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Si3N4/TiC納米復(fù)合陶瓷材料R曲線行為

2012-09-04 11:42:08呂志杰
材料工程 2012年7期
關(guān)鍵詞:增韌壓痕晶粒

呂志杰,趙 軍

(1山東大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,濟南250061;2山東建筑大學(xué)機電工程學(xué)院,濟南250101;3山東大學(xué)機械工程學(xué)院高效潔凈機械制造教育部重點實驗室,濟南250061)

Si3N4/TiC納米復(fù)合陶瓷材料R曲線行為

呂志杰1,2,3,趙 軍3

(1山東大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院,濟南250061;2山東建筑大學(xué)機電工程學(xué)院,濟南250101;3山東大學(xué)機械工程學(xué)院高效潔凈機械制造教育部重點實驗室,濟南250061)

在微米Si3N4基體中加入亞微米Si3N4及納米TiC顆粒,熱壓燒結(jié)制備出力學(xué)性能良好的Si3N4/TiC納米復(fù)合陶瓷材料。采用壓痕-彎曲強度法測定了復(fù)合材料的裂紋擴展阻力曲線(R曲線)。結(jié)果表明:材料呈現(xiàn)出上升的阻力曲線特性,顯示出增強的抗裂紋擴展能力。其中,加入質(zhì)量分?jǐn)?shù)為10%亞微米Si3N4顆粒和15%納米TiC顆粒的復(fù)合材料顯示出較為優(yōu)越的抗裂紋擴展能力,其阻力曲線上升最陡,上升幅度最大。分析表明:彌散的TiC粒子同基體之間彈性模量和熱膨脹失配以及Si3N4類晶須拔出與橋聯(lián)補強協(xié)同增韌,有助于納米復(fù)合材料抑制主裂紋失穩(wěn)擴展,導(dǎo)致復(fù)合材料的阻力曲線行為。

氮化硅;阻力曲線;納米復(fù)合陶瓷;壓痕-強度

陶瓷材料的裂紋擴展阻力曲線行為,是指在裂紋穩(wěn)態(tài)擴展過程中,隨著裂紋尺寸的增大,裂紋擴展阻力增大的現(xiàn)象[1]。許多陶瓷材料具有上升的阻力曲線特性,如通過纖維增韌、延性顆粒及相變增韌的陶瓷材料[2,3]。阻力曲線行為使得材料在緩慢加載情況下,失穩(wěn)斷裂之前存在裂紋穩(wěn)態(tài)擴展過程,從而降低了材料強度的離散性,提高陶瓷材料的使用可靠性。

伴隨著對陶瓷材料增韌機理的深入研究發(fā)現(xiàn),阻力曲線行為不僅與其增韌機理密切相關(guān),而且對材料的其他力學(xué)性能也有重大影響[2-4]。同時若僅以KIC值來評價材料韌性是不全面的,通過對與裂紋穩(wěn)態(tài)擴展過程緊密相關(guān)的材料阻力曲線行為的研究,可以更為確切地表達材料的韌性,提高陶瓷在工程結(jié)構(gòu)部件上應(yīng)用的可靠性。

氮化硅是高性能高溫結(jié)構(gòu)陶瓷,但其脆性限制了它的廣泛應(yīng)用。通過改進制造工藝及引入合理的增韌機制如顆粒彌散增韌、晶須增韌及幾種機制協(xié)同作用,可實現(xiàn)陶瓷材料的增韌與補強[4-7]。Si3N4/TiC納米復(fù)合陶瓷韌性的提高主要是通過納米TiC顆粒的彌散增韌及長柱狀類晶須β-Si3N4晶粒的拔出、橋接和裂紋的偏轉(zhuǎn)等機理來實現(xiàn)的[8]。

采用維氏壓痕/抗彎強度法來測定陶瓷材料的R曲線,只需測出負有不同載荷的維氏壓痕裂紋試樣的斷裂應(yīng)力,就能據(jù)此計算繪制R曲線,簡單易行。

在微米Si3N4基體中加入亞微米Si3N4及納米TiC顆粒,利用熱壓燒結(jié)制備獲得精細的顯微組織,材料的韌性較微米復(fù)合陶瓷材料有較大提高。目前,關(guān)于其阻力曲線行為的研究鮮有報道。為此,采用壓痕強度法研究該復(fù)相陶瓷的阻力曲線行為,結(jié)合材料的顯微結(jié)構(gòu),對其增韌機制進行探討。

1 實驗

1.1 理論依據(jù)

對陶瓷材料表現(xiàn)出來的升高的阻力曲線行為可利用如下函數(shù)關(guān)系式描述[9,10]。式中:k,n為與材料阻力曲線行為有關(guān)的常數(shù),Δc和KR分別表示裂紋擴展長度和臨界應(yīng)力強度因子。

