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電子元器件質(zhì)量認(rèn)證中的計量管理要求

2021-07-05 11:59曹華張同升
電子技術(shù)與軟件工程 2021年10期
關(guān)鍵詞:示值元器件合格

曹華 張同升

(中國電子科技集團(tuán)公司第十六研究所 安徽省合肥市 230000)

質(zhì)量認(rèn)證是以經(jīng)過確認(rèn)的相關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)為依據(jù),按規(guī)定的程序和要求對承制方生產(chǎn)線進(jìn)行體系認(rèn)證的過程。它由標(biāo)準(zhǔn)的編制及確認(rèn)、計量管理、產(chǎn)品鑒定、生產(chǎn)線現(xiàn)場認(rèn)證、合格資格保持等部分組成,本文主要介紹認(rèn)證過程中計量管理的相關(guān)要求。

1 計量管理的基本要求

計量管理是指計量部門對企業(yè)測量設(shè)備、測量手段和方法,以及獲得、表示和測量結(jié)果的條件進(jìn)行的管理,在具體應(yīng)用中大體包括兩方面:

(1)測量設(shè)備應(yīng)經(jīng)計量活動實現(xiàn)測量溯源,即保證計量單位的統(tǒng)一和量值的準(zhǔn)確可靠,經(jīng)計量確認(rèn)滿足預(yù)期使用的工藝要求;

(2)測量過程應(yīng)處于質(zhì)量受控狀態(tài)。電子元器件的設(shè)計、生產(chǎn)、檢驗/試驗、儲存等各個環(huán)節(jié)都涉及了測量設(shè)備和測量過程,因此生產(chǎn)全過程都需要計量管理工作為其保駕護(hù)航。

2 電子元器件質(zhì)量認(rèn)證中有關(guān)計量管理的要求

在電子元器件質(zhì)量認(rèn)證工作中,明確要求計量管理工作要滿足GJB2712《裝備計量保障中測量設(shè)備和測量過程的質(zhì)量控制》相關(guān)要求。GJB2712A 對測量管理體系的具體要求如圖1。

由圖1 可知,在元器件質(zhì)量認(rèn)證的計量管理過程中,從測量需求開始,為獲得持續(xù)穩(wěn)定可靠的測量結(jié)果,需要從人力、環(huán)境、外部供方、測量設(shè)備、測量過程幾方面同時管控。

圖1:測量管理體系簡化模式

測量設(shè)備是測量過程、環(huán)境、人力、外部供方管理的基礎(chǔ)保障。但在認(rèn)證過程或生產(chǎn)線運行中,經(jīng)常出現(xiàn)設(shè)備投入使用后發(fā)現(xiàn)分辨力不夠或設(shè)備未經(jīng)過計量確認(rèn)或確認(rèn)不合理直接使用,造成設(shè)備極限誤差(測量不確定度)不滿足產(chǎn)品工藝要求等情況。下文主要從測量設(shè)備的配置和計量確認(rèn)兩方面簡述計量管理中設(shè)備的管控。

3 電子元器件質(zhì)量認(rèn)證中測量設(shè)備的管理

3.1 測量設(shè)備的配置

測量設(shè)備不僅包括測量儀器本身,還包括工裝、軟件、模/夾具等輔助設(shè)備,這些輔助設(shè)備直接影響測量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,將其納入測量設(shè)備管理,有利于對測量過程進(jìn)行更全面的管控。

在電子元器件生產(chǎn)過程中,測量設(shè)備的配置是一個不可忽視的重要環(huán)節(jié),應(yīng)滿足從原材料、外購件檢驗,生產(chǎn)加工過程檢測,元器件檢驗、試驗以及涉及生產(chǎn)安全和環(huán)境監(jiān)測等全過程的符合預(yù)期的測量要求。

在設(shè)備配置時,應(yīng)考慮滿足測量范圍、分辨力、準(zhǔn)確度等技術(shù)要求,可通過測量系統(tǒng)分析(MSA)驗證設(shè)備配置的合理性。以型號TC20K‐HB 的電子天平為例,在采用MSA 驗證之前,首先采用控制圖統(tǒng)計數(shù)據(jù)的有效性,如果R 圖上出現(xiàn)失控點,則表明操作者使用該儀器不能得到正常的測量結(jié)果。只有控制圖均為受控,才能采用該組數(shù)據(jù)評價所選儀器是否合理,計算測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)偏差,如圖2。

