祁小鳳,楊宇,康衛(wèi)平,王倩

中國飛機(jī)強(qiáng)度研究所 智能結(jié)構(gòu)與健康管理技術(shù)研究室,西安 710065

目前,在飛機(jī)結(jié)構(gòu)試驗(yàn)中常采用的無損檢測方法主要為超聲、渦流、滲透、X-射線、磁粉、磁記憶和低頻板波等[1-3]。這些檢測方法都需要在試驗(yàn)停止的情況下才能對試驗(yàn)件進(jìn)行無損檢測,因此將延長試驗(yàn)周期,并且極易因人為因素造成漏檢。此外,對于飛機(jī)結(jié)構(gòu)不可達(dá)關(guān)鍵部位,無法使用上述常規(guī)無損檢測方法。為了提升飛機(jī)結(jié)構(gòu)疲勞試驗(yàn)質(zhì)量,及時捕獲關(guān)鍵部位的疲勞裂紋萌生并監(jiān)控裂紋的擴(kuò)展?fàn)顟B(tài),有必要對飛機(jī)結(jié)構(gòu)狀態(tài)進(jìn)行動態(tài)實(shí)時監(jiān)控[4-5]。

聲發(fā)射(Acoustic Emission,AE)監(jiān)測技術(shù)[6]是一種動態(tài)損傷監(jiān)控技術(shù)。在激勵(如力、溫度、電等)作用下,材料會出現(xiàn)局部應(yīng)力集中,導(dǎo)致能量快速釋放而發(fā)出瞬態(tài)彈性聲發(fā)射波。通過實(shí)時采集分析這些聲發(fā)射波,就可以實(shí)現(xiàn)對聲源活性、強(qiáng)度、嚴(yán)重性等的評估,從而對材料和結(jié)構(gòu)的損傷演變歷程進(jìn)行跟蹤,實(shí)現(xiàn)對結(jié)構(gòu)健康狀態(tài)進(jìn)行評估[7-8]。

經(jīng)過數(shù)十年的研究與發(fā)展,目前聲發(fā)射技術(shù)已被廣泛應(yīng)用在了各種工業(yè)領(lǐng)域中,諸如在巖土、建筑、交通、航空、航天、鐵路等領(lǐng)域中均取得了有效的成果[9-15]。特別是在航空領(lǐng)域,利用聲發(fā)射技術(shù)對航空結(jié)構(gòu)疲勞試驗(yàn)進(jìn)行在線監(jiān)測已成為近些年來國內(nèi)外的重要關(guān)注點(diǎn)之一[16-17]。例如在國外[18],美國 GRUMAN航空公司[19]就曾采用聲發(fā)射技術(shù)對全機(jī)疲勞試驗(yàn)中的飛機(jī)關(guān)鍵結(jié)構(gòu)進(jìn)行了在線監(jiān)測,發(fā)現(xiàn)聲發(fā)射技術(shù)比其他無損檢測手段能更早發(fā)現(xiàn)隔框處的損傷。此外,美國的麥道公司[18]也在F15、F16飛機(jī)的全機(jī)疲勞試驗(yàn)中使用聲發(fā)射技術(shù)監(jiān)測了結(jié)構(gòu)裂紋的擴(kuò)展情況,并取得了一定的成果。在國內(nèi),耿榮生和李偉[20]也利用聲發(fā)射技術(shù)對某型飛機(jī)機(jī)體全尺寸疲勞試驗(yàn)進(jìn)行裂紋監(jiān)測,并利用多參數(shù)識別和相關(guān)技術(shù)獲取了裂紋萌生所產(chǎn)生的聲發(fā)射信號,成功預(yù)報(bào)出主梁螺栓孔長度不足0.5 mm裂紋的萌生。劉文斌等[21]在某型飛機(jī)疲勞試驗(yàn)過程中的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)監(jiān)測中采用了聲發(fā)射檢測技術(shù),并成功預(yù)報(bào)了右外翼三墻處某螺栓孔裂紋的萌生,為試驗(yàn)的順利進(jìn)行起到了重要保障。然而,以上方法仍有很大的局限性。首先,在分析過程中并未考慮試驗(yàn)載荷因素對聲發(fā)射信號的巨大影響,因此不能有效排除異常信號是由載荷差異引起的可能。其次,分析時也未考慮試驗(yàn)暫停時進(jìn)行常規(guī)無損檢測引起的巨大干擾等其他人為干擾對聲發(fā)射信號的影響,因此不能很好地反映試驗(yàn)件的真實(shí)受損狀態(tài)。此外,受疲勞試驗(yàn)現(xiàn)場惡劣環(huán)境影響,不同試驗(yàn)環(huán)境下的噪聲聲發(fā)射信號也截然不同,因此上述方法也不具備普適性,當(dāng)面對新的試驗(yàn)環(huán)境及條件時,現(xiàn)有方法常常會陷入困境,無法取得有效進(jìn)展。

