聶 炯
(山東核電設備制造有限公司,海陽 265118)
AP1000是美國西屋公司開發(fā)的第三代壓水堆核電技術。與二代核電技術相比,其在安全設計上體現了諸多先進性,而核反應堆鋼制安全殼(以下簡稱CV,如圖1)作為三代核反應堆系統(tǒng)的一道重要安全屏障,其對接焊縫的焊接質量便顯得極其重要。
圖1 安全殼實物圖
筆者參與了三門現場底封頭焊接的全部NDE工作。三門1號CV底封頭的厚度為41.3mm,整個底封頭按照相關規(guī)范和驗收標準需進行100%的X射線檢測[1],按長度計算大約需要拍片2751張。但據不完全統(tǒng)計,由于現場條件及人為因素的限制,實際拍片數量達4000張。其中,由于偽缺陷的存在而造成的重拍片有800張之多。這些偽缺陷的產生一方面嚴重影響了整個檢測工作質量及三代核電的建設進程,另一方面造成了大量廢片,也是不可忽視的經濟損失。實際評片過程中因為存在偽缺陷而造成的廢片如圖2所示。
由于膠片本身質量、膠片保管、剪切、裝取、暗室操作處理不當,以及操作者其他操作不慎等原因,在底片上留下可辨別的影像,但并非是被檢驗工件缺陷在底片上留下的影像,被稱為偽缺陷[2]。通過對這些存在偽缺陷的底片進行分析,筆者簡單地將其產生過程分為底片沖洗前、底片沖洗中、底片沖洗后。
圖2 X射線膠片偽缺陷示意圖
此類偽缺陷主要有:感光層涂布不均造成黑白邊塊;膠片片基劃傷造成底片劃痕;運輸過程中由于擠壓使膠片局部增感,形成黑白斑;膠片受潮發(fā)脹使得表面起皺,使底片出現類似水波的黑條紋;靜電及意外漏光造成的偽缺陷;膠片裝入暗袋時產生劃痕。
此類偽缺陷的產生很大程度上取決于人為因素,有效避免此類偽缺陷的最佳途徑就是從各個環(huán)節(jié)嚴格把關,如選擇質量信譽度高的膠片生產廠家,保持膠片存放環(huán)境的溫度、濕度及避光條件適宜等。
因為安全殼的射線檢測是現場作業(yè),并且是在南方,雨水多,濕度比較大,造成偽缺陷的因素很多,如沙粒和塵土進入暗袋后對增感屏和膠片造成磨損,形成不可補救的劃痕;在濕熱環(huán)境中曝光時間太長使膠片受潮,局部溶脹造成底片波狀水?。滑F場布片與機頭未對正造成白頭等。
對于這種偽缺陷應該根據具體情況采取必要的措施,如經常對暗袋及增感屏進行擦拭,盡量減少在下雨天進行射線檢測作業(yè),在整個容器點焊之前事先對容器兩面劃線來確定布片位置等。
因為在這800張有偽缺陷的底片中,增感屏的偽缺陷占有很大的比例,在此重點分析增感屏偽缺陷的特點:由于增感屏的損壞或污染使局部增感性能改變而在底片上留下的影像稱為增感屏偽缺陷。增感屏上的裂紋或劃傷會在底片上造成黑絲偽缺陷影像,而增感屏上的污物會在底片上造成白色影像。增感屏引起的偽缺陷在底片上的形狀和部位與增感屏完全一致。當增感屏重復使用時,偽缺陷會重復出現。因此RT人員有必要經常檢查增感屏,及時淘汰損壞了的增感屏。
底片沖洗中產生的偽缺陷一般是在暗室處理中容易出現的偽缺陷,如拆裝底片時產生的劃痕、靜電感光、顯影液沾染、定影液沾染、顯影時抖動過激造成底片兩邊的磨痕、晾片時干燥過快形成水跡、使用自動干片機時產生的水跡及滾輪印記等。劃痕一般借助反射光進行觀察,能看到藥膜上有明顯的劃傷痕跡;靜電感應以樹枝狀顯示最多,也有點狀和冠狀的,影像比較特別,很容易識別;顯影液沾染是膠片在顯影操作之前沾染了顯影液,會形成點狀、線狀或片狀的黑影;定影液沾染是膠片在顯影操作之前沾染了定影液,會形成點狀、條狀或片狀的白影;抖動過激會使得底片兩邊存在黑線;水流過的痕跡是一條黑線或黑帶,水滴最終停留的痕跡是黑點或弧線等。
使用有工作經驗且培訓合格的暗室處理人員是減少此類偽缺陷的最好辦法。需要整理暗室工作環(huán)境,使之干凈有序,切片、拆裝過程中拿膠片時要慢、穩(wěn),洗片之前不讓片子沾染污染物,顯影時抖動膠片要勻速、慢速等,最好在自然環(huán)境下晾干底片,使用自動干片機時先試用廢片以檢查干片效果等。
底片沖洗之后出現的偽缺陷常發(fā)生在評片及儲存底片的過程中。評片時由于拿片不注意會留下指紋或產生劃傷等,底片裝袋儲存過程中會產生折痕、劃痕等。經過多道工序拍好的片子在此時出現偽缺陷是最令人遺憾的,然而這時產生的偽缺陷也是最容易控制的,如拿片時戴柔軟手套,和底片一塊存放的報告不能裝訂等。
事實證明,偽缺陷是可以被有效避免的。要想更好地防止偽缺陷,關鍵需要操作人員、評片人員提高工作技能,強化認真負責的工作態(tài)度。相信因偽缺陷而報廢的底片,在經過RT人員的仔細反思及改進后,在以后的工作過程中會大大減少。
[1]ASME鍋爐及壓力容器規(guī)范—2004 ASME鍋爐及壓力容器委員會無損檢測分委員會[S].
[2]強天鵬.射線檢測[M].北京:全國鍋爐壓力容器無損檢測人員資格考核委員會,1998.