王強(qiáng) 王楊 趙目龍 婁立新 王祎帆
【摘要】在高速數(shù)字電路中,電信號(hào)串?dāng)_是影響信號(hào)完整性的一個(gè)主要因素。針對(duì)近端電信號(hào)串?dāng)_噪聲和遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_噪聲進(jìn)行理論建模,借助信號(hào)完整性仿真工具HyperLynx進(jìn)行仿真分析,研究攻擊線與受害線的間距、耦合長(zhǎng)度、信號(hào)線到參考平面的介質(zhì)層厚度、信號(hào)上升沿及下降沿速率對(duì)于電信號(hào)串?dāng)_的影響。仿真結(jié)果表明:合理的設(shè)計(jì)可以有效抑制電信號(hào)串?dāng)_,進(jìn)而提高電路信號(hào)完整性。
關(guān)鍵詞:高速電路;HyperLynx;信號(hào)完整性;電信號(hào)串?dāng)_;仿真;
中圖分類號(hào):U464.12+3? ?文獻(xiàn)標(biāo)志碼:A? DOI: 10.19822/j.cnki.1671-6329.20220255
Simulation Analysis of Electrical Signal Crosstalk Based on HyperLynx
Wang Qiang, Wang Yang, Zhao Mulong, Lou Lixin, Wang Yifan
(Global R&D Center, China FAW Corporation Limited, Changchun 130013)
【Abstract】 In high-speed digital circuits, electrical signal crosstalk is one of the main factors affecting signal integrity. The theoretical model of the near end electrical signal crosstalk noise and the far end electrical signal crosstalk noise is established in this paper, and some parameters affecting electrical signal crosstalk are simulated by using the signal integrity simulation tool HyperLynx, such as the distance between aggressor line and victim line, the coupling length, the thickness of dielectric layer from the signal line to reference plane and the rates of rising as well as falling edges of signals. The simulation results show that the reasonable design can effectively suppress the electrical signal crosstalk and improve the signal integrity of the circuit.
Key words: High-speed circuit, HyperLynx, Signal integrity, Electrical signal Crosstalk, Simulation
縮略語(yǔ)
EMMC? ? Embedded Multi Media Card
DDR4? ? Double Data Rate 4th-generation Synchronous
Dynamic Random-access Memory
PCB? ? ? Printed Circuit Board
IFC? ? ? Intelligent Front Camera
SOC? ? System on Chip
IBIS? ? Input/Output Buffer Information
Specification
NEXT? Near End Crosstalk
FEXT? Far End Crosstalk
0 引言
隨著自動(dòng)駕駛、智能座艙技術(shù)的快速發(fā)展,嵌入式多媒體卡(Embedded Multi Media Card,EMMC)、雙倍數(shù)據(jù)速率第4代同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取內(nèi)存(Double Data Rate 4th-generation Synchronous Dynamic Random-access Memory,DDR4)等高速存儲(chǔ)芯片在汽車上得到了大規(guī)模應(yīng)用。傳統(tǒng)汽車電子控制器通常處理的是一些低頻、大功率信號(hào),例如發(fā)動(dòng)機(jī)控制器中噴油和點(diǎn)火信號(hào)。在傳統(tǒng)印刷電路板(Printed Circuit Board,PCB)設(shè)計(jì)中主要考慮信號(hào)通流能力、散熱因素。智能網(wǎng)聯(lián)汽車電子控制器中包含有大量的高速信號(hào),例如智能前視攝像頭(Intelligent Front Camera,IFC)控制器中系統(tǒng)芯片(System On Chip,SOC)與DDR4的數(shù)據(jù)交互信號(hào),通訊速率可以達(dá)到2 666 Mbit/s。在此類控制器的PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中,必須考慮信號(hào)完整性的問(wèn)題,否則控制器可能無(wú)法正常工作。