在本試驗(yàn)中,由于隨機(jī)載荷譜的存在,聲發(fā)射噪聲環(huán)境變得非常惡劣,大量毫無規(guī)律可循且幅值較高、能量較大的噪聲隨之不斷產(chǎn)生,且難以采用濾波方法將其濾除掉,致使本就微弱的耳片裂紋萌生聲發(fā)射信號徹底淹沒在噪聲海洋中,在此情況下,現(xiàn)有的聲發(fā)射分析方法幾乎無能為力?；诖爽F(xiàn)狀,本文提出了一種隨機(jī)載荷譜下耳片接頭疲勞裂紋萌生聲發(fā)射識別方法,其目的在于突破隨機(jī)載荷疲勞試驗(yàn)中的大量無規(guī)律且分布范圍極廣的噪聲對聲發(fā)射技術(shù)的制約,實(shí)現(xiàn)隨機(jī)載荷譜下耳片接頭疲勞裂紋萌生的高效、快速及可靠監(jiān)測。

1 構(gòu)建分析方法

1.1 問題描述

試驗(yàn)件構(gòu)型如圖1所示,承受如圖2所示的拉-拉疲勞載荷。載荷譜由32(1#,2#,…,32#)個相同的譜塊構(gòu)成,每個譜塊由隨機(jī)與等幅載荷譜組成,其譜形示意圖如圖3所示。其中,隨機(jī)譜約3×104個循環(huán),在2.5 Hz的加載頻率下持續(xù)約3 h；等幅載荷譜為2 200個循環(huán),在2.5 Hz的加載頻率下持續(xù)約14 min。整個疲勞試驗(yàn)由該譜塊重復(fù)加載32次完成。

圖1 試驗(yàn)件示意圖

圖2 試驗(yàn)件加載示意圖

圖3 載荷譜示意圖

利用聲發(fā)射技術(shù)進(jìn)行疲勞裂紋識別的一個最主要的困難就是噪聲干擾。對于耳片接頭疲勞試驗(yàn)來說,在載荷施加過程中,必然面臨著因?yàn)槟Σ?夾具與耳片端面間的摩擦、防滑墊與耳片端面間的摩擦)、振動(試驗(yàn)臺振動)、撞擊(試驗(yàn)件結(jié)構(gòu)內(nèi)部因存在間隙發(fā)生的撞擊、試驗(yàn)件與夾具間的撞擊)等原因產(chǎn)生的諸多聲發(fā)射噪聲信號,從而將損傷信號完全淹沒。

如果載荷譜為常規(guī)的等幅譜時,其產(chǎn)生的上述聲發(fā)射噪聲也會呈現(xiàn)出一定的周期性及規(guī)律性。在此情況下,通常依據(jù)噪音聲發(fā)射特征參數(shù)進(jìn)行初步濾波,然后按照傳統(tǒng)方法進(jìn)行聲發(fā)射信號的分析即可。然而,當(dāng)載荷譜為隨機(jī)譜時(見圖4),其產(chǎn)生的大量聲發(fā)射噪聲(圖5)則會表現(xiàn)出隨機(jī)性、非周期性,并且其特征參數(shù)的分布范圍也較為廣泛、分散(如在門檻為40 dB時,幅值范圍為40～99 dB,中心頻率120～300 kHz,上升時間0～65 535 μs,持續(xù)時間1～106μs),沒有呈現(xiàn)出明顯的集中分布規(guī)律,因而無法提取出有效特征將其濾除。此外,大量無法濾除的聲發(fā)射噪聲的存在也使得該試驗(yàn)中的AE數(shù)據(jù)量變得極其龐大(每小時數(shù)據(jù)量高達(dá)6 GB,每小時聲發(fā)射撞擊數(shù)高達(dá)數(shù)十萬),面對如此大量的數(shù)據(jù),傳統(tǒng)AE手段已無法開展分析工作。

