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地鐵勘察中電阻率的測(cè)試方法

2014-10-21 19:57孔憲和
基層建設(shè) 2014年26期
關(guān)鍵詞:測(cè)井電阻率梯度

孔憲和

摘要:電阻率原位測(cè)試通常有二種方法,一是在地面進(jìn)行,采用對(duì)稱(chēng)四極法,另一種在工勘鉆孔中進(jìn)行,即電阻率測(cè)井。本文論述了各自的準(zhǔn)確性和適宜性。

關(guān)鍵詞:地鐵;電阻率;對(duì)稱(chēng)四極電測(cè)深;測(cè)井

一、概述

大地電阻率是地鐵工程接地計(jì)算中的必要參數(shù),直接影響接地裝置接地電阻的大小、地面電位分布和跨步電壓,為了合理設(shè)計(jì)接地裝置,必須對(duì)大地進(jìn)行電阻率測(cè)試。

電阻率測(cè)試通常有二種方法,一是在地面進(jìn)行,采用對(duì)稱(chēng)四極法,另一種在工勘鉆孔中進(jìn)行,即電阻率測(cè)井。前者地面測(cè)試需要較長(zhǎng)的地面電性均勻的場(chǎng)地,而地鐵勘察通常在城市建筑物密集區(qū)域,難以滿(mǎn)足測(cè)試要求,影響測(cè)試精度;后者在施工后的鉆孔中進(jìn)行,鉆孔較淺,測(cè)試精度受低阻鉆井液的影響較大。本人通過(guò)在南京、蘇州等地鐵勘察電阻率測(cè)試中對(duì)地面和鉆孔電阻率測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比,分別確定了地面和鉆孔電阻率測(cè)試數(shù)據(jù)各自的準(zhǔn)確性和適宜性。

二、測(cè)試方法的選擇及數(shù)據(jù)解釋

1、地面測(cè)試

在地面場(chǎng)地條件允許的條件下,結(jié)合工勘鉆孔資料地層電性層簡(jiǎn)單,選擇地面對(duì)稱(chēng)四極電測(cè)深法方便易行,施工不必等候鉆孔,一天可測(cè)試多個(gè)場(chǎng)地,一般地鐵開(kāi)挖深度在30米左右,電測(cè)深最大AB/2為勘察深度的2倍,電極距見(jiàn)下表。

電測(cè)深電極距表

AB/2(米)

3

5

7

10

15

22

34

50

70

MN/2(米)

0.5

0.5

0.5

0.5

3

0.5

3

3

3

3

3

測(cè)量結(jié)果繪制成雙對(duì)數(shù)電測(cè)深曲線(xiàn),結(jié)合工勘鉆孔劃分的電性層進(jìn)行解釋?zhuān)娦詫雍?jiǎn)單可以可以通過(guò)量板定量解釋?zhuān)詮?fù)雜可以通過(guò)電腦軟件正、反演定量解釋?zhuān)色@得目的地層較精確的電阻率值。

2、鉆孔測(cè)試

如地面場(chǎng)地條件不理想,則易在工勘鉆孔中進(jìn)行。在鉆孔測(cè)試電阻率要受到井眼、圍巖、層厚、泥漿(沖洗帶、侵入帶)及測(cè)井儀器本身等多因素的影響。

⑴電阻率測(cè)井探測(cè)深度

電阻率測(cè)井探測(cè)深度是指探測(cè)器的橫向探測(cè)深度,對(duì)于普通電阻率測(cè)井來(lái)說(shuō),以供電電極為中心,以某一深度為半徑的球面內(nèi)包含的介質(zhì)對(duì)測(cè)量結(jié)果貢獻(xiàn)為50%時(shí),此半徑為探測(cè)深度。

梯度電極系:探測(cè)半徑為1.4。如:M2.25A0.5B表示雙極供電正裝梯度電極系,其中L=2.5m,探測(cè)深度3.5m;

電位電極系:探測(cè)半徑為2。如:A0.5M2.25N表示單極供電正裝電位電極系,其中L=0.5m,探測(cè)深度1.0m。

⑵電阻率測(cè)試的影響因素

①電極系的影響

不同的電極系測(cè)得的視電阻率曲線(xiàn)不同,即使對(duì)相同電極系來(lái)說(shuō),盡管地層模型相同,測(cè)量條件相同,如果電極距不同,得到的曲線(xiàn)也會(huì)有較大差別。

