鄭世才

（新立機(jī)器廠，北京 100039）

在ISO 17636—2：2013《焊接件無損檢測(cè)—射線檢驗(yàn)—第2部分：數(shù)字探測(cè)器X 射線和γ射線檢驗(yàn)技術(shù)》標(biāo)準(zhǔn)中，補(bǔ)償規(guī)則作為重要規(guī)定出現(xiàn)，給出了補(bǔ)償規(guī)則理論基礎(chǔ)、補(bǔ)償方法和檢測(cè)圖像質(zhì)量的具體補(bǔ)償規(guī)則。在其他一些數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)中，有的也存在涉及檢測(cè)圖像質(zhì)量補(bǔ)償規(guī)則的規(guī)定。例如，在EN 14784—2：2005《金屬材料CR 檢測(cè)技術(shù)通則》標(biāo)準(zhǔn)的第6.6條中指出，絲型IQI更適宜操作人員通過增大對(duì)比度補(bǔ)償不清晰度限制。補(bǔ)償可通過降低透照電壓或增加曝光時(shí)間增大圖像信噪比實(shí)現(xiàn)。在ASTM E2736—10《數(shù)字探測(cè)器陣列放射學(xué)導(dǎo)則》標(biāo)準(zhǔn)的第10.2.3條中指出，提高信噪比可補(bǔ)償處于邊界的空間分辨力，這時(shí)，更高的對(duì)比度噪聲比可補(bǔ)償較低的空間分辨力。

為了正確理解和應(yīng)用補(bǔ)償規(guī)則，筆者將比較全面地介紹有關(guān)補(bǔ)償規(guī)則的內(nèi)容。

1 ISO 17636－2：2013標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于補(bǔ)償規(guī)則規(guī)定概括

ISO 17636—2：2013標(biāo)準(zhǔn)的第5.2條和第7.3.2條，作出了“補(bǔ)償規(guī)則”規(guī)定，這是目前數(shù)字射線檢測(cè)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于補(bǔ)償規(guī)則作出的具體規(guī)定。對(duì)該規(guī)定進(jìn)行概括，可以看到主要內(nèi)容包括以下幾方面。

1.1 補(bǔ)償規(guī)則目的

補(bǔ)償規(guī)則用于保證達(dá)到充分的對(duì)比度靈敏度。

1.2 三種補(bǔ)償情況

當(dāng)所要求的可檢驗(yàn)的材料厚度差的規(guī)格化對(duì)比度噪聲比未達(dá)到時(shí)，對(duì)下列三種情況，可通過提高信噪比進(jìn)行補(bǔ)償。三種補(bǔ)償情況分別稱為：CPⅠ、CPⅡ、CPⅢ。

CPⅠ：對(duì)比度不足（如由管電壓增高造成），可通過提高信噪比補(bǔ)償。

CPⅡ：探測(cè)器不清晰度大（基本空間分辨力大于規(guī)定值），可通過提高信噪比補(bǔ)償。

CPⅢ：局部不清晰度大（壞像素修正引起的不清晰度增加），可通過提高信噪比補(bǔ)償。

1.3 檢測(cè)圖像質(zhì)量的具體補(bǔ)償規(guī)則

對(duì)于CPⅡ，即檢測(cè)圖像質(zhì)量的具體補(bǔ)償規(guī)則，標(biāo)準(zhǔn)作出了具體規(guī)定。簡(jiǎn)單概括是：如果對(duì)于使用的探測(cè)器系統(tǒng)和曝光條件，雙絲型像質(zhì)計(jì)值未達(dá)到規(guī)定值，可通過增加常規(guī)單絲型像質(zhì)計(jì)值（或階梯孔型像質(zhì)計(jì)值），補(bǔ)償不清晰度引起的對(duì)比度損失。具體規(guī)定內(nèi)容可寫成三條：

1級(jí)補(bǔ)償：提高單絲型像質(zhì)計(jì)值1 級(jí)補(bǔ)償雙絲型像質(zhì)計(jì)值降低1級(jí)。

2級(jí)補(bǔ)償：補(bǔ)償限制在最多提高單絲型像質(zhì)計(jì)值2級(jí)補(bǔ)償雙絲型像質(zhì)計(jì)值降低2級(jí)。

3級(jí)補(bǔ)償：對(duì)特定檢驗(yàn)，在保證缺陷靈敏度下，經(jīng)過合同各方同意，可放松到提高單絲型像質(zhì)計(jì)值3級(jí)補(bǔ)償雙絲型像質(zhì)計(jì)值降低3級(jí)。

