王鳳麗,鄭洪波,孫麗崴
(中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所紅外探測與成像技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,上海 200083)
隨著空間遙感器功能和性能要求的不斷提高,大規(guī)模集成電路和功率元器件在空間遙感器中應(yīng)用越來越多,但空間遙感器在軌工作壽命要求不斷延長,電子產(chǎn)品全壽命周期內(nèi)正常工作對可靠性、安全性提出了新的挑戰(zhàn)。電子元器件有效工作溫度一般為-15℃~85℃,長時(shí)間的高溫工作將嚴(yán)重影響其工作壽命。有統(tǒng)計(jì)顯示各種元件的故障率隨著自身溫度的升高而成指數(shù)關(guān)系變化,其失效原因有55%歸結(jié)于溫度超過器件規(guī)定值[1-2]。如果熱設(shè)計(jì)不到位,就會(huì)導(dǎo)致電子元件局部或整體處于較高的溫度下失效或損壞,或到產(chǎn)品壽命后期出現(xiàn)嚴(yán)重的故障。因此對空間遙感器電子設(shè)備進(jìn)行可靠的熱設(shè)計(jì),實(shí)施有效的熱控制措施是提高設(shè)備工作可靠性的關(guān)鍵步驟之一[3-4]。目前國外的電子設(shè)備熱控技術(shù)的理論及應(yīng)用已經(jīng)較為完善成熟,并廣泛應(yīng)用于航空航天領(lǐng)域。而且國外已經(jīng)開發(fā)出成熟的算機(jī)輔助熱分析軟件計(jì)算電子設(shè)備的溫度用于評(píng)估電子設(shè)備散熱措施[5-7]。國內(nèi)相關(guān)技術(shù)也有一定的發(fā)展,并取得了不少研究成果[5,8-9]。不過對于空間應(yīng)用的電子產(chǎn)品的熱控技術(shù)在創(chuàng)新性和探索性的研究較少??臻g電子設(shè)備具有高集成度和高熱流密度的特點(diǎn)。需要進(jìn)行系統(tǒng)統(tǒng)籌規(guī)劃,在保證熱設(shè)計(jì)高效合理的同時(shí),要求具有高可靠性和長使用壽命。
本文設(shè)計(jì)的電控機(jī)箱內(nèi)即包含大量的直流電源轉(zhuǎn)換器、大規(guī)模集成電路、AD轉(zhuǎn)換器等多種大功率器件,又包含多種溫度敏感芯片。針對某長壽命空間遙感器七年長壽命指標(biāo)要求。對電控機(jī)箱采用有限元數(shù)值分析的方法計(jì)算元器件的溫度,設(shè)計(jì)相應(yīng)的散熱措施,再評(píng)估元器件的溫度。依據(jù)空間運(yùn)行環(huán)境的要求,進(jìn)行電控機(jī)箱熱試驗(yàn)驗(yàn)證了熱設(shè)計(jì)的有效性。在真空環(huán)境、溫度環(huán)境60℃的情況下,電控箱內(nèi)部元器件最高工作溫度(結(jié)溫)均低于一級(jí)降額熱控溫度指標(biāo)85℃。
電控箱由多塊側(cè)板圍成,根據(jù)電路板(PCB)功能的不同分為電源板,底板和信號(hào)處理板三種類型。機(jī)箱內(nèi)有2塊電源板、1塊底板,14塊信號(hào)處理板。14塊信號(hào)處理板通過可插拔的分離接插件與底板相連。單板的材料為PCB,厚度2mm。盡可能增大多層覆銅單板中覆銅層的厚度與面積(覆銅層厚度35μm,面積約占80%以上),加強(qiáng)單板本身的散熱能力,并利用多層覆銅單板中的接地銅層做導(dǎo)熱層。機(jī)箱內(nèi)大功率期間主要為直流電源轉(zhuǎn)換器件、AD轉(zhuǎn)換器及FPGA等大規(guī)模集成電路。直流電源轉(zhuǎn)換器主要集中在電源板上,AD轉(zhuǎn)換器和FPGA等大規(guī)模集成電路分散于各信號(hào)處理板。機(jī)箱內(nèi)部各單板的分布見圖1所示。
根據(jù)單板的類型確定了不同的安裝方式:電源板直接固定在散熱板上,構(gòu)成電源板組件,并作為機(jī)箱側(cè)板的一部分;信號(hào)處理板先固定在機(jī)械結(jié)構(gòu)壓條上,構(gòu)成電路板組件后,插入到機(jī)箱內(nèi)。信號(hào)處理板的底部有內(nèi)部接插件,直接插入到底板對應(yīng)的接插件內(nèi),其壓條通過螺釘固定在機(jī)箱的側(cè)壁上;底板直接固定在箱體側(cè)壁或底座上,其上有內(nèi)部接插件的插座與功能板上的內(nèi)部接插件插頭配合。單板的外部接插件一般在壓條一側(cè)。