根據(jù)壓痕斷裂力學(xué)理論,Vickers壓痕裂紋尖端應(yīng)力強度因子K由外加載荷引起的應(yīng)力場強度因子Ka和壓痕殘余應(yīng)力場強度因子Kr疊加而成,即式中:ψ是裂紋形狀幾何因子;σa為外加彎曲應(yīng)力;P為壓痕壓制載荷;c為壓痕對角線裂紋半長;χ是由壓頭形狀和被測材料的特性所決定的系數(shù)。

系統(tǒng)平衡斷裂時,c=cm,σ=σm,K=Km,并應(yīng)滿足

其中斷裂時裂紋長度cm,斷裂應(yīng)力σm應(yīng)滿足下列關(guān)系式中α,β,γ由下式確定[10]

對負有不同載荷壓痕裂紋試樣,畫出壓痕載荷P與斷裂應(yīng)力σm在雙對數(shù)坐標(biāo)下的擬合直線,則α,β可由截距與斜率算出,再根據(jù)式(9)可以算出γ的大小。將α,β及γ代入式(7)、式(8)便可算出n與k的值,將其帶入(1)式,便可獲得陶瓷材料的阻力曲線函數(shù)關(guān)系式。

1.2 樣品制備及力學(xué)性能

原料為:微米Si3N4粉末(純度>99%,平均粒徑0.5μm),亞微米Si3N4粉末(純度>99%,平均粒徑140nm),納米TiC粉末(純度>99%,平均粒徑50nm),亞微米TiC粉末(純度>99.9%,平均粒徑130nm);助燒結(jié)劑Al2O3,Y2O3均為化學(xué)純。

采用PEG為分散劑,使用SB5200型超聲波清洗器進行超聲分散和PHS-3C酸堿度計測定pH值,制備出分散良好的納米水懸浮液,然后與微米級Si3N4粉末及燒結(jié)助劑混合球磨12h,真空干燥后,N2保護過120目篩。

復(fù)合粉料裝模,在高純氮氣氛保護下熱壓燒結(jié),燒結(jié)溫度為1750℃,壓力30MPa,保溫60min。得到的圓餅狀試樣經(jīng)內(nèi)圓切片機切成尺寸為3mm×4mm× 40mm的試樣,然后研磨拋光。

在試樣受拉面中部打上Vickers壓痕來引入裂紋,測定該裂紋所引起材料強度的衰減。由壓痕引發(fā)裂紋長度c0及壓痕斷裂強度σm來估測材料的阻力曲線。采用五種壓痕載荷:49,98,196,294N和490N。壓痕對角線應(yīng)與試樣棱邊垂直。強度測試采用三點彎曲法,跨距為20mm,加載速度為0.5mm/min。每個數(shù)據(jù)取五個試樣的測定平均值。將打壓痕試樣表面噴金,采用S-570掃描電鏡和H-800透射電鏡觀測試樣。

采用四種試樣對比,其組分配比及力學(xué)性能如表1所示。

表1 試樣組分配比(質(zhì)量分?jǐn)?shù)/%)及力學(xué)性能Table 1 Composition(mass fraction/%)and mechanical properties of samples

2 結(jié)果與討論

2.1 材料顯微結(jié)構(gòu)

如圖1所示,該材料的顯微結(jié)構(gòu)組織主要由基體相Si3N4和彌散相TiC組成。TiC顆粒(圖中箭頭所指)不僅彌散分布于基體晶粒內(nèi),同時也存在于晶界上。納米TiC顆粒多分布在Si3N4晶內(nèi),而在晶界處的TiC顆粒大多為亞微米級。

圖1 試樣A的TEMFig.1 TEM micrograph of sample A

2.2 材料R曲線特性

材料的壓痕抗彎強度σm及初始裂紋長度c0隨壓痕載荷P的變化數(shù)據(jù)列于表2(數(shù)據(jù)均取五點平均)。由表可見:施加同樣大小的壓痕載荷,材料D的σm均低于材料A~C,σm的下降速度較快,初始裂紋的長度c0也較大。這一結(jié)果表明,復(fù)合材料A~C的裂紋擴展阻力優(yōu)于復(fù)合材料D,但材料A同材料C的性能差別不明顯。

表2 不同壓痕載荷P下的c0和σmTable 2 c0andσmunder different load P

4種材料的σm與P在雙對數(shù)坐標(biāo)下的關(guān)系曲線如圖2所示。可見兩者之間近似成直線關(guān)系。利用最小二乘法算出直線的斜率。對于理想的Griffth脆性材料該直線斜率應(yīng)為-1/3,其阻力曲線為一水平直線,而所制備復(fù)合材料的斜率絕對值均小于1/3,故應(yīng)具有上升的阻力曲線行為。