1.4 補(bǔ)償規(guī)則的理論基礎(chǔ)

補(bǔ)償規(guī)則基于的是小尺寸缺陷的近似理論公式。

式中：ΔW為小缺陷尺寸，其遠(yuǎn)小于透照工件厚度；SRb為基本基本空間分辨力；SNR為數(shù)字圖像的信噪比；μeff為透照材料的有效衰減系數(shù)；CNRN為規(guī)格化對(duì)比度噪聲比，即按基本空間分辨力規(guī)格化（為88.6μm 的）對(duì)比度噪聲比；C為一常數(shù)。

2 補(bǔ)償規(guī)則的理論基礎(chǔ)公式說明

式（1）可由以下過程推導(dǎo)出來。

對(duì)于輻射探測(cè)器，按一般理論可認(rèn)為，在其性能使用范圍，射線到探測(cè)信號(hào)的轉(zhuǎn)換、探測(cè)信號(hào)到圖像灰度值的轉(zhuǎn)換，都是按線性規(guī)律轉(zhuǎn)換。因此，按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的各符號(hào)意義有：

式中：GV表示灰度信號(hào)；I表示射線強(qiáng)度信號(hào)；σ為噪聲（信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)差）。

按規(guī)格化的規(guī)定，則有

這樣，有

式中：μ為線衰減系數(shù)；n為散射比。

則可寫出

這就是標(biāo)準(zhǔn)給出的公式?？梢?，上面理論公式本質(zhì)上是射線檢測(cè)物體對(duì)比度基本公式。

3 補(bǔ)償規(guī)則具體規(guī)定說明

標(biāo)準(zhǔn)在第7.3.2條對(duì)補(bǔ)償規(guī)則作出了三種情況的具體規(guī)則規(guī)定。其本質(zhì)上是通過增加信噪比提高常規(guī)單絲型像質(zhì)計(jì)值或階梯孔型像質(zhì)計(jì)值，補(bǔ)償超出的不清晰度值引起的對(duì)比度損失。對(duì)此具體規(guī)定可如下理解。

3.1 補(bǔ)償依據(jù)——信噪比與對(duì)比度靈敏度的關(guān)系

上面寫出的對(duì)比度噪聲比與信噪比關(guān)系，不考慮規(guī)格化時(shí)，可簡(jiǎn)化為

對(duì)于某一缺陷檢驗(yàn)，它簡(jiǎn)單地顯示了對(duì)比度噪聲比與信噪比關(guān)系。由于對(duì)比度靈敏度與對(duì)比度噪聲比間存在下面關(guān)系（參見ASTM E2737－10）：

式中：GBV為像質(zhì)計(jì)識(shí)別判定所需要的對(duì)比度噪聲比（例如，對(duì)平板孔像質(zhì)計(jì)，識(shí)別孔需要的值，對(duì)于航空航天應(yīng)用為2.5，見ASTM E2737－10），代入對(duì)比度噪聲比與信噪比關(guān)系，則可得到

可見，對(duì)某一檢驗(yàn)問題，像質(zhì)計(jì)對(duì)比度靈敏度隨信噪比增加而提高（值減?。?。

3.2 三種情況補(bǔ)償規(guī)則的說明

按照射線檢測(cè)技術(shù)的一般理論，檢測(cè)圖像的不清晰度與對(duì)比度雖然是二個(gè)獨(dú)立的質(zhì)量指標(biāo)，但不清晰度對(duì)對(duì)比度存在影響。一般，檢測(cè)圖像的不清晰度對(duì)對(duì)比度的影響關(guān)系如下：

式中：W為細(xì)節(jié)圖像寬度（小于不清晰度）；U為檢測(cè)圖像不清晰度；C0是不清晰度為0時(shí)細(xì)節(jié)圖像的對(duì)比度；C是獲得的細(xì)節(jié)檢測(cè)圖像對(duì)比度。從此基本關(guān)系，細(xì)節(jié)原要求的對(duì)比度與不清晰度關(guān)系可寫為

當(dāng)不清晰度增大為U2時(shí)，細(xì)節(jié)圖像對(duì)比度將變?yōu)?/p>

為使C2＝C1，就必須提高此時(shí)的C0值。如果U2＝kU1，則應(yīng)要求此時(shí)的C0值也提高k倍。即

由于單絲型像質(zhì)計(jì)（或階梯孔型像質(zhì)計(jì)）和雙絲型像質(zhì)計(jì)的金屬絲（或階梯孔型像質(zhì)計(jì)的孔徑）設(shè)計(jì)采用的是同樣的等比數(shù)列，這樣就有了ISO 17636－2：2013標(biāo)準(zhǔn)中的三個(gè)級(jí)別補(bǔ)償規(guī)則，理論上它們可補(bǔ)償超出的不清晰度值引起的對(duì)比度降低，從此保證細(xì)節(jié)（缺陷）的可識(shí)別性。

