環(huán)節(jié)。
分析羅氏線圈結(jié)構(gòu)參數(shù)對其動態(tài)性能的影響有利于提高測量的精確性與準(zhǔn)確性,通過建立傳遞函數(shù),選取合適的參數(shù),對不同結(jié)構(gòu)參數(shù)的仿真結(jié)果進行比較即時域和頻域特性曲線,進而得出結(jié)構(gòu)參數(shù)對其性能影響的規(guī)律,提出優(yōu)選方法。
Rogowski線圈一般是將導(dǎo)線密繞在骨架上的,骨架截面一般分為多種形狀,而本文僅對圓形和矩形線圈進行研究。其結(jié)構(gòu)如圖2。
圖2 不同的骨架截面結(jié)構(gòu)圖
假設(shè)初始條件為零,將式(2)進行拉氏變換后,得到其傳遞函數(shù)為:
(1)圓形截面[5]
羅氏線圈為圓形截面結(jié)構(gòu),如圖2(a),圖中D=2r為中心直徑,dr為截面直徑,真空磁介質(zhì)常數(shù)為μ0=4π×10-7(H/m),而銅導(dǎo)線的電阻率為ρ=0.018 51 Ω·mm2/m。則可得電動勢為[6]:
圓形截面的互感為:
推出線圈的內(nèi)阻為:
將式(6)-(8)代入式(4)中,得傳遞函數(shù)為[7]:
(2)矩形截面[8]
羅氏線圈為圓形截面結(jié)構(gòu),如圖2(b),b、a、h為線圈的外徑、內(nèi)徑和高,則電動勢為:
矩形截面的互感為:
線圈的內(nèi)阻為:
將式(7)、(12)、(13)代入式(4)中,則同理可得:
以下,將以測量的線圈骨架的直徑D=0.15 mm,Rs=150 Ω為例,分別對不同線圈形狀,不同的結(jié)構(gòu)參數(shù)d、n值,進行MATLAB仿真實驗,觀察階躍響應(yīng)及幅頻、相頻曲線,分析性能變化規(guī)律,得出更好的優(yōu)化結(jié)構(gòu)參數(shù)。
圖3為圓形和矩形兩種截面下,選取n為1 600匝,d,h均為0.04 m的階躍響應(yīng)和Bode圖。
圖3 不同截面形狀的階躍、Bode圖
從仿真結(jié)果可以看出,圓形截面的線圈比正方形截面的線圈的動態(tài)性能好,實際應(yīng)用中,應(yīng)根據(jù)實際情況以及被測電流特點,合理選取截面形狀,以取得較好的動態(tài)性能。
圖4n為1 600匝,截面直徑 d分別選取為0.018 m、0.024 m、0.03 m三種情況的階躍響應(yīng)以及幅頻相頻特性曲線。
圖4 不同截面直徑的階躍、Bode圖
從圖中可以看出:隨著d的增大,階躍響應(yīng)的上升時間變長,系統(tǒng)達到穩(wěn)定所需的時間也變長,響應(yīng)速度越慢。從Bode圖中可以看出,d越大,系統(tǒng)對高頻信號反應(yīng)越遲鈍。但是,在實際中d太小就會使骨架面積很小,減弱了骨架的剛性,增大了加工的難度,建議選取d為0.018 m。
如圖5,當(dāng) d=0.018時,選取 n為1 200、1 600、2 000時可以看出匝數(shù)n越大,上升時間越長,響應(yīng)速度也越慢,系統(tǒng)的靈敏度也低。但是線圈的匝數(shù)越多,與磁場交鏈總的有效面積就越大,感應(yīng)信號也就越強烈。在相同的骨架上纏繞的線圈匝數(shù)越多,所采用漆包線的直徑就越小,所需的加工工藝就越高,所以應(yīng)合理選取,建議選取1 600。
圖5 不同截面匝數(shù)的階躍、Bode圖
從以上仿真結(jié)果中可以看出,線圈的結(jié)構(gòu)參數(shù)直接影響線圈的動態(tài)性能,隨著d的減小以及n的減小,系統(tǒng)的動態(tài)性能越好。所以,在選取線圈的結(jié)構(gòu)參數(shù)時,線圈截面直徑在條件允許的情況下應(yīng)盡可能的取小,同時,應(yīng)選取較細的導(dǎo)線進行密繞,使得n適宜。從而減小階躍響應(yīng)上升時間,提高系統(tǒng)的靈敏度。為了明顯的驗證規(guī)律,選取d=0.018,n=160 0和d=0.03,n=1 200兩種情況進行仿真比較,結(jié)果如圖6。
圖6 線圈優(yōu)化前后的階躍、Bode圖