圖4 耳片接頭疲勞試驗(yàn)中的隨機(jī)載荷譜

圖5 隨機(jī)載荷譜下的聲發(fā)射噪聲信號幅值-時間圖

基于此現(xiàn)狀,迫切需要一種既能克服大量強(qiáng)烈無規(guī)律聲發(fā)射噪音影響又能打破數(shù)據(jù)量巨大無法開展分析困境的聲發(fā)射分析方法。

1.2 分析思想

分析后發(fā)現(xiàn),盡管單個譜塊為非周期性的隨機(jī)信號(這導(dǎo)致各個時段的聲發(fā)射信號基準(zhǔn)皆不相同,使得在一個譜塊內(nèi)進(jìn)行信號的對比毫無實(shí)際意義),但是整個疲勞試驗(yàn)是以譜塊為單位周期性重復(fù)的,因此各不同譜塊的載荷譜是完全相同的。在此情況下,可以將一個譜塊視為一個周期,相應(yīng)的該周期性下的AE數(shù)據(jù)可視為一個集合,通過對比不同譜塊間的聲發(fā)射撞擊數(shù)變化趨勢發(fā)現(xiàn)異常,從而確定裂紋萌生時刻,其具體思路為(如圖6所示)：以無損傷時單個譜塊的聲發(fā)射撞擊數(shù)變化趨勢為基準(zhǔn),將其他不同譜塊下的聲發(fā)射撞擊數(shù)變化趨勢與其進(jìn)行對比,若發(fā)現(xiàn)在某個循環(huán)區(qū)間內(nèi),聲發(fā)射撞擊數(shù)有明顯增大或降低現(xiàn)象,則應(yīng)引起足夠重視,懷疑其為裂紋萌生所致,在輔以定位分析及干擾排除分析后可明確給出損傷結(jié)論。

圖6 聲發(fā)射分析思想示意圖

1.3 分析流程

基于1.2節(jié)提出的分析思想,可構(gòu)建出如下具體分析流程(見圖7)：

圖7 聲發(fā)射分析流程示意圖

1)數(shù)據(jù)預(yù)處理。對眾多離散、大容量的原始AE數(shù)據(jù)文件進(jìn)行預(yù)處理,將其變?yōu)橐粋€連續(xù)且文件大小適中的AE數(shù)據(jù)文件。

2)譜塊與AE數(shù)據(jù)同步。依據(jù)采集AE數(shù)據(jù)時同步記錄的載荷譜波形,完成AE數(shù)據(jù)與各譜塊的同步。

3)AE數(shù)據(jù)分譜塊提取。依據(jù)“譜塊與AE數(shù)據(jù)同步”操作得到的譜塊時段分布表,對數(shù)據(jù)預(yù)處理得到的連續(xù)AE數(shù)據(jù)文件進(jìn)行分譜塊提取,可得到不同譜塊下的AE數(shù)據(jù)。

要在全體學(xué)生范圍內(nèi)開展分析和研討，讓每位學(xué)生都得到更多的思維機(jī)會，更有效提升分析問題的能力。而且，通過全體噓聲頭腦風(fēng)暴，更易碰撞出思維火花，更好的解決問題。

4)計(jì)算單個譜塊下的AE撞擊數(shù)。

5)對比不同譜塊下的AE撞擊數(shù)變化趨勢發(fā)現(xiàn)異常

6)排除干擾分析。排除異常是因人為干擾、傳感器異常及電磁干擾等因素引起的。

7)定位分析與驗(yàn)證。

8)綜合以上信息給出損傷判斷結(jié)果。

2 試驗(yàn)驗(yàn)證

2.1 聲發(fā)射傳感器布局

依據(jù)預(yù)估的耳片接頭裂紋出現(xiàn)位置,布置組建了如圖8所示的2組聲發(fā)射監(jiān)測網(wǎng)絡(luò),其中：1#、2#、3#聲發(fā)射傳感器粘貼在試驗(yàn)件的A端,形成一組面定位監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A,用以監(jiān)測試件左端孔邊裂紋。同理,在試驗(yàn)件B端組建監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)B,用以監(jiān)測試驗(yàn)件右端孔邊裂紋。

