李新磊,房海云
應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)(Balise Transmission System,BTS)是列車運行控制系統(tǒng)中的重要組成部分,現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于我國高速鐵路和城市軌道交通線路中。應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)按照設(shè)備安裝位置可以分為車載設(shè)備和地面設(shè)備,不同廠家的車載與地面設(shè)備之間存在互聯(lián)互通問題[1]。
近年來,關(guān)于應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)的互聯(lián)互通測試,研究人員做了相關(guān)的研究,國家鐵路局也發(fā)布了相關(guān)規(guī)范。謝立鵬[2]研究了應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)的測試系統(tǒng)的搭建以及參考環(huán)的制作;王國英[3]分析了應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)中測試的物理意義及判定依據(jù);駱軒[4]設(shè)計了基于LabVIEW 語言的應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)的測試系統(tǒng)的搭建方案;《應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)測試規(guī)范》(TB/T 3544—2018)中提出了參考環(huán)阻抗補償模型和計算公式[5]。
上述研究主要集中于互聯(lián)互通測試系統(tǒng)的搭建和參考環(huán)硬件制作的研究,規(guī)范則主要提出了參考環(huán)阻抗補償模型與計算公式,但都缺少對參考環(huán)校準(zhǔn)方法的研究。因此,本文將深入研究參考環(huán)的校準(zhǔn)過程,分析校準(zhǔn)相關(guān)的模型及原理,提出一種可操作的參考環(huán)校準(zhǔn)方法,并提供校準(zhǔn)效果的評估方案。
應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)是一種點式傳輸系統(tǒng),基于電磁耦合的原理,是一種近場磁通信技術(shù)。在車載設(shè)備經(jīng)過應(yīng)答器時,天線產(chǎn)生磁場,能量與數(shù)據(jù)通過設(shè)備間的空氣間隙進(jìn)行傳輸[6-7]。
參考環(huán)具有2 個諧振頻率,能夠接收下行激勵27.095 MHz 頻率信號或發(fā)射上行鏈路4.23 MHz頻率信號。參考環(huán)的尺寸與應(yīng)答器天線相同,因此在測試中作為應(yīng)答器天線標(biāo)準(zhǔn)使用。參考環(huán)示意圖見圖1。
圖1 參考環(huán)示意圖
由于材料和制作工藝等客觀原因,參考環(huán)發(fā)射或接收的能量與理論值之間存在差異,該差異用匹配傳輸比(匹配傳輸比引自標(biāo)準(zhǔn)TB/T 3544—2018)進(jìn)行修正,記為B參數(shù)。參考環(huán)的2 個工作頻率分別對應(yīng)1 個B參數(shù),記為B4和B27,而參考環(huán)校準(zhǔn)的結(jié)果就是這2個B參數(shù)。
應(yīng)答器傳輸系統(tǒng)互聯(lián)互通多個測試項目的校準(zhǔn)過程都要用到參考環(huán),具體包括校準(zhǔn)上行鏈路信號的能量參數(shù)和下行激勵信號的能量參數(shù)[8]。
這項校準(zhǔn)的目的是為了在每一個規(guī)定的測試位置,得到一個上行鏈路信號能量大小的參考值P42RL。校準(zhǔn)使用的設(shè)備連接見圖2。
圖2 上行鏈路信號校準(zhǔn)設(shè)備連接圖
校準(zhǔn)時應(yīng)調(diào)節(jié)信號發(fā)生器的幅度,使通過參考環(huán)的電流達(dá)到Iu2B4,并記錄此時功率計通道A 的值為P42RL。其中,Iu2為規(guī)定的環(huán)電流值59 mA。
這項校準(zhǔn)的目的是為了在每一個規(guī)定的測試位置,得到一個下行激勵信號能量大小的參考值P27RL。校準(zhǔn)使用的設(shè)備連接見圖3。
圖3 下行激勵信號校準(zhǔn)設(shè)備連接圖
