文/張長征
工藝管道焊縫γ射線透照技術(shù)的應(yīng)用
文/張長征
基于γ射線探傷設(shè)備與普通X射線機(jī)相比具有以下優(yōu)點(diǎn):穿透能力強(qiáng),探測厚度大;體積小,重量輕,不需要能源,特別適用于高空作業(yè)和在用設(shè)備的探傷;工作效率高,對環(huán)縫和球罐可進(jìn)行周向曝光和全景曝光;設(shè)備故障率低,無易損件;可以連續(xù)運(yùn)行,且不受溫度、壓力、磁場等外界條件的影響。因此在大型裝置工程施工中,γ射線探傷具有更廣泛的應(yīng)用。但材料的選用、透照方法和曝光參數(shù)直接影響射線照相的底片質(zhì)量和工作效率。為滿足γ射線透照工藝的技術(shù)要求,在沙特RABIGH煉廠施工過程中,我們根據(jù)ASME SECⅤ標(biāo)準(zhǔn),對γ射線探傷做了一些探討和研究,總結(jié)出γ射線透照管道焊縫的一些技術(shù)要求。
(一)射線源的選用
須選用Ir-192或Se-75,當(dāng)工件厚度大于Ir-192或Se-75的透照能力時(shí)可采用Co-60。
(二)膠片
膠片的選用應(yīng)按照SE-1815《工業(yè)射線照相膠片體系的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法》規(guī)定的Ⅰ級、Ⅱ級膠片,公稱直徑≦8的焊縫須使用Ⅰ級的膠片。膠片處理可采用手工或自動處理,膠片處理應(yīng)符合SE-94《射線照相試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)方法指南》第Ⅲ部分的要求。
(三)增感屏
當(dāng)使用增感屏?xí)r,須采用鉛箔增感屏。當(dāng)使用Ir-192和Se-75時(shí),前屏厚度≥0.13 mm,當(dāng)采用Co-60時(shí),前屏厚度≥0.25 mm。
(四)像質(zhì)計(jì)
可采用DIN、ISO或ASTM系列的線型像質(zhì)計(jì)。像質(zhì)計(jì)靈敏度值指數(shù)應(yīng)符合ASME SECⅤ標(biāo)準(zhǔn)的要求。
像質(zhì)計(jì)的放置和數(shù)量要求:
1.像質(zhì)計(jì)應(yīng)首選放置在射線源側(cè)。
2.當(dāng)像質(zhì)計(jì)無法放在射線源側(cè)時(shí),可放在膠片側(cè)。
3.像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)工件表面上時(shí),應(yīng)附加“F”鉛標(biāo)記,以示區(qū)別。
4.雙壁單影或單壁單影透照時(shí),當(dāng)?shù)灼行чL度>127 mm(5 inch)時(shí),須放置兩個(gè)像質(zhì)計(jì),一個(gè)放置在距離底片有效長度邊緣25.4 mm處,另一個(gè)放置在有效長度中心位置;當(dāng)?shù)灼行чL度≤127 mm(5 inch)時(shí),須在底片有效長度中間放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。
5.周向曝光時(shí),至少放四個(gè)像質(zhì)計(jì),像質(zhì)計(jì)之間的間隔為90°。
6.雙壁雙影透照時(shí),每張底片上應(yīng)放置一個(gè)像質(zhì)計(jì)。
(五)“B”標(biāo)記
背部散射線及無用射線應(yīng)采用常規(guī)方法屏蔽。為驗(yàn)證背部散射線的影響,應(yīng)使用“B”字暗盒。若在底片上出現(xiàn)B的較淡的影像,就說明背散射防護(hù)不良,應(yīng)予重照。若底片上未顯示“B”字或顯示較黑的“B”字,則不作為底片質(zhì)量判廢的依據(jù)?!癇”標(biāo)記高度≤13 mm(0.5 inch),厚度≤1.5 mm(0.062 5 inch)。
(六)識別標(biāo)記
識別標(biāo)記應(yīng)包括工程編號、工程單元編號、線號(圖紙編號)和焊縫編號、焊工編號,管徑規(guī)格、厚度,透照日期等。
(一)透照方法的選用
應(yīng)優(yōu)先選用單壁透照技術(shù),當(dāng)單壁透照不能實(shí)現(xiàn)時(shí),可采用雙壁透照技術(shù)。單壁透照技術(shù)包括中心透照、單壁外照和內(nèi)照偏心,雙壁透照技術(shù)包括雙壁雙影、雙壁單影和垂直透照。
(二)幾何不清晰度(UG)要求
透照厚度t<50.8 mm(2 in.),最大幾何不清晰度為0.500 mm(0.020 in inch);透照厚度50.8 mm≤t≤76.2 mm(2in.≤t≤3in.),最大幾何不清晰度為0.760 mm(0.030 in inch);透照厚度76.2 mm<t≤106.1 mm(3in.<t≤4in.),最大幾何不清晰度為1.010 mm(0.040 in.);透照厚度 106.1 mm<t(4 in.<t≤4 in.),最大幾何不清晰度為1.780 mm(0.070 in.)。
射線源焦點(diǎn)到工件表面的最小距離D應(yīng)滿足下式要求:
D=(Ft/Ug)+t
式中:D=源焦點(diǎn)至被檢工件或焊縫射線源側(cè)表面的距離;
F=射線源尺寸,它是射線源至被透照焊縫或工件的距離D的垂直平面上的最大投影尺寸;
T=焊縫或工件的射線源側(cè)至膠片的距離;
Ug=幾何不清晰度最大限值。
當(dāng)以γ射線透照并作單片觀察時(shí),底片黑度值最少應(yīng)為2.0,最大應(yīng)為4.0??梢酝ㄟ^制作焦距F等于10in.γ源的曝光曲線,當(dāng)焦距改變時(shí)利用曝光因子A1t1/F12=A2t2/ F22求出對應(yīng)的曝光量。當(dāng)選用其他類型的膠片時(shí),可根據(jù)兩種膠片特性曲線按達(dá)到同一黑度時(shí)的曝光量之比來修正曝光量。表達(dá)式為E’A/E’B=EA/EB
式中E’A、E’B——實(shí)際透照時(shí)A型和B型膠片達(dá)到的黑度D的曝光量;
EA、EB——特性曲線上A型和B型膠片達(dá)到的黑度D的曝光量。
可采用自動沖洗或手工沖洗方式處理,推薦采用自動沖洗方式處理,應(yīng)按照膠片使用說明書的規(guī)定執(zhí)行。
掌握了如何選用射線照相材料、透照方法和曝光量,就能透照出質(zhì)量合格的底片。在沙特RABIGH煉廠施工過程中,我們運(yùn)用上述透照技術(shù)實(shí)現(xiàn)了底片暗室自動處理,底片一次合格率達(dá)到99.6%。在檢測過程中,應(yīng)結(jié)合現(xiàn)場實(shí)際充分考慮底片幾何不清晰度、透照方法、透照次數(shù)和曝光量,以確保底片透照一次合格率,并最大限度地降低工程成本。
(作者單位:濮陽市方正工程技術(shù)服務(wù)有限公司)