圖8 聲發(fā)射傳感器布置位置示意圖

2.2 監(jiān)測參數(shù)設(shè)置

試驗(yàn)采用美國PAC公司48通道型聲發(fā)射采集設(shè)備(型號：SAMOS型)進(jìn)行聲發(fā)射信號的采集及處理。其中,信號處理軟件AEwin的關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置為：采集門檻40 dB,前置放大器增益40 dB,模擬濾波器帶寬100～400 kHz,波形采樣率1 M,采樣長度3 k,峰值定義時間PDT 300 μs,撞擊定義時間 HDT 600 μs,撞擊閉鎖時間HLT 1 000 μs。

此外,為實(shí)現(xiàn)AE系統(tǒng)與加載系統(tǒng)的同步,試驗(yàn)時還將試驗(yàn)載荷譜模擬電壓作為外參數(shù)接入了聲發(fā)射采集系統(tǒng)。為完整采集載荷波形,需設(shè)置合適的時間驅(qū)動率：由于試驗(yàn)加載頻率為2.5 Hz,因此時間驅(qū)動率設(shè)置為50 Hz即可完整展現(xiàn)載荷波形。

3 監(jiān)測數(shù)據(jù)分析

3.1 監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A聲發(fā)射數(shù)據(jù)分析

圖9是第1個譜塊下1通道的聲發(fā)射信號撞擊計(jì)數(shù)-數(shù)據(jù)序號曲線圖,其中縱軸為統(tǒng)計(jì)步長內(nèi)的撞擊計(jì)數(shù)累加和(撞擊計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)步長為280 s,相當(dāng)于700 個循環(huán),),橫軸為數(shù)據(jù)點(diǎn)序號(與時間區(qū)間具有一一對應(yīng)關(guān)系,表征了時間從小到大的先后順序)。該譜塊位于試驗(yàn)早期,并經(jīng)過常規(guī)無損檢測證實(shí)無損傷,因此可作為后續(xù)分析對比的基準(zhǔn)。從圖中可以看出,無損傷情況下,在單個譜塊的隨機(jī)譜階段,聲發(fā)射信號撞擊計(jì)數(shù)呈現(xiàn)出較小幅度的波動；在高載等幅譜階段,撞擊計(jì)數(shù)呈現(xiàn)大幅增加,這是由載荷譜幅值的大幅增加引起的,屬正?，F(xiàn)象。

圖9 單個譜塊下無損傷時聲發(fā)射信號撞擊計(jì)數(shù)-時間曲線

以上述結(jié)論為指導(dǎo),對試件A端各通道(1、2、3通道)在不同譜塊下的撞擊計(jì)數(shù)-數(shù)據(jù)序號分布圖逐一進(jìn)行詳細(xì)對比。分析后發(fā)現(xiàn),在監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A中出現(xiàn)了以下3處異常：相比無損傷時單個譜塊的聲發(fā)射撞擊數(shù),1通道在2#譜塊前期(前11個數(shù)據(jù)點(diǎn),見圖10)、11#譜塊后期(后8個數(shù)據(jù)點(diǎn),見圖11)及12#譜塊前期(前13個數(shù)據(jù)點(diǎn),見圖12)聲發(fā)射撞擊數(shù)明顯增大。這3處異常極有可能是1通道附近的裂紋萌生引起的的,但是在作出最終損傷結(jié)論前,還應(yīng)進(jìn)行干擾排除分析及定位分析。

圖10 1號傳感器在2#譜塊下的聲發(fā)射撞擊數(shù)變化趨勢

圖11 1號傳感器在11#譜塊下的聲發(fā)射撞擊數(shù)變化趨勢

圖12 1號傳感器在12#譜塊下的聲發(fā)射撞擊數(shù)變化趨勢

考慮到這3處異常的持續(xù)時間均在1 h之久,因此首先即可排除人為觸碰試驗(yàn)件干擾因素。至于電磁干擾,因?yàn)槠涫且环N有規(guī)律的、特征參數(shù)十分明顯的聲發(fā)射噪聲信號,因此可以通過特征參數(shù)分析其存在與否,分析后發(fā)現(xiàn)異常期間并沒有電磁干擾聲發(fā)射特征存在,因此可排除電磁干擾的影響。

