李　靜　宋　錦

定位頭影測量方法是評價顱頜面骨骼結構特征的重要手段，廣泛運用于顱面生長發(fā)育預測及顱頜面骨骼特征等研究[1]。傳統(tǒng)方法諸如Downs分析法、Steiner分析法、Tweed 分析法、Wylie分析法、Wits分析法、Ricketts分析法等對顱頜面骨骼結構的評價主要基于角度、線距、比例等，因受面高、頜骨旋轉、參照平面變異等影響以及準確度、適用條件等限制，不能充分滿足臨床需要，因此，個體化定位頭影測量技術應運而生，為正確判斷個體顱頜面骨骼結構的矢狀關系和諧調度提供了新途徑[2]。定量化Delaire頭影測量分析方法基于顱頜面整體平衡理論，是個體化定位頭影測量技術的代表之一，但國內尚少有報道，本文對該法的起源、原理、應用及前景綜述如下。

1Delaire頭影測量分析法的起源

20世紀60年代，法國正畸及頜面外科醫(yī)生Delaire J基于對人類顱頜面生長發(fā)育機制以及整體結構關系的多年研究，提出了頜骨的發(fā)育與其周圍的固有肌肉關系密切，并且與牙、舌、關節(jié)的活動相互影響，因而形成特有的形態(tài)和功能，并由此進一步提出了顱頜面整體平衡理論[3]（圖1）。該理論認為：作用于顱頜面的施動因素可分為頸后帶、面深帶、頜面帶三部分(圖1)，三者的正常功能活動促使顱頜面骨骼的平衡發(fā)育。若發(fā)育過程中內部結構發(fā)生平衡失調，將首先導致頜骨畸形及牙合關系異常。基于上述理論，Delaire J[3]在多年的病理生理研究成果、臨床實踐經驗和傳統(tǒng)頭影測量分析法基礎上，設定了人類顱頜面正常狀態(tài)下骨骼的結構平衡點和有關線條，經Mercier J[4]于20世紀90年代改良后，逐漸發(fā)展為當代Delaire頭影測量分析法。

2Delaire頭影測量分析法的結構及特點

2.1 Delaire分析法依據顱頜面整體骨骼結構平衡理論，設定了一系列特有的標記點和面線(輔助線)[4]（圖2），有別于絕大多數(shù)頭影測量分析法，具體包括：

2.1.1 生理解剖點：①N：鼻根點；②M：鼻額突，上頜骨額突與鼻頜縫的連接點；③Cla：蝶鞍前點；④Clp：蝶鞍后點；⑤ENA(ANS)：前鼻棘點；⑥ENP(PNS)：后鼻棘點；⑦NP：鼻腭點；⑧Me：頦下點；⑨Pts：上翼點；⑩）Pti：下翼點；⑾Go：下頜角點；⑿U1：上中切牙切點；⒀U1R：上中切牙根尖點；⒁L1：下中切牙切點；⒂L1R:下中切牙根尖點。

2.1.2 計算點:①Clm：蝶鞍中點；②Fm：M點與上頜骨額突后緣和C1線交點間的中點；③Ct：顳下頜關節(jié)點；④Cp：C2線與下頜骨髁突后緣交點；⑤Od：Clp到第2頸椎指狀突后緣的切線的切點；⑥Om：Met過Got與F4線的交點；⑦Br：F2線于顱骨外皮質的交點（前囟點）；⑧Oi：從Op向C2線做垂線的垂點；⑨Sc：C3線與顱骨外皮質的交點（顱頂點）；⑩Got：F6線與F3線的交點；⑾Op：C1線延長線與顱骨外皮質的交點；⑿ENAt：理論前鼻棘點；⒀Met：理論頦下點；⒁X：F5線上的計算點，X到ENAt與ENAt到N'的距離比為55：45；⒂N'：N點水平前方1～3mm，根據年齡，12歲以下兒童為1mm，女性發(fā)育期后為2mm，男性發(fā)育期后3mm。

2.1.3 面線（輔助線）：C1線：顱底上線；C2線：顱面基底線；C3線：顱高線；C4線：基底斜線；F1線：顱面平衡前線；F2線：顱面平衡中線；F3線：顱面平衡后線；F4線：顱腭線；F5線：理論面高；F6線：測量輔助線，過ENAt與C2線平行；F7線：顱下頜平面線；F8線：理想咬合平面。

2.2Delaire分析法以顱頜面整體骨骼結構平衡理論為基礎，其分析顱面部畸形的思路包括了具體數(shù)據分析和直觀圖形分析兩部分[4]，具體數(shù)據分析是指Delaire分析法的特定測量項目，主要由由角度、比值和線距三部分組成：

2.2.1 角度：∠C1-C2：前顱底角，為C1，C2線的交角；∠C1-C4：蝶鞍角，為C1，C4線的交角；∠U1 to F4：上中切牙與理論上腭平面的交角；∠L1 to F7：下中切牙與理論下頜平面的交角；interincisal angle：上下中切牙交角。

2.2.2 比值：C3/C2：顱高比(顱骨形態(tài))；C3/ (Cp-Oi)：顱高/顱頸區(qū)；C3/(Cp-M)：顱高/顱面區(qū)；（M-CP）/C2：顱面區(qū)比(顱骨，頜面部之間的關系) ；(Cp-Oi)/C2：顱頸區(qū)比。

2.2.3 線距：Me-Met（s）：頦下點與理論頦下點的矢狀向關系；Me-Met（v）：頦下點與理論頦下點的垂直向關系；Np-F1：NP與F1線的關系(上頜骨前后關系，指導手術)；Me-F1：Me與F1線的關系（下頜骨的前后關系）。