圖2 壓痕斷裂強度與壓痕載荷的雙對數(shù)關(guān)系Fig.2 Plots of strengthσfvs indentation load P

圖中每個數(shù)據(jù)點都對應(yīng)于在同一壓痕壓制荷載水平下10個Vickers壓痕斷裂實驗結(jié)果的統(tǒng)計值。

經(jīng)擬合計算后的各種材料的韌化因子n和系數(shù)k見表3。

表3 試樣的n及k值Table 3 n and k of different samples

根據(jù)壓痕斷裂力學(xué)理論,壓痕結(jié)束后,壓痕裂紋尖端處的殘余應(yīng)力場強度因子在數(shù)值上應(yīng)該等于材料的斷裂韌性[11]。對于具有阻力曲線行為的材料,在數(shù)值上則應(yīng)該等于在相應(yīng)的裂紋尺寸水平上材料的裂紋擴展阻力。據(jù)此,由直接壓痕斷裂實驗可以得到材料的裂紋擴展阻力曲線,即材料裂紋擴展阻力隨裂紋尺寸的變化關(guān)系曲線。由此所制備材料的抗裂紋擴展阻力曲線如圖3所示。

圖3 試樣的R曲線Fig.3 R-curve of samples

從圖3可以看出復(fù)合材料的裂紋擴展阻力隨裂紋尺寸變化的情況??梢妿追N材料的斷裂韌性值都隨著裂紋擴展而增大,但材料D上升較為平緩,材料A的阻力曲線較為陡峭,且KR的增幅也較大,而材料B和C的趨勢較為接近。

n的大小反映了阻力曲線上升幅度范圍。在本實驗測試裂紋尺寸范圍內(nèi),當(dāng)裂紋尺寸擴展量由100μm擴展到500μm時,復(fù)合材料A的裂紋擴展阻力KR值由6.6MPa·m1/2上升為7.84MPa·m1/2,而復(fù)合材料D僅由6.0MPa·m1/2增加至6.6MPa·m1/2,可見加入納米Si3N4顆粒,通過燒結(jié)工藝形成類晶須Si3N4雙峰分布的顯微結(jié)構(gòu)有助于提高材料性能[12]。圖4為試樣經(jīng)熔融NaOH腐蝕60s后表面SEM形貌。圖4(a)為試樣A表面形貌,可見基體相的晶粒尺寸為0.2~1.2μm,長徑比在3~10之間。其中粗大的晶粒均勻地分布在細小的針狀基體晶粒之間,晶粒結(jié)構(gòu)比較規(guī)整,較直觀顯示出Si3N4類晶須晶粒長徑比的雙峰分布。而圖4(b)為試樣D表面形貌,晶粒長得比較均勻,長徑比增大,晶粒都比較細長而雙峰分布特征不明顯,這種顯微結(jié)構(gòu)的差異導(dǎo)致了復(fù)合材料性能方面的變化。

圖4 試樣表面SEM形貌(a)試樣A;(b)試樣DFig.4 SEM micrographs of sample surfaces(a)sample A;(b)sample D

2.3 材料阻力行為影響因素

2.3.1 材料顯微結(jié)構(gòu)

位錯理論指出局部的大應(yīng)力足以使脆性晶體中引入新位錯。Si3N4基體引入納米TiC顆粒,由于兩種材料彈性模量和熱膨脹系數(shù)的差別,使界面處存在較大應(yīng)力,這種局部應(yīng)力集中足以使合適滑移面上位錯源啟動而產(chǎn)生許多新位錯,如圖5(a)所示。應(yīng)力條紋的出現(xiàn)表明,位于基體晶粒內(nèi)的TiC顆粒,由于其與基體的熱膨脹系數(shù)的差異,燒結(jié)后在次界面處產(chǎn)生較大的殘余應(yīng)力,誘發(fā)微裂紋。

由圖5(b)可見,斷裂模式有沿晶斷裂和穿晶斷裂。產(chǎn)生穿晶斷裂與TiC顆粒分布在基體Si3N4晶界并對其起到釘扎作用以及晶間相的純化和強化有關(guān)。何種斷裂形式主要取決于晶粒間結(jié)合強度與晶粒強度的相對大小、外加應(yīng)力所形成的應(yīng)力梯度情況以及殘余應(yīng)力、微裂紋的分布。微裂紋的產(chǎn)生及裂紋的偏轉(zhuǎn)與分叉消耗了裂紋擴展能量,這也是是復(fù)合材料斷裂強度和斷裂韌性提高的重要原因。

圖5 試樣A的TEM(a)應(yīng)力條紋;(b)斷裂模式Fig.5 TEM micrographs of sample A(a)stress stripes;(b)fracture mode

2.3.2 裂紋擴展路徑分析

由于增韌顆粒與基體類晶須顆粒之間的強度、彈性模量及熱膨脹系數(shù)的不同引起了界面效應(yīng)[13,14],因此當(dāng)裂紋在基體中擴展遇到Si3N4類晶須或TiC粒子時,裂紋尖端應(yīng)力場將發(fā)生改變,使裂紋擴展途徑發(fā)生改變。