再查看這3處異常時段的信號定位圖,通過與1#譜塊及其他無異常譜塊下的定位圖進(jìn)行對比,可進(jìn)一步證明該異常是由1通道附近的損傷引起的。圖13與圖14為1#譜塊下試驗(yàn)件A端的定位位置隨時間變化圖(縱軸為1、2通道組成的線性定位陣列定位結(jié)果中X方向的位置坐標(biāo),橫軸為時間)及二維定位圖(縱軸為二維定位結(jié)果Y方向的坐標(biāo),橫軸為二維定位結(jié)果X方向的坐標(biāo))。無論是在圖13還是圖14中,可以看出,定位點(diǎn)均呈隨機(jī)離散狀態(tài)分布,沒有呈現(xiàn)出一定的集中性。類似于1#譜塊,其他無異常譜塊下試驗(yàn)件A端的定位結(jié)果同樣表現(xiàn)為隨機(jī)離散分布,無定位集中區(qū)出現(xiàn)(為節(jié)省篇幅,此處不再附圖說明)。

圖13 1#譜塊下試驗(yàn)件A端聲發(fā)射源的定位位置隨時間變化圖

圖14 1#譜塊下試驗(yàn)件A端的二維定位圖

圖15是2#譜塊下聲發(fā)射定位結(jié)果隨時間變化圖(縱軸為1、2通道組成的線性定位陣列定位結(jié)果中X方向的位置坐標(biāo),橫軸為時間),可以看出在異常數(shù)據(jù)所對應(yīng)時段下,監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A的聲發(fā)射信號集中定位于1通道附近,說明了在此期間,試驗(yàn)件在1通道附近的確出現(xiàn)了裂紋活動。圖16和圖17是11#譜塊下監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A的聲發(fā)射信號定位結(jié)果,可以看出在11#譜塊異常期間,聲發(fā)射信號集中定位在1通道周圍,說明1通道附近的損傷在繼續(xù)擴(kuò)展。再看12#譜塊異常期間監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A的聲發(fā)射定位結(jié)果,同樣可以明顯看出此時的聲發(fā)射信號集中定位在了1通道附近,見圖18。上述分析充分說明了這3處異常均是由監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A中1通道附近的裂紋萌生引起的：該損傷始于2#譜塊,并在11#譜塊的后期繼續(xù)發(fā)生了擴(kuò)展且一直持續(xù)到12#譜塊的初期結(jié)束。值得說明的是,在12#譜塊加載完后,超聲相控陣無損檢測在試驗(yàn)件上1通道附近發(fā)現(xiàn)了一個5 mm的孔邊裂紋。

圖15 2#譜塊下試驗(yàn)件A端聲發(fā)射源的定位位置隨時間變化圖

圖16 11#譜塊下試驗(yàn)件A端聲發(fā)射源的定位位置隨時間變化圖

圖17 11#譜塊異常時段試驗(yàn)件A端的二維定位圖

圖18 12#譜塊異常時段期間試驗(yàn)件A端的二維定位圖

3.2 監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)B聲發(fā)射數(shù)據(jù)分析

采用與監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)A同樣的方法對監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)B進(jìn)行分析,對比后發(fā)現(xiàn),6通道在4#譜塊后期聲發(fā)射撞擊計(jì)數(shù)出現(xiàn)了明顯異常(見圖19中紅色圈注部分)。不同于上述各異常處聲發(fā)射撞擊數(shù)呈現(xiàn)出上升的趨勢,此處的異常表現(xiàn)為聲發(fā)射撞擊計(jì)數(shù)下降。因此其是否為裂紋萌生所致仍需進(jìn)一步分析。

