單雪松,袁 帥,楊 雪,王若瑜,林 偉
(中國(guó)石化石油化工科學(xué)研究院,北京 100083)
擬薄水鋁石,又名一水合氧化鋁或假一水軟鋁石,其獨(dú)特的理化性質(zhì)使其作為黏結(jié)劑或基質(zhì)材料被廣泛應(yīng)用于工業(yè)催化劑的生產(chǎn)加工中[1-2]。目前,工業(yè)上制備擬薄水鋁石多采用化學(xué)共沉淀法和醇鋁水解法[3],其中化學(xué)共沉淀法因具有操作簡(jiǎn)單、成本低、能耗小、易于批量生產(chǎn)等優(yōu)勢(shì),是國(guó)內(nèi)現(xiàn)階段生產(chǎn)擬薄水鋁石的主流技術(shù)。堿沉淀法作為化學(xué)共沉淀法的一種,是利用堿中和沉淀酸性鋁鹽來(lái)制備擬薄水鋁石。該方法原料供應(yīng)豐富、合成效率高、技術(shù)經(jīng)濟(jì)性高,在生產(chǎn)和應(yīng)用中廣受關(guān)注[4]。
硫酸鋁(純度不低于99%)、硫酸銨(純度不低于99%)、草酸銨(純度不低于99%)、硼酸(純度不低于99%)、鹽酸(質(zhì)量分?jǐn)?shù)36%~38%)、無(wú)水乙醇(純度不低于99%),均購(gòu)自國(guó)藥集團(tuán)化學(xué)試劑有限公司。氯化銨(純度不低于99%)、氯化鋇(純度不低于99%),均購(gòu)自天津市大茂化學(xué)試劑廠。氨水(質(zhì)量分?jǐn)?shù)不低于25%),購(gòu)自北京益利精細(xì)化學(xué)品有限公司。去離子水,自制,pH為6.5~7.5。
采用日本理學(xué)株式會(huì)社生產(chǎn)的D/max2 ⅢA型X射線衍射(XRD)儀測(cè)定合成產(chǎn)物的晶相結(jié)構(gòu),衍射條件為:Cu Kα輻射,石墨單色器,掃描速率為4(°)/min,掃描角度為5°~70°。取適量待測(cè)樣品粉末用載玻片壓平表面后放入衍射儀進(jìn)行XRD測(cè)試,將測(cè)得的譜圖與PDF(The Powder Diffraction File)卡片進(jìn)行對(duì)照,分析確定待測(cè)樣品的晶相組成。
采用美國(guó)Micromeritics公司生產(chǎn)的DIGISORB 2500型自動(dòng)吸附儀測(cè)定氧化鋁的比表面積、孔體積和孔分布等:在300 ℃下脫氣8 h以上,以液氮保持溫度為-195.75 ℃進(jìn)行等溫N2吸附-脫附,用BET方法計(jì)算樣品的比表面積、孔體積以及孔徑大小。
采用荷蘭FEI-Philips公司生產(chǎn)的TECNAI 20型透射電子顯微鏡(TEM)觀察氧化鋁顆粒形貌。測(cè)試前首先取少量試樣溶解于無(wú)水乙醇中,用超聲波粉碎機(jī)對(duì)其進(jìn)行分散,然后取少量懸浮液滴于銅微柵上,制樣后進(jìn)行表征。
利用XRD分析各擬薄水鋁石的晶相結(jié)構(gòu),得到不同酸堿環(huán)境中不同陰離子體系、不同老化時(shí)間(3,6,9,21,24 h)下所得擬薄水鋁石樣品的結(jié)晶度和晶粒大小,結(jié)果分別見(jiàn)表1和表2。
表1 弱堿環(huán)境中不同陰離子體系、不同老化時(shí)間下所得擬薄水鋁石的結(jié)晶度和晶粒大小
表2 弱酸環(huán)境中不同陰離子體系、不同老化時(shí)間下所得擬薄水鋁石的結(jié)晶度和晶粒大小
圖1、圖2為不同酸堿環(huán)境中不同陰離子體系、老化時(shí)間分別為3 h和24 h時(shí)所得擬薄水鋁石樣品的XRD圖譜。對(duì)照PDF標(biāo)準(zhǔn)卡片以及JCPDS:21-1307(空間群:Amam63)可知,2θ為14.485°,28.181°,38.336°,49.211°,64.98°處分別對(duì)應(yīng)擬薄水鋁石的(020),(120),(031),(200),(002)晶面,圖中上述位置均可觀察到尖銳、清晰的擬薄水鋁石特征峰,且無(wú)明顯雜質(zhì)峰,說(shuō)明上述4種不同陰離子在弱酸或弱堿環(huán)境下均可制備獲得高純度的擬薄水鋁石。
圖1 弱堿環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間分別為3 h和24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的XRD圖譜