2.3 傳統(tǒng)頭影測量分析法在診斷分析時，主要是以正常人群的平均數(shù)據值作為畸形程度的診斷標準，與具體病例的測量數(shù)據值相比較，及分析主要是以具體數(shù)據值為主[5-6]，而且傳統(tǒng)頭影測量分析法主要分析的是頭顱的矢狀向、垂直向不調，對牙、牙槽骨、頜骨及顱骨未特別給予區(qū)分。

2.4 Delaire分析法最大的特點，也是與其他頭影測量分析法最明顯的區(qū)別在于其直觀、個體化的圖形分析方式，即Delaire分析法以顱頜面整體骨骼結構平衡理論所決定的特定比例，依照每個具體患者的顱底、面深部骨性結構特征，構建出一個適應于此患者的理想顱面結構，包括：上下頜骨、面部、牙齒的位置和相互關系等（如圖2），以此理想圖形結構和患者的實際顱面部結構相重疊比較，就可以直觀地衡量顱骨、頸椎、上、下頜骨以及牙槽骨、牙齒等本身體積大小和位置關系。因此，其非常適合于正頜外科手術設計和功能矯形設計，使治療簡單化、直觀化、合理化，利于遠期功能外形效果的穩(wěn)定[3-4]，利于臨床應用。Hong等[7]主張在顱頜面畸形診斷及正畸治療中采用該方法，以定量化分析畸形的形成機制以指導治療設計。Paranque[8]研究認為Delaire頭影測量分析法對矢狀關系的分析直觀、準確，可做定量化、個體化的分析，在分析骨性錯牙合畸形補償機制方面具顯著優(yōu)越性，可通過比較個體理想位置和實際位置快速、直觀的反映畸形的部位及程度，優(yōu)化治療設計。

3定量化Delaire頭影測量分析法在正畸、正頜臨床中的應用

受原創(chuàng)語言限制，Delaire頭影測量分析法的臨床應用主要局限于歐洲，1991年韓國醫(yī)生Kim[9]發(fā)表了針對韓國正常成人的改良Delaire法。近年來Paranque[8]利用Delaire分析法對安氏Ⅱ類、安氏Ⅲ類的顱頜面結構特征進行分類，合理設計正頜外科方案，以改善顏面畸形的外觀和功能，獲得較好的遠期效果。William Bell[10]亦推崇Delaire分析法。但在國內，僅2005年王濤率先報道Delaire頭影測量分析法[11]，因為沒有中國人正常牙合人群的參考值，雖然可定性預測面部畸形的復雜性以輔助診斷，但卻不能進行較精細定量移動分析，限制了其進一步應用。2008年，陳夢葦?shù)萚12]采用WinCeph8.0計算機輔助定量Delaire頭影測量分析法，分析了95例重慶地區(qū)正常牙合個體的顱頜面硬組織結構，將個體顱頜面類型與群體的正?；蚱骄愋拖嗦?lián)系，初步建立了該地區(qū)的Delaire頭影測量分析法正常牙合參考值，并比較了重慶地區(qū)正常牙合人群與法國人之間的差異，研究結果顯示：前顱底角（∠1）重慶人群的角度比歐洲人群稍??；顱高比（C3/C2）的結果顯示顱骨形態(tài)的差異；歐洲人群的顱骨基線C2被髁頸后緣分為基本相等的兩段，表示顱面區(qū)和顱頸區(qū)大致相等，而重慶人群明顯的顱頸區(qū)要小于顱面區(qū)；下中切牙長軸和下頜平面交角（∠4）和上下中切牙長軸交角（∠5）在兩個人群中也有明顯的差異。該研究為Delaire分析法的進一步臨床推廣應用及進行精確定量分析（如正頜手術、牙移動預測）提供了有力依據[13]。2008年，王茜[14]等采用Delaire分析法對重慶地區(qū)漢族正常人顱面部骨骼特征進行了分析，并與法國人和韓國人進行了比較，進一步提供了適合重慶地區(qū)人群的顱頜牙面畸形診斷、治療方案的參考依據。

4 國內Delaire頭影測量分析法的研究進展

以往Delaire頭影測量方法均為手工測量，分析項目過于復雜，且工作量大、耗時多，一定程度上限制了其臨床的推廣應用。計算機技術的興起推動了計算機輔助頭影測量分析法[15]的臨床應用，簡化了測量描繪過程，使標志點定位更準確，提高了分析效率和精確性。馮格等[16-17]探討了計算機輔助定量Delaire頭影測量分析法的相關應用，該研究為顱面生長發(fā)育研究及預測、顏貌協(xié)調性的骨骼機制分析、“正頜－正畸聯(lián)合矯治”提供了定量、直觀、準確、便捷的分析測繪平臺，提高了臨床工作效率及分析準確度，具有較好的可重復性。目前，Delaire頭影測量分析軟件（中文）已經初步研制完成，這將更有利于其在國內范圍的推廣應用。

綜上所述，Delaire頭影測量分析法是傳統(tǒng)頭影測量方法的有利補充[18]。隨著計算機技術的快速發(fā)展和CT、MRI技術的不斷成熟，計算機輔助Delaire頭影測量分析法將會廣泛應用于顱頜面畸形的機制分析、診療計劃擬定等。結合CT和MRI技術的Delaire頭影測量分析法能夠將顱面部影像進行三維重建[19-20]，可獲取顱骨、頜骨、牙齒之間的三維角度、線距、比例等測量數(shù)據，并準確直觀地再現(xiàn)顱頜面的真實結構，將是未來應用發(fā)展的必然趨勢。

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[收稿日期]2008-08-26[修回日期]2008-11-17

編輯/張惠娟