校準(zhǔn)時應(yīng)調(diào)節(jié)信號發(fā)生器的幅值,使得功率計通道B 測量到的參考環(huán)接收功率等于PM3,記錄此時功率計通道A的值為P27RL。其中PM3為
式中:PL為測量得到的參考環(huán)輸出功率;A1為從參考環(huán)、巴倫及衰減器到功率計通道B探頭之間電纜上的總衰減值。
其中,PL為
式中:f為下行激勵信號的頻率常數(shù)27.095 MHz;Φd1為規(guī)定的通過參考環(huán)的磁通量;Zloop為參考環(huán)在自由空間的阻抗。
1.4.1B4對測試的影響
關(guān)于B4對測試的影響,以互聯(lián)互通測試中的上行鏈路信號一致性測試為例進(jìn)行分析。
測試中,用對應(yīng)位置測量的應(yīng)答器能量值P42BA減去校準(zhǔn)得到的P42RL,計算結(jié)果記為P42DIFF。
所有位置的數(shù)據(jù)按照式(3)計算得到一個P42DIFF組成的數(shù)組,對該數(shù)組進(jìn)行評估,評估的結(jié)果反映了被測應(yīng)答器在測試區(qū)域內(nèi)上行鏈路信號的一致性。
由1.2 節(jié)可以看出,B4參數(shù)的值決定了P42RL的取值,從而改變了式(3)中P42DIFF的計算結(jié)果,進(jìn)而可影響互聯(lián)互通測試中對應(yīng)答器上行鏈路信號一致性的判斷。
1.4.2B27對測試的影響
關(guān)于B27對測試的影響,以互聯(lián)互通測試中的下行激勵信號一致性測試為例進(jìn)行分析。
測試中,用應(yīng)答器在對應(yīng)位置測量的能量值P27BA減去校準(zhǔn)得到的P27RL,計算結(jié)果記為P27DIFF。
所有位置的數(shù)據(jù)按照式(4)計算得到一個P27DIFF組成的數(shù)組,對該數(shù)組進(jìn)行評估,評估的結(jié)果反映了被測應(yīng)答器在測試區(qū)域內(nèi)下行激勵信號的一致性。
同樣可以看出,B27通過式(1)和式(2)決定了P27RL的取值,從而改變了式(4)中測試結(jié)果P27DIFF的數(shù)值,進(jìn)而可影響互聯(lián)互通測試中對應(yīng)答器下行激勵信號一致性的判斷。
從上述2 個測試?yán)涌梢钥闯?,B參數(shù)校準(zhǔn)的準(zhǔn)確度將直接影響互聯(lián)互通測試中的測試結(jié)果判斷。
匹配傳輸比在數(shù)值上等于理想?yún)⒖辑h(huán)電流與實際參考環(huán)電流之間的比值。
式中:I為理想?yún)⒖辑h(huán)電流;I'為實際參考環(huán)電流。
直接測量參考環(huán)電流來計算B參數(shù)是非常困難的,但可以采用測量傳輸衰減的方式計算參考環(huán)的誤差值,再通過誤差值計算B參數(shù)。
傳輸衰減的理論值為
式中:為理論衰減值;ω是角頻率 2πf;f是測量的頻率;M是當(dāng)前位置的互感系數(shù)[8]。
由于存在互感現(xiàn)象,參考環(huán)的阻抗受被測物和環(huán)境的影響,因此需用測試時的實際阻抗對傳輸衰減的測量值進(jìn)行補償[9-10]。衰減測量時互感的模型見圖4。
圖4 參考環(huán)傳輸衰減互感模型
圖4中:左側(cè)為發(fā)射環(huán);右側(cè)為接收環(huán);Z2為接收環(huán)的自由空間阻抗;Zin為發(fā)射環(huán)的負(fù)載阻抗。
式中:K為阻抗補償因子;re為接收環(huán)自由空間阻抗實部,im為接收環(huán)自由空間阻抗虛部;Zinre 為發(fā)射環(huán)負(fù)載阻抗實部,Zinim 為發(fā)射環(huán)負(fù)載阻抗虛部。
參考環(huán)校準(zhǔn)選用3 個參考環(huán),分別命名為參考環(huán)1、參考環(huán)2 和參考環(huán)3,每個參考環(huán)的誤差值分別記為ε1、ε2和ε3。兩兩交叉進(jìn)行傳輸衰減測試,將誤差分配到每個參考環(huán),從而提高校準(zhǔn)結(jié)果的精度。將傳輸衰減的誤差值均分到3 個參考環(huán)上即可得到每個參考環(huán)的誤差值。
式中:ε1為參考環(huán)1的誤差值;D12為參考環(huán)1和參考環(huán)2 傳輸衰減測量值與理論值的差;D31為參考環(huán)3和參考環(huán)1傳輸衰減測量值與理論值的差;D23為參考環(huán)2 和參考環(huán)3 傳輸衰減測量值與理論值的差。
同理,可以得到
通過建立參考環(huán)的誤差值與B參數(shù)的數(shù)學(xué)關(guān)系,從而得到B參數(shù)的計算公式。參考環(huán)的誤差值為
式中:R為參考環(huán)的阻抗;ε為參考環(huán)的誤差值。
