陳利安,肖明清,禹 航
(空軍工程大學(xué)自動(dòng)測試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室,710038)
空空導(dǎo)彈是現(xiàn)代空戰(zhàn)中最重要的武器之一。它必需通過導(dǎo)發(fā)架發(fā)射,因此,導(dǎo)發(fā)架功能的好壞會直接影響空空導(dǎo)彈能否正常發(fā)射,進(jìn)而可能影響戰(zhàn)局。某型導(dǎo)發(fā)架內(nèi)部的115V三相400Hz電源,用以給某型導(dǎo)彈供電。電源性能的好壞,將直接影響導(dǎo)彈能否正常工作。相序不正確,將可能導(dǎo)致陀螺轉(zhuǎn)向改變,造成嚴(yán)重后果[1]。因此,測試導(dǎo)發(fā)架電源的性能有重要意義。
在以往測試中,各相電壓主要利用萬用表測試,相序需要用示波器測量,測試頻率需要用計(jì)數(shù)器,需要的測試資源多,測試效率低,且不能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測試。文中利用C8051F410設(shè)計(jì)了一種三相鑒相電路板,分別測試其內(nèi)部電源的相序、各相電壓和各相頻率;并能將測試結(jié)果通過RS422通訊方式發(fā)送給上位機(jī)。經(jīng)驗(yàn)證,誤差在2%以內(nèi),測試精度高,且提高了測試效率。
某型發(fā)射架中的三相電源,標(biāo)準(zhǔn)幅值為115V(有效值),頻率為400Hz,相角相差120°。設(shè)此三相電源的數(shù)學(xué)表達(dá)式為:
其中:Qmax為最大幅值;ω為角頻率。各項(xiàng)指標(biāo)如下[1]:
1)各相電壓幅值(有效值):110V、120V;
2)頻率:395~405Hz;
3)相序要求是正序(A→B→C)。
系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)如圖1所示。待測三相電源通過繼電器引入,分成3組,分別測試電壓、頻率和鑒別相序。上位機(jī)與單片機(jī)(C8051F410)之間采用RS422方式通訊。為簡化電路設(shè)計(jì),所選用的單片機(jī)內(nèi)部集成AD轉(zhuǎn)換器。
圖1 系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)框圖
根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求,單片機(jī)采用Silicon Labs公司的C8051F410。它是完全集成的低功耗混合信號片上系統(tǒng)型MCU,支持非侵入式的在系統(tǒng)調(diào)試接口,12位200ksps的24通道ADC,帶模擬多路器開關(guān)和增強(qiáng)型UART等[2],為方便本系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
真有效值轉(zhuǎn)換芯片選用ANALOG DEVEICES公司的 AD536AKN,它是一種交直流轉(zhuǎn)換芯片。在±15V電源供電時(shí),轉(zhuǎn)換后的直流電壓范圍是 0~7V[3]。
與上位機(jī)通訊采用RS422通訊方式,RS422芯片選用 MAX485[4]。
2.2.1 分壓電路
在以往的測試中,主要利用萬用表,示波器、計(jì)數(shù)器等測量,可不經(jīng)過分壓,直接測試,但是不利于組建自動(dòng)測試系統(tǒng)。由于AD536AKN的電壓轉(zhuǎn)換范圍限制,應(yīng)在交直流轉(zhuǎn)換前作分壓處理。采用的分壓電路如圖2所示。
圖2 分壓電路
R1、R2選用高精度電阻,減少誤差。R1選220kΩ,R2選10kΩ,設(shè)合格電壓為 Vs,待測電壓為Vx,在輸出端得到的電壓值為:
由于AD536AKN的直流電壓轉(zhuǎn)換范圍是0~7V,因此,可測Vx的范圍是0~147V,包含合格電壓Vs。
2.2.2 交直流轉(zhuǎn)換電路
用分壓電路的輸出作為本級輸入,采用AD536AKN的標(biāo)準(zhǔn)連接電路,如圖3所示。其中R3是可調(diào)電阻。轉(zhuǎn)換后的值輸出到C8051F410的IO口,本設(shè)計(jì)中選擇 C8051F410 的 P0.0~P0.2。
圖3 交直流轉(zhuǎn)換電路
調(diào)整輸入電阻R3,在115V輸入時(shí),使Vin端輸入電壓為4V。在本系統(tǒng)中,選擇參考電壓為+5V,根據(jù)電路的線性性:
因此,可測Vx的范圍是0~143.75V。滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)要求。
2.2.3 相序判定電路
某導(dǎo)發(fā)架內(nèi)部三相電源如圖4所示,各相分別為正弦周期信號。
圖4 某導(dǎo)發(fā)架內(nèi)部三相電源示意圖
相序判定主要利用的器件是比較器和D觸發(fā)器,結(jié)果正確時(shí),輸出低電平,同時(shí)LED燈點(diǎn)亮。結(jié)果錯(cuò)誤時(shí),輸出高電平,LED不點(diǎn)亮。如圖5所示。
相序正確時(shí),A、B、C待測三相經(jīng)過比較器后,形成脈沖序列如圖6所示。
圖5 相序判定電路
圖6 相序正確時(shí)序圖