電控箱箱體材料為鋁合金(2A12),機(jī)殼熱容量為900 J/kg℃,表面進(jìn)行黑色陽極氧化處理,發(fā)射率為0.85,熱導(dǎo)率170W/m℃。機(jī)箱安裝面的平面度為0.1/200mm×200mm,粗糙度為3.2μm。
電路板的在機(jī)械箱內(nèi)的排布如圖1所示。
圖1 電控箱布局圖
根據(jù)任務(wù)要求,需對200mW以上的元器件進(jìn)行熱設(shè)計(jì)。熱設(shè)計(jì)如下所述:
1) 將電源板元器件通過導(dǎo)熱絕緣膜安裝在散熱鋁板上,并使得鋁板與機(jī)殼良好接觸,從而將熱量傳導(dǎo)至機(jī)殼;
2) 為減小單板與機(jī)箱殼體之間的導(dǎo)熱熱阻,在接觸面處填導(dǎo)熱填料,加強(qiáng)單板與機(jī)殼的傳熱;
3) 在元器件與PCB板的接觸界面之間填充導(dǎo)熱填料,減少安裝面接觸熱阻,加強(qiáng)傳熱;
4) 根據(jù)熱分析結(jié)果,高溫元器件的頂部安裝散熱片,散熱片用螺栓固定在PCB板上,另一端通過螺栓固定在壓條、壓條固定架或者電源散熱板上,將高溫元器件熱量傳導(dǎo)至機(jī)殼。
5) 為增大輻射傳熱,對元器件表面及整個(gè)機(jī)箱進(jìn)行黑色陽極氧化處理。
依據(jù)以上原則,制定空間遙感器電控箱熱設(shè)計(jì)流程如圖2所示。
圖2 電控箱熱設(shè)計(jì)流程圖
熱設(shè)計(jì)分三個(gè)級(jí)別進(jìn)行:單板、電控箱箱體、單板與箱體之間的熱耦合。熱設(shè)計(jì)完全基于有限元仿真結(jié)果,通過趨勢的分析判斷,指導(dǎo)元器件在電路板上的布局及相應(yīng)熱控措施的制定。當(dāng)計(jì)算結(jié)果達(dá)到熱控指標(biāo)時(shí),才進(jìn)行實(shí)物的投產(chǎn)。實(shí)物熱實(shí)施后進(jìn)行熱試驗(yàn),通過試驗(yàn)驗(yàn)證熱控措施的有效性,并反過來修正有限元模型。
對每塊單板進(jìn)行熱分析,特別是針對功率大于200mW以上的元器件,分析后元器件結(jié)溫度超過85℃的器件分別采取散熱措施。根據(jù)不同器件的溫度,設(shè)計(jì)不同的散熱片,以達(dá)到散熱效果。
機(jī)箱采用具有高導(dǎo)熱率的鋁合金制造,導(dǎo)熱系數(shù)170W/m℃。在機(jī)箱與單板之間的接觸面處填導(dǎo)熱填料,以減小單板與機(jī)箱殼體之間的導(dǎo)熱熱阻,加強(qiáng)單板與機(jī)殼的傳熱。為了使得機(jī)箱內(nèi)的熱量更好地傳導(dǎo)至安裝板,要求安裝平面度小于0.1/200mm×200mm,粗糙度小于3.2μm。機(jī)箱安裝接觸面積足夠大。機(jī)箱殼體內(nèi)外表面(除安裝面外)進(jìn)行黑色陽極氧化處理,發(fā)射率大于0.85。
為了防止單板上大功耗元器件熱量積聚而產(chǎn)生局部高溫,將單板左右兩側(cè)鑲嵌到機(jī)殼(導(dǎo)槽深度3.2mm),放置在框架的凸臺(tái)上,并通過螺釘固定,實(shí)現(xiàn)熱量更好地傳導(dǎo)到機(jī)殼上。在單板焊好后進(jìn)行儀器裝配時(shí),在單板與導(dǎo)槽的接觸面填導(dǎo)熱填料以加強(qiáng)傳熱。
熱設(shè)計(jì)主要針對功耗較大的電源板及具有200mW以上元器件的電路板。使用傳統(tǒng)的散熱措施:電源板上將元器件通過導(dǎo)熱絕緣膜安裝在鋁板上,由鋁板與機(jī)殼接觸將熱量傳導(dǎo)至機(jī)殼,對分布有大功耗元器件的電路板,根據(jù)熱分析結(jié)果對各機(jī)箱中的高溫元器件頂部安裝散熱片,進(jìn)行熱分析。
熱分析高溫邊界條件為電箱安裝底面及環(huán)境溫度為60℃。
其中電控箱中功耗200mw以上的中元器件具體情況如表1所示。
表1 電控箱中元器件參數(shù)
電控箱各電路板具體覆銅情況如下表2所示,其中覆銅層每層厚度約35μm。
表2 電路板覆銅情況
對于各元器件,計(jì)算結(jié)果溫度為其殼溫,可通過結(jié)殼轉(zhuǎn)化公式計(jì)算得其最高結(jié)溫。結(jié)溫不大于85℃,為安全設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。