由圖6(a)可見,試樣A裂紋擴展模式有穿晶斷裂和沿晶斷裂。圖6(b)反映裂紋處產(chǎn)生明顯的Si3N4類晶須晶粒拔出和橋聯(lián),使裂紋擴展時要消耗更多的能量,從而起到增韌的作用。TiC的熱膨脹系數(shù)(αparticle=7.6×10-6K-1)均大于Si3N4基體(αmatrix=3.2×10-6K-1),這樣在材料燒結(jié)冷卻至室溫過程中,將使TiC顆粒處于拉應(yīng)力狀態(tài),同時使TiC顆粒周圍的基體晶粒徑向處于拉應(yīng)力狀態(tài),切向處于壓應(yīng)力狀態(tài)。當(dāng)裂紋擴展與殘余應(yīng)力場相互作用時,由于裂紋擴展總是沿著應(yīng)力場的薄弱環(huán)節(jié)進行,從而使裂紋產(chǎn)生偏轉(zhuǎn),增加了裂紋的擴展路徑,消耗更多的能量,提高了復(fù)合材料的斷裂韌性。TiC納米顆粒與類晶須Si3N4晶粒協(xié)同效應(yīng)使裂紋擴展耗散能量增加,提高了復(fù)合材料斷裂韌性。

圖6 試樣A裂紋擴展路徑(a)裂紋擴展路徑;(b)Si3N4晶粒拔出、橋聯(lián)Fig.6 Crack propagation paths of sample A(a)propagation paths of cracks;(b)bridging and pull-out mechanism of elongated Si3N4grains

Si3N4類晶須晶粒裂紋橋聯(lián)、拔出機理如圖7所示。

圖7 類晶須晶粒裂紋橋聯(lián)、拔出示意圖Fig.7 Schematic model of bridging and pull-out mechanism of elongated Si3N4grains

3 結(jié)論

(1)配方為Si3N4/15%TiC時,由粒徑較細的TiC(平均粒徑為50nm)制備的復(fù)合材料(樣品A)的R曲線較陡,上升幅度最大,優(yōu)于較粗TiC粉料(平均粒徑130nm)的復(fù)合材料(樣品C)的。隨著TiC含量的增加,材料R曲線行為變差(樣品B)。而不含亞微米Si3N4粉料的復(fù)合材料(樣品D)性能最差。這個規(guī)律同復(fù)合材料的強韌性變化規(guī)律有著明顯的一致性。

(2)添加亞微米Si3N4和納米TiC顆粒,形成的Si3N4類晶須增韌和TiC顆粒增韌的協(xié)同增韌效應(yīng),提高了復(fù)合材料的強韌性,導(dǎo)致材料的阻力曲線行為。

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R-curve Behavior of Si3N4/TiC Nanocomposite Ceramic Materials

LU Zhi-jie1,2,3,ZHAO Jun3

1 School of Materials Science and Engineering,Shandong University,Jinan 250061,China;2 School of Mechanical and Electronic Engineering,Shandong Jianzhu University,Jinan 250101,China;3 Key Laboratory of High Efficiency and Clean Mechanical Manufacture of MOE,School of Mechanical Engineering,Shandong University,Jinan 250061,China)

Si3N4/TiC nanocomposite ceramic materials were fabricated via hot pressing technique by adding submicro Si3N4and nano-TiC powders and with Al2O3and Y2O3as additives.The crack growth resistance behavior(R-curve)of ceramic materials was evaluated using the indentationstrength method.The results indicate that the ceramic materials possess rising R-curve behavior,which exhibits an excellent crack growth resistance.The sample with 10%(mass fraction)submicro-Si3N4and 15%nano-TiC has a steepest rising R-curve.Observation and analysis indicate that these phenomena can be attributed mainly to the synergetic toughening mechanism caused by pull-out and bridging of the Si3N4quasiwhiskers,the elastic modulus and thermal expansion mismatch between Si3N4and TiC particles.

silicon nitride;R-curve;nanocomposite ceramic;indentation-strength

TQ174

A

1001-4381(2012)07-0076-05

國家重點基礎(chǔ)研究發(fā)展計劃資助(2009CB724402);國家博士后科學(xué)基金(20090451306);山東省博士后創(chuàng)新基金(200902017);山東省自然科學(xué)基金(ZR2011EEM033)

2011-09-08;

2011-12-05

呂志杰(1968-),男,工學(xué)博士,副教授,主要研究方向為高效加工、陶瓷復(fù)合材料、梯度材料,聯(lián)系地址:濟南市歷下區(qū)山師東路9號(250014),E-mail:zhijie@ sdu.edu.cn

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