張文鋼 韓明明

(寶山鋼鐵股份有限公司 上海201900)

1 引言

在干熄法煉焦中，需要將經(jīng)焦?fàn)t干餾后1000℃的高溫紅焦裝入干熄爐中熄滅，高溫紅焦裝入密閉的干熄爐中通循環(huán)氮?dú)膺M(jìn)行冷卻。高溫紅焦從上部裝入，經(jīng)氮?dú)饫鋮s后的焦碳從下部連續(xù)排出。在裝入高溫紅焦時，爐內(nèi)紅焦料位會快速上升，冷卻焦碳連續(xù)排出時，爐內(nèi)紅焦料位會逐漸下降。因此爐內(nèi)紅焦料位關(guān)系到干熄爐生產(chǎn)控制及安全運(yùn)行，準(zhǔn)確掌握紅焦料位至關(guān)重要。由于運(yùn)行中的干熄爐呈密閉高溫狀態(tài)，必須采用特殊裝置檢測紅焦料位。早期干熄爐紅焦料位的檢測使用鈷60放射性同位素料位計，僅作高、低兩點(diǎn)的料位檢測。由于放射性同位素產(chǎn)生的電離輻射污染環(huán)境，易對現(xiàn)場操作人員的健康造成影響，同時僅高、低兩點(diǎn)料位檢測方式不能提高生產(chǎn)控制精度。近期有些企業(yè)采用了對環(huán)境無害的微波檢測技術(shù)，連續(xù)檢測干熄爐爐內(nèi)的紅焦料位。目前這類檢測裝置是進(jìn)口產(chǎn)品，由于干熄爐內(nèi)紅焦的溫度高達(dá)1000℃，在使用過程中微波料位檢測裝置雖然采用了氮?dú)饫鋮s，但仍會因高溫造成微波器件損壞，進(jìn)口備件價格高昂，使用成本很高。

2 微波料位檢測裝置損壞原因

圖1 檢測裝置安裝示意圖

圖2 檢測位置結(jié)構(gòu)圖

采用實(shí)測數(shù)據(jù)進(jìn)行干熄焦?fàn)t內(nèi)紅焦料位的計算技術(shù)，不會產(chǎn)生累積誤差，同時避免了因?yàn)榻固贾亓亢腕w積換算所造成的種種誤差，使?fàn)t內(nèi)存焦料位數(shù)據(jù)實(shí)時、準(zhǔn)確。由于微波料位檢測裝置的微波器件和電子控制部件對工作環(huán)境的溫度要求較高，需60℃以下，干熄焦?fàn)t內(nèi)紅焦所產(chǎn)生的高溫極易造成微波器件和電子控制部件損壞。目前干熄焦?fàn)t微波料位檢測裝置，都采用在檢測裝置內(nèi)部通氮?dú)鈱ξ⒉ㄆ骷碗娮涌刂撇考M(jìn)行冷卻，使工作環(huán)境溫度始終保持在60℃以下。這種冷卻方式是將冷卻氮?dú)鈴奈⒉衔粰z測裝置后部用管道接入，對微波檢測器件和電子控制部件進(jìn)行冷卻，然后氮?dú)庠倭魅敫上t內(nèi)。見圖1和圖2所示。

采用這種冷卻方法的檢測裝置，必須保證冷卻氮?dú)獾膲毫土髁浚拍艹浞謳ё郀t內(nèi)高溫傳導(dǎo)到微波料位檢測裝置上的熱量，使儀器工作溫度始終不超過額定值。微波料位檢測裝置設(shè)計時，根據(jù)熱平衡計算出冷卻氮?dú)獾膲毫土髁?，但氮?dú)夤芫W(wǎng)是一個多用戶系統(tǒng)，難以保證供氣壓力和流量的穩(wěn)定，一旦發(fā)生故障，壓力降低或流量減小，甚至停氣，極高溫度順著原來的冷卻氣體通道瞬間傳導(dǎo)到微波料位檢測裝置內(nèi)部，很快使微波檢測器件損壞，造成很大的經(jīng)濟(jì)損失。因此有些微波料位檢測裝置中安裝了溫度和壓力檢測，一旦發(fā)生溫度或冷卻氣壓力異常立即報警。即使如此，接到報警后來不及關(guān)閉檢修閥門以阻止高溫進(jìn)入檢測裝置，仍會造成微波料位檢測裝置損壞。