4 補(bǔ)償規(guī)則應(yīng)用

理解補(bǔ)償規(guī)則是正確應(yīng)用補(bǔ)償規(guī)則的前提。

必須理解的是，標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于補(bǔ)償規(guī)則規(guī)定的核心是，通過提高信噪比補(bǔ)償檢測(cè)圖像不清晰度超過標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定引起的對(duì)比度靈敏度損失。

標(biāo)準(zhǔn)在補(bǔ)償規(guī)則規(guī)定開始的第5.2.1條（總則）中就規(guī)定，“在采用數(shù)字探測(cè)器進(jìn)行射線檢測(cè)的ISO 17636本部分中，應(yīng)用的三條規(guī)則（見5.2.2至5.2.4）是為了達(dá)到充分的對(duì)比度靈敏度?！?。補(bǔ)償規(guī)則是對(duì)檢測(cè)圖像質(zhì)量的補(bǔ)償規(guī)則，是通過增加信噪比提高對(duì)比度值，補(bǔ)償不清晰度值未達(dá)到要求造成的對(duì)比度損失。

提高信噪比后，對(duì)比度靈敏度獲得補(bǔ)償，但檢測(cè)圖像不清晰度不會(huì)發(fā)生改進(jìn)（對(duì)此，嚴(yán)格地說明需要采用射線檢測(cè)技術(shù)系統(tǒng)的線擴(kuò)展函數(shù)，通過卷積計(jì)算，可參考文獻(xiàn)［1－5］）。能夠補(bǔ)償?shù)膬H僅是對(duì)比度靈敏度，也就是說，通過提高信噪比補(bǔ)償后，并不是全面達(dá)到了原規(guī)定的檢測(cè)圖像質(zhì)量。否則，標(biāo)準(zhǔn)完全可以作出同等檢測(cè)圖像質(zhì)量的另外規(guī)定，而不必以“補(bǔ)償規(guī)則”條目作出規(guī)定。

對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)際需要的僅是第7.3.2條關(guān)于補(bǔ)償規(guī)則的具體規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)第5.2條的規(guī)定內(nèi)容，是解釋、說明性內(nèi)容，在以前的ISO 標(biāo)準(zhǔn)中是不會(huì)出現(xiàn)的內(nèi)容。

由于補(bǔ)償后并不是全面達(dá)到了規(guī)定的檢測(cè)圖像質(zhì)量，因此，就存在如何正確應(yīng)用補(bǔ)償規(guī)則的問題。即，如何判定是否可應(yīng)用補(bǔ)償規(guī)則，如何確定可應(yīng)用的補(bǔ)償規(guī)則級(jí)數(shù)。處理的基本原則，應(yīng)是要確保能給出正確的缺陷檢驗(yàn)結(jié)論。即，依據(jù)給出的缺陷檢驗(yàn)結(jié)果，按工件技術(shù)條件可對(duì)工件作出正確的質(zhì)量級(jí)別結(jié)論。

缺陷檢驗(yàn)，至少應(yīng)包括三方面：①顯示存在的缺陷，即顯示出技術(shù)條件限定的不允許存在尺寸的缺陷。②正確顯示缺陷形貌，以正確判斷缺陷性質(zhì)與評(píng)定質(zhì)量級(jí)別。③正確顯示缺陷尺寸：顯示的缺陷尺寸，可達(dá)到技術(shù)條件限定的誤差。

缺陷檢驗(yàn)的這些要求，既與檢測(cè)圖像質(zhì)量的對(duì)比度相關(guān)，也與檢測(cè)圖像質(zhì)量的不清晰度相關(guān)；也就是檢測(cè)圖像質(zhì)量應(yīng)同時(shí)達(dá)到規(guī)定的對(duì)比度和不清晰度要求。圖1顯示的是圖像不清晰度（U）對(duì)檢測(cè)圖像分辨力的影響（圖中D為細(xì)節(jié)寬度與間距）；可見對(duì)較小細(xì)節(jié)，檢測(cè)圖像不清晰度較大時(shí)不能正確顯示細(xì)節(jié)真實(shí)情況。圖2是一實(shí)際裂紋缺陷采用中顆粒膠片（AA400）射線檢測(cè)（RT）和像素尺寸為200μm 的分立輻射探測(cè)器陣列（簡(jiǎn)稱DDA）獲得的檢測(cè)圖像；從圖中可見，二者的裂紋長(zhǎng)度顯示無明顯差異，但二者的裂紋寬度（開裂寬度）顯示存在明顯不同。圖3 是鑄造針孔缺陷采用中顆粒膠片（AA400）射線檢測(cè)（RT）和像素尺寸為200μm 探測(cè)器DDA 獲得的檢測(cè)圖像；從圖中可見，探測(cè)器獲得的檢測(cè)圖像已經(jīng)明顯改變了針孔形貌。它們都說明，檢測(cè)圖像不清晰度影響缺陷形貌和尺寸的顯示。