將式(5)代入式(11)并化簡,得到
式(12)建立了B參數(shù)與誤差值之間的數(shù)學(xué)關(guān)系。
參考環(huán)校準(zhǔn)的流程見圖5。
圖5 參考環(huán)校準(zhǔn)流程
首先測量3 個參考環(huán)在下行激勵和上行鏈路2個頻點的自由空間阻抗,測試連接見圖6。
圖6 參考環(huán)自由空間阻抗測試連接
網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)及測量時,網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置帶寬為2 MHz,測量參數(shù)為S11,分別讀取2 個頻點的電阻和電抗。
參考環(huán)1 下行激勵信號的電阻記為re27_1,電抗記為im27_1,上行鏈路信號的電阻記為re4_1,電抗記為im4_1。以此類推,命名參考環(huán)2 和參考環(huán) 3 相關(guān)數(shù)值為re27_2,im27_2,re4_2,im4_2,re27_3,im27_3,re4_3,im4_3。
首先定義測試的坐標(biāo),如圖7 所示。參考環(huán)的短邊方向定義為X軸,長邊方向定義為Y軸,垂直于參考環(huán)平面的方向為Z軸,參考環(huán)的幾何中心點為坐標(biāo)軸的原點(0,0,0)。
圖7 參考環(huán)坐標(biāo)示意圖
將3 個參考環(huán)分為兩兩一組,互為負(fù)載測量參考環(huán)的負(fù)載阻抗。網(wǎng)絡(luò)分析儀校準(zhǔn)及測量時的設(shè)置與自由空間阻抗測量時相同。這里以參考環(huán)1 發(fā)射、參考環(huán)2 接收為例,此時參考環(huán)2 為負(fù)載[11]。參考環(huán)1 的負(fù)載阻抗測量連接見圖8。測試的空間坐標(biāo)以參考環(huán)1 的幾何中心點為原點建立,此時參考環(huán)2(幾何中心點)的放置位置參照表1。參考環(huán)2 的Z軸與參考環(huán)1 的Z軸反向,X軸與參考環(huán)1的X軸同向,Y軸與參考環(huán)1的Y軸反向。
圖8 參考環(huán)負(fù)載阻抗測試連接圖
按照表1 的位置逐個測量,得到4 個數(shù)組,分別記為Zinre27_12_0,Zinim27_12_0,Zinre4_12_0,Zinim4_12_0。命名規(guī)則中Z表示負(fù)載阻抗,re 表示電阻,im 代表電抗,27代表下行激勵信號頻率,4 代表上行鏈路信號頻率,12 代表參考環(huán)2 作為參考環(huán)1 負(fù)載測試,0 代表2 個參考環(huán)X軸之間的夾角。
表1 參考環(huán)負(fù)載阻抗測量位置表 mm
此時,將參考環(huán)2 在XY軸平面轉(zhuǎn)動180 度,使得2 個參考環(huán)X軸之間夾角等于180 度,重新測量得到的4 個數(shù)組記為Zinre27_12_180,Zinim27_12_180,Zinre4_12_180,Zinim4_12_180。
以此類推,分別選用參考環(huán)2 和參考環(huán)3、參考環(huán)3和參考環(huán)1測量得到另外16個數(shù)組。
分別測量3 組參考環(huán)的傳輸衰減,測試設(shè)備的連接和測試位置均與負(fù)載阻抗測量相同,網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量參數(shù)修改為S21。將測量得到的結(jié)果分別記 為 數(shù) 組A27_12_0,A4_12_0,A27_12_180,A4_12_180,A27_23_0,A4_23_0,A27_23_180,A4_23_180,A27_31_0,A4_31_0,A27_31_180,A4_31_180。
以參考環(huán)1 發(fā)射,參考環(huán)2 接收,X軸0 度夾角為例,式(7)中代入re27_2,im27_2,以及數(shù)組Zre27_12_0,Zim27_12_0,計算得到數(shù)組K27_12_0。以此類推,可以計算得到另外11 組阻抗補償因子數(shù)組。計算阻抗補償后的傳輸衰減A':
將數(shù)組A27_12_0 和數(shù)組K27_12_0 代入式(13),得到數(shù)組A'27_12_0。以此類推,可以得到另外11個數(shù)組。
傳輸衰減理論值直接引用TB/T 3485—2017中給出的理論值,也可以根據(jù)表1 的測量位置,代入式(6) 計算。將理論傳輸衰減值數(shù)組記為A''。計算測量值與理論值的差D為
分別代入數(shù)組A'和A'',得到12 個差值數(shù)組,記為D27_12_0,D27_12_180等。
