王婷婷,李松麗,許 蕾,張 俊
(上海市質(zhì)量監(jiān)督檢驗技術(shù)研究院,上海 201114)
硅晶材料價格昂貴,而硅薄膜材料用料少(硅晶片<200μm,硅薄膜<5μm,材料用料不到硅晶片的5%)。因此,自2006年起硅薄膜太陽能電池[1-2]吸引了許多研究人員與廠家的關(guān)注。在轉(zhuǎn)換效率上,商用非晶硅薄膜模組的極限約為7%,而多結(jié)型硅薄膜太陽能電池模組[3-4]能夠超過10%,使得多結(jié)型硅薄膜太陽能電池已成為市場主流。圖1為雙層堆疊型太陽能電池的元件結(jié)構(gòu)。在TCO玻璃基板上先制作非晶硅薄膜,接著制作高摻雜濃度的界面層后制作微晶硅薄膜與電極。
圖1 多結(jié)型硅薄膜太陽能電池結(jié)構(gòu)圖
高效率多結(jié)型硅薄膜元件結(jié)構(gòu)設(shè)計中最重要的關(guān)鍵點是需要各層電池的短路電流密度接近,稱為電流匹配。但是檢測各層電池的短路電流密度是十分困難的,無法使用一般的電流-電壓曲線儀測得各層電池的電流。光譜響應(yīng)/量子效率光譜檢測技術(shù)是目前唯一能獨立量測出各層電池短路電流密度的技術(shù)。
本文將先介紹量子效率的測量原理,然后再探討光譜響應(yīng)/量子效率在多結(jié)型硅薄膜太陽能電池中工藝改善上的具體應(yīng)用。
光譜響應(yīng)(spectral responsivity,SR)[5-8]是評價光電探測器件(如光偵測器、光度計、太陽能電池等)光電轉(zhuǎn)換能力的指標,也就是入射光子與電子轉(zhuǎn)換的效率(incident photon-electron conversion efficiency,IPCE)。例如,太陽能電池是一種將光能轉(zhuǎn)換為電能的光電器件,所以光譜響應(yīng)也是評價其轉(zhuǎn)換效率的重要指標。
光譜響應(yīng)SR(λ)可以表述為
式中:P(λ)——各波長入射光的能量,W;
I(λ)——太陽能電池接收到入射光后轉(zhuǎn)換成的電流,A。
其物理意義為:太陽能電池接受1W的光能可產(chǎn)生多少安培電流的能力,如圖2所示??梢园l(fā)現(xiàn),光譜響應(yīng)、入射光的能量和轉(zhuǎn)換的電能均為波長的函數(shù)。
光譜響應(yīng) 亦可稱為量子效率(quantum efficiency,QE)[9-11]或IPCE。將波長為λ的入射光能量轉(zhuǎn)換成光子數(shù)目,而電池產(chǎn)生、傳遞到外部電路的電流換算成電子數(shù),則光譜響應(yīng)可表示成每一個入射的光子能夠轉(zhuǎn)換成傳輸?shù)酵獠侩娐返碾娮拥哪芰?,稱為量子效率,單位以百分比來表示,如圖3所示。這也可稱為入射光子-電子轉(zhuǎn)換效率IPCE。
光譜響應(yīng)SR(λ)與量子效率QE(λ)的換算可寫成下式:
式中:q——電子電量;
?——普朗克常數(shù);
ν——光子頻率;
λ——入射光波長,nm。
改寫式(2)即可得量子效率 QE(λ)
量子效率反映了太陽能電池對不同波長的光電轉(zhuǎn)換效率,而太陽能電池轉(zhuǎn)換效率的好壞,受到了電池本身材料、工藝、結(jié)構(gòu)等因素影響,使其在不同波長具有不同的轉(zhuǎn)換效率。利用量子效率技術(shù)來檢測、分析電池在不同條件下轉(zhuǎn)換效率的變化,可以分析出工藝的優(yōu)劣,并找出提高電池效率的關(guān)鍵因素。
圖2 太陽能電池光譜響應(yīng)/量子效率/IPCE原理示意圖
圖3 光譜響應(yīng)與量子效率的轉(zhuǎn)換