圖2 弱酸環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間分別為3 h和24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的XRD圖譜
擬薄水鋁石產(chǎn)物的形貌與體系的酸堿性及陰離子類型有關(guān)。不同酸堿環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得擬薄水鋁石樣品的TEM照片見(jiàn)圖3和圖4。
圖3 弱堿環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的TEM照片
圖4 弱酸環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的TEM照片
不同酸堿環(huán)境導(dǎo)致的差異正是由于陰離子在不同pH下與擬薄水鋁石之間吸附力的強(qiáng)弱不同所造成的,其化學(xué)本質(zhì)是陰離子與擬薄水鋁石表面之間的靜電吸引強(qiáng)弱隨著pH而變化。不同pH下所得擬薄水鋁石的Zeta電勢(shì)見(jiàn)圖5[15]。
圖5 擬薄水鋁石的Zeta電勢(shì)[15]
如圖5所示:擬薄水鋁石的等電點(diǎn)為pH=9.2;當(dāng)pH<9.2時(shí),擬薄水鋁石表面帶有正電且隨著pH的升高Zeta電勢(shì)逐漸降低;當(dāng)pH=3.5時(shí)Zeta電勢(shì)最高,為50 mV;當(dāng)pH>9.2時(shí),擬薄水鋁石表面Zeta電勢(shì)轉(zhuǎn)變?yōu)樨?fù)電勢(shì),且pH越高,負(fù)電荷越多,電勢(shì)越低。
顯而易見(jiàn),擬薄水鋁石表面正電勢(shì)越高,表面正電荷越多,陰離子與擬薄水鋁石間的靜電吸引力就越強(qiáng);擬薄水鋁石表面電勢(shì)為負(fù)時(shí),表面被負(fù)電荷覆蓋,由于同性相斥,陰離子與擬薄水鋁石間的靜電作用變?yōu)橄嗷ヅ懦?,此時(shí)陰離子不易在擬薄水鋁石表面吸附。雖然pH為8.5~9和pH為5~6均在正電勢(shì)區(qū)間,但pH為5~6體系電勢(shì)明顯更高,表明弱酸體系擬薄水鋁石攜帶更多正電荷,陰離子與擬薄水鋁石表面的吸附作用更強(qiáng),不同陰離子特異性促進(jìn)不同晶面的生長(zhǎng)體現(xiàn)更為充分,因此弱酸環(huán)境下不同陰離子體系所得擬薄水鋁石的形貌具有顯著差別。同理,pH為8.5~9時(shí)擬薄水鋁石表面的正電荷較少,陰離子與擬薄水鋁石間的吸附作用較弱,吸附在擬薄水鋁石上的陰離子較少,不足以在形貌上顯現(xiàn)出陰離子的導(dǎo)向生長(zhǎng)作用,這與前述XRD分析結(jié)果相符。
進(jìn)一步通過(guò)N2吸脫-脫附曲線研究不同酸堿環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得8種擬薄水鋁石樣品的孔道結(jié)構(gòu)特性,結(jié)果見(jiàn)圖6和圖7。如圖6所示,根據(jù)國(guó)際純化學(xué)和應(yīng)用化學(xué)聯(lián)合會(huì)(IUPAC)分類,8種擬薄水鋁石的N2吸附等溫線均為Ⅳ型,回滯環(huán)均為H2型。由圖7可知,8種擬薄水鋁石的孔徑分布都較為均勻。
圖6 不同酸堿環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的N2吸附-脫附等溫線
圖7 不同酸堿環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的孔徑分布曲線
表3 弱堿環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的比表面積和孔結(jié)構(gòu)參數(shù)
表4 弱酸環(huán)境下不同陰離子體系、老化時(shí)間為24 h時(shí)所得擬薄水鋁石的比表面積和孔結(jié)構(gòu)參數(shù)
結(jié)合上述XRD,TEM,BET的結(jié)果與分析,推測(cè)陰離子影響擬薄水鋁石生長(zhǎng)的機(jī)理如圖8所示。
圖8 陰離子影響擬薄水鋁石生長(zhǎng)的機(jī)理
(1)陰離子可以吸附在擬薄水鋁石表面,阻礙擬薄水鋁石層間氫鍵的形成,從而抑制擬薄水鋁石晶粒長(zhǎng)大。陰離子在擬薄水鋁石上吸附的越多,抑制效果越明顯。