李金霞 楊 旭 趙宏波
數(shù)字化X線攝影(Digital Radiography,簡(jiǎn)稱DR),是上世紀(jì)90年代發(fā)展起來(lái)的X線攝影新技術(shù),以其更快的成像速度、更便捷的操作、更高的成像分辨率等顯著優(yōu)點(diǎn),成為數(shù)字X線攝影技術(shù)的主導(dǎo)方向,并得到世界各國(guó)的臨床機(jī)構(gòu)和影像學(xué)專家認(rèn)可。DR的技術(shù)核心是平板探測(cè)器,平板探測(cè)器是一種精密和貴重的設(shè)備,對(duì)成像質(zhì)量起著決定性的作用,熟悉探測(cè)器的性能指標(biāo)有助于我們提高成像質(zhì)量和減少X線輻射劑量。
非晶硒(a-Se)為直接式平板探測(cè)器結(jié)構(gòu),主要由集電矩陣、硒層、電介層、頂層電極和保護(hù)層等構(gòu)成。集電矩陣由按陣元方式排列的薄膜晶體管(TFT)組成。非晶硒半導(dǎo)體材料在薄膜晶體管陣列上方通過(guò)真空蒸鍍生成約0.5 mm厚、38 mm×45 mm見(jiàn)方的薄膜,它對(duì)X線很敏感,并有很高的圖像解析能力。
頂層電極接高壓電源,當(dāng)有X線入射時(shí),由于高壓電源在非晶硒表面形成的電場(chǎng),它們只能沿電場(chǎng)方向垂直穿過(guò)絕緣層、X射線半導(dǎo)體、電子封閉層,到達(dá)非晶硒,不會(huì)出現(xiàn)橫向偏離從而出現(xiàn)光的散射。非晶硒陣列直接將X射線轉(zhuǎn)變成電信號(hào),記憶在存儲(chǔ)電容器里,脈沖控制門電路使薄膜晶體管導(dǎo)通,把記憶在存儲(chǔ)電容器里的電荷送達(dá)電荷放大器輸出,完成光電信號(hào)的轉(zhuǎn)換,再經(jīng)數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換,形成數(shù)字圖像輸入計(jì)算機(jī),并由計(jì)算機(jī)將該影像還原在監(jiān)視器上由醫(yī)生觀察監(jiān)視器直接診斷。
非晶硅平板探測(cè)器為間接數(shù)字化X線成像,其基本結(jié)構(gòu)為表面是一層閃爍體材料(碘化銫或硫氧化),再下一層是以非晶體硅為材料的光電二極管電路,最底層為電荷讀出電路。
位于探測(cè)器表面的閃爍體將透過(guò)人體后衰減的X線轉(zhuǎn)換為可見(jiàn)光,閃爍體下的非晶硅光電二極管陣列又將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換為電信號(hào),在光電二極管自身的電容上形成存儲(chǔ)電荷,每個(gè)像素的存儲(chǔ)電荷量與入射X線強(qiáng)度成正比,在控制電路的作用下,掃描讀出各個(gè)像素的存儲(chǔ)電荷,經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后輸出數(shù)字信號(hào),傳送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理從而形成X線數(shù)字影像。
判斷平板探測(cè)器圖像質(zhì)量的好壞,通常用調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)和量子轉(zhuǎn)換效率(DQE)來(lái)衡量。MTF和DQE值高則表明該平板探測(cè)器產(chǎn)生的圖像質(zhì)量能夠達(dá)到較好的空間分辨率和密度分辨率。
量子探測(cè)效率(DQE)是一種對(duì)成像系統(tǒng)信號(hào)和噪聲從輸入到輸出的傳輸能力的表達(dá),以百分比表示。DQE反映的是平板探測(cè)器的靈敏度、噪聲、X線劑量和密度分辨率。
在非晶硅平板探測(cè)器中,影響DQE的因素主要有兩個(gè)方面:閃爍體的涂層和將可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的晶體管。
首先閃爍體涂層的材料和工藝影響了X線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的能力,所以對(duì)DQE會(huì)產(chǎn)生影響。目前常見(jiàn)的閃爍體涂層材料有兩種:碘化銫和硫氧化釓。碘化銫將X線轉(zhuǎn)換成可見(jiàn)光的能力比硫氧化釓強(qiáng)但成本比較高;將碘化銫加工成柱狀結(jié)構(gòu),可以進(jìn)一步提高捕獲X線的能力,并減少散射光。使用硫氧化釓做涂層的探測(cè)器成像速率快,性能穩(wěn)定,成本較低,但是轉(zhuǎn)換效率不如碘化銫涂層高。其次將閃爍體產(chǎn)生的可見(jiàn)光轉(zhuǎn)換成電信號(hào)的方式也會(huì)對(duì)DQE產(chǎn)生影響。