伴隨著PCB尺寸縮小和信號(hào)通訊速率不斷提升,電信號(hào)串?dāng)_對(duì)于電路可靠性影響愈發(fā)嚴(yán)重[1-4]。電信號(hào)串?dāng)_是影響信號(hào)完整性的一個(gè)重要因素。
本文針對(duì)于近端電信號(hào)串?dāng)_和遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_進(jìn)行理論建模分析。在此基礎(chǔ)之上,通過(guò)仿真工具HyperLynx對(duì)攻擊線與受害線之間的間距、耦合長(zhǎng)度、信號(hào)線到參考平面介質(zhì)層厚度、信號(hào)上升沿和下降沿速率進(jìn)行詳細(xì)仿真分析,研究上述參數(shù)對(duì)于電信號(hào)串?dāng)_的影響。
1 電信號(hào)串?dāng)_形成機(jī)理
信號(hào)在傳輸線中傳遞時(shí),會(huì)在其周圍產(chǎn)生相應(yīng)的電場(chǎng)和磁場(chǎng)[5-11]。電信號(hào)串?dāng)_指的是能量從一根傳輸線通過(guò)寄生電容和寄生電感耦合到另外一根相鄰傳輸線的現(xiàn)象。其中,寄生電容產(chǎn)生的耦合稱為容性耦合,寄生電感產(chǎn)生的耦合稱之為感性耦合[12-14]。
1.1 容性耦合
圖1為容性耦合的等效電路示意圖。假設(shè)攻擊線和受害線都為均勻傳輸線,且兩根傳輸線的寄生電容與寄生電感均勻分布在整段傳輸線上。攻擊線上的信號(hào)為上升沿信號(hào),穩(wěn)定電壓為VS。攻擊線驅(qū)動(dòng)端輸出阻抗為0,攻擊線負(fù)載端阻抗為Z0。受害線驅(qū)動(dòng)端和負(fù)載端都進(jìn)行端接,且端接阻抗為Z0。Cm為兩根傳輸線單位長(zhǎng)度的互容。
針對(duì)于受害線上一小段傳輸線ΔX,由基爾霍夫電流定律可得:
[VBCZ0+VFCZ0=Cm×ΔX×dVSdt]? ? ? ? ? ? ? ?(1)
式中:VBC為受害線上傳向近端的容性耦合電壓,VFC為受害線上傳向遠(yuǎn)端的容性耦合電壓。
由于受害線上的阻抗處處相等,且寄生電容感生出來(lái)的電流,一半流向近端,一半流向遠(yuǎn)端。那么,可得:
[VBC=VFC=12×Cm×ΔX×dVSdt]? ? ? ? ? ? ? (2)
若信號(hào)上升沿為線性的,且兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度一定,那么由式(2)可得近端容性耦合電信號(hào)串?dāng)_為:
[VNEXTC=12×12×Cm×υ×Tr×VSTr]? ? ? ? ? ? ?(3)
式中:υ為攻擊線上信號(hào)的傳播速度,Tr為攻擊線上信號(hào)上升沿時(shí)間。
式(3)可以簡(jiǎn)化為:
[VNEXTC=14×Cm×υ×VS]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (4)
由式(2)可得遠(yuǎn)端容性耦合電信號(hào)串?dāng)_為:
[VFEXTC=12×Cm×LT×VSTr]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (5)
式中:LT為兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度。
針對(duì)于近端容性耦合電信號(hào)串?dāng)_,當(dāng)攻擊線上有上升沿信號(hào)出現(xiàn)時(shí),受害線上的感生電流會(huì)以一個(gè)恒定的速度向近端移動(dòng)。當(dāng)兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度小于飽和長(zhǎng)度時(shí),近端容性耦合的電壓值會(huì)隨著耦合長(zhǎng)度的增加而變大。其中,飽和長(zhǎng)度Lensat為:
[Lensat=υ×Tr]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?(6)