根據(jù)普通電阻率測(cè)井的探測(cè)深度定義可知,電極距不同也就是說(shuō)它的探測(cè)深度不同,受到井眼和圍巖的影響也就不同。探測(cè)深度小,受井眼影響較大,受?chē)鷰r的影響較小,測(cè)得的視電阻率曲線(xiàn)幅度較低(對(duì)高阻層來(lái)說(shuō));探測(cè)深度大,井眼的影響相對(duì)減弱,而圍巖的影響又逐漸增大,降低了曲線(xiàn)的分辨率,也會(huì)給目的層測(cè)得的視電阻率曲線(xiàn)造成較大影響。

因此,選用的電極系電極距不能太大也不能太小。

②井的影響

由于井內(nèi)泥漿電阻率比剖面上高阻巖層的電阻率低得多,從而對(duì)電極系供電電極造成的電場(chǎng)分布起分流作用。主要有以下兩個(gè)方面:

井徑的影響:井徑越大,探測(cè)范圍內(nèi)低阻泥漿越多,對(duì)測(cè)量結(jié)果影響越大,視電阻率越低;

井內(nèi)泥漿電阻率的影響:泥漿電阻率低時(shí),由于分流作用增強(qiáng),也使得視電阻率曲線(xiàn)幅度降低。

③圍巖和層厚的影響

電極系選定后,電極距一定。滲透層(地層)厚度不同,視電阻率曲線(xiàn)也會(huì)出現(xiàn)差異。地層薄,低阻圍巖的影響就會(huì)加大,視電阻率曲線(xiàn)值幅度偏低。

④侵入影響

泥漿侵入造成滲透層徑向電阻率分布的變化,出現(xiàn)了沖洗帶、過(guò)渡帶和原狀地層,井壁還有泥餅的存在。

沖洗帶:巖層孔隙中的地層水全部被泥漿濾液取代,電阻率用RXO表示;

過(guò)渡帶:巖層孔隙中的地層水部分被泥漿濾液取代;

原狀地層:未受到泥漿的影響。

⑶視電阻率曲線(xiàn)的解釋

梯度電極系探測(cè)深度大,受鉆井液影響小。因此,測(cè)試電阻率宜采用梯度電極系,本文討論梯度電極系曲線(xiàn)。

①梯度電極系理論曲線(xiàn)

電測(cè)井理論公式

由于理想梯度電極系(或)為無(wú)窮小,此時(shí)M、N(或A、B)和記錄點(diǎn)O合為一點(diǎn),視電阻率公式可寫(xiě)為:

其中Eo是記錄點(diǎn)O處沿井軸方向的電勢(shì)的梯度,令,且有,則視電阻率公式為:

Ro為記錄點(diǎn)O所在處的介質(zhì)的真電阻率,jo為記錄點(diǎn)O處的實(shí)際電流密度。

由公式可以看出,在測(cè)量條件不變的情況下,所測(cè)的視電阻率值與記錄點(diǎn)處的實(shí)際電流密度、記錄點(diǎn)所在介質(zhì)電阻率成正比。

圖1? 底部梯度理論曲線(xiàn)

下面由圖1來(lái)說(shuō)明電極系在井中提升的過(guò)程中,視電阻率的變化。設(shè)一高阻層,其電阻率為,厚度為,上下圍巖相同,電阻率為,忽略井的影響。第一階段,在下部圍巖離高阻層較遠(yuǎn)處,相當(dāng)于電極系在電阻率為Rs的均勻介質(zhì)中,視電阻率測(cè)量結(jié)果不受高阻層的影響,因此為一直線(xiàn),Ra=Rs,到a點(diǎn)為止;

第二階段,儀器上升到離高阻層較近時(shí),Ra受到高阻層的影響,對(duì)電流有排斥作用,使記錄點(diǎn)處的實(shí)際電流密度增加,此時(shí)jo>joj,并且越靠近高阻層,jo呈上升趨勢(shì),所以Ra值增大,到達(dá)高阻層底界面時(shí),電阻率到達(dá)b點(diǎn);

