徐宇亮等

摘要：對(duì)復(fù)雜電子設(shè)備進(jìn)行可靠性評(píng)估時(shí)，針對(duì)退化特征量難以確定和試驗(yàn)樣本數(shù)目有限這兩方面的困難，提出了一種基于虛擬樣本加速退化試驗(yàn)（ADT）的電子設(shè)備可靠性評(píng)估新方法。將相對(duì)貼近度的概念引入到退化監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)的處理中，以相對(duì)貼近度為退化特征量，并對(duì)原始樣本進(jìn)行虛擬增廣，同時(shí)對(duì)增廣樣本數(shù)據(jù)加以修正處理，從而形成電子設(shè)備各應(yīng)力下的退化軌跡。將該方法與傳統(tǒng)的可靠性預(yù)測(cè)方法相結(jié)合，有效地解決了加速退化試驗(yàn)中極少樣本數(shù)據(jù)的處理問題。實(shí)例分析表明：電子設(shè)備的預(yù)測(cè)壽命與出廠時(shí)標(biāo)定使用壽命的誤差為5.93%，86.27%的樣品設(shè)備使用壽命超過9 a，說明該方法可行、有效，并大大提高了試驗(yàn)的效費(fèi)比。