王 越，魏玉科，楊 濤，馮慶榮

（北京大學(xué)物理學(xué)院，北京100871）

1 引 言

約瑟夫森效應(yīng)描述了弱連接超導(dǎo)體之間超導(dǎo)電子對(duì)（庫(kù)伯對(duì)）的量子隧穿現(xiàn)象，是超導(dǎo)體宏觀(guān)量子特性的生動(dòng)體現(xiàn)[1].這一效應(yīng)的發(fā)現(xiàn)導(dǎo)致一門(mén)新的電子學(xué)技術(shù)，即超導(dǎo)電子學(xué)的誕生和蓬勃發(fā)展.現(xiàn)在，約瑟夫森效應(yīng)已在很多超導(dǎo)器件（如超導(dǎo)量子干涉器）及相關(guān)研究領(lǐng)域（如精密測(cè)量）得到重要應(yīng)用.了解、觀(guān)測(cè)約瑟夫森效應(yīng)，不僅可以使學(xué)生對(duì)超導(dǎo)體的宏觀(guān)量子特性有更深入的理解，還可為他們了解科研和生活中常見(jiàn)的超導(dǎo)電子學(xué)技術(shù)及應(yīng)用提供指引和幫助.

約瑟夫森效應(yīng)可以分為直流約瑟夫森效應(yīng)和交流約瑟夫森效應(yīng)[2].當(dāng)約瑟夫森結(jié)兩側(cè)電壓為零時(shí)，可以有很小的直流電流無(wú)阻地通過(guò)結(jié)，這一現(xiàn)象即稱(chēng)為直流約瑟夫森效應(yīng).通過(guò)的超導(dǎo)電流可表述為：I＝ICsinΔφ，其中Δφ為結(jié)兩側(cè)超導(dǎo)體波函數(shù)的相位差，IC稱(chēng)為約瑟夫森臨界電流，表征能通過(guò)結(jié)的最大超導(dǎo)電流，它取決于結(jié)兩側(cè)超導(dǎo)體的耦合程度.當(dāng)約瑟夫森結(jié)兩側(cè)存在直流電壓V時(shí)，通過(guò)結(jié)的超導(dǎo)隧道電流為交變電流，其頻率為ν＝2eV／h，其中h為普朗克常量.這一現(xiàn)象一般稱(chēng)為交流約瑟夫森效應(yīng).在實(shí)驗(yàn)上為了證實(shí)交變超導(dǎo)電流的存在，可以選用適當(dāng)頻率的電磁波（如微波）來(lái)照射約瑟夫森結(jié).按照理論，當(dāng)直流偏壓V滿(mǎn)足2eV＝nhν（n＝1，2，…）時(shí)，約瑟夫森電流存在直流分量，可以在V－I特性曲線(xiàn)上觀(guān)測(cè)到一系列的臺(tái)階，稱(chēng)為微波感應(yīng)臺(tái)階，或夏皮羅臺(tái)階.

考察約瑟夫森結(jié)的特性可以按照等效電路采用電子模擬器[3]或者計(jì)算機(jī)模擬[4]等方法.對(duì)照而言，直接觀(guān)測(cè)約瑟夫森效應(yīng)則由于實(shí)驗(yàn)條件等的限制，相關(guān)的實(shí)驗(yàn)教學(xué)報(bào)道還比較少見(jiàn).本文介紹在液氮溫度下，自行搭建測(cè)試裝置，利用YBa2Cu3O7－δ高溫超導(dǎo)雙晶結(jié)來(lái)進(jìn)行約瑟夫森效應(yīng)觀(guān)測(cè)的實(shí)驗(yàn).該實(shí)驗(yàn)物理圖像直觀(guān)，設(shè)備簡(jiǎn)單，成本低，很適合大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)特別是近代物理實(shí)驗(yàn)的演示與教學(xué).