本小節(jié)主要通過對Rogowski線圈的結(jié)構(gòu)參數(shù)的仿真研究,得到線圈的截面形狀,截面直徑,以及線圈匝數(shù)對線圈的動態(tài)性能的影響規(guī)律,并通過優(yōu)化結(jié)構(gòu)參數(shù)前后的仿真比較,驗證了規(guī)律。根據(jù)對線圈性能的要求的側(cè)重點的不同,如反應(yīng)精度、速度、輸出增益等選擇線圈的結(jié)構(gòu)參數(shù),簡化了線圈的設(shè)計過程,提高設(shè)計效率。
為了研究電磁參數(shù)對其動態(tài)性能的影響,利用上面得到的結(jié)構(gòu)參數(shù),以圓形截面為例,通過傳遞函數(shù),利用MATLAB仿真軟件得到不同的電磁參數(shù)時線圈的階躍響應(yīng)以及幅頻特性與相頻特性曲線,詳細分析了分布電容、取樣電阻、線圈內(nèi)阻對Rogowski線圈的動態(tài)性能的影響,對于設(shè)計有良好的動態(tài)性能的羅氏線圈有一定的指導(dǎo)意義。
將方程組(2)進行拉普拉斯變換,得到其傳遞函數(shù)[9]為:
線圈的互感M=0.07 μH,自感L=86 μH,內(nèi)阻R0=4 Ω,取樣電阻Rs=150 Ω,分別做出分布電容為1.2 nF,3.6 nF,7 nF時的階躍響應(yīng)曲線以及Bode圖,如圖7所示。
從圖7(a)可以看出,分布電容C0的值越大,階躍響應(yīng)上升時間越長,并且有振蕩現(xiàn)象出現(xiàn),響應(yīng)速度越慢,穩(wěn)定的時間越長。分析圖7(b)中可知,隨著分布電容的增大,高頻的截止頻率降低,線圈高頻特性變差。在實際應(yīng)用中,應(yīng)合理設(shè)計線圈的結(jié)構(gòu)參數(shù),盡可能的減小分布電容。
圖7 不同分布電容的階躍、Bode圖
圖8中,取線圈的互感M=0.07 μH,自感L=86 μH,內(nèi)阻 R0=4 Ω,分布電容 C0=1.2 nF,取樣電阻分別取100 Ω、150 Ω、200 Ω 做出線圈的階躍響應(yīng)以及幅頻與相頻曲線。
分析階躍響應(yīng)曲線可知,取樣電阻越大,階躍響應(yīng)的上升時間越短,但是有振蕩現(xiàn)象出現(xiàn),穩(wěn)定的時間會變長。從Bode圖可以看出,取樣電阻越大,高頻截止頻率提高,線圈高頻特性得到了改善。所以在實際應(yīng)用中,要結(jié)合多方面的因素合理選擇。
圖9中,取線圈的自感為L=86 μH,互感為M=0.07 μH,取樣電阻 Rs=150 Ω,分布電容 C0=1.2 nF,分別取線圈內(nèi)阻 R0為 0.3 Ω、3.5 Ω、9 Ω 做出階躍響應(yīng)以及Bode圖。
從圖9中可以看出,線圈內(nèi)阻的變化對階躍響應(yīng)的上升時間及幅頻相頻特性基本上沒影響,僅僅對階躍響應(yīng)的穩(wěn)定值有些影響。所以要想靠改變線圈的內(nèi)阻改善線圈的動態(tài)性能意義不大。
圖8 不同取樣電阻的階躍、Bode圖
圖9 不同線圈內(nèi)阻的階躍、Bode圖
從以上可看出,Rogowski線圈的動態(tài)性能直接受到電磁參數(shù)的影響,且不同的電磁參數(shù)對其性能的影響程度不相同。在制作Rogowski線圈過程中要盡量減小分布電容,同時要使用電阻率小的繞線材料來減小線圈的內(nèi)阻,取樣電阻要滿足最佳阻尼比,使羅氏線圈達到最好的動態(tài)特性,為了驗證上述規(guī)律,選取 R0=4 Ω,C0=7 nF,Rs=200 Ω 和 R0=3.5,C0=1.2 nF,Rs=150 Ω
兩種情況做比較,其階躍響應(yīng)以及幅頻、相頻特性曲線如圖10。
圖10 優(yōu)化電磁參數(shù)前后的階躍和Bode圖
本節(jié)通過對Rogowski線圈的電磁參數(shù)進行仿真研究,得到線圈的分布電容,取樣電阻,以及線圈內(nèi)阻對線圈的動態(tài)性能的影響規(guī)律,并通過優(yōu)化電磁參數(shù)前后的仿真比較,驗證了規(guī)律。對選擇具有良好動態(tài)性能的Rogowski線圈具有指導(dǎo)意義。
本文通過對兩種不同截面結(jié)構(gòu)的Rogowski線圈的結(jié)構(gòu)參數(shù)和電磁參數(shù)對動態(tài)特性的影響進行了分析,得到了相應(yīng)的優(yōu)化設(shè)計準(zhǔn)則,對以后進行Rogowski線圈設(shè)計提出了理論依據(jù),簡化了設(shè)計步驟,提高了測量的精確度。
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