姜 培 華
(安徽工程大學(xué) 數(shù)理學(xué)院, 安徽 蕪湖 241000)
數(shù)理統(tǒng)計(jì)的基本問(wèn)題之一是統(tǒng)計(jì)推斷,而統(tǒng)計(jì)假設(shè)檢驗(yàn)是統(tǒng)計(jì)推斷的重要內(nèi)容.在正態(tài)總體的情形下有多種經(jīng)典的參數(shù)估計(jì)和檢驗(yàn)方法,文獻(xiàn)[1-2]已有敘述.但在實(shí)際問(wèn)題中常會(huì)遇到總體服從非正態(tài)情形下的統(tǒng)計(jì)推斷問(wèn)題,如伽瑪分布(包括指數(shù)分布)、F分布、瑞利分布和威布爾分布等,對(duì)于前三種分布的研究可見(jiàn)文獻(xiàn)[3-6];文獻(xiàn)[7]中研究了威布爾分布參數(shù)的最高后驗(yàn)概率密度區(qū)間估計(jì);對(duì)非正態(tài)總體參數(shù)的估計(jì)尤其是最短區(qū)間估計(jì)的研究也較多,如文獻(xiàn)[2-5]和[7-9].假設(shè)檢驗(yàn)中存在兩類(lèi)錯(cuò)誤,即棄真和受偽的錯(cuò)誤,傳統(tǒng)檢驗(yàn)方法拒絕域臨界點(diǎn)的選取都是以尾部概率相等為基準(zhǔn),這種方法得到的拒絕域使得犯第二類(lèi)錯(cuò)誤的概率累積值并非最小.這種意義下對(duì)于概率密度非對(duì)稱(chēng)的雙邊檢驗(yàn)問(wèn)題,傳統(tǒng)方法得到的拒絕域也不是最佳的.因此在一般情形下研究總體參數(shù)的最佳雙邊檢驗(yàn)尤為重要.此處首先給出威布爾分布尺度參數(shù)的一般檢驗(yàn)方法,在此基礎(chǔ)上研究其最佳雙邊檢驗(yàn)問(wèn)題.
定義1 設(shè)總體X服從參數(shù)為α,β的伽瑪分布Γ(α,β), 若其密度函數(shù)為
引理1 設(shè)總體X服從威布爾分布W(η,m),X1,X2,…,Xn為來(lái)自該總體的樣本, 則有
(2) 當(dāng)2z為非負(fù)整數(shù)時(shí),有Ix(2z)=Ix([2z])+[Ix([2z]+1)-Ix([2z])](2z-[2z]),其中[2z]為2z的整數(shù)部分.
定理1 設(shè)總體X服從威布爾分布W(η,m)(形狀參數(shù)m已知),X1,X2,…,Xn為來(lái)自該總體的樣本, 在顯著水平α下檢驗(yàn)假設(shè)H0:η=η0;H1:η≠η0的雙邊檢驗(yàn)的等尾拒絕域?yàn)?/p>
由于卡方分布密度函數(shù)的非對(duì)稱(chēng)性,因此用傳統(tǒng)方法對(duì)威布爾分布的尺度參數(shù)η進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí)所得的拒絕域不是最優(yōu)的.現(xiàn)在的目的是尋找最優(yōu)的拒絕域,考慮在控制第一類(lèi)錯(cuò)誤概率的前提下盡量使得第二類(lèi)錯(cuò)誤的概率累積值越小,有下述定理.
定理2 設(shè)總體X服從威布爾分布W(η,m)(形狀參數(shù)m已知),X1,X2,…,Xn為來(lái)自該總體的樣本,在顯著水平α下檢驗(yàn)假設(shè)H0:η=η0;H1:η≠η0存在惟一的最佳雙邊檢驗(yàn)拒絕域
F(b,n,1)-F(a,n,1)=1-α
(1)
的實(shí)數(shù)a和b都決定H0的一個(gè)接受域
當(dāng)η的真值為某個(gè)不等于η0的值時(shí),檢驗(yàn)犯第二類(lèi)錯(cuò)誤的概率為
為了得到選取臨界值的標(biāo)準(zhǔn),考慮犯第二類(lèi)錯(cuò)誤的概率累積
為使檢驗(yàn)最優(yōu),自然希望對(duì)臨界點(diǎn)a和b的取法能夠使得I(a,b)達(dá)到最小,因此該問(wèn)題就轉(zhuǎn)化為下述條件極值問(wèn)題(2)(3)
(2)
st.F(b,n,1)-F(a,n,1)=1-α
(3)
由式(3)知對(duì)于給定的a都唯一對(duì)應(yīng)著一個(gè)b=b(a)滿(mǎn)足約束條件,對(duì)式(3)兩端關(guān)于a求導(dǎo)可得
f(b(a),n,1)b′(a)-f(a,n,1)=0
從而解出
(4)
(5)
將式(4)代入式(5)整理可得
(6)
令bK=s和aK=t則式(6)可等價(jià)轉(zhuǎn)化為
(7)
(8)
(9)
所決定.
綜上,最佳拒絕域的存在性和唯一性得證,故定理2成立.
已知某種電子元件的使用壽命X服從參數(shù)為η,m=2的威布爾分布W(η,2),現(xiàn)在從中抽取10個(gè)元件進(jìn)行壽命測(cè)試,獲得數(shù)據(jù)如下(單位:小時(shí)):
1 150 1 150 1 060 1 050 1 100 1 080 1 250 1 340 1 300 1 200
求在顯著水平α=0.05下,檢驗(yàn)假設(shè)H0:η=η0;H1:η≠η0的傳統(tǒng)雙邊檢驗(yàn)拒絕域和最佳雙邊檢驗(yàn)拒絕域.
解1) 已知元件壽命X服從威布爾分布W(η,2),由定理1的結(jié)論知尺度參數(shù)η的雙邊檢驗(yàn)的等尾拒絕域?yàn)?/p>
2) 由于密度函數(shù)f(y,n,1)的不對(duì)稱(chēng)性,按傳統(tǒng)方法求得的拒絕域不是最佳的,其最佳拒絕域的形式應(yīng)為W*={(-∞,a)∪(b,+∞)}.利用定理2和引理2可知(a,b)應(yīng)滿(mǎn)足
利用Matlab軟件進(jìn)行求解,得唯一的駐點(diǎn)(a*,b*)=(4.292 1,16.303 6),從而可得最佳拒絕域W*={(-∞,4.292 1)∪(16.303 6,+∞)}.
比較發(fā)現(xiàn)最佳接受域較傳統(tǒng)接受域縮短0.273 5,且最佳接受域較傳統(tǒng)接受域整體向左偏移,這是因?yàn)榭紤]犯第二類(lèi)錯(cuò)誤的累積概率最小,即授偽的累積概率最小,因此最佳接受域應(yīng)該較傳統(tǒng)的接受域縮短;另外由于Γ(10,1)是個(gè)非對(duì)稱(chēng)的右偏密度函數(shù),因此最佳接受域應(yīng)該較傳統(tǒng)接受域左偏.另外利用Minitab軟件可求得最佳拒絕域兩側(cè)的尾部概率分別為
P(Y≤a*=4.292 1)=0.012 757 9≈0.255 158α
P(Y≥b*=16.303 6)=0.037 243≈0.744 86α
由此看出,由于伽瑪分布密度函數(shù)的非對(duì)稱(chēng)性,所以最佳拒絕域尾部概率并非相等,而傳統(tǒng)拒絕域都是以尾部概率相等為基準(zhǔn);因此最佳拒絕域較傳統(tǒng)拒絕域有較大改善,值得采用.
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