2 實(shí)驗(yàn)裝置

2.1 高溫超導(dǎo)雙晶結(jié)樣品

基于高溫超導(dǎo)雙晶結(jié)，在液氮溫度下進(jìn)行約瑟夫森效應(yīng)的觀(guān)測(cè)，相比采用低溫超導(dǎo)約瑟夫森結(jié)而言，大大降低了對(duì)低溫液體和實(shí)驗(yàn)成本的要求.本文中的雙晶結(jié)樣品由在雙晶SrTiO3襯底上外延生長(zhǎng)YBa2Cu3O7－δ高溫超導(dǎo)薄膜，然后對(duì)薄膜進(jìn)行光刻，在雙晶晶界處刻蝕出超導(dǎo)微橋而得到.

圖1為雙晶晶界的示意圖.虛線(xiàn)表示晶界線(xiàn)，其兩側(cè)的晶粒同一晶軸之間具有θ的夾角，從而使得晶界兩側(cè)的超導(dǎo)體在晶界處形成弱連接[5].本文實(shí)驗(yàn)中雙晶襯底的晶界角θ一般為24°～36°.

圖2為雙晶結(jié)微橋的光學(xué)顯微鏡照片.本實(shí)驗(yàn)中雙晶結(jié)微橋的厚度約為100nm，寬度一般在5～10μm，長(zhǎng)約100μm.樣品的構(gòu)型保證測(cè)量可以采用標(biāo)準(zhǔn)的四引線(xiàn)法.

圖1 雙晶晶界示意圖

圖2 雙晶結(jié)微橋的光學(xué)顯微鏡照片

2.2 實(shí)驗(yàn)裝置及測(cè)量原理

圖3和圖4分別為實(shí)驗(yàn)所采用的測(cè)試裝置的示意圖和實(shí)物圖.整個(gè)測(cè)試裝置依據(jù)功能可以劃分為3個(gè)部分：測(cè)量系統(tǒng)（包括HP33120A函數(shù)發(fā)生器、測(cè)試電路箱、樣品桿），記錄系統(tǒng)（重慶川儀3086X－Y記錄儀）以及降溫系統(tǒng)（豫新YDS－10液氮杜瓦）.其中測(cè)試電路箱為自行研制，主要包括恒流源、微波源以及相應(yīng)的測(cè)試線(xiàn)路和控制開(kāi)關(guān).微波源的頻率可以在10GHz附近調(diào)節(jié)，調(diào)節(jié)范圍為500MHz，步長(zhǎng)為10MHz.樣品桿上所采用的低溫溫度計(jì)為標(biāo)定的鉑電阻溫度計(jì)（Pt100）.

圖3 約瑟夫森效應(yīng)測(cè)試裝置示意圖

圖4 約瑟夫森效應(yīng)測(cè)試裝置實(shí)物圖

利用此裝置可測(cè)量高溫超導(dǎo)體的電阻隨溫度的變化（R－T曲線(xiàn)）.圖5為其測(cè)量原理示意圖.測(cè)試電路箱中分別有恒流源為鉑電阻溫度計(jì)和約瑟夫森結(jié)提供直流偏置.鉑電阻溫度計(jì)兩端的電壓VT和約瑟夫森結(jié)兩端的電壓VJ分別作為XY記錄儀的X軸和Y軸輸入并由記錄筆同時(shí)記錄.根據(jù)鉑電阻溫度計(jì)的電阻－溫度標(biāo)定曲線(xiàn)，即可由實(shí)驗(yàn)測(cè)量的VJ－VT曲線(xiàn)得到反映超導(dǎo)轉(zhuǎn)變的R－T曲線(xiàn).

圖5 R－T曲線(xiàn)測(cè)量原理示意圖

圖6 V－I曲線(xiàn)及夏皮羅臺(tái)階測(cè)量原理示意圖

在液氮溫度（77K）下進(jìn)行V－I曲線(xiàn)及夏皮羅臺(tái)階測(cè)量的原理示意圖如圖6所示.此時(shí)，由函數(shù)發(fā)生器的三角波輸出來(lái)得到可連續(xù)改變其大小并可改變其極性的電流.電流I的大小由測(cè)量定值電阻上的電壓得到.同時(shí)由X－Y記錄儀記錄約瑟夫森結(jié)上的電壓VJ，便可得到V－I特性曲線(xiàn).若同時(shí)打開(kāi)微波電源，則可以觀(guān)察微波輻照下約瑟夫森結(jié)的V－I曲線(xiàn)的變化以及夏皮羅臺(tái)階的出現(xiàn).

