劉 虎,趙建洋
(淮陰工學(xué)院計(jì)算機(jī)工程學(xué)院,江蘇淮安 223001)
物位測(cè)量是工業(yè)生產(chǎn)和過(guò)程控制經(jīng)常遇到的問(wèn)題,物位測(cè)量?jī)x表是測(cè)量罐體內(nèi)液態(tài)、粉態(tài)、固態(tài)界面或高度的工業(yè)自動(dòng)化儀表[1]。測(cè)量塊狀、顆粒狀、粉料等固體物料表面高度的儀表稱為料位計(jì),測(cè)量容器內(nèi)液體高度的儀表稱為液位計(jì),測(cè)量容器內(nèi)兩種互不相溶液體界面位置的儀表稱為界面計(jì)。由于各種物料性質(zhì)差異很大,生產(chǎn)過(guò)程控制復(fù)雜多變,因此物位測(cè)量方法也很多,有電阻式、電容式、激光式、雷達(dá)波、超聲波、射頻導(dǎo)納等多種類型[2-3]。文中設(shè)計(jì)的利用可變頻率振蕩器法測(cè)量物位信號(hào)本質(zhì)上是一種電容式物位測(cè)量方法。
1.1變頻振蕩器原理
(1)
圖1 克萊潑振蕩器
式(1)中,
L′=L1
(2)
(3)
(4)
(5)
(6)
(7)
由式(6)、式(7)可知,詣?wù)耠娙萑萘恐扰c振蕩中心頻率的平方成反比,如式(8)所示:
(8)
式中:C1為原電容值;C2為新電容值;F1為原頻率;F2為新頻率。
已知C1,F(xiàn)1,測(cè)量F2后,就可以用式(8)計(jì)算未知電容C2。
1.2電容式物位測(cè)量原理
已知平板電容器電容量為:
(9)
式中:C為平板電容器電容量,pF;A為極板表面積,cm2;d為極板之間距離,cm2;εr為平板間電解質(zhì)介電常數(shù)。
介電常數(shù)被用來(lái)表示在兩極板上施加一定電壓情況下,在其間增加極化介質(zhì)時(shí),其電容量增加的程度。規(guī)定空氣的介電常數(shù)為1,任何其他物質(zhì)的介電常數(shù)均大于1。
電容式物位測(cè)量方法結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖如圖2所示。插入容器中的一只帶絕緣層的金屬探棒與容器壁一起作為兩塊相對(duì)應(yīng)的極板組成一個(gè)電容器,其電容量大小與探棒與容器壁之間的介質(zhì)的大小相關(guān)。若其間只存在空氣,即空罐狀態(tài),電容器的電容量很??;然而一旦部分探棒與物料形成接觸,電容量就會(huì)增大,通過(guò)測(cè)量電容量的大小C,就可知物位高度h.
圖2 電容式罐體物位測(cè)量簡(jiǎn)圖
該柱形電容器的電容量計(jì)算公式為:
(10)
式中:C為容器電容量,pF;K為常系數(shù);εr為容器內(nèi)的物料介電常數(shù);H為罐體高度,m;D為罐體直徑,m;d為電極直徑,m.
式(10)在實(shí)際應(yīng)用中的經(jīng)驗(yàn)公式一般為[5]:
(11)
由于對(duì)數(shù)算子作用,D/d的比值在式(1)中不起決定作用。式(11)可簡(jiǎn)寫(xiě)成:
C=10·εr·H
(12)
式(12)中,容器電容C基本與罐體直徑無(wú)關(guān),而只與物料介電常數(shù)εr及罐體高度H有關(guān),空金屬罐中,1 m長(zhǎng)的測(cè)桿形成約10 pF電容。物位測(cè)量?jī)x表經(jīng)標(biāo)定后,測(cè)量電容C,就可以獲知真實(shí)物位高度h.