當(dāng)兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度大于飽和長(zhǎng)度時(shí),近端容性耦合電壓值會(huì)達(dá)到一個(gè)穩(wěn)定值,不再繼續(xù)增加。當(dāng)變化的信號(hào)達(dá)到攻擊線的負(fù)載端時(shí),受害線上不再有新的感生電流產(chǎn)生,但還會(huì)有電流傳向受害線的近端,且持續(xù)時(shí)間為TD,其中TD為攻擊線上變化的上升沿信號(hào)從驅(qū)動(dòng)端到負(fù)載端的傳輸延遲。受害線上的近端容性耦合電壓變化曲線如圖2所示。
針對(duì)于遠(yuǎn)端容性電信號(hào)串?dāng)_,當(dāng)攻擊線上的上升沿信號(hào)到達(dá)負(fù)載端時(shí),才會(huì)在受害線的遠(yuǎn)端產(chǎn)生電信號(hào)串?dāng)_電壓噪聲,且該噪聲的持續(xù)時(shí)間等于攻擊線上信號(hào)的上升沿時(shí)間Tr。受害線上的遠(yuǎn)端容性耦合電壓變化曲線如圖3所示。
綜上所述,針對(duì)于近端容性耦合電信號(hào)串?dāng)_而言,其會(huì)在受害線的近端產(chǎn)生一個(gè)寬信號(hào),且信號(hào)的寬度會(huì)隨著耦合長(zhǎng)度的增加而增加。針對(duì)于遠(yuǎn)端容性耦合電信號(hào)串?dāng)_而言,會(huì)在受害線的遠(yuǎn)端產(chǎn)生一個(gè)窄脈沖信號(hào),且信號(hào)的幅值會(huì)隨耦合長(zhǎng)度的增加而增加。
1.2 感性耦合
圖4為感性耦合的等效電路示意圖,其中攻擊線上的電流為IS,Lm為兩根傳輸線單位長(zhǎng)度的互感。
針對(duì)于受害線上的一小段傳輸線ΔX,由基爾霍夫電壓定律可得:
[VBL=Lm×ΔX×dISdt+VFL]? ? ? ? ? ? ? ? ? ?(7)
式中:VBL為受害線上傳向近端的感性耦合電壓,VFL為受害線上傳向遠(yuǎn)端的感性耦合電壓。
其中:
[VBLZ0=-VFLZ0]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?(8)
[IS=VSZ0]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ?(9)
將式(8)和式(9)帶入式(7)中可得:
[VBL=12×LmZ0×ΔX×dVSdt]? ? ? ? ? ? ? ? ?(10)
[VFL=-12×LmZ0×ΔX×dVSdt]? ? ? ? ? ? ? ? (11)
若信號(hào)上升沿為線性,且兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度一定,那么由式(10)可得近端感性耦合電信號(hào)串?dāng)_為:
[VNEXTL=14×LmZ0×υ×VS]? ? ? ? ? ? ? ? ? (12)
遠(yuǎn)端感性耦合電信號(hào)串?dāng)_為:
[VFEXTL=-12×LmZ0×LT×VSTr]? ? ? ? ? ? ? ? ?(13)
針對(duì)于近端感性耦合電信號(hào)串?dāng)_,其與近端容性耦合電信號(hào)串?dāng)_近似。當(dāng)兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度小于飽和長(zhǎng)度時(shí),近端感性耦合的電壓值會(huì)隨著耦合長(zhǎng)度的增加而變大。當(dāng)兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度大于飽和長(zhǎng)度時(shí),近端感性耦合電壓值會(huì)達(dá)到一個(gè)穩(wěn)定值。受害線上的近端容性耦合電壓變化曲線如圖5所示。
針對(duì)于遠(yuǎn)端感性電信號(hào)串?dāng)_,當(dāng)攻擊線上的上升沿信號(hào)到達(dá)負(fù)載端時(shí),才會(huì)在受害線的遠(yuǎn)端產(chǎn)生電信號(hào)串?dāng)_電壓噪聲,且該噪聲的持續(xù)時(shí)間等于攻擊線上信號(hào)的上升沿時(shí)間Tr。但遠(yuǎn)端感性電信號(hào)串?dāng)_和遠(yuǎn)端容性電信號(hào)串?dāng)_的耦合電壓方向相反。受害線上的遠(yuǎn)端感性耦合電壓變化曲線如圖6所示。
綜上所述,針對(duì)于近端感性耦合電信號(hào)串?dāng)_而言,其會(huì)在受害線的近端產(chǎn)生一個(gè)寬信號(hào),且信號(hào)的寬度會(huì)隨著耦合長(zhǎng)度的增加而增加。針對(duì)于遠(yuǎn)端感性耦合電信號(hào)串?dāng)_而言,其會(huì)在受害線的遠(yuǎn)端產(chǎn)生一個(gè)窄脈沖信號(hào),且信號(hào)的幅值會(huì)隨耦合長(zhǎng)度的增加而增加。
1.3 近端電信號(hào)串?dāng)_
針對(duì)于近端電信號(hào)串?dāng)_而言,容性電信號(hào)串?dāng)_和感性電信號(hào)串?dāng)_同時(shí)存在。由1.1和1.2小節(jié)可得:
[VNEXT=VNEXTC+VNEXTL]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (14)