3 實(shí)驗(yàn)內(nèi)容及結(jié)果

首先測(cè)量在降溫過(guò)程中，雙晶結(jié)在室溫到液氮沸點(diǎn)這一溫區(qū)內(nèi)的R－T曲線(xiàn)，以便考察其電阻變化及超導(dǎo)轉(zhuǎn)變.在實(shí)驗(yàn)中，通過(guò)鉑電阻溫度計(jì)的恒定電流為1mA，通過(guò)雙晶結(jié)的恒定電流為50μA.典型R－T實(shí)驗(yàn)測(cè)量結(jié)果如圖7所示，橫軸為鉑電阻溫度計(jì)兩端的電壓，縱軸為雙晶結(jié)兩端的電壓.結(jié)果表明雙晶結(jié)樣品具有較陡的超導(dǎo)轉(zhuǎn)變.

圖7 R－T實(shí)驗(yàn)測(cè)量曲線(xiàn)

當(dāng)雙晶結(jié)樣品達(dá)到液氮溫度并保持恒定時(shí)，即可進(jìn)行直流約瑟夫森效應(yīng)的觀(guān)測(cè)，即測(cè)量其VI特性曲線(xiàn)，考察約瑟夫森臨界電流.典型測(cè)量結(jié)果如圖8（a）所示.V－I曲線(xiàn)中零電壓處的水平段即表示雙晶結(jié)中電流為無(wú)阻的超導(dǎo)電流.當(dāng)電壓開(kāi)始出現(xiàn)時(shí)，對(duì)應(yīng)的電流為約瑟夫森臨界電流.為證實(shí)直流約瑟夫森效應(yīng)的觀(guān)測(cè)，還可測(cè)量同樣尺寸但沒(méi)有跨過(guò)雙晶結(jié)的超導(dǎo)微橋的V－I特性曲線(xiàn)，如圖8（b）所示，并比較其與雙晶結(jié)微橋V－I曲線(xiàn)的差異.

然后可進(jìn)行交流約瑟夫森效應(yīng)的觀(guān)測(cè)，即打開(kāi)微波電源，觀(guān)測(cè)雙晶結(jié)V－I特性在微波輻照下的變化和夏皮羅臺(tái)階的出現(xiàn).圖9顯示了不同微波功率下雙晶結(jié)V－I特性曲線(xiàn)的變化.在合適的微波功率下，可以比較清楚地觀(guān)察到夏皮羅臺(tái)階的出現(xiàn).

圖8 V－I特性曲線(xiàn)對(duì)比

圖9 微波輻照下雙晶結(jié)V－I特性曲線(xiàn)

4 測(cè)量結(jié)果分析

對(duì)實(shí)驗(yàn)測(cè)量得到的曲線(xiàn)進(jìn)行坐標(biāo)軸單位轉(zhuǎn)換，并利用計(jì)算機(jī)作圖，可進(jìn)一步分析實(shí)驗(yàn)結(jié)果.依照鉑電阻溫度計(jì)的電阻－溫度標(biāo)定曲線(xiàn)，可由圖7所示的測(cè)量曲線(xiàn)得到雙晶結(jié)的R－T曲線(xiàn)，如圖10所示.在超導(dǎo)轉(zhuǎn)變前，雙晶結(jié)的電阻隨溫度的變化接近線(xiàn)性，為高溫超導(dǎo)體YBa2Cu3O7－δ的典型行為[6].超導(dǎo)臨界溫度取雙晶結(jié)超導(dǎo)轉(zhuǎn)變的中點(diǎn)溫度，為T(mén)C＝89.5K，超導(dǎo)轉(zhuǎn)變寬度取超導(dǎo)轉(zhuǎn)變起始溫度和零電阻溫度的差，為ΔTC＝1.8K.這些結(jié)果表明雙晶結(jié)樣品具有比較高的品質(zhì).