在碘化銫(或者硫氧化釓) 薄膜晶體管(TFT)這種結(jié)構(gòu)的平板探測(cè)器中,因?yàn)門FT的陣列可以做成與閃爍體涂層的面積一樣大,所以可見(jiàn)光不需要經(jīng)過(guò)透鏡折射就可以投射到TFT上,中間沒(méi)有光子損失,所以DQE也比較高;在非晶硒平板探測(cè)器中,X線轉(zhuǎn)換成電信號(hào)完全依賴于非晶硒層產(chǎn)生的電子空穴對(duì),DQE的高低取決于非晶硒層產(chǎn)生電荷能力??偟恼f(shuō)來(lái),CsI TFT這種結(jié)構(gòu)的間接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的極限D(zhuǎn)QE高于a-Se直接轉(zhuǎn)換平板探測(cè)器的極限D(zhuǎn)QE。
對(duì)于同一種平板探測(cè)器,在不同的空間分辨率時(shí),其DQE是變化的;極限的DQE高,不等于在任何空間分辨率時(shí)DQE都高。DQE的計(jì)算公式如下:
DQE=S2×MFT2/NSP×X×C
S:信號(hào)平均強(qiáng)度;MTF:調(diào)制傳遞函數(shù);X:X線曝光強(qiáng)度;NPS:系統(tǒng)噪聲功率譜;C:X線量子系數(shù)從計(jì)算公式中我們可以看到,在不同的MTF值中對(duì)應(yīng)不同的DQE,也就是說(shuō)在不同的空間分辨率時(shí)有不同的DQE。
國(guó)際權(quán)威機(jī)構(gòu)測(cè)量了不同系統(tǒng)在70 KVp,21 mm鋁濾片條件下的DQE值。從表1中可以看出,隨著空間分辨率的增加,DQE呈下降趨勢(shì);在空間分辨率較低時(shí),非晶硅平板探測(cè)器的DQE最高;在空間分辨率較低時(shí),非晶硒平板探測(cè)器的DQE最高。
表1 量子探測(cè)效率DQE
調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)是描述系統(tǒng)再現(xiàn)成像物體空間頻率范圍的能力。理想的成像系統(tǒng)要求100%再現(xiàn)成像物體細(xì)節(jié),但現(xiàn)實(shí)中肯定存在不同程度的衰減,所以MTF始終<1,它說(shuō)明成像系統(tǒng)不能把輸入的影像全部再現(xiàn)出來(lái),換句話說(shuō),凡是經(jīng)過(guò)成像系統(tǒng)所獲得的圖像都不同程度損失了影像的對(duì)比度。MTF值越大,成像系統(tǒng)再現(xiàn)成像物體細(xì)節(jié)能力越強(qiáng)。系統(tǒng)的MTF是必須要測(cè)定的。要評(píng)價(jià)數(shù)字X線攝影系統(tǒng)的固有成像質(zhì)量,必須計(jì)算出不受主觀影響的、系統(tǒng)所固有的預(yù)采樣MTF。
國(guó)際權(quán)威機(jī)構(gòu)的測(cè)量結(jié)果表明,相比于非晶硅平板探測(cè)器,非晶硒平板探測(cè)器具有最優(yōu)的MTF值,但空間分辨率增加時(shí),非晶硅平板探測(cè)器的MTF迅速下降,而非晶硒平板探測(cè)器仍能保持較好的MTF值,這是與非晶硒平板探測(cè)器直接將入射的不可見(jiàn)X光光子直接轉(zhuǎn)換為電信號(hào)的成像原理密切相關(guān)的。
因?yàn)镈QE影響了圖像的相比較度,空間分辨率影響圖像對(duì)細(xì)節(jié)的分辨能力。在攝片中應(yīng)根據(jù)不同的檢查部位來(lái)選擇不同類型平板探測(cè)器的DR。對(duì)于胸部這樣的檢查,重點(diǎn)在于觀察和區(qū)別不同組織的密度,所以對(duì)密度分辨率的要求比較高。在這種情況下,宜使用非晶硅平板探測(cè)器的DR,這樣DQE比較高,容易獲得較高相比較度的圖像,更有助于診斷;對(duì)于四肢關(guān)節(jié)、乳腺這些部位的檢查,需要對(duì)細(xì)節(jié)有較高的顯像,對(duì)空間分辨率的要求很高,所以宜采用非晶硒平板探測(cè)器的DR,以獲得高空間分辨率的圖像。目前絕大部分廠家的數(shù)碼乳腺機(jī)都采用了非晶硒平板探測(cè)器,正是因?yàn)槿橄贁z片對(duì)空間分辨率要求很高,而只有非晶硒平板探測(cè)器才可能達(dá)到相應(yīng)的要求。
因而可知,不同類型的平板探測(cè)器因?yàn)椴牧?、結(jié)構(gòu)、工藝的不同而造成DQE和空間分辨率的差異。DQE影響了對(duì)組織密度差異的分辨能力;而空間分辨率影響了對(duì)細(xì)微結(jié)構(gòu)的分辨能力。目前還沒(méi)有一款DQE和空間分辨率都做得很高的平板探測(cè)器,所以需要在二者間做一個(gè)平衡。
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