設(shè)計(jì)的變頻振蕩法物位測(cè)量?jī)x原理圖如圖3所示,電路是一個(gè)改進(jìn)型克萊潑振蕩器,振蕩頻率能達(dá)到10 MHz以上的高頻率,選取合適的L1、C1、Cx在某一頻率將達(dá)到諧振,C1應(yīng)與Cx同一數(shù)量級(jí)。L1、C1、Cx、C3、C4構(gòu)成振蕩選頻電路,振蕩頻率fx如式(13)所示。
(13)
式中:L′=L1;
C′=(Cx+C1)∥C3∥C4
(14)
由于Cx>>C1,因此:
(15)
將未知電容Cx接在測(cè)試電路上,Cx為物位測(cè)桿與金屬筒壁形成的電容,其容量如式(12)所示。開(kāi)關(guān)S1先置于位置b,由數(shù)字頻率計(jì)讀出振蕩頻率F1;然后將開(kāi)關(guān)S1撥到位置a,電容Cx與C1并聯(lián)接入電路,這時(shí)振蕩器的輸出頻率變到F2。振蕩器產(chǎn)生的正弦波經(jīng)Q2、Q3放大整形后送入分頻器74HC4040進(jìn)行256分頻,分頻后的方波脈沖送入MCU進(jìn)行計(jì)數(shù)。已知C1,F(xiàn)1,F(xiàn)2后,就可以用式(8)計(jì)算Cx,然后由式(12)計(jì)算物位實(shí)際高度h。測(cè)量原理圖(3)中的(a)(b)(c)三點(diǎn)波形如圖4所示。
圖3 物位測(cè)量?jī)x原理圖
先對(duì)儀表進(jìn)行標(biāo)定,標(biāo)定時(shí)采用高精度、低溫飄定值云母電容器,將不同容量的標(biāo)定電容接Cx兩端,示波器接分頻后的輸出端,接入不同容量的標(biāo)定電容Cx,監(jiān)測(cè)并記錄對(duì)應(yīng)的輸出頻率fx,得到一組電容—頻率轉(zhuǎn)移特性數(shù)據(jù),如表1所示。圖5是根據(jù)表1數(shù)據(jù)繪制的變頻振蕩器輸入輸出對(duì)應(yīng)關(guān)系圖,橫軸為256分頻輸出的頻率,縱軸為接入的標(biāo)定電容,從圖中可以看出:接入的電容容量與輸出頻率呈非線性變化關(guān)系,電容容量越大,輸出頻率越低。
表1 電容—頻率轉(zhuǎn)移特性數(shù)據(jù)
采用最小二乘法對(duì)表1中的已知點(diǎn)進(jìn)行二次多項(xiàng)式擬合,設(shè)二次多項(xiàng)式為:
f(x)=a1+a2x+a3x2
(16)
(a)點(diǎn)波形
(b)點(diǎn)波形
(c)點(diǎn)波形
f(x)=7 950.603 85-4 613.790 95x+680.421 08x2
(17)
由擬合誤差分析可知:擬合后的確定系數(shù)R=0.995 99,標(biāo)準(zhǔn)偏差SD=10.811 32。多項(xiàng)式擬合曲線如圖6所示。
圖5 變頻振蕩器輸入輸出關(guān)系
圖6 多項(xiàng)式曲線擬合
實(shí)際應(yīng)用中,先用標(biāo)準(zhǔn)電容對(duì)物位信號(hào)采集模塊進(jìn)行標(biāo)定,獲得標(biāo)定數(shù)據(jù),再用最小二乘法對(duì)標(biāo)定數(shù)據(jù)進(jìn)行二次多項(xiàng)式擬合,獲得擬合參數(shù)A=(a1,a2,a3),將擬合參數(shù)寫(xiě)入儀表的EEPROM中。測(cè)量振蕩頻率f,就可以用式(17)計(jì)算接入電容Cx,再用式(12)計(jì)算物位高度h.
文中對(duì)變頻振蕩法應(yīng)用于物位測(cè)量進(jìn)行了研究,闡述了克萊潑(Clapp)振蕩器工作原理,得出諧振電容與振蕩頻率的平方成反比關(guān)系的結(jié)論。對(duì)電容式物位測(cè)量方法及工作原理進(jìn)行了分析,給出了簡(jiǎn)化后的工程應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)公式。設(shè)計(jì)了一種改進(jìn)型電容三點(diǎn)式克萊潑振蕩器測(cè)量頻率電路,諧振頻率信號(hào)經(jīng)放大、分頻后送入MCU中計(jì)數(shù)、測(cè)頻。儀表經(jīng)標(biāo)定、最小二乘法多項(xiàng)式線性擬合后,測(cè)量精度達(dá)到0.5級(jí)表精度要求。該測(cè)量方法在電容、電感測(cè)量,微小距離檢測(cè),物位、液位測(cè)量等工程應(yīng)用中具有借鑒意義。
參考文獻(xiàn):
[1]范松南,蔡萍.取樣積分在射頻導(dǎo)納物位測(cè)量中的應(yīng)用.傳感技術(shù)學(xué)報(bào),2006,19(6):2540-2543.
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[3]袁梅,陳松方,董韶鵬,等.新型射頻電容式物位測(cè)量?jī)x.自動(dòng)化儀表,2011,32(10):75-78.
[4]BARRY R.EISENBERG.Frequency Stability of a Clapp VCO.IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement,VOL.IM-18,NO.3,SEPTEMBER,1969.
[5]WIM van de Kamp.物位測(cè)量理論與應(yīng)用.蔣明生,譯.北京:E+H北京工程培訓(xùn)中心,1996.
作者簡(jiǎn)介:劉虎(1973—),副教授,碩士,主要研究領(lǐng)域?yàn)橹悄軆x表,物聯(lián)網(wǎng)工程。E-mail:jsliuhu@163.com
趙建洋(1963—),教授,博士,主要研究領(lǐng)域?yàn)橹悄茈娋W(wǎng),計(jì)算機(jī)應(yīng)用。E-mail:jszhaojy@163.com