圖1 不清晰度對(duì)細(xì)節(jié)識(shí)別的影響（參見ASTM E1441）

圖2 裂紋缺陷顯示比較

美國(guó)材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)ASTM E1441－00《CT 成像導(dǎo)則》標(biāo)準(zhǔn)第8.5.3條指出，缺陷僅是可檢驗(yàn)經(jīng)常是不充分的，必須同時(shí)可檢驗(yàn)、可分辨（features must be discriminated（detected and resolved））。ASTM E2698—10《使用數(shù)字探測(cè)器陣列的射線檢測(cè)方法》標(biāo)準(zhǔn)第10.19.2.3條規(guī)定，如果數(shù)字探測(cè)器陣列檢測(cè)系統(tǒng)獲得的檢測(cè)圖像不清晰度達(dá)不到要求，則該系統(tǒng)不適宜用于檢測(cè)工作。ISO 17636—2：2013標(biāo)準(zhǔn)的第7.7條也明確規(guī)定，為解決數(shù)字探測(cè)器（系統(tǒng)）像素尺寸較大問題，可采用性能好的DDA 探測(cè)器增加信噪比和／或采用幾何（透照）放大。如果這兩種措施仍不能使像質(zhì)計(jì)靈敏度（包括常規(guī)像質(zhì)計(jì)和雙絲像質(zhì)計(jì)）達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，則數(shù)字檢測(cè)技術(shù)系統(tǒng)不能用于檢測(cè)工作。標(biāo)準(zhǔn)的這些規(guī)定，都是在明確必須保證檢測(cè)圖像質(zhì)量的不清晰度。因此，在應(yīng)用補(bǔ)償規(guī)則時(shí)，必須考慮對(duì)缺陷檢驗(yàn)的影響，必須考慮對(duì)質(zhì)量級(jí)別評(píng)定的影響，避免因此可能出現(xiàn)的錯(cuò)誤判斷。

圖3 鑄造針孔缺陷顯示比較

為此，在確定應(yīng)用補(bǔ)償規(guī)則前，應(yīng)注意分析工件材料、加工工藝、結(jié)構(gòu)特點(diǎn)決定的缺陷特點(diǎn)，分析工件技術(shù)條件規(guī)定檢驗(yàn)缺陷特點(diǎn)。如果需要檢驗(yàn)的缺陷，與不清晰度無緊密關(guān)系，則可按情況采用1級(jí)補(bǔ)償或2級(jí)補(bǔ)償。如果質(zhì)量級(jí)別評(píng)定與缺陷形貌特點(diǎn)密切相關(guān)，則應(yīng)慎重采用補(bǔ)償規(guī)則，特別是放松到2級(jí)補(bǔ)償時(shí)。從標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定可以認(rèn)為，采用3級(jí)補(bǔ)償應(yīng)是特殊情況的處理，一般都應(yīng)經(jīng)過實(shí)際缺陷檢驗(yàn)的驗(yàn)證試驗(yàn)。補(bǔ)償規(guī)則應(yīng)用還需要積累經(jīng)驗(yàn)。

［1］王之江，伍樹東.成像光學(xué)［M］.北京：科學(xué)出版社，1991.

［2］J.D.加斯基爾.線性系統(tǒng)· 傅里葉變換·光學(xué)［M］.封開印，譯.北京：人民教育出版社，1981.

［3］麥偉麟.光學(xué)傳遞函數(shù)及其數(shù)理基礎(chǔ)［M］.北京：國(guó)防工業(yè)出版社，1979.

［4］母國(guó)光，戰(zhàn)元齡.光學(xué)［M］.北 京：高等 教育出版社，2009.

［5］鄭世才.數(shù)字射線無損檢測(cè)技術(shù)［M］.北京：機(jī)械工業(yè)出版社，2012

（未完待續(xù)）