電子元器件結(jié)溫與殼溫之間的換算公式為
Tj=Tα+Pθjα
(1)
Tj—結(jié)溫,℃
Tα—?dú)?,?/p>
P—功率,W
θjα—結(jié)-外殼電阻,℃/W
通過熱仿真計(jì)算發(fā)現(xiàn),結(jié)溫高的器件集中出現(xiàn)在一塊電路板上。最高溫度的幾個(gè)元器件具體溫度數(shù)據(jù)表3所示。
表3 電控箱中元器件溫度情況1
從計(jì)算結(jié)果看,有元器件結(jié)溫超過85℃,不滿足指標(biāo)要求,如表3所示。對器件加散熱片后,再進(jìn)行熱仿真計(jì)算,結(jié)果仍有元器件溫度超標(biāo)??梢娚崞蛔阋詫⒃骷a(chǎn)生的熱量全部散發(fā)。需要增加傳導(dǎo)措施。遂在高溫的元器件施加散熱片的同時(shí)增加微型熱管。熱端與高溫器件散熱片連接,冷端與機(jī)殼連接,減小傳熱熱阻,增大散熱能力。熱管具體設(shè)計(jì)如下:
1) 熱量集中的這塊電路板上布置兩根9mm×9mm的小熱管,分別于兩側(cè)機(jī)箱熱量導(dǎo)通,如圖3所示;
2) 熱量集中的區(qū)域,將機(jī)箱側(cè)板與機(jī)箱底板用四根9mm×9mm小熱管熱量導(dǎo)通,如圖4所示。
圖3 中波可見板小熱管示意圖
圖4 機(jī)箱側(cè)板與底板小熱管示意圖
根據(jù)再設(shè)計(jì)的方案再次進(jìn)行熱分析計(jì)算,最高溫度的器件列表如表4所示。
表4 電控箱中元器件溫度情況2
兩此熱分析結(jié)溫較高的電路板溫度分布如圖5和圖6所示。圖6可以明顯看出,熱量分布更加均勻,電路板整體溫度降低了,同時(shí)元器件U4最高殼溫度也由90.9℃(結(jié)溫98.1℃)降低到73.4℃(結(jié)溫80.6℃)。
圖5 熱措施前PCB板溫度分布
圖6 熱措施后PCB板溫度分布
為獲取真實(shí)環(huán)境下電控箱中大功率元器件溫度數(shù)據(jù),驗(yàn)證熱設(shè)計(jì)的正確性,對電控箱進(jìn)行了熱平衡試驗(yàn)。
電控箱置于溫控小倉內(nèi),溫控小倉放置于真空罐內(nèi)。電控箱線纜及測溫線通過罐內(nèi)轉(zhuǎn)接頭引出。罐體內(nèi)真空度控制在1×10-3Pa,溫度60±0.5℃。經(jīng)過近12個(gè)小時(shí)時(shí)間后溫度穩(wěn)定,開始進(jìn)行高溫?zé)崞胶庠囼?yàn)。
圖7 試驗(yàn)現(xiàn)場照片
通過粘貼在敏感器件表面的熱敏電阻讀出各溫度數(shù)據(jù),溫度較高的器件溫度如表5所列。
表5 計(jì)算數(shù)據(jù)與試驗(yàn)數(shù)據(jù)
試驗(yàn)全程電子學(xué)開機(jī),監(jiān)測信號(hào)變化,觀測圖如8所示。
圖8 電子學(xué)信號(hào)圖
試驗(yàn)結(jié)果顯示,敏感器件最高溫度74.142℃,滿足指標(biāo)要求。通過電子學(xué)信號(hào)監(jiān)測,全程波動(dòng)范圍在正常合理誤差范圍內(nèi),由此說明試驗(yàn)成功,熱控設(shè)計(jì)有效。
對含有大功率元器件的PCB板的電單機(jī)逐級(jí)建模,進(jìn)行熱仿真分析,通過設(shè)計(jì)仿真分析迭代,獲得了一種有效傳熱的設(shè)計(jì)方案。仿真分析顯示當(dāng)熱措施實(shí)施前溫度最高的元器件殼溫為90.9℃(結(jié)溫98.1℃),不滿足指標(biāo)要求。通過散熱片的設(shè)計(jì)、微型熱管的有效布局,使元器件殼溫下降至73.4℃(結(jié)溫80.6℃)。再輔以熱平衡試驗(yàn)的驗(yàn)證,最高溫元器件試驗(yàn)實(shí)際測量值74.142℃。在這個(gè)實(shí)驗(yàn)過程中,電子學(xué)信號(hào)穩(wěn)定,未出現(xiàn)任何異常。仿真數(shù)據(jù)與試驗(yàn)數(shù)據(jù)基本吻合,說明熱分析方法有效。同時(shí)說明熱措施到位,有效疏導(dǎo)了元器件產(chǎn)生的熱量。保證了電子元器件在空間中正常工作。該方法可為其它型號(hào)產(chǎn)品提供技術(shù)借鑒。