圖10 由圖7中測(cè)量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換后得到的R－T曲線(xiàn)

圖11 由圖8得到的非雙晶結(jié)超導(dǎo)微橋與雙晶結(jié)微橋V－I特性曲線(xiàn)的對(duì)比

圖12 由圖9得到的雙晶結(jié)V－I特性曲線(xiàn)隨微波輻照的變化及夏皮羅臺(tái)階的出現(xiàn)

圖13 夏皮羅臺(tái)階的高度隨臺(tái)階序列的變化

根據(jù)圖8可比較非雙晶結(jié)超導(dǎo)微橋和雙晶結(jié)微橋的V－I特性曲線(xiàn)，如圖11所示.實(shí)驗(yàn)中定值電阻取為500Ω.對(duì)于雙晶結(jié)，當(dāng)電流超過(guò)約瑟夫森臨界電流時(shí)，結(jié)兩側(cè)開(kāi)始出現(xiàn)電壓.約瑟夫森臨界電流IC＝0.80mA.對(duì)于非雙晶結(jié)超導(dǎo)微橋，當(dāng)函數(shù)發(fā)生器為最大輸出，即對(duì)應(yīng)的電流達(dá)到3.30mA時(shí)，電壓仍然為零，超導(dǎo)態(tài)仍然沒(méi)有被破壞，表明非雙晶結(jié)超導(dǎo)微橋的臨界電流大于3.30mA.這兩者的明顯差別證實(shí)了直流約瑟夫森效應(yīng)的觀(guān)測(cè).另外值得指出的是，在圖11中，對(duì)雙晶結(jié)微橋而言，其V－I特性測(cè)量中電壓不為零的那段曲線(xiàn)電流測(cè)量范圍較小.若進(jìn)一步增大電流－電壓測(cè)量范圍，還可通過(guò)V－I特性曲線(xiàn)研究雙晶約瑟夫森結(jié)的性質(zhì)[7]，例如考察其是否符合電阻分路結(jié)（RSJ）模型等物理問(wèn)題.

取同一個(gè)坐標(biāo)原點(diǎn)，可由圖9的測(cè)量曲線(xiàn)畫(huà)出微波輻照下雙晶結(jié)的V－I特性曲線(xiàn)，如圖12所示.隨著微波功率的增大，約瑟夫森臨界電流變小，同時(shí)夏皮羅臺(tái)階逐漸顯現(xiàn).

將出現(xiàn)臺(tái)階的3條曲線(xiàn)中臺(tái)階的高度與臺(tái)階序列確定出來(lái)，如圖13所示.直線(xiàn)表示最小二乘線(xiàn)性擬合，從而可以得到相鄰序列間臺(tái)階高度為ΔV＝（20.46±0.04）μV.由理論上[2]臺(tái)階高度與微波頻率間的關(guān)系（483.6MHz／μV）可以計(jì)算出微波的頻率為ν＝（9.89±0.02）GHz.與微波源的參考標(biāo)稱(chēng)值（10.00GHz）符合得很好，相對(duì)偏差為1%.這進(jìn)一步證實(shí)了交流約瑟夫森效應(yīng)的觀(guān)測(cè).

5 結(jié)束語(yǔ)

利用YBa2Cu3O7－δ高溫超導(dǎo)雙晶結(jié)，在液氮溫度下實(shí)現(xiàn)了對(duì)直流和交流約瑟夫森效應(yīng)的直接觀(guān)測(cè).該實(shí)驗(yàn)樣品性能比較穩(wěn)定，更換方便.由于采用液氮作為冷卻液體，整個(gè)裝置簡(jiǎn)便易操作，運(yùn)行成本低.由于X－Y記錄儀具有RS－232串行接口，該實(shí)驗(yàn)裝置也可根據(jù)需要進(jìn)行擴(kuò)充，由計(jì)算機(jī)來(lái)采集數(shù)據(jù).從內(nèi)容上看，該實(shí)驗(yàn)物理圖像比較直觀(guān)，與理論對(duì)照明確，學(xué)生從中可更多了解高溫超導(dǎo)的特性，并加深對(duì)超導(dǎo)宏觀(guān)量子特性的理解.因此該實(shí)驗(yàn)有助于進(jìn)一步豐富超導(dǎo)物理方面的實(shí)驗(yàn)教學(xué)[8].

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