3 改進(jìn)方案

介紹一種干熄焦?fàn)t微波料位檢測裝置冷卻防護(hù)新方案，使微波料位檢測裝置與爐內(nèi)高溫傳導(dǎo)路徑進(jìn)行充分的隔斷，即使在應(yīng)用中發(fā)生供氣故障，也可以有效防止?fàn)t內(nèi)高溫?fù)p壞微波料位檢測裝置。圖3為新方案的基本結(jié)構(gòu)。

圖3 新料位檢測防護(hù)裝置示意圖

該技術(shù)方案采用隔熱原理，密閉隔離氣室即可以阻斷爐內(nèi)高溫與微波料位檢測裝置的傳遞路徑，又可以透過料位檢測微波。在密閉隔離氣室的下部有吹掃氮?dú)馔?，避免爐內(nèi)粉塵在密閉隔離氣室下表面黏附積聚，影響檢測。微波檢測裝置對溫度要求較高的微波電子部件裝設(shè)在微波天線上部，離爐內(nèi)高溫區(qū)域較遠(yuǎn)，由于密閉隔離氣室的有效隔熱，且爐內(nèi)高溫的傳遞路徑較遠(yuǎn)，傳導(dǎo)到微波電子部件時已經(jīng)基本消除，微波電子部件基本工作在常溫環(huán)境中，不加任何冷卻措施即可長期正常工作。即使長時間沒有吹掃氮?dú)?，也不會造成微波料位檢測裝置損壞。

4 關(guān)鍵措施

圖4 密閉氣室示意圖

圖5 隔熱墊片示意圖

在微波天線下部裝有一個防熱輻射不透明透波材料制作的錐形密封罩。密封罩錐尖向下罩住微波天線的開口，其四周與密閉氣室外殼內(nèi)壁相連并密封，使微波檢測部分及微波天線的腔體部分與密閉氣室完全隔絕。密閉氣室下部裝有一塊四周密封的高溫透波石英玻璃，上表面是密閉氣室的底部，下表面直接接觸干熄焦?fàn)t內(nèi)的高溫空間，以隔絕高溫上傳到微波料位檢測裝置。上部密封與下部密封相連形成一個密封氣室，氣室中的空氣可以有效隔離高溫。密閉氣室的四周外殼采用導(dǎo)熱性較好的金屬材料制成，并在密閉氣室的外殼上增加散熱片，將下部上傳的高溫通過散熱片從外部流通的空氣中散失。在密封氣室與上部微波料位檢測裝置連接的法蘭中間加裝隔熱密封墊片，在密封氣室與下部干熄爐體連接的連接法蘭中間也同樣加裝有隔熱密封墊片，這樣可以有效防止?fàn)t體熱量從密閉氣室金屬外殼傳導(dǎo)到微波料位檢測裝置。在密封氣室中裝有溫度監(jiān)測裝置，用于監(jiān)測氣室溫度變化，判斷下部密封是否良好。為防止干熄焦?fàn)t內(nèi)焦碳粉塵黏附在高溫透波石英玻璃的下表面，設(shè)計有高壓氮?dú)獯祾邭獾?，對高溫透波石英玻璃的下表面進(jìn)行防塵吹掃和適當(dāng)冷卻。具體結(jié)構(gòu)示意參見圖4和圖5。

5 結(jié)束語

該檢測裝置應(yīng)用數(shù)年效果良好，雖然供氣系統(tǒng)時有故障，但從未發(fā)生過微波料位檢測裝置損壞。應(yīng)用在高溫場合的檢測裝置，采用合理的隔熱措施，往往比采用強(qiáng)制冷卻更節(jié)能有效。

［1］張志強(qiáng)，夏燚．微波雷達(dá)料位計在干熄焦工藝中的應(yīng)用［J］．燃料與化工，2009，Vol．40(5):31 －32．

［2］王忠．干熄焦料位檢測裝置的改造［J］．自動化博覽，2012(4):90－92．

［3］史紅嬰．簡談干熄焦預(yù)存室料位檢測的設(shè)計方式［J］．中國儀器儀表，2009，增刊:58－59．