將式(4)和式(12)帶入式(14)中:
[VNEXT=14×Cm×υ×VS+14×LmZ0×υ×VS]? ? ? (15)
由傳輸線的基本理論可知:
[υ=1L0×C0]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (16)
[Z0=L0C0]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (17)
將式(16)和式(17)帶入式(15)中可得:
[VNEXT=14×VS×CmC0+LmL0]? ? ? ? ? ? ? ? (18)
從式(18)中可以得知,近端電信號(hào)串?dāng)_的幅值與傳輸線間互感和互容強(qiáng)相關(guān)。
1.4 遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_
針對(duì)于遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_而言,容性電信號(hào)串?dāng)_和感性電信號(hào)串?dāng)_也同時(shí)存在。由1.1和1.2小節(jié)可得:
[VFEXT=VFEXTC+VFEXTL]? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (19)
將式(5)和式(13)帶入式(19)中:
[VFEXT=12×Cm×LT×VSTr-12×LmZ0×LT×VSTr]? ?(20)
將式(16)和式(17)帶入式(20)中可得:
[VFEXT=12×TD×VSTr×CmC0-LmL0]? ? ? ? ? (21)
式中:TD為信號(hào)在攻擊線上的傳輸延遲。
從式(21)中可以得知,當(dāng)Cm/C0等于Lm/L0時(shí),遠(yuǎn)端容性電信號(hào)串?dāng)_與遠(yuǎn)端感性電信號(hào)串?dāng)_互相抵消。此外,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的幅值與信號(hào)在攻擊線上的傳輸延遲TD和攻擊線上信號(hào)上升沿時(shí)間強(qiáng)相關(guān)。
2 電信號(hào)串?dāng)_仿真分析
將針對(duì)攻擊線與受害線的間距、耦合長(zhǎng)度、信號(hào)線到參考平面的介質(zhì)層厚度、信號(hào)上升沿和下降沿的速率參數(shù)進(jìn)行仿真分析。仿真工具為Mentor Graphics旗下的信號(hào)完整性仿真工具HyperLynx,軟件版本為VX.2.6。
圖7為電信號(hào)串?dāng)_仿真在HyperLynx軟件中的示意圖,其中U1.1為攻擊線的輸出緩沖器,TL1為攻擊線的傳輸線,R1為攻擊線的負(fù)載電阻,TL2為受害線的傳輸線,R2為受害線的源端電阻,R3為受害線的負(fù)載電阻。仿真中,R1=63.0 Ω、R2=63.0 Ω、R3=63.0 Ω。
2.1 攻擊線與受害線間距
仿真中,將TL1和TL2線設(shè)定為寬度為0.15 mm的頂層走線,兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度TC為76.20 mm,線與線的間距TS從0.15 mm拉大到0.30 mm,每次仿真間距步長(zhǎng)為0.05 mm。
從圖8中可以看到,隨著兩根傳輸線間距的增大,近端電信號(hào)串?dāng)_的峰值在逐步下降。當(dāng)兩根傳輸線的間距為0.15 mm時(shí),近端電信號(hào)串?dāng)_的峰值為191.20 mV。當(dāng)兩根傳輸線的間距為0.30 mm時(shí),近端電信號(hào)串?dāng)_的峰值為81.50 mV。通常,兩根傳輸線的互感和互容會(huì)隨著傳輸線間距的減小而變大。上述近端電信號(hào)串?dāng)_的電壓變化趨勢(shì)與式(18)理論分析一致。
從圖9中可知,隨著傳輸線間距的增大,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的峰值逐漸減小。當(dāng)兩根傳輸線的間距為0.15 mm時(shí),遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的峰值為-69.04 mV。當(dāng)兩根傳輸線的間距為0.30 mm時(shí),遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的峰值為-92.37 mV。
2.2 耦合長(zhǎng)度
仿真中,將TL1和TL2線設(shè)定為寬度為0.15 mm的頂層走線,兩根傳輸線邊與邊的間距為0.20 mm,耦合長(zhǎng)度從25.40 mm增大到152.40 mm,每次仿真耦合長(zhǎng)度的步長(zhǎng)為25.40 mm。