第三階段,儀器上升到記錄點(diǎn)離高阻層一倍電極距以?xún)?nèi)時(shí),A電極流出的電流在界面法向上連續(xù),Ra值只與界面兩端的介質(zhì)的電阻率有關(guān),,直到記錄點(diǎn)進(jìn)入高阻層,得到曲線(xiàn)bc段;

第四階段,記錄點(diǎn)進(jìn)入高阻層以后開(kāi)始一段時(shí)間內(nèi),記錄點(diǎn)處的介質(zhì)

電阻率突然由Rs增至Rt,并且由于下面圍巖的電阻率較低,對(duì)電流有一定的吸引作用,因此記錄點(diǎn)處的實(shí)際電流密度jo要大于joj,由公式看出,Ra>Rt,因此在界面處形成了視電阻率極大值,即曲線(xiàn)的cd段,故極大值可確定地層界面;

第五階段,隨儀器的上升,Ra受下部圍巖的影響逐漸減小,Ra也逐漸減小至高阻層實(shí)際電阻率Rt止,曲線(xiàn)到達(dá)e點(diǎn);

第六階段,在高阻層內(nèi)遠(yuǎn)離上下圍巖的一段距離內(nèi),Ra保持不變,為高阻層的實(shí)際電阻率值。

第七階段,隨儀器的上升,Ra逐漸受到上部圍巖的影響,使jo減小,Ra逐漸變低。

第八階段,記錄點(diǎn)上升到離上界面一倍距離內(nèi),視電阻率值保持不變,且主要受到上下介質(zhì)電阻率的影響為直到記錄點(diǎn)到達(dá)上界面處。

第九階段,記錄點(diǎn)進(jìn)入上部圍巖,此處的電流由于受到高阻層的影響,實(shí)際電流jo較joj小,且記錄點(diǎn)處的介質(zhì)電阻率突然由Rt變?yōu)镽s,因此曲線(xiàn)急劇下降到i點(diǎn),且Rt

第十階段,記錄點(diǎn)遠(yuǎn)離高阻層而不受其影響,此時(shí)Ra為一直線(xiàn)段值Rs。

這是底部梯度電極系在較厚縱向階躍介質(zhì)視電阻率曲線(xiàn)特征的理論依據(jù),由極大和極小值點(diǎn)可以確定高阻層的底界面和頂界面深度;而頂部梯度電極系視電阻率曲線(xiàn)具有相反的特征。

②巖層視電阻率讀取方法

高阻厚層:取視電阻率曲線(xiàn)中間的平直部分的平均值。

中等厚度的高阻層:去掉屏蔽區(qū)取面積平均值法,在底部梯度電極系視電阻率曲線(xiàn)上,在高阻層內(nèi)距頂界面一個(gè)電極距范圍內(nèi),視電阻率值低,這個(gè)范圍叫盲區(qū)或屏蔽區(qū)。讀數(shù)時(shí)去掉這部分,找一條與井軸平行的直線(xiàn)與視電阻率曲線(xiàn)相交,使得視電阻率曲線(xiàn)在交點(diǎn)兩側(cè)與直線(xiàn)圍成的面積相等。

三、結(jié)論與認(rèn)識(shí)

1、在地鐵勘察中的電阻率測(cè)試的方法根據(jù)場(chǎng)地條件采用地面電測(cè)深法或者電測(cè)井法。

2、地面電測(cè)深法方便、費(fèi)用相對(duì)低,在場(chǎng)地條件許可,地性層簡(jiǎn)單情況下優(yōu)先采用。

3、采用工勘鉆孔電測(cè)井法,應(yīng)采用梯度電極系,如M2.25A0.5B雙極供電正裝梯度電極系探測(cè)深度達(dá)到3.5m,基本反映原狀地層的電阻率。

參考文獻(xiàn):

[1]傅良魁主編:1991年,應(yīng)用地球物理教程[M],地質(zhì)出版社

[2]尉中良、鄒長(zhǎng)春編著:2005年,地球物理測(cè)井[M],地質(zhì)出版社

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