圖2:-R 控制圖

為使測量數(shù)據(jù)盡量反映工藝本身的變化(有足夠的“精密度”),一般要求器具的標(biāo)準(zhǔn)偏差占測量數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)偏差的(1/10~3/10),即

表1:器具重復(fù)性和再現(xiàn)性數(shù)據(jù)表

由表2 可知,(R&R)%=22.6%,軟件經(jīng)過一系列分析,得出這套測量系統(tǒng)可接受,表明這臺電子天平的配置符合要求。

表2:器具重復(fù)性和再現(xiàn)性報告

3.2 計量確認(rèn)

計量確認(rèn)是確保測量設(shè)備的計量特性符合預(yù)期的使用要求(如測量范圍、分辨力、最大允許誤差等)。要求計量管理人員要能識別和確認(rèn)元器件的檢測、試驗等需求,并轉(zhuǎn)化為對設(shè)備的參量及量程等計量保障要求。選擇具有與設(shè)備相應(yīng)檢定/校準(zhǔn)項目的計量技術(shù)機(jī)構(gòu),完成計量校準(zhǔn)之后與設(shè)備本身的計量特性相比較,判斷其是否符合預(yù)期的適用要求。確認(rèn)時間間隔一般可與設(shè)備檢定/校準(zhǔn)周期一致,流程參見圖3。只有測量設(shè)備已被證實適用于預(yù)期使用要求并形成記錄,設(shè)備的計量工作才算完成。

圖3:測量設(shè)備計量確認(rèn)過程

通常計量技術(shù)機(jī)構(gòu)給出的都是校準(zhǔn)證書,需要計量管理人員自己判斷測量設(shè)備是否合格,JJF1094‐2002 對測量設(shè)備示值誤差符合性提出了具體要求:

待評定示值誤差的不確定度U95與被評定測量設(shè)備的最大允許誤差的絕對值MPEV 之比若滿足時,可不考慮示值誤差評定的測量不確定度的影響;若不滿足,則需考慮示值誤差測量不確定度的影響。

|Δ|≤MPEV 判為合格;

|Δ|>MPEV 判為不合格;

|Δ|≤MPEV‐U95判為合格;

|Δ|≥MPEV+U95判為不合格;

MPEV‐U95<|Δ|

式中:Δ—被檢測量儀器的示值誤差;

當(dāng)測量設(shè)備示值誤差的符合性判為待定區(qū)時,可以選用準(zhǔn)確度更高的測量標(biāo)準(zhǔn)、改善環(huán)境條件、增加測量次數(shù)和改變測量方法等措施,降低示值誤差評定的測量不確定度U95后再進(jìn)行合格判定。

例如型號FA2104N(Max=210g,d=0.0001g,e=10d)的電子天平,由校準(zhǔn)證書可知:測量結(jié)果的不確定度U=0.4mg(k=2),最大允許誤差的絕對值(MPEV)是0.5e(0.0005g),用天平測量某10g砝碼10 次,測量數(shù)據(jù)為:10.0002、10.0001、9.9999、10.0002、10.0003、10.0001、10.0001、9.9999、10.0001、10.0002(單位:g)。

MPEV‐U95=0.5mg‐0.4mg=0.1mg

由于|Δ|≤MPEV‐U95,故判為合格。

一般經(jīng)過校準(zhǔn)合格的測量設(shè)備是指該測量設(shè)備滿足出廠技術(shù)指標(biāo),但其不一定滿足使用要求。例如型號TC20K‐HB 的電子天平分辨率是0.1g,經(jīng)檢定合格,但生產(chǎn)線上某工序測量要求分辨率為0.01g,則該天平就不能滿足使用要求。

指標(biāo)超差的設(shè)備也不一定不滿足使用要求,例如某34401A 型數(shù)字多用表經(jīng)過校準(zhǔn)發(fā)現(xiàn),交流電壓檔指標(biāo)超過出廠技術(shù)指標(biāo),但直流電壓檔指標(biāo)正常,且滿足使用要求,則可以限制范圍使用,通過計量確認(rèn),可以較為科學(xué)、合理地使用測量設(shè)備,提高設(shè)備利用率。

4 結(jié)束語

計量管理工作貫穿元器件生產(chǎn)全過程,準(zhǔn)確的測量結(jié)果直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量,有效的測量管理體系不僅能為元器件生產(chǎn)線的穩(wěn)定運行提供保障,還能推進(jìn)企業(yè)質(zhì)量管理體系的改進(jìn)和完善,提高企業(yè)在行業(yè)中的競爭力。

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