圖10為不同耦合長(zhǎng)度下的近端電信號(hào)串?dāng)_電壓波形。從圖10中可以看到,當(dāng)兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度在25.40~76.20 mm之間時(shí),隨著耦合長(zhǎng)度的增加,近端電信號(hào)串?dāng)_電壓的峰值逐漸增加。此時(shí),傳輸線的耦合長(zhǎng)度小于飽和長(zhǎng)度。當(dāng)兩根傳輸線的耦合長(zhǎng)度在101.60~152.40 mm之間時(shí),近端電信號(hào)串?dāng)_電壓的峰值不再變化,達(dá)到一個(gè)穩(wěn)定數(shù)值。此時(shí),傳輸線的耦合長(zhǎng)度大于飽和長(zhǎng)度。此外,隨著兩根傳輸線耦合長(zhǎng)度的增加,近端電信號(hào)串?dāng)_噪聲的持續(xù)時(shí)間也隨之增加。
圖11為不同耦合長(zhǎng)度下的遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_電壓波形。從圖11中可以看到,隨著兩根傳輸線耦合長(zhǎng)度的增加,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的峰值電壓從-27.98 mV增加到-170.61 mV。但遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_噪聲的持續(xù)時(shí)間并不會(huì)隨著耦合長(zhǎng)度的增加而增加。
2.3 信號(hào)上升沿和下降沿速率
仿真中,將TL1和TL2線設(shè)定為寬度為0.15 mm的頂層走線,兩根傳輸線邊與邊的間距為0.20 mm,耦合長(zhǎng)度為76.20 mm。設(shè)定驅(qū)動(dòng)端的信號(hào)為上升沿信號(hào)。
通過(guò)查看驅(qū)動(dòng)端U1.1的輸入/輸出緩沖器信息規(guī)范(Input/Output Buffer Information Specification,IBIS)模型,可得當(dāng)信號(hào)上升沿速率為典型值(Typical)時(shí),在0.34 ns內(nèi)電壓變化為1.53 V,電壓變化率為4.50 V/ns;當(dāng)信號(hào)上升沿速率為快速(Fast)時(shí),在0.26 ns內(nèi)電壓變化為1.75 V,電壓變化率為6.72 V/ns;當(dāng)信號(hào)上升沿速率為慢速(Slow)時(shí),在0.53 ns內(nèi)電壓變化為1.25 V,電壓變化率為2.36 V/ns。
從圖12中可得,隨著驅(qū)動(dòng)端信號(hào)上升沿的變緩,近端電信號(hào)串?dāng)_和遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_噪聲的峰值也隨之下降。當(dāng)信號(hào)上升沿速率為Fast時(shí),近端電信號(hào)串?dāng)_的電壓峰值為161.51 mV,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的電壓峰值為-123.53 mV。從式(21)可知,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的電壓峰值與信號(hào)上升沿/下降沿的時(shí)間成反比,即上升沿和下降沿時(shí)間越短,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的電壓峰值越大,仿真結(jié)果與理論公式推導(dǎo)一致。
2.4 信號(hào)線到參考平面的厚度
仿真中,將TL1和TL2設(shè)定為頂層走線,兩根傳輸線邊與邊的間距為0.20 mm,耦合長(zhǎng)度為76.20 mm。信號(hào)線到參考平面的介質(zhì)層厚度Tt分別為0.07 mm、0.10 mm和0.12 mm。為保證傳輸線的阻抗為63 Ω,在上述介質(zhì)層厚度的情況下,走線寬度分別為0.08 mm、0.12 mm和0.15 mm。
從圖13中可以看出,隨著信號(hào)線到參考平面介質(zhì)層厚度的增加,電信號(hào)串?dāng)_噪聲的峰值也隨之增加。圖14為不同介質(zhì)層厚度下的電力線和磁力線分布圖。當(dāng)介質(zhì)層厚度Tt為0.07 mm時(shí),電信號(hào)串?dāng)_噪聲峰值最小,此時(shí),近端電信號(hào)串?dāng)_的噪聲峰值為77.69 mV,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的噪聲峰值為-62.10 mV,信號(hào)線與參考平面間電力線分布較為密集,信號(hào)線與信號(hào)線間的電力線分布較為稀疏,表征信號(hào)線與參考平面間的耦合較強(qiáng),信號(hào)線與信號(hào)線間的耦合較弱。當(dāng)介質(zhì)層厚度Tt為0.12 mm時(shí),電信號(hào)串?dāng)_噪聲峰值最大,此時(shí),近端電信號(hào)串?dāng)_的噪聲峰值為138.77 mV,遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_的噪聲峰值為-85.45 mV,信號(hào)線與參考平面間電力線分布較為稀疏,信號(hào)線與信號(hào)線間的電力線分布較為密集,表征信號(hào)線與參考平面間的耦合較弱,信號(hào)線與信號(hào)線間的耦合較強(qiáng)。