使用光譜響應(yīng)/量子效率光譜技術(shù)可測出太陽能電池各層的短路電流密度。當(dāng)兩個子電池串聯(lián)時,總輸出電流是由較小電流的電池來決定,從而可知目前電池的電流由哪個子電池來控制,及要提高整體效率要針對哪一個子電池的制程進行改善。
圖4 非晶硅-微晶硅多結(jié)型硅薄膜太陽能電池上層電池與下層電池的光譜響應(yīng)/量子效率光譜
圖4是利用光譜響應(yīng)/量子效率光譜技術(shù)量測非晶硅-微晶硅多結(jié)型硅薄膜太陽能電池各層的光譜響應(yīng)/量子效率光譜,此光譜對AM1.5G標準太陽光譜做計算可以得到各層的短路電流密度。上層電池(非晶硅層)與下層電池(微晶硅層)的短路電流密度分別為11.94mA/cm2及9.98mA/cm2,因此整體電池的輸出電流密度是由下層的微晶硅電池來決定。若是利用太陽光模擬器與電流-電壓曲線儀,僅能得到一個輸出電流密度,無法知道各層電池的好壞,更無法訂定明確的制程改善方向與目標。
以圖4的結(jié)果為例,利用光譜響應(yīng)/量子效率光譜技術(shù)測出該電池的下層微晶硅電池限制了整體電池的輸出電流,因此可以將制程改善的方向放在下層微晶硅電池的制程,來提高微晶硅電池的轉(zhuǎn)換效率,使得上、下層電流密度匹配,即可提高整體效率,無需再設(shè)計更多的實驗條件來驗證是何層電池限制了整體電池效率,可大幅提升制程開發(fā),效率改進的時程與成本。
圖5 標準雙層堆疊型電池結(jié)構(gòu)及增加中間層ZnO作為光線捕捉的結(jié)構(gòu)
任何在多結(jié)型太陽能電池制程上參數(shù)的改變,均可由光譜響應(yīng)/量子效率光譜測試得知而改善。以非晶硅-微晶硅多結(jié)型太陽能電池為例,假設(shè)上層電池的電流密度小于下層電池的電流密度,輸出電流密度由上層電池來決定。若要調(diào)整上下層電池彼此的電流密度,以達到接近1∶1最佳的電流密度匹配條件,可由電池的結(jié)構(gòu)來著手。例如,為增加上層電池的電流密度,可以在上下層電池間增加一層中間反射層如ZnO,將原本會穿透上層非晶硅電池的光部分反射回上層電池中,形成光線捕捉功能,提升上層電池的電流密度。圖5即為在標準雙層非晶硅-微晶硅多結(jié)型太陽能電池中有無增加中間層ZnO作為光線捕捉的結(jié)構(gòu)的異同。
圖6為這兩種結(jié)構(gòu)的光譜響應(yīng)/量子效率光譜測試的結(jié)果。由圖6可以觀察到增加了ZnO層后,上層非晶硅電池在500~700nm波段效率顯著提升,如所預(yù)期的ZnO達到了光線捕捉的功能,也使上層非晶硅電池的短路電流密度增加。由于500~700nm波段的光被捕捉在上層電池,使得進到下層電池的500~700 nm波段的光線減少,因此下層微晶硅電池在此波段的電流密度降低,以致短路電流密度下降。因此,可以調(diào)整ZnO層的條件,并利用光譜響應(yīng)/量子效率光譜來作為結(jié)果的檢測,將上下層電池在短路電流密度上調(diào)整的更佳匹配,以提升整體電池的輸出效率。
圖6 增加ZnO中間層制程前后的光譜響應(yīng)/量子效率光譜
本文主要針對在高效率多結(jié)型硅薄膜元件結(jié)構(gòu)設(shè)計中各層短路電流無法被測出這一困難,探討了光譜響應(yīng)/量子效率光譜測試技術(shù)在這方面的應(yīng)用。該項技術(shù)使電池各層在短路電流密度上達到最佳匹配從而改進制程,提高電池的效率,并可作為計量測試中電池片的標定。
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