將12 個差值數(shù)組分別代入式(8)(9)(10),可以得到3 個參考環(huán)的12 個誤差值數(shù)組,記為E27_1_0,E27_1_180 等。分別對誤差值數(shù)組內(nèi)的數(shù)據(jù)取平均值,得到12 個誤差值數(shù)組的平均值,記為等。
再將同一參考環(huán)同頻率不同角度的平均值再次平均:
將上述12 個平均值分別代入式(15),得到3個參考環(huán)的6 個誤差值。分別記為ε1_27,ε1_4,ε2_27,ε2_4,ε3_27,ε3_4。將這 6 個誤差值分別代入式(12),得到6 個B參數(shù),分別記為B1_27,B1_4,B2_27,B2_4,B3_27,B3_4。
用校準(zhǔn)得到的B參數(shù)去修正測量的傳輸衰減值,并分別計算修正前和修正后數(shù)據(jù)與理論值的偏差,通過分析偏差評估B參數(shù)的修正效果。
網(wǎng)絡(luò)分析儀測量的S21為儀表端口處功率的比值,而傳輸衰減的理論值計算的是實際參考環(huán)上的功率,驗證前需要先建立測量值與理論值之間的模型。這里以參考環(huán)1 和參考環(huán)2 的傳輸衰減測試為例分析,見圖9。
圖9 參考環(huán)傳輸衰減測量模型
根據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析儀S21測試項原理可得:
式中:P2 為網(wǎng)絡(luò)分析儀PORT2 端口接收到的能量;P1為PORT1端口發(fā)出的能量。
同時,傳輸衰減理論值可以描述為
根據(jù)式(5),可以得出如下關(guān)系:
式中:P1'為參考環(huán)1 發(fā)射能量的理論值;P2'為參考環(huán)2接收能量的理論值。
計算使用參考環(huán)1 和參考環(huán)2 測試時B參數(shù)對傳輸測試的修正因子H1:
同理,可以得到另外2組參考環(huán)修正因子:
選取某廠家生產(chǎn)的3 個參考環(huán),按照本文方法進(jìn)行校準(zhǔn),得到的B參數(shù)見表2。
表2 參考環(huán)B參數(shù)
將表2 數(shù)據(jù)分別帶入式(20)(21)(22),計算出3個修正因子。
從式(20)可知,B參數(shù)修正后傳輸衰減值為
式中:C為B參數(shù)修正后的傳輸衰減值;H為B參數(shù)修正因子。
根據(jù)式(23)對校準(zhǔn)中12 組傳輸衰減測試數(shù)組A進(jìn)行修正。
式中:D1 為B參數(shù)修正的傳輸衰減值與理論值的差;D2為測量值與理論值的差。
根據(jù)式(24)(25)分別計算下行激勵和上行鏈路共12 組測試數(shù)據(jù)修正后衰減值與理論值差值,以及未修正的測量值與理論值的差值。下行激勵計算結(jié)果見圖10,上行鏈路計算結(jié)果見圖11。同時,計算每組差值的平均值,可以評估單次測試B參數(shù)的總體修正效果。下行激勵差值平均值對比見圖12,上行鏈路差值平均值對比見圖13。
圖10 下行激勵2個角度修正與未修正差值對比
圖11 上行鏈路2個角度修正與未修正差值對比
對圖12 和圖13 中6 次測試的差值平均值再次取平均,得到的平均值為總平均值??偲骄档慕^對值表征了測量值總體與理論值偏差的距離,該值越小則證明測量值越接近理論值,從而說明B參數(shù)對測量值的修正效果越好。計算出的總平均值絕對值見圖14。
圖12 下行激勵差值平均值對比
從圖10 至圖13 可以看出,修正后差值在2 個頻率下都得到了減小。同時,經(jīng)過計算,圖14 中總平均值在2 個頻率下分別降低了44.37% 和92.95%,證明了本方法得到的B參數(shù)對參考環(huán)的修正效果非常有效。
圖13 上行鏈路差值平均值對比
圖14 總平均值對比
1)通過分析參考環(huán)匹配傳輸比以及參考環(huán)的互感模型,推導(dǎo)了參考環(huán)誤差值的數(shù)學(xué)公式。提出了利用網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行參考環(huán)校準(zhǔn)的方法。
2)采用阻抗補償因子修正,降低了傳輸衰減測試時參考環(huán)互感對測量結(jié)果的影響。
3)通過定義參考環(huán)的空間坐標(biāo),測量多個擺放位置和不同X軸夾角下的誤差值,降低了不同位置和不同X軸夾角對校準(zhǔn)結(jié)果的影響。
4)提出了參考環(huán)校準(zhǔn)效果的驗證方案,對校準(zhǔn)效果進(jìn)行了對比評估。實驗證明,使用本方法得到的參考環(huán)校準(zhǔn)結(jié)果對測量值的修正效果明顯,達(dá)到了校準(zhǔn)的目的。