張鳳 王會(huì)剛 張海清 姜陽
摘要:IPM(智能功率模塊)近年來廣泛應(yīng)用于電力電子系統(tǒng)中,其動(dòng)態(tài)參數(shù)決定了IPM的正常工作。IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試主要包括上下管IGBT的ton、tc(on)、toff、tc(off)、trr、Eon、Eoff及并聯(lián)FRD的Erec測(cè)試,損耗計(jì)算包括動(dòng)態(tài)損耗和通態(tài)損耗。本文重點(diǎn)講述IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試及損耗計(jì)算方法。
關(guān)鍵詞:智能功率模塊;動(dòng)態(tài)參數(shù);損耗
中圖分類號(hào):G642? ? ? ? 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A
文章編號(hào):1009-3044(2021)15-0233-03
智能功率模塊(Intelligent Power Module)內(nèi)部的IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)和FRD(Fast Recovery Diode)作為IPM的功率元件其動(dòng)態(tài)參數(shù)直接標(biāo)志著IPM性能的好壞。損耗計(jì)算主要用于IPM應(yīng)用方案設(shè)計(jì)過程中[1-2]。
IPM動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試主要包括上下管IGBT的開通延遲時(shí)間ton、開通時(shí)間tc(on)、關(guān)斷延時(shí)時(shí)間toff、關(guān)斷時(shí)間tc(off)、反向恢復(fù)時(shí)間trr、開通損耗Eon、關(guān)斷損耗Eoff及并聯(lián)FRD的Erec測(cè)試,損耗計(jì)算包括動(dòng)態(tài)損耗和通態(tài)損耗計(jì)算。
1 測(cè)試電路
本文采用動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試臺(tái)進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試電路如圖1、2、3所示,選取IPM中U相上下管IGBT和上管并聯(lián)的FRD作為被測(cè)管,設(shè)備如圖4所示,開關(guān)時(shí)間定義如圖5所示。
圖1中DC-Link提供IPM額定電壓,電壓探頭檢測(cè)IGBT的VCE電壓,電流探頭檢測(cè)集電極電流。圖2中DC-Link提供IPM額定電壓,電壓探頭檢測(cè)IGBT的VCE電壓,電流探頭檢測(cè)集電極電流。圖3中探頭連接如下:(1)電流探頭必須夾在上管IGBT的集電極;(2)電壓探頭夾在上管的集電極-發(fā)射極之間;(3)將測(cè)量到電壓和電流值乘積作為FRD的瞬時(shí)功率[3-4]。輸入電壓:310VDC。輸出電流:20A。輸出電感:1mH。開關(guān)頻率:15kHz。占空比:0.36。
本文選擇A公司IPM樣品一只,進(jìn)行測(cè)試。IPM焊接在測(cè)試板(電路板上提供IPM的供電電壓以及使IGBT開通的驅(qū)動(dòng)信號(hào))。
2 測(cè)試結(jié)果
3 損耗計(jì)算
3.1 動(dòng)態(tài)損耗
1)IGBT開關(guān)損耗:
[PIGBT=fsw*(Eon+Eoff)*IcInom]
其中,fsw為 IGBT 開關(guān)頻率,Eon為開通損耗,Eoff為關(guān)斷損耗,Ic為實(shí)際工作電流 Inom為額定電流。
2)續(xù)流二極管開關(guān)損耗:
[Pdiode=fsw*Erec*IrrInom]
其中,fw為IGBT 開關(guān)頻率,Erec為續(xù)流損耗,Irr為實(shí)際工作電流, Inom為額定電流。
3.2 導(dǎo)通損耗
1)IGBT 導(dǎo)通損耗:
[PIGBT=Vcesat*Ic*D]
其中,Vcesat為飽和壓降,Ic為集電極電流,D為平均占空比。
2)續(xù)流二極管導(dǎo)通損耗:
[Pdiode=VF*Irr*(1-D)]
其中,VF為導(dǎo)通壓降,Irr為實(shí)際工作電流,D為平均占空比。
4 結(jié)論
本文介紹的測(cè)試方法和損耗計(jì)算公式能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)量出IPM的動(dòng)態(tài)參數(shù)及損耗,為評(píng)價(jià)IPM性能提供可靠的依據(jù),同時(shí)能夠驗(yàn)證IPM系統(tǒng)級(jí)應(yīng)用方案的可實(shí)施性。
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