高景旭 李靜
【關(guān)鍵詞】軍用;電子元器件;檢測(cè);篩選;質(zhì)量信息
在軍用電子元器件檢測(cè)篩選過程中,會(huì)產(chǎn)生大量的質(zhì)量信息,為能夠快速得到高精度的軍用電子元器件檢測(cè)篩選結(jié)果,針對(duì)其中質(zhì)量信息的分析處理是具有現(xiàn)實(shí)意義的。以往在針對(duì)軍用電子元器件檢測(cè)篩選和質(zhì)量信息分析處理方法的研究中,主要通過數(shù)據(jù)映射的方式,分析處理其質(zhì)量信息,該方法在實(shí)際應(yīng)用中盡管能夠得到較為精確的軍用電子元器件檢測(cè)篩選結(jié)果,但其對(duì)于質(zhì)量信息的綜合分析處理能力低,導(dǎo)致質(zhì)量信息分析處理需要花費(fèi)很長的時(shí)間才能完成,存在分析處理效率低的缺陷,無法適用于軍用電子元器件檢測(cè)篩選領(lǐng)域中。基于此,本文設(shè)計(jì)一種新型軍用電子元器件檢測(cè)篩選中質(zhì)量信息分析處理方法,致力于在保證質(zhì)量信息分析處理精度的同時(shí),盡可能縮短質(zhì)量信息分析處理所需時(shí)間,提高質(zhì)量信息分析處理效率。
(一)集成質(zhì)量信息
考慮到軍用電子元器件檢測(cè)篩選中質(zhì)量信息較為分散,在分析處理過程中存在一定困難。因此,本文基于數(shù)據(jù)挖掘,運(yùn)用其中的K-means,集成質(zhì)量信息。在此過程中,運(yùn)用K-means最小化誤差函數(shù)分類計(jì)算軍用電子元器件檢測(cè)篩選中質(zhì)量信息,將選取的各種樣本質(zhì)量信息分為i份,采用數(shù)據(jù)挖掘批量集成質(zhì)量信息。
(二)獲取質(zhì)量信息時(shí)間序列
在集成質(zhì)量信息的基礎(chǔ)上,采用獲取質(zhì)量信息時(shí)間序列的方式,優(yōu)化質(zhì)量信息分布。設(shè)重構(gòu)后的質(zhì)量信息時(shí)間序列表達(dá)式為V,則其計(jì)算公式,如公式(2)所示。
式(2)中,審為時(shí)間維度的質(zhì)量信息集合;r為質(zhì)量信息權(quán)重;j,l為質(zhì)量信息在空間分布中的橫坐標(biāo)以及縱坐標(biāo);t為軍用電子元器件檢測(cè)篩選時(shí)長;m為時(shí)間序列的周期信息?;诠剑?),獲得質(zhì)量信息的時(shí)間序列,重新劃分質(zhì)量信息,計(jì)算步驟如圖1所示。
結(jié)合圖1,以此為依據(jù),經(jīng)過一系列分區(qū)、排序、規(guī)約的處理,得到質(zhì)量信息時(shí)間序列下的重新劃分結(jié)果。
(三)實(shí)現(xiàn)質(zhì)量信息分析處理
以質(zhì)量信息時(shí)間序列為依據(jù),采用非線性規(guī)劃方法進(jìn)行問題轉(zhuǎn)化,提出質(zhì)量信息有界約束。設(shè)質(zhì)量信息有界約束問題的表達(dá)式為d,采用二次規(guī)劃中的準(zhǔn)解析法的計(jì)算方式對(duì)其進(jìn)行計(jì)算,如公式(3)所示。
式(3)中,s為質(zhì)量信息時(shí)間序列的行數(shù);Y為質(zhì)量信息時(shí)間序列的列數(shù);v為質(zhì)量信息中的缺損信息??紤]到在質(zhì)量信息的有限約束條件下,關(guān)鍵約束的個(gè)數(shù)遠(yuǎn)小于設(shè)計(jì)變量的個(gè)數(shù),通過式(3)完成問題的轉(zhuǎn)換,可在質(zhì)量信息分析處理中保持參數(shù)運(yùn)行數(shù)值的穩(wěn)定,并提高質(zhì)量信息分析處理非線性優(yōu)化問題的收斂性。判斷質(zhì)量信息有界約束調(diào)度屬性時(shí),在滿足約束條件的前提下,就是要使前面的任務(wù)盡可能前移,而后面的任務(wù)則盡可能延遲,即后移。根據(jù)二次規(guī)劃中的對(duì)偶定理,將得到質(zhì)量信息有界約束的信息時(shí)間序列的相空間轉(zhuǎn)換為質(zhì)量信息的主成分集合,完成質(zhì)量信息有界約束后,構(gòu)建質(zhì)量信息數(shù)據(jù)特征向量稀疏子聚類空間,聚類分析處理復(fù)雜質(zhì)量信息向量特征。設(shè)特征向量稀疏子聚類空間為oc,其公式如下。
式(4)中,∞為質(zhì)量信息的負(fù)梯度方向;d為二次規(guī)劃的標(biāo)準(zhǔn)形式;a為質(zhì)量信息向量特征子區(qū)域的標(biāo)簽向量。基于Hadoop建立的聚類空間中間層,主要負(fù)責(zé)質(zhì)量信息挖掘聚類迭代調(diào)度管理,使用Hadoop.縮短特征向量之間的長短差距,進(jìn)而提高質(zhì)量信息分析處理效率。通過構(gòu)建的聚類空間,在此空間中實(shí)現(xiàn)質(zhì)量信息分析處理操作。
(一)實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備
構(gòu)建實(shí)例分析,實(shí)驗(yàn)內(nèi)容為針對(duì)檢測(cè)篩選中的質(zhì)量信息進(jìn)行分析處理。研究對(duì)象檢測(cè)篩選中具體質(zhì)量信息。實(shí)驗(yàn)軟環(huán)境包括:Weapectll .2.1軟件,本次實(shí)驗(yàn)測(cè)試指標(biāo)為信息分析處理時(shí)間,信息分析處理時(shí)間能夠表現(xiàn)出信息分析處理效率,信息分析處理時(shí)間越少證明該方法的分析處理效率越高。本文提出方法記為實(shí)驗(yàn)組;傳統(tǒng)方法記為對(duì)照組。
(二)實(shí)驗(yàn)結(jié)果分析
實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),如表1所示。
分析表1可得:本文設(shè)計(jì)的方法信息分析處理時(shí)間更短,信息分析處理效率更高,可實(shí)現(xiàn)高效的軍用電子元器件檢測(cè)篩選中質(zhì)量信息分析處理。
設(shè)計(jì)一種軍用電子元器件檢測(cè)篩選中質(zhì)量信息分析處理方法,提高電子元器件檢測(cè)篩選中質(zhì)量信息分析處理效率。盡管本文理論分析較為深入,但仍存在不足之處,導(dǎo)致研究的全面性尚有不足。在未來的研究中,可以以提高軍用電子元器件檢測(cè)篩選中質(zhì)量信息分析處理純度為研究目標(biāo),展開更加深入的研究,為提高軍用電子元器件質(zhì)量貢獻(xiàn)一份堅(jiān)實(shí)的力量。