3 結(jié)束語(yǔ)
抑制電信號(hào)串?dāng)_是保證信號(hào)完整性的一個(gè)重要手段。本文對(duì)兩根傳輸線間的近端電信號(hào)串?dāng)_和遠(yuǎn)端電信號(hào)串?dāng)_進(jìn)行詳細(xì)的理論建模,并通過(guò)信號(hào)完整性軟件HyperLynx進(jìn)行仿真分析。仿真結(jié)果表明,攻擊線與受害線間距、耦合長(zhǎng)度、信號(hào)上升沿和下降沿速率、信號(hào)線到參考平面的厚度都會(huì)對(duì)電信號(hào)串?dāng)_噪聲產(chǎn)生影響。在實(shí)際PCB設(shè)計(jì)中,應(yīng)通過(guò)合理的疊層設(shè)計(jì)、走線來(lái)抑制電信號(hào)串?dāng)_,從而提高控制器可靠性。此外,高速電路工程師可以通過(guò)仿真來(lái)確定走線的約束條件,進(jìn)而提高PCB設(shè)計(jì)效率和一次打板成功率。
參 考 文 獻(xiàn)
[1] 李成, 程曉宇, 畢篤彥, 等. 基于HyperLynx的高速DSP系統(tǒng)信號(hào)完整性仿真研究[J].電子器件, 2009, 32(2): 445-451.
[2] 楊華, 陳少昌, 朱鳳波. 高速數(shù)字電路PCB中串?dāng)_問(wèn)題的研究與仿真[J]. 電光與控制, 2012(3): 94-98.
[3] 袁為群, 宋建遠(yuǎn), 陳世榮. 基于信號(hào)完整性的高速PCB優(yōu)化設(shè)計(jì)與研究[J]. 廣東工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào), 2019(6): 74-79.
[4] 張健. 高速數(shù)字電路中串?dāng)_計(jì)算的簡(jiǎn)化公式[J]. 南京工程學(xué)院學(xué)報(bào): 自然科學(xué)版, 2008, 6(1): 21-26.
[5] 付兆靜. 基于HyperLynx的PCB板信號(hào)完整性分析[D]. 哈爾濱: 哈爾濱工程大學(xué).
[6] 李軼敏. 高速電路的信號(hào)完整性分析[D]. 南京: 南京航空航天大學(xué), 2008.
[7] 李千. 高速PCB設(shè)計(jì)中串?dāng)_與反射的研究[D]. 哈爾濱: 哈爾濱工程大學(xué), 2016.
[8] 朱亞地. 高速PCB信號(hào)反射及串?dāng)_仿真分析[D]. 西安: 西安電子科技大學(xué), 2012.
[9] EAKHWAN S, JEONGH. A Wide-Band Passive Equalizer Design on PCB Based on Near-End Crosstalk and Reflections for 12.5 Gbps Serial Data Transmission[J]. Microwave and Wireless Components Letters, 2008, 18(12): 794-796.
[10] SONG E, CHO J, KIM J, et al. Modeling and Design Optimization of a Wideband Passive Equalizer on PCB Based on Near-End Crosstalk and Reflections for High-Speed Serial Data Transmission[J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2010, 52(2): 410-420.
[11] 王祎帆, 王楊, 王強(qiáng), 等. 基于HyperLynx的高速電路端接技術(shù)仿真研究[J]. 汽車文摘, 2020(5): 53-58.
[12] GREEN L. Understanding the Importance of Signal Integrity[J]. Circuits & Devices Magazine IEEE, 1999, 15(6): 7-10.
[13] GOYAL R. Managing Signal Integrity [PCB design][J]. IEEE Spectrum, 1994, 31(3): 54-58.
[14] NOVAKI. Modeling, Simulation, and Measurement Considerations of High-speed Digital Buses[J]. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 1992, 41(6): 147-151.
(責(zé)任編輯 梵鈴)
【作者簡(jiǎn)介】
王祎帆(—),中國(guó)第一汽車股份有限公司研發(fā)總院,工程師,研究方向?yàn)楦咚匐娐吩O(shè)計(jì)及SI/PI仿真。
E-mail:wangyifan@faw.com.cn