根據(jù)D觸發(fā)器的狀態(tài)轉(zhuǎn)移特性,在時(shí)鐘信號CLK為低電平時(shí),D觸發(fā)器的輸出端 Q保持不變,當(dāng)CLK為高電平時(shí),它的轉(zhuǎn)移特性如圖7所示[5]。
時(shí)鐘信號為B相,當(dāng)相序正確時(shí),由圖5可看出,經(jīng)或非門(U12A)輸出為低電平。
若相序錯(cuò)誤,如B相與C相順序錯(cuò)誤,則表達(dá)式變?yōu)椋?/p>
圖7 鐘控D觸發(fā)器狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖
經(jīng)過比較器后,產(chǎn)生的時(shí)序如圖8所示。
圖8 相序錯(cuò)誤時(shí)序圖
2.2.4 測定頻率
頻率測試點(diǎn)從比較器的輸出端引出,直接連接至C8051F410的IO口,利用MCU內(nèi)部計(jì)數(shù)器測量。本設(shè)計(jì)中,選擇 P0.6 和 P0.7。
軟件流程如圖9所示。系統(tǒng)開機(jī)進(jìn)入等待命令模式,握手成功后,可接收主機(jī)發(fā)送的命令選擇測量電壓、監(jiān)測相序和測量頻率。
在實(shí)際電路中,A相、B相和C相進(jìn)行交直流轉(zhuǎn)換后,分別連接至單片機(jī)的P0.0~P0.2口。在C8051F410內(nèi)部進(jìn)行AD轉(zhuǎn)換,將轉(zhuǎn)換后值換算成實(shí)際值。參考電壓選用C8051F410內(nèi)部參考電壓5V,因此調(diào)整圖4交直流轉(zhuǎn)換電路中的R3,使輸出電壓為4V。
在這個(gè)過程中,最重要的工作是如何將單片機(jī)中AD采集到的值與實(shí)際值對應(yīng)起來,在本設(shè)計(jì)中采用的方法是分區(qū)間設(shè)定轉(zhuǎn)換系數(shù)的辦法。
轉(zhuǎn)換系數(shù)的依據(jù)是利用電路的線性性。本電路的工作在常溫狀態(tài)下,因此系數(shù)在常溫下測得。具體方法是:
1)首先給本電路板輸入不同的電壓值,用精確電壓表測得電壓,記錄在矩陣M中。
2)在交直流轉(zhuǎn)換的輸出端測得對應(yīng)電壓,記錄在矩陣N中,以下是示例,在實(shí)際應(yīng)用中應(yīng)增加取樣數(shù),提高精度。
M=[110.0111.2113.9115.3118120.6 122.3];N=[3.83 3.87 3.96 4.02 4.11 4.20 4.26]。
3)用矩陣M中的值除以對應(yīng)N矩陣中的值,得到矩陣Q:
Q=[28.70 28.70 28.74 28.68 28.69 28.7128.70]
4)對矩陣Q分區(qū)間,求得各區(qū)間的平均值矩陣R。
在實(shí)際程序中,分為100~110;110~113;113~117;117~120;120~125共5個(gè)區(qū)間。若測出值不在此區(qū)間內(nèi),直接回錯(cuò)誤代碼0xFF。利用在此條件下得到的N矩陣作為程序判斷區(qū)間的依據(jù),由此得到系數(shù)矩陣。在單片機(jī)AD轉(zhuǎn)換后,先判斷區(qū)間,乘以相應(yīng)的轉(zhuǎn)換系數(shù),就可得到實(shí)際值。
圖9 軟件流程
測頻率時(shí)用到兩個(gè)定時(shí)器,定時(shí)器1定時(shí),定時(shí)器2計(jì)數(shù)。使定時(shí)器1中斷,取出定時(shí)器2中的數(shù)值保存,并清空定時(shí)器2。為提高測試精度,采用多次測量求平均值辦法,將每5s鐘測量出的5個(gè)值平均,減小誤差,各相頻率依次測量,每相分配時(shí)間30s。
相序判定已經(jīng)由硬件實(shí)現(xiàn),在軟件中要做的是直接讀IO口,高電平表示相序錯(cuò)誤,低電平表示相序正確。
采用RS-422通訊,它是一種平衡傳輸規(guī)范,數(shù)據(jù)信號采用差分傳輸方式[6]。在本設(shè)計(jì)中,定義了上位機(jī)發(fā)送命令字格式和鑒相板回發(fā)字格式。
文中所述設(shè)計(jì)已投入實(shí)際應(yīng)用,結(jié)果表明,幅值誤差在2%以內(nèi),頻率誤差在0.5%以內(nèi),相序測量正確,結(jié)果可信。提高了測試效率,有利于組建自動(dòng)測試系統(tǒng)。
[1]肖明清.某型導(dǎo)彈系統(tǒng)引論[M].西安:空軍工程大學(xué)工程學(xué)院,2007.
[2]Silicon Labs.C8051F410技術(shù)手冊[OL/M].http://download.csdn.net/tag/c8051f/orderbypubdate/28.
[3]ANALOG DEVICES.True RMS-to-DC Converter AD536A 技術(shù)手冊[OL/M].http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/analogdevices/320060823AD536A_b.pdf
[4]MAXIM.MAX485技術(shù)手冊[OL/M].http://www.waveshare.net/datasheet_pdf/MAX485-PDF.html.
[5]IEEE.422 通訊規(guī)范[OL/S].http://standards.ieee.org/.2011.
[6]王毓銀.數(shù)字電路邏輯設(shè)計(jì)(脈沖與數(shù)字電路)[M].3版.北京:高等教育出版社,2002.