圖19 6號傳感器在4#譜塊下的聲發(fā)射撞擊數(shù)變化趨勢

一般來說,聲發(fā)射撞擊計(jì)數(shù)下降通常有2方面因素,一是傳感器松動引起的聲耦合降低,二是聲源改變。在此處,由于撞擊計(jì)數(shù)下降是監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)B中各傳感器的共性表現(xiàn)(除6通道外,5通道及7通道在此處的撞擊計(jì)數(shù)也表現(xiàn)出下降趨勢),因此可排除傳感器松動的個性因素,應(yīng)歸因于聲源改變。聲源改變之所以會引起此處聲發(fā)射信號撞擊計(jì)數(shù)的下降,其原因在于：高幅值、長持續(xù)時間聲發(fā)射信號的頻繁出現(xiàn),使得單位時間內(nèi)的聲發(fā)射撞擊計(jì)數(shù)明顯減少,從而引起撞擊計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)結(jié)果的顯著下降。此觀點(diǎn)可被圖20中紅色圈注內(nèi)的曲線變化趨勢所驗(yàn)證,可以看出在此期間,確實(shí)是高幅值(60～100 dB)信號數(shù)量在增加而低幅值信號(40～60 dB)數(shù)量在減少。本試驗(yàn)中,致使高幅值信號突然增加的聲源改變,其應(yīng)是試件損傷活動引發(fā)的聲源改變,而非人為敲擊或者碰撞因素的影響,因?yàn)楫惓３掷m(xù)時間大約1 h之久。另外,異常期間的聲發(fā)射信號也無電磁干擾特征,因此也可排除電磁干擾因素。

圖20 4#譜塊異常時段下6號通道聲發(fā)射撞擊計(jì)數(shù)曲線

此外,查看此異常時段下監(jiān)測網(wǎng)絡(luò)B的聲發(fā)射信號定位圖結(jié)果(圖21),也可明顯看出聲發(fā)射信號集中定位于6通道附近,說明此時的損傷源位于6通道附近。在14#譜塊加載完后,超聲相控陣無損檢測在6通道附近發(fā)現(xiàn)了一個3 mm的表面裂紋。

圖21 4#譜塊異常時段下試驗(yàn)件B端損傷源二維定位圖

3.3 與常規(guī)無損檢測結(jié)果的對比

試驗(yàn)過程中,除采用聲發(fā)射手段外,還采用傳統(tǒng)無損檢測方式于每個譜塊結(jié)束后對試驗(yàn)件進(jìn)行了定期無損檢測。在五大常規(guī)無損檢測方式(超聲、射線、渦流、磁粉、滲透)中,僅有超聲與射線可以實(shí)現(xiàn)內(nèi)部裂紋的檢測,而磁粉、滲透、渦流一般只能發(fā)現(xiàn)表面裂紋。因此,為及時發(fā)現(xiàn)結(jié)構(gòu)內(nèi)部裂紋,試驗(yàn)選用了安全性更高、操作更為簡便的超聲相控陣C掃描無損檢測方式進(jìn)行定期無損檢測。

表1列出了超聲相控陣C掃描方式與聲發(fā)射手段發(fā)現(xiàn)裂紋萌生的時間對比結(jié)果,可以看出聲發(fā)射提前于超聲相控陣C掃描方式發(fā)現(xiàn)試驗(yàn)件的損傷活動,這是因?yàn)槁暟l(fā)射可探知到材料的微觀損傷,而微觀損傷到宏觀損傷需要一個漫長的擴(kuò)展過程,只有當(dāng)損傷發(fā)展為宏觀可見的裂紋時,常規(guī)無損檢測手段才可檢測出該損傷。

表1 聲發(fā)射與超聲相控陣C掃描檢測結(jié)果對比

4 結(jié) 論

本文提出的隨機(jī)載荷譜下聲發(fā)射疲勞裂紋損傷識別方法,突破了隨機(jī)載荷譜下噪聲對聲發(fā)射技術(shù)的制約,解決了聲發(fā)射在工程應(yīng)用中的技術(shù)難題,成功實(shí)現(xiàn)了隨機(jī)載荷譜下的疲勞裂紋萌生早期識別。

該方法可在隨機(jī)載荷譜下的耳片接疲勞試驗(yàn)中成功識別裂紋萌生,其有效性得到了初步驗(yàn)證,因而可為隨機(jī)載荷譜下耳片接頭疲勞損傷在線監(jiān)測提供參考。