李進璽,程引會,李寶忠,吳 偉,馬 良,朱 夢,周 輝
(西北核技術(shù)研究所,陜西 西安 710024)
脈沖X射線引起的電子系統(tǒng)效應(yīng)主要包括系統(tǒng)電磁脈沖(System Generated Electromagnetic Pulse,SGEMP)、內(nèi)電磁脈沖(Internal EMP,IEMP)和電子系統(tǒng)瞬態(tài)輻照效應(yīng)(Transient Radiation Effect in Electronics,TREE)。與電子系統(tǒng)相連接的線纜瞬態(tài)輻照響應(yīng)是SGEMP效應(yīng)研究的內(nèi)容之一,電子系統(tǒng)中常見的線纜主要有:屏蔽電纜、導(dǎo)線和線路板布線等。該瞬態(tài)輻照響應(yīng)輕則干擾、重則損傷與線纜相連的電子系統(tǒng)。本工作在文獻(xiàn)[1-2]的基礎(chǔ)上,采用時域傳輸線(TL)方法,對不同能量光子輻照同軸屏蔽電纜的瞬態(tài)響應(yīng)規(guī)律進行研究。由電子打靶而產(chǎn)生的脈沖X射線環(huán)境中,不可避免地含有一定比例的電子成分。為了更好地分析實驗結(jié)果、合理有效地利用輻射模擬裝置開展SGEMP效應(yīng)研究,對單能電子經(jīng)不同靶材料發(fā)生韌致輻射后在電纜上的瞬態(tài)輻照響應(yīng)也進行研究。
圖1為同軸電纜模型示意圖。同軸電纜受到脈沖X射線輻照時,護套、屏蔽層、芯線以及介質(zhì)層有一部分正、負(fù)電荷沉積,還有一部分電子逃逸到電纜外部空間中。一般情況下,金屬的光電產(chǎn)額較介質(zhì)的大,介質(zhì)內(nèi)的沉積電荷為負(fù),導(dǎo)體內(nèi)的沉積電荷為正。由于介質(zhì)層負(fù)電荷的作用,芯線正電荷中僅有一部分用來產(chǎn)生瞬態(tài)電流,而另一部分用來產(chǎn)生靜電場,逃逸到電纜外部空間中的電子對瞬態(tài)電流和靜電場則均無貢獻(xiàn)。因此,在電纜介質(zhì)層內(nèi)電荷分布沿圓周方向?qū)ΨQ的假設(shè)條件下,如果已知芯線正電荷和介質(zhì)層負(fù)電荷的徑向分布,即可利用高斯定理計算得到介質(zhì)層內(nèi)的電場分布,通過對電場分布進行積分可得到電纜芯線和屏蔽層間的電勢差。由于同軸電纜單位長度的分布電容已知,由實驗[3]可知,線纜X射線瞬態(tài)響應(yīng)波形與X射線注量的時間變化波形一致。因此,電勢差U對時間t的變化率與X射線注量的時間變化一致,傳輸線模型中的電流I=CdU/dt,其中:C為電容。
TL方程的差分格式參見文獻(xiàn)[2,4],求解TL方程可得到電纜任意位置的電流電壓響應(yīng)。
圖1 屏蔽電纜受輻照的幾何模型Fig.1 Model of irradiated shielding cable
計算中,X射線時間譜為高斯脈沖y(t)=exp(-4π((t-t0)/τ)2),其中,t0=16ns,τ=20ns。電纜型號為SYV-50-1,受輻照長度l=1m,電纜芯線兩端接匹配負(fù)載,屏蔽層接地。射線與材料作用采用蒙特卡羅方法計算。
計算中,光子注量為4.2J/cm2。圖2示出光子能量不同時電纜負(fù)載電壓波形,圖3示出電纜負(fù)載電壓峰值與輻照光子能量的關(guān)系曲線。
圖2 光子能量不同時電纜負(fù)載電壓波形Fig.2 Waveforms of voltage for different photon energy
圖3 電纜負(fù)載電壓峰值與輻照光子能量的關(guān)系Fig.3 Peak values of cable load voltages for different photon energy
由圖2、3可看出,輻照光子能量較小時電纜響應(yīng)為負(fù),且存在峰值;光子能量增大到一定值后,電纜響應(yīng)出現(xiàn)極性變化,響應(yīng)極性發(fā)生變化時的光子能量約為850keV,且光子能量大于2MeV后繼續(xù)增大光子能量對電纜響應(yīng)幅度的影響很小。光子能量較大時,導(dǎo)體和介質(zhì)材料的光電產(chǎn)額差別不大,所以光子能量增大到一定值后,電纜響應(yīng)幅度變化很小。
圖4示出不同能量單能光子輻照電纜時每個輻照光子對應(yīng)的電荷沉積。由圖4可看出,電纜受不同能量光子輻照時,芯線和屏蔽層的沉積電荷為正,介質(zhì)層沉積的分布電荷為負(fù),但光子能量不同時,芯線、介質(zhì)層以及屏蔽層三者沉積電荷的相對值不同,同時,沉積電荷在介質(zhì)層內(nèi)的分布也不同。因此,電纜響應(yīng)的極性由芯線、介質(zhì)層以及屏蔽層三者沉積電荷的相對值和沉積電荷在介質(zhì)層內(nèi)的分布共同決定。
圖4 不同能量單能光子輻照電纜時的電荷沉積Fig.4 Distributed charge for different photon energy
為了說明負(fù)電荷在介質(zhì)層中的分布對電纜響應(yīng)的影響,圖5示出介質(zhì)層中電荷所處位置不同時的電纜響應(yīng),計算條件為:電纜芯線沉積電荷9.88×10-6C,介質(zhì)層沉積電荷-6.13×10-5C。由圖5可看出,負(fù)電荷在介質(zhì)層中的分布不同時電纜響應(yīng)也不同,當(dāng)負(fù)電荷靠近電纜芯線時,負(fù)載電壓響應(yīng)為負(fù);當(dāng)負(fù)電荷靠近電纜屏蔽層時,負(fù)載電壓響應(yīng)為正。
圖5 介質(zhì)層電荷位置不同時的電壓Fig.5 Voltage for medium charge in different positions
計算條件為:電子能量1MeV,韌致輻射電子密度1014cm-2。靶材料為:1)鉭膜,厚0.5mm;2)0.5mm鉭膜+0.5mm鋁膜,光電子出射材料為鋁膜。
圖6示出計算得到的韌致輻射光子能譜,圖7示出韌致輻射光子和前向電子在電纜上電壓響應(yīng)時間波形的比較,圖8示出穿過兩種靶材料的前向電子在電纜上的沉積電荷分布。表1列出前向電子和韌致輻射光子在電纜上電壓響應(yīng)最大值的比較。
圖6 韌致輻射光子譜Fig.6 Bremsstrahlung photon spectra
圖7 韌致輻射光子和前向電子產(chǎn)生的響應(yīng)Fig.7 Waveforms of voltage for bremsstrahlung photons and forward electrons
圖8 前向電子在電纜上的沉積電荷分布Fig.8 Distributed charge of cable for forward electrons
表1 電壓響應(yīng)最大值的比較Table 1 Comparison of voltage peak value for different targets
由圖6可看出,1MeV的單能電子經(jīng)0.5mm鉭膜和0.5mm鉭膜+0.5mm鋁膜產(chǎn)生的韌致輻射光子譜差別不大。以靶材料為0.5mm鉭膜為例,韌致輻射光子譜的能量峰值約為250keV,最高能量不超過1MeV,小于850keV的光子能譜在總能譜中所占份額大于96%,850keV以上能量的光子在韌致輻射譜中所占份額很小,即電纜上的響應(yīng)主要由小于850keV的光子產(chǎn)生,按圖3所示不同能量光子的響應(yīng)規(guī)律推斷,1MeV的單能電子韌致輻射光子譜在電纜上的電壓響應(yīng)為負(fù)值,這與圖7所示結(jié)果一致。
由圖7可看出,1MeV的單能電子經(jīng)靶材料發(fā)生韌致輻射后在電纜上的瞬態(tài)輻照響應(yīng)是前向電子和光子在電纜上響應(yīng)的綜合,兩者在電纜上的電壓響應(yīng)均為負(fù)值。
由圖7和表1可知,靶材料為0.5mm鉭膜時,前向電子的響應(yīng)大于韌致輻射光子的響應(yīng),兩者之間相差1.8倍左右;靶材料為0.5mm鉭膜+0.5mm鋁膜時,前向電子的響應(yīng)小于韌致輻射光子的響應(yīng),兩者之間相差2.5倍左右;因為兩種靶材料產(chǎn)生的韌致輻射光子譜差別不大,只是鋁膜衰減了一部分的光子,所以,兩種韌致輻射光子環(huán)境在電纜上的響應(yīng)差別不大;靶材料為0.5mm鉭膜+0.5mm鋁膜時,前向電子產(chǎn)生的響應(yīng)較0.5mm鉭膜時減小了至少5倍。因此,SGEMP實驗中,可在原子序數(shù)大的靶材料后面增加一定厚度的原子序數(shù)較小的材料來衰減前向電子,從而在對韌致輻射光子環(huán)境影響不大的情況下減小韌致輻射X射線裝置中前向電子的干擾。
由圖8可看出,前向電子在電纜芯線、介質(zhì)層以及屏蔽層的沉積電荷均為負(fù)值,靶材料增加0.5mm鋁膜后,衰減了一部分的前向電子,從而導(dǎo)致了前向電子在電纜上響應(yīng)的減小。
利用時域傳輸線方法研究了電纜瞬態(tài)輻照響應(yīng)規(guī)律。光子能量不同時,電纜響應(yīng)極性不同,對于型號為SYV-50-1的電纜,極性發(fā)生變化時的光子能量約為850keV,但光子能量增大到2MeV后電纜響應(yīng)幅度變化很小。計算了1MeV的單能電子經(jīng)不同靶材料發(fā)生韌致輻射后在電纜上的瞬態(tài)輻照響應(yīng)。在SGEMP實驗中,可在原子序數(shù)大的靶材料后面增加一定厚度的原子序數(shù)較小的材料來減小韌致輻射X射線裝置中前向電子的干擾。
文中采用的方法對于分析和預(yù)測脈沖X射線輻照電纜時的響應(yīng)規(guī)律及有效地進行脈沖X射線防護具有重要意義。同時,本文得到的結(jié)果對于電纜的SGEMP實驗方案的設(shè)計及合理有效地利用輻射模擬裝置開展線纜的SGEMP效應(yīng)研究具有一定的指導(dǎo)意義。
[1]李進璽,程引會,周輝,等.屏蔽電纜對脈沖X射線響應(yīng)的數(shù)值計算[J].強激光與粒子束,2006,18(6):981-984.LI Jinxi,CHENG Yinhui,ZHOU Hui,et al.Response of shielding cable to pulsed X-rays[J].High Power Laser and Particle Beams,2006,18(6):981-984(in Chinese).
[2]李進璽,程引會,周輝,等.用傳輸線和時域有限差分法計算電纜X射線響應(yīng)[J].強激光與粒子束,2007,19(12):2 079-2 082.LI Jinxi,CHENG Yinhui,ZHOU Hui,et al.Calculation of coaxial line X-ray responses by transmission line method and finite difference time domain method[J].High Power Laser and Particle Beams,2007,19(12):2 079-2 082(in Chinese).
[3]ZHONG Yufen,ZHOU Hui,LI Baozhong,et al.The research of braided shielding cable responses in DPF X-ray environments[C]∥Proceedings of the 9th National Conference on Nuclear Electronics & Nuclear Detection Technology.Beijing